【課題】低周波数における容量性の高インピーダンスを効果的に測定する。
【解決手段】ＳＭＵ１２から、１ｋＨｚ未満のゼロでない周波数の交流成分を含む電圧信号Ｖ₁をＤＵＴ３０に供給する。供給した電圧信号Ｖ₁は、バッファ増幅器２０を介して制御及び測定部２２で測定する。一方、ＤＵＴ３０を流れる電流信号は、バッファ増幅器２４を介して制御及び測定部２２で測定する。制御及び測定部２２は、電圧信号及び電流信号の測定値を同期させてデジタル化し、デジタル化した電圧信号及び電流信号からインピーダンスを計算する。 （もっと読む）

【課題】感光層の深さ方向に関して微小領域の誘電率を、デバイス状態のまま簡易で瞬時に得る。
【解決手段】レーザ光源８より感光体１に可視領域のレーザ光を照射すると共に感光層からのラマン散乱光成分を受光する分離光学素子と対物レンズ１７とを有する顕微光学系９と、ラマン散乱光成分を分光する分光器１０と、分光器により分光されたラマン散乱光の強度を検出する光検出器１１とを有し光検出部で検出されたラマン散乱光の強度からラマン散乱光スペクトルを得るラマン分光測定装置７を備える。さらに、予め測定された、感光層の特徴的なラマン散乱ピークの強度と誘電率との相関データとを格納する相関データ格納部１２と、ラマン分光測定装置で得られたラマン散乱光スペクトルから特徴的なラマン散乱ピークの強度を抽出して、相関データに基づき誘電率を演算する誘電率演算部１３とを備える。 （もっと読む）

【課題】近接場電磁波の共振周波数の検出値を大きくすることにより、試料の誘電率の分解能を向上することができる誘電率の測定方法及び誘電率の測定装置を提供すること。
【解決手段】試料１４よりも高い導電性を有する導電性基板を試料１４の一方の面に密着させる工程と、試料１４の他方の面をプローブ共振器３の放射面１１ｂに密着させる工程と、プローブ共振器３の放射面１１ｂから近接場電磁波を放射させる工程と、近接場電磁波の共振周波数を検出する工程と、この共振周波数に基づいて試料１４の誘電率を特定する工程とを含む。 （もっと読む）

【課題】広い周波数で誘電体の誘電率を精度よく測定可能な、誘電率の測定方法および測定装置を提供する。
【解決手段】測定試料１は、誘電体試料１１および誘電体試料１１の主表面１３，１４に配置された導体板１２とを備える。測定試料１はフィルタとしての機能を有する。導体板１２により、透過率が極小値となる周波数を変更することができる。スペクトラムアナライザ４は、送信アンテナ２から測定試料１に照射される平面波の周波数を走査する。受信アンテナ３およびスペクトラムアナライザ４は、測定試料１を透過した平面波の電界強度を測定する。コンピュータ５は、コンピュータ５に入力されたパラメータおよびスペクトラムアナライザ４による測定結果を用いて、ＦＤＴＤ法に従う数値計算によって誘電体試料１１の誘電率を算出する。 （もっと読む）

【課題】非常に薄い薄膜の誘電率、透磁率、および抵抗率を精確に計測する。
【解決手段】被測定物である薄膜を超伝導共振器１０上に成膜する前後において超伝導共振器１０の共振周波数およびＱ値を求めることにより、共振周波数のずれおよびＱ値の変化から薄膜の誘電率、透磁率、および抵抗率を精度良く求めることができる。また、伝送線路２０に複数の超伝導共振器１０Ａ，１０Ｂ，１０Ｃを配置することで、一度に多数の試料の測定や広い周波数領域での試料の特性の変化を測定することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】バイアス電圧を印加した状態で、誘電体の電気特性を測定する。
【解決手段】電気特性測定システム２００では、まず、測定対象となる試料１００を上部導体板１０６ａと下部導体板１０６ｂで挟み、これを支持台１０８により安定させる。上部導体板１０６ａ、下部導体板１０６ｂには直流電源１０４が接続されており、これにより試料１００には直流電圧が印加される。この状態で、ネットワークアナライザ１０２は、ケーブル１１０ａ、１１０ｂにより、試料１００のＳパラメータを測定し、直流電圧が印加された状態での試料１００の比誘電率を測定する。 （もっと読む）

【課題】電気絶縁体材料（静電気拡散性や導電性の表面処理がなされているものを含む）の表面抵抗値を非接触で測定する。
【解決手段】表面抵抗値測定装置１００は、測定対象物１０００の帯電領域１００１に非接触で電荷を与える帯電装置１１０と、測定領域１００２における電荷量を非接触で測定する電荷検出装置１２０と、からなる。帯電装置１１０が帯電領域１００１に電荷を与えながら、電荷検出装置１２０が帯電領域１００１から測定領域１００２に流入する電荷量を経時的に測定する。このようにして測定された電荷量に基づいて測定対象物１０００の表面抵抗値が算出される。 （もっと読む）

