【課題】 プラスチック中の微量カドミウムの量を正確に測定できるＸ線分析装置を提供する。
【解決手段】 Ｒｈターゲットを有するＸ線管５と、プラスチック試料４間に、Ｘ線フィルタ６が配置されている。第１Ｘ線フィルタ６ａはジルコニウムからなり、第２Ｘ線フィルタ６ｂは銅からなり、第３Ｘ線フィルタ６ｃはモリブデンからなる。第１フィルタ６ａの厚さは１００μｍ程度、第２フィルタ６ｂの厚さは２００μｍ程度、第３フィルタ６ｃの厚さは４０μｍ程度である。 （もっと読む）

【課題】水溶液中に存在する微量元素の濃度分析を、蛍光Ｘ線分析装置を使用し、簡便に比較的高いレベルの精度で行うことができる水溶液中の微量元素分析方法の提供。
【解決手段】微量元素を含む水溶液１を吸着材２ともに煮沸容器３に入れ、これを加熱して水分を蒸発させ、水分蒸発後に残った煮沸容器内の吸着材を含む固形成分５を微粉状又は粒状にすりつぶし、得られた粉状又は粒状試料中の微量元素の含有量を、蛍光Ｘ線分析装置９を用いて計測する。 （もっと読む）

本発明は、次のような校正用の標準セットに関する。すなわちこの標準セットは、少なくとも３つの校正標準を含み、これらの校正標準は、元素Ｃｄ、Ｃｒ、Ｐｂ、ＨｇおよびＢｒを含む熱可塑性ポリマーからなる成形体から構成される。この場合、これら３つの校正標準のいずれにおいても、ＣｒとＰｂとＨｇとＢｒとＣｄの比が異なる。本発明は、これら校正標準を製造する方法と、Ｘ線蛍光分析のためにこれら校正標準を使用することにも関する。 （もっと読む）

【解決手段】基板に重ねられた材料の層の積重ねにおける１つの層の元素組成の面密度を確立するための方法及びコンピュータプログラムソフトウェア製品である。入射する透過性放射線は、１又は複数の元素のそれぞれに関連した複数の線の特性蛍光Ｘ線放射を励起する。連続する元素の特性蛍光の強度比に関する方程式の自己一致した解によって、連続した層の面密度が決定される。 （もっと読む）

【課題】
従来の有害元素分析法では、たとえばＸＲＦは、その精度（誤差３０％〜５０％）に問題があり、判定が困難な場合がある。また、Ｘ線のエネルギーが低いことから、その測定領域は固体試料表面の数十μｍに限定されることが問題である。それを解消するために試料を冷凍，粉砕等により一様化し、粉体状態で測定することがなされているが、その時点で非破壊の状態ではなくなる。また時間もそれだけかかる。
【解決手段】
本発明はＤＴ中性子発生管内に、二次元的に配列されたα線検出器アレイを備え、中性子発生管外部に、二次元的あるいは三次元的に複数の区画に分けられた試料収納部を備え、さらにα線・γ線同時計数回路，データ収集装置を備えている。α線検出器アレイのそれぞれの個別検出器は試料収納部の各区画と１対１に対応するように配置されている。 （もっと読む）

【課題】 強度の弱いＸ線を試料に照射できるＸ線分析装置を提供する。
【解決手段】 試料４を照射する１次Ｘ線の強度が強すぎる場合、メッシュ７がＸ線管５と試料４の間に配置される。Ｘ線管５からの１次Ｘ線１５は、メッシュ７で吸収されて遮断される。すなわち、メッシュ７の金７ｃは全波長領域にわたってＸ線吸収係数が高い材料なので、１次Ｘ線１５はその金７ｃで吸収されて遮断される。メッシュ７の開口７ｄを通過した１次Ｘ線１５’が試料４を照射する。このように、Ｘ線管５からの１次Ｘ線はメッシュ７によりその強度が弱められて試料４を照射する。 （もっと読む）

【課題】 判定対象物に含まれる特定物質のＸ線分析において、処理にかかる時間の短縮化、さらには作業工程の簡易化や判定対象物の処理量の向上を図る。
【解決手段】 判定対象物１０６における特定物質の含有を判定する方法において、判定対象物１０６にＸ線を照射し、判定対象物１０６のスペクトルを測定する測定工程（Ｓ３）と、判定対象物１０６のスペクトルと、判定対象物１０６に応じて予め記憶されている基準スペクトルと、における特定物質の成分を比較し、判定対象物１０６に特定物質が所定の値以上含まれるか否かを判定する判定工程（Ｓ４）とを備える。 （もっと読む）

【課題】 本発明では、複数の素材からなる部品のいずれの素材に、環境負荷物質など特定物質が含有されているかについての判定をより簡易に行う方法、装置を提供することを課題とする。
【解決手段】 本発明の特定物質の含有判定方法は、複数素材が層状に形成された判定対象物（１０６）において、特定物質を含有する素材を判定する方法であり、照射工程（ステップＳ２０１）と、検出工程（ステップＳ２０２）と、判定工程（ステップＳ２０４）とを備える。照射工程（ステップＳ２０１）は、判定対象物（１０６）に対して、照射条件を変化させてＸ線を照射する。検出工程（ステップＳ２０２）は、判定対象物（１０６）より放射する蛍光Ｘ線を検出する。判定工程（ステップＳ２０４）は、特定物質とほぼ同期的に検出される素材を、特定物質を含有する素材として判定する。 （もっと読む）

