【課題】正極板に混在する微小金属異物を感度良好に検出して除去することで、得られるアルカリ蓄電池の信頼性を向上すること。
【解決手段】電極基板から形成され、アルカリ蓄電池に配設されるアルカリ蓄電池用正極板の製造方法である。電極基板を検査対象物として搬送しつつ、当該電極基板に分布する異物をその大きさに基づいてオンラインで検出するＸ線透過検査工程（Ｓ１０３）と、異物が検出された部分に、電池の短絡の原因となる微小金属異物として検出すべき金属（銅）の存在下で発光する薬液をオンラインで付着させる薬液付着工程（Ｓ１０４）と、電極基板において、薬液により発光した部分をオンラインで検出する発光部分検出工程（Ｓ１０５）と、検出された発光部分を微小金属異物が存在する不良部分として選択的に除去する不良部分除去工程（Ｓ１０６）とを備える。 （もっと読む）

本発明はイオンビーム顕微鏡を用いた試料検査に関するものである。幾つかの実施形態では、本発明は、各検出器は試料についての異なる情報を提供する複数の検出器を用いるものである。
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【課題】少なくともＳｎとＧｅとを含有する合金の組成を、迅速かつ精度よく分析することができる、合金の組成分析方法及び組成分析装置を提供する。
【解決手段】この合金の組成分析装置１は、所定量の合金を無機酸で処理して、溶液部分と、Ｇｅ沈殿部分とに分離させる分離させる分離手段１２と、前記溶液部分及び前記Ｇｅ沈殿部分を、それぞれ組成分析する分析手段１５と、前記分離手段及び前記分析手段によって組成分析がなされた標準試料に基づいて、分析すべき分析試料の組成分析を、蛍光Ｘ線分析装置を用いて行う試料分析手段２０とを有している。 （もっと読む）

【課題】従来よりも少量の試料でも、正確に元素の種類及び濃度を測定することができる材料分析装置、材料分析方法を提供する。
【解決手段】外力により形状変化が可能な試料３を構成する元素の種類及び濃度を測定するＸＲＦ装置１００であって、試料３が収容される試料フォルダ４と、試料フォルダ４に収容された試料３を圧縮する押圧部材４１と、押圧部材４１によって圧縮された試料３に、試料フォルダ４を介して１次Ｘ線２０を照射するＸ線出射装置１と、１次Ｘ線２０の照射により、試料３から発生する元素特有の２次Ｘ線２１を検出するＸ線検出器５と、Ｘ線検出器５により検出された２次Ｘ線２１から、試料３を構成する元素の種類及び濃度を検出する元素検出部１０と、を具備することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】有害物質の含有量調査において目的とする有害物質の存在が確認できなかった場合でも、その含有量が規制値・管理値を超えている可能性があるか否かを分かり易く提示する。
【解決手段】目的元素が入力設定されると（Ｓ１）、各目的元素の特性Ｘ線位置におけるバックグラウンド強度から理論計算により検出下限が算出される（Ｓ１１〜Ｓ１４）。一方、蛍光Ｘ線スペクトルに対するピークサーチ処理から得られるピーク位置、ピーク強度に基づいて含有元素が同定され（Ｓ５）同定された元素が定量される（Ｓ６）。目的元素が同定されなかった場合（Ｓ７でＮ）、理論計算により求められた該当元素の検出下限が呼び出され（Ｓ８）、元素と定量値（又は検出下限）とが対応付けて表示される（Ｓ９）。これにより、存在が確認されなかった元素についての検出下限が規制値・管理値を超えているか否かを容易に確認することができる。 （もっと読む）

【課題】対象サンプルに関するX線エネルギースペクトルの放射線量子の背景補正された計数を正確かつ速く決定する方法。
【解決手段】本発明の方法は、対象サンプルから蛍光X線ビームを発生させるステップであって、前記X線ビームは、解析結晶及び検出器に入射されるステップと、前記解析結晶を、前記蛍光X線ビームに対して角度θが得られるように回転させ、前記検出器を、前記蛍光X線ビームに対して角度２θが得られるように回転させるステップと、一定の検出器角度２θで、前記検出器を用いて、パルス高分布エネルギースペクトルを測定するステップとを有する。 （もっと読む）