【課題】薄膜誘電体の誘電特性測定に用いる微小薄膜キャパシタンス素子及び薄膜誘電特性測定評価方法であって、高周波数帯域における誘電体の誘電特性を高精度に測定評価することのできる微小薄膜キャパシタンス素子及びそれを用いた薄膜誘電特性測定評価方法を提供する。
【解決手段】薄膜誘電体７の誘電特性測定に用いる微小薄膜キャパシタンス素子１であって、被測定試料としての誘電体薄膜７が第１の電極層２ａと第２の電極層６との間に挟まれてなるキャパシタ部２と、前記第１の電極層２ａに電気的に接続されたコンタクト電極３と、前記第２の電極層６に電気的に接続され、前記コンタクト電極３の周りに形成されたグランド電極４とを備える。 （もっと読む）

【課題】 単一の搬送系上で、複数の温度で安定して特性測定の行える電子部品特性測定装置および電子部品選別装置を構成する。
【解決手段】 電気特性測定ユニット８ａ〜８ｃと排出ユニット９ａ〜９ｃとからなる常温での選別部、および、下搬送テーブル７に組み込まれたヒータ１０ａ〜１０ｃと電気特性測定ユニット８ｄ〜８ｆと排出ユニット９ｄ〜９ｆとからなる高温での選別部を、歯車状の上搬送テーブル１３と円盤状の下搬送テーブル７とからなる搬送系に備える。また、該搬送系に、電子部品１を供給するパーツフィーダ５、リニアフィーダ６、パッケージングテープ１４に良品部品をパッケージングするパッケージングユニット１１をそれぞれ備える。 （もっと読む）

【課題】低電圧で動作可能であり、使用及び管理の手間を省力化することができる。
【解決手段】測定端子１０２，１０４を誘電体シートに当接させ、測定端子に１２０Ｖ以下、１０Ｈｚ以上１０００Ｈｚ以下の周波数の交流電圧を前記誘電体シート５０に印加し、測定端子１０２，１０４に印加された交流電圧により前記誘電体シート５０の電荷の充放電を繰り返し行うことにより得られた電流値信号に基づいて、前記誘電体シート５０の電気特性を測定する。 （もっと読む）

【課題】測定の際に測定面と当接することによる微細軸の破損を確実に防止できる近接場プローブ、この近接場プローブを備えた電気的特性測定装置及び電気的特性測定方法を提供することを課題とする。
【解決手段】本発明は、一方向に延びる内部空間Ｓｐを囲み、先端に微細開孔３５が形成された外導体３０と内部空間Ｓｐ内で中心軸Ｃに沿って延びる内導体２０とを有する同軸共振器１２を備え、外導体３０は、微細開孔３５の周縁に位置する周縁面３６を含む先端面３１ａを有し、周縁面３６の径方向外側には保護部３７が設けられ、保護部３７は、周縁面３６よりも前方に位置する保護面３７ａを有し、内導体２０の先端には、微細開孔３５内に挿通される微細軸２１が設けられ、この微細軸２１の先端が前記中心軸Ｃ方向において周縁面３６よりも前方で且つ保護面３７ａよりも後方若しくはこれと同じ位置にあることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】鉄塔上で懸垂がいしの絶縁抵抗を安全かつ迅速に一人で測定することができる片手式絶縁抵抗測定器を提供する。
【解決手段】上下の水平アーム２の後端部を握り手となる垂直アーム３で接続して片手で把持できるコの字型の絶縁ホルダ１を形成し、これらの上下の水平アーム２の内部に、絶縁抵抗計の電極端子５をその尖った先端が水平アーム２の先端から突出するように固定する。懸垂がいし１７のキャップ金具１８に電極端子５の先端を押し付け、個々の懸垂がいし１７の絶縁抵抗を測定する。外力を加えない状態では電極端子５の先端を覆うカバー１２を、スプリング１３を介して取り付けておくことが好ましい。 （もっと読む）

【課題】試料表面の電気的特性を簡易に且つ高精度に測定する検査冶具及びこれを用いた静電容量測定方法を提供すること。
【解決手段】試料の被測定面に対向して配置され、膜の上下両面に加わる圧力差によって試料の被測定面方向に撓む可撓膜６と、可撓膜６の上下両面に配置され、その一部が前記可撓膜６を貫通して上面側と下面側とが連結された電極膜２と、試料の被測定面に当接して、可撓膜６と試料の被測定面との間に気密された領域を形成する壁部材４と、可撓膜６と被測定面との間の気密された領域内の気体を排出する排気路７とを有した検査冶具１０による。この検査冶具１０は排気路７からの排気により可撓膜６及び電極２が被測定面に変形しながら押し付けられて隙間無く密着することにより静電容量等の電気的特性を正確に測定できる。 （もっと読む）