【課題】 重金属で汚染された土壌の汚染度検出及び検出にあたっての前処理をオンラインで正確に行うとともに、検出結果に正確に対応して汚染土壌を仕分けることができる汚染度樹仕分け装置を提供する。
【解決手段】 間欠して所定の角度ずつ回転するターンテーブル１０上に、複数の容器１１を周方向に配列する。これらの容器にホッパー１２から重金属で汚染された土壌の所定量を順次に投入する。前記土壌の投入位置の下流側で停止する位置には前処理装置１３が設けられ、容器内で堆積する土壌の高さを調整し、その下流側で蛍光Ｘ線分析装置１４により汚染度を検出する。さらに下流側には複数の停止位置に対応して、それぞれにベルトコンベア１６，１７，１８が設けられ、制御装置１５が上記蛍光Ｘ線分析装置の検出結果に基づいて移載するコンベアを選択し、対応するコンベアが設けられた位置で停止したときに容器内の土壌を移載する。 （もっと読む）

【課題】未知サンプルを測定するのに用いられる分光計と同様の分解能及び効率である基準物質からのスペクトルを測定するのに用いられる分光計を提供する。
【解決手段】Ｘ線放射特性を用いた物質同定方法が提供される。監視されるＸ線放射特性を表すＸ線データは、入射エネルギービームに応答して試料から得られる。同様に、複数の物質の組成データを含むデータセットが得られる。試料物質はデータセット内に含まれる。組成データを用いてデータセット内の物質の各々について予測Ｘ線データが計算される。取得Ｘ線データと予測Ｘ線データとが比較され、この比較に基づいて試料物質の可能性のある素性が判定される。 （もっと読む）

【課題】 Ｐｂ、Ｈｇ、Ｂｒ等の有害元素の検出下限を下げて分析感度を向上させる。
【解決手段】 Ｘ線源１と試料３との間の励起Ｘ線の光路上に挿入する一次Ｘ線フィルタ２としてＡｇ箔又はＰｄ箔を用いる。これらの箔は５〜１３ｋｅＶ付近と２５ｋｅＶ付近以上のＸ線を同時に吸収するから、これらの範囲のＸ線強度が減衰した励起Ｘ線が試料３に照射される。そのため、Ｐｂ、Ｈｇ、Ｂｒ等の元素の蛍光Ｘ線が現れる９〜１３ｋｅＶの範囲では散乱Ｘ線によるバックグラウンドが低減され、また、２５ｋｅＶ以上の高エネルギー範囲の散乱Ｘ線も減ってＸ線検出器４において９〜１３ｋｅＶの範囲のＸ線の検出効率が相対的に向上する。これにより、９〜１３ｋｅＶに蛍光Ｘ線を持つＰｂ、Ｈｇ、Ｂｒ等の元素の検出下限が下がる。 （もっと読む）

【課題】 土壌中の有害物質の分析において、溶出法に極めて近似する測定結果を得られるとともに、簡易的かつ迅速に分析が可能な土壌有害物質含有量分析方法を提供する。
【解決手段】 土壌有害物質含有量分析方法においては、前分析工程として、採取された土壌を試料として蛍光Ｘ線分析により有害物質の含有量を分析する。溶出工程として、試料とされた土壌から有害物質を溶出するように前記土壌に水系溶媒を加えて混合した後に固液分離する。後分析工程として、固液分離されたうちの固体成分を試料として蛍光Ｘ線分析法により有害物質の含有量を分析する。溶出量算出工程として、前記前分析工程で分析された有害物質の含有量から後分析工程で分析された有害物質の含有量を減算し、溶出された有害物質の含有量を算出する。 （もっと読む）

【課題】透過型電子顕微鏡で観察するための試料の作製方法に関し、元のサンプルの表面近くの変化が少ない透過型電子顕微鏡用の試料の作製方法を提供する。
【解決手段】薄片状に加工する前のサンプルにＯｓ（オスミウム）からなる膜をサンプルの表面に形成し、その後に加工して薄片状とすることを特徴とする透過型電子顕微鏡用試料の作製方法。Ｏｓ膜を形成する前に、Ｐｔ、Ａｕ、Ｐｄ、Ｐｔ−Ｐｄ、Ａｕ−Ｐｄからなる群から選ばれる１種以上からなる予備保護膜を真空蒸着法により形成する前記記載の作製方法。 （もっと読む）

【目的】 本発明は、農作物中の重金属元素含有量を簡易に検定する方法を提供するもので、農作物の品質調査、及び農用地の土壌汚染調査を実施する際の化学分析分野で活用するものである。
【解決手段】
本発明は農作物中重金属の簡易分析方法において、農作物を灰化させることで分析の阻害となるマトリクス効果を減少させ、かつ試料中に含まれるカドミウム等の重金属類の相対濃度を高めることで、蛍光Ｘ線分析装置によって農作物中の重金属元素含有量を分析可能とするものである。 （もっと読む）