【課題】 蛍光Ｘ線分析装置による半導体封止樹脂中の有害元素管理方法において、誤差の少ない測定方法を用いて管理を行なう。
【解決手段】 本発明は、半導体封止樹脂中の有害元素管理方法であって、蛍光Ｘ線分析装置により定性分析を行ない含有判定する工程と、試料の上下面を一致させてＸ線照射面全体に試料を並べる試料準備工程と、試料の一方面およびその対向面を蛍光Ｘ線分析装置により測定し定量分析を行なう工程と、前記定量分析工程から得られた２つのデータのうち共存元素の影響が少ない方の定量結果を用いて閾値判定をする工程、を有することを特徴とする有害元素管理方法である。この方法によれば、半導体製品の封止樹脂中の有害元素を精度よく測定・管理することが可能となる。 （もっと読む）

ミューオン等の粒子を検出する技術、装置及びシステムを提供する。一具体例では、監視システムは、複数のドリフトセルを有する宇宙線生成荷電粒子追跡器を備える。ドリフトセル、例えば、アルミニウムドリフトチューブは、走査される容積体の少なくとも上方及び下方に配置でき、これにより、宇宙線生成ミューオン等の入射及び出射荷電粒子を追跡すると共に、ガンマ線を検出する。システムは、容積体を通過する荷電粒子の多重散乱から、容積体に収容されている装置又は物質、例えば、鉄、鉛、金及び／又はタングステン等を選択的に検出でき、及び容積体に収容されている放射線源から放射されたガンマ線から、容積体に収容されている放射線源も検出できる。必要であれば、ドリフトチューブを密封し、ガスハンドリングシステムの必要性をなくしてもよい。このシステムは、国境検問所において、核脅威物体について、荷物を積んだ乗物を検査するために使用することができる。 （もっと読む）

【課題】本発明の課題は、食品等に残存する包装材片をＸ線検査装置によって検出可能とすると共に、残存包装材片がそのまま消費者の口に入ったとしても消費者に健康上の影響を及ぼさないようにすることにある。
【解決手段】発明に係る食品包装材は、本体及び低Ｘ線透過率物質を備える。低Ｘ線透過率物質は、本体の単位物理量当たりのＸ線透過率よりも低いＸ線透過率を有すると共に人体に対して無害であり、本体の表面に付されるか本体中に含有される。 （もっと読む）

【課題】Ｘ線に基づいた分析の際に対象物にビームをマッチングさせる際の問題点を解決する。
【解決手段】検査方法は、サンプルの表面上においてスポットを画定するべく合焦されるＸ線ビームを使用してサンプルを照射する段階を含んでいる。表面上の特徴部を横断するスキャン経路に沿ってスポットをスキャンするべく、サンプル及びＸ線ビームの中の少なくとも１つをシフトさせる。スポットが異なる個々の程度の特徴部とのオーバーラップを具備しているスキャン経路に沿った複数の場所において、Ｘ線ビームに応答してサンプルから放射される蛍光Ｘ線の個々の強度を計測する。スキャン経路における放射蛍光Ｘ線の調節値を演算するべく、複数の場所において計測された強度を処理する。調節済みの値に基づいて、特徴部の厚さを推定する。 （もっと読む）

【課題】 本発明は、簡便に粉砕した熱可塑性の廃プラスチックに含まれる有害物質含有量の測定を行い、粉砕した熱可塑性の廃プラスチックの有害物質含有量基準が存在するプラスチック製品への再利用方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 本発明は、粉砕した熱可塑性の廃プラスチック中に含まれる微量成分の測定方法であり、
・粉砕した廃プラスチックを均質化する工程（ｂ）、
・均質化した粉砕廃プラスチックより一部を抜き出し、加熱溶融混練して固形粒状物に変換する工程（ｃ）、
・固形粒状物より一部を抜き出し、固形粒状物に含まれる微量成分を分析する工程（ｅ１）、
を有することを特徴とする廃プラスチック中に含まれる微量成分の測定方法である。 （もっと読む）

【課題】 ミクロ分析データキューブのスペクトルミクロ分析及び統計学的分析を遂行する方法、並びにこのような方法を実施するための装置及びシステムを提供する。
【解決手段】 スペクトルミクロ分析を遂行するためのシステムは、データ収集の進行中に分析結果を与える。試料におけるピクセルからスペクトルが収集されるにつれて、このシステムは、スペクトルを周期的に分析して、提案される試料成分を表す基礎的スペクトルを統計学的に導出し（Ａ）、この導出されたスペクトルは、変化する割合で合成されて、各ピクセルにおいて測定されたスペクトルを（少なくとも近似的に）生じさせる。次いで、同じ優勢な提案される成分を有し、及び／又は提案される成分の少なくともほぼ同じ割合を含むピクセルは、それらの測定されたスペクトルを合成（即ち、加算又は平均化）することができる（Ｃ、Ｄ）。次いで、これらのスペクトルは、基準ライブラリーを経て相互参照され、実際に存在する成分を識別することができる（Ｅ）。前記分析中に、前記測定されたスペクトルは、好ましくは、その測定されたスペクトルを構成するエネルギーチャンネル／インターバルの数を減少することにより及び／又は隣接ピクセルの測定されたスペクトルを合成することにより凝縮されて、データキューブのサイズを減少すると共に、分析結果を促進させる（Ｇ）。 （もっと読む）

【課題】ｘ線光電子分光の帯電現象の解析により評価対象の材料中の電荷欠陥を定量的な計測を可能とする。
【解決手段】１ 試料にあたっているｘ線の照射面積を可変とするため複数の異なった孔径を有する稼動しぼりを試料の前面に設ける。 ２ 試料に当たっているｘ線の強度分布が均一であるように上記１の稼動絞りを用いて計測する手法。 ３ ｘ線の試料への照射開始、終了は、定常状態のｘ線源から放射されているｘ線を、ｘ線源と試料の間に設けた高速シャッターで行う。 （もっと読む）

【課題】成分表に示された試料の物質を構成する元素の種類及び濃度に虚偽申告がないか
または異物質の混入がないかを自動的であって容易かつ正確に検出し、検査者に認識させ
、検査を工数及びコストを削減して行える検査装置を用いた検査方法を提供する。
【解決手段】試料に１次Ｘ線を照射する１次Ｘ線照射ステップＳ２と、２次Ｘ線を検出器
により検出する２次Ｘ線検出ステップＳ３と、２次Ｘ線から検出元素の種類及び濃度を元
素検出部により検出する元素検出ステップＳ４と、基準元素の種類及び濃度と検出元素の
種類及び濃度とを比較し一致するか判定部により判定する判定ステップＳ５と、基準元素
の種類及び濃度と検出元素の種類及び濃度とが異なる場合、警告部により警告を発する警
告ステップＳ７とを具備したことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】担体表面に備えられるイオノマーの形態を特定し得る、イオノマーの検出方法を提供する。
【解決手段】担体３の表面に備えられるイオノマー１のイオン交換基を、金属イオンでイオン交換し、金属イオン由来の金属を検出することで、イオノマー１を検出することを特徴とする、イオノマーの検出方法。 （もっと読む）