【課題】連続的に水をサンプリングする際に動力を用いることなく、工場排水路や下水路等の任意箇所において水中の重金属を捕集して測定する、水中重金属のモニタリング方法を提供する。
【解決手段】端部に重金属フィルターを取り付けたシリンダーと、このシリンダー内を摺動するピストンと、このピストンの重金属フィルターから遠い側の面に接続されたバネとを有するサンプリング容器を用い、ピストンを任意の位置に保持しながらバネを延伸する第一ステップと、バネの延伸状態を保持しながらサンプリング容器を水中に投下する第二ステップと、所定時間後にサンプリング容器を水中から引上げてシリンダーから重金属フィルターを取り外す第三ステップと、この重金属フィルターへの重金属付着量とシリンダー内の水量とから水中の重金属濃度を求める第四ステップとを備えるようにした。 （もっと読む）

複数の個別のコンポーネントを有するプリント配線アセンブリにおいてマイクロ蛍光Ｘ線分光分析法を用いて有害物質を識別する方法に関する。検出分析計としてマイクロ蛍光Ｘ線分光分析法（μ−ＸＲＦ）及びＸ線吸収微細構造（ＸＡＦＳ）分光を用いて、電子デバイスにおいて問題の材料を識別する。検査されるデバイス又はアセンブリは、参照データベースにおける情報に応じて、プローブ下、そのデバイス又はアセンブリをＸ，Ｙ，Ｚ方向へ移動させ、アセンブリ上の選択された位置の元素組成を決定することによって分析される。プローブは分析のための各選択位置から最適な分析距離に位置する。各選択位置の決定された元素組成は参照データベースと関連付けられ、検出された元素はアセンブリにおける様々なコンポーネントに対し割り当てられる。
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【課題】 試料のサイズの変化や、主成分の違いによる感度の変化、共存元素の影響によるバックグランドの大きさの変化があった場合でも毎回同じ検出下限で測定できる蛍光Ｘ線装置を提供する。
【解決手段】 試料サイズの変化や共存元素によるバックグランド強度の変化９をリアルタイムに測定し、測定時間を自動的に変化させ検出下限を一定に保つ。 （もっと読む）

【課題】フィルタで捕捉した微粒子をＸ線分析装置により元素分析する際、微粒子以外にフィルタのベース部材の元素も測定することになり、本来の測定対象の微粒子の元素を特定する上で障害となっていた。
【解決手段】分析用フィルタ１は、穴径１００ｎｍ〜１０００ｎｍのろ過穴３を複数有する樹脂からなるフィルタベース２と、フィルタベース２の片側の表面に金（Ａｕ）をイオンスパッタにて形成した金属被覆膜４とを有する。金属被覆膜４の膜厚は、Ｘ線分析装置の電子線が貫通しない程度で、ろ過穴３を塞がない程度が望ましく、４０ｎｍ〜１００ｎｍが好適である。 （もっと読む）

【課題】 固体の高分子材料中に含まれる微量な金属、特に、クロム、カドミウム、鉛、水銀の分析において、精度良く、しかも短時間で分析する方法を得ることである。
【解決手段】 ホットプレートにセットされた試料台に固体高分子材料の試料片を接触して載置し、上記試料台の試料片の近傍に、硝酸水溶液または硝酸と塩酸との混酸水溶液からなる抽出用酸水溶液を滴下し、上記試料片の表面に接触させるとともに、上記ホットプレートにて加熱して、上記試料片から金属成分を抽出する。上記抽出後に、上記試料台から試料片を取り除き上記試料台の表面に残留した抽出成分を含有する抽出用酸水溶液を、上記ホットプレートによる加熱を継続し、液成分を蒸発させて、上記試料台の表面に抽出成分を乾固させる。最後に、上記試料台上に乾固した抽出成分を飛行時間型二次イオン質量分析装置にて分析する。 （もっと読む）

【課題】 導電性膜で被われた試料に電子線を照射し、発生する特性Ｘ線を用いて組成分析を行う際に、予め導電性膜の厚さを知ること無しに、導電性膜の影響を補正した組成を求めることができるようにする。
【解決手段】 先ず未知試料表面に形成された導電性膜の厚さの近似値を求める。次に表面の導電性膜によるＸ線強度の減衰量を与える式により、該未知試料からのＸ線強度を補正し定量分析値の近似値を求める。次に該定量分析値の近似値を用いて、該導電性膜と該未知試料との組成の違いによる該厚さの近似値を真値に近づけるように補正する。該厚さの近似値を補正した値を用いて定量分析値の近似値を真値に近づけるように補正する。以下逐次近似的に、該厚さの補正と該定量分析値の補正を、予め設定してある収束条件を満たすまで交互に繰り返すことにより、導電性膜の影響を補正した未知試料の組成を求めることができる。 （もっと読む）