【課題】試料の種類及び濃度を検出しながら、外観では判断できない装置自体の性能上の
異常を、自動的かつ即座に検出することにより、より正確な試料の検査を行うことができ
る検査装置、該検査装置を用いた検査方法を提供する。
【解決手段】試料３を構成する第１の元素の種類及び濃度を検出するＸＲＦ装置１００に
おいて、試料３と、第１の元素とは異なる、種類及び濃度が既知な第２の元素から構成さ
れた基準部材４とに、１次Ｘ線２０を照射するＸ線管１と、１次Ｘ線２０の照射により、
試料３から発生する第１の元素特有の第１の２次Ｘ線２１を検出するとともに、基準部材
４から発生する第２の元素特有の第２の２次Ｘ線２２を検出する検出器５とを具備し、基
準部材４は、１次Ｘ線２０の光路上に設けられていることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】基材上のメッキ膜中の検査対象元素の有無の判定や定量を可能にする標準メッキ膜試料およびこの試料を用いた新規なメッキ膜の検査技術を提供する。
【解決手段】プラスチック基材上にメッキ膜を形成した後、このメッキ膜に対し化学的および物理的損傷を実質的に与えない方法でプラスチック基材を除去して標準メッキ膜試料を得る。この標準メッキ膜試料から求めた検査対象元素の濃度と、標準メッキ膜試料から蛍光Ｘ線分析法により求めた検査対象元素の特性Ｘ線強度とから、標準メッキ膜試料中の検査対象元素の濃度と特性Ｘ線強度との関係を求め、基体上メッキ膜中の検査対象元素についての特性Ｘ線強度から、この関係を用いて、基体上メッキ膜中の検査対象元素の濃度を求める。 （もっと読む）

【課題】検出下限を改善し、重元素を主成分とする試料のみならず、軽元素を主成分とした試料に含有された微量な着目元素を定量することが可能である蛍光Ｘ線分析装置を提供する。
【解決手段】蛍光Ｘ線分析装置は、試料Ｓを支持する試料台３と、所定の照射位置Ｐ１を中心として一次Ｘ線Ｐを照射するＸ線源４と、照射位置Ｐ１に向って配置され、試料Ｓから発生する蛍光Ｘ線Ｑを検出する検出器５とを備えている。試料台３は、試料ＳをＸ線源４及び検出器５に近接させて固定する着脱自在の試料保持具１０を有し、被照射面Ｓ１を照射位置Ｐ１に一致させる第一の検査位置Ａ、または、試料Ｓを試料保持具１０に固定し、被照射面Ｓ２をＸ線源４に近接させるとともに、被検出面Ｓ３を検出器５に近接させる第二の検査位置Ｂのいずれか一方に、試料Ｓを選択的に配置して測定可能である。 （もっと読む）

【目的】
本発明は、溶液中に含まれる元素を蛍光X線分析法で高精度に定量分析する手法を提供し、飲料の品質管理や、河川水や湖・沼水、地下水などの陸水に関しての環境評価等の化学分析分野で活用するものであり、実験室内で高精度溶液分析を実施する溶液試料中の元素濃度を簡便にスクリーニングする手法としても利用可能である。
【構成】
疎水剤を塗布した有機高分子膜上に溶液試料を滴下・乾固させて、その残渣を蛍光X線分析法によって分析することで、溶液中の元素の濃度を定量分析する方法であり、標準溶液を前述した方法で調整・分析し、X線強度と濃度との相関関係を明らかにすることで、定量の下限と精度の検証を行う構成。 （もっと読む）

【課題】本発明の課題は、微小ビームで励起した蛍光X線を用いて、実装はんだおよびプリント板実装部品に、規制対象となっている鉛が含まれるか否かを検査・判定するためのインテリジェント化された分析装置及び方法を提供することを目的とする。
【解決手段】上記課題は、Ｘ線で励起した特性Ｘ線による元素マッピングを用いて電子部品に含有される特定物質を分析する分析装置であって、特定物質を構成する任意の元素に関し、エネルギーの異なる２種類以上の特性Ｘ線を用いることによって、第一の元素と第二の元素とが共存を示す分布を２種類以上取得する共存分布取得手段と、前記２種類以上の分布の差分を取得する差分分布取得手段と、前記差分を示す分布によって前記電子部品の部品内部における前記第一の元素と第二の元素の存在を判定する内部共存元素判定手段とを有する分析装置によって達成される。 （もっと読む）