【解決手段】導電材料から形成されたチャンバが、接地電位に接続される。導電材料から形成された高温電極が、チャンバ内で略水平方向に配置され、チャンバから物理的に分離されている。高温電極は、測定される部品を支持するよう規定された上面を備える。高周波（ＲＦ）伝送ロッドが、高温電極の底面からチャンバの底部の開口部を通って伸びるように結合され、チャンバから物理的に分離されている。ＲＦ伝送ロッドが、電気素子ハウジングの導電体プレートから高温電極にＲＦ電力を伝送するよう規定される。導電材料から形成された上側電極が、チャンバ内で略水平方向に配置される。上側電極は、チャンバに電気接続され、垂直方向に移動可能なように規定される。 （もっと読む）

【課題】受配電機器が備える絶縁体の余寿命を精度よく診断することを目的とする。
【解決手段】本発明に係る受配電機器の余寿命診断方法は、絶縁体を備える受配電機器の余寿命を求める余寿命診断方法であって、（ａ）診断対象の絶縁体と同じか同等の材質からなるセンサ絶縁体を予め受配電機器に設けておく。（ｂ）センサ絶縁体の表面における表面抵抗率と、当該表面付近における湿度とを逐次測定する。（ｃ）工程（ｂ）で測定した表面抵抗率と工程（ｂ）で測定した湿度との相関関係である第１の相関関係を逐次更新する。（ｄ）工程（ｃ）で更新した第１の相関関係に基づいて、所定の湿度Ａに対応する表面抵抗率Ｂを算出し、当該算出された表面抵抗率Ｂと使用年数Ｄとの相関関係である第２の相関関係を更新する。（ｅ）工程（ｄ）で更新した第２の相関関係に基づいて、受配電機器の余寿命を求める。 （もっと読む）

【課題】好適な狭帯域共振回路を提供すること。
【解決手段】チューニング可能強誘電体コンポーネント（６１０〜６１４）、強誘電体コンポーネントの損失測定するための狭帯域共振回路（６１０〜６２０）が開示される。強誘電体コンポーネントは、共振回路に一体化されたキャパシタであり得る。この試験方法は、損失の他のソースを消去して、強誘電体材料に起因する損失を隔離し、かつこの損失が小さいことを実証する。本方法は、強誘電体コンポーネントを備える回路を製造する工程と、強誘電体コンポーネントに起因する挿入損失および他の損失ソースに起因する他の損失を含む、組み合わされた損失を測定する工程と、他の損失ソースに起因する、挿入損失のコンポーネントを決定する工程と、測定された組み合わされた損失から、他の損失ソースに起因するコンポーネントを除去して、強誘電体コンポーネントと関連した損失を決定する工程とを包含する。 （もっと読む）

【課題】電子材料のマイクロ波帯における誘電率測定を、広い温度範囲で効率的に行えるようにする。
【解決手段】加熱冷却装置１８で温度調整した不凍液を液圧循環管路２４を通して恒温槽７へ供給し、またドライエア発生手段からのドライエアを管路１８ｂを通して不凍液と熱交換し、それを恒温槽７に収容された空洞共振器４内へ供給することで、空洞共振器４内の温度制御を行う。不凍液は循環利用でき、またドライエアはそのガス源が大気であるので、ランニングコストが低くかつ安全な環境での測定ができる。また空洞共振器を銀媒体で包んでその中にドライエア導入路を設け、ドライエアが空洞共振器内で均一に流れるようにして空洞共振器内の温度分布の均一化を図る。これは温度制御時間の短縮化及び測定精度向上に寄与する。 （もっと読む）

【課題】従来、高絶縁物に対する誘電体損角であるｔａｎδの測定が出来なかったが、この劣化程度の指標であるｔａｎδが計算できる数理処理法を提供する。そして、このｔａｎδが、荷電中の電気工作物や、製品の運転ラインでの移動中の物体に対して、検出する方法を提供する。
【解決手段】供試被物体に高周波領域の可変周波数を加えて回路のインピーダンスと位相を各周波数ごとに測定し、マクスウエルの電磁方程式の減衰定数、位相定数に対応させて、最小自乗法や、複素比誘電率のベクトル軌跡を使用して、位相極値点に対応する誘電率からｔａｎδの計算手法を提供可能にした。また、さらに、製造ライン等の移動中の供試物体と支持器具との浮遊キャパシタンスを通して電流を流し、移動物体のｔａｎδを検出し、品質管理できるシステムの構築を可能とした。 （もっと読む）

【課題】ＳＭＤ型受動素子を試験する際の傷の減少方法を提供する。
【解決手段】伝動装置１１０と可動式検知装置１２０とを有する試験機器を提供し、伝動装置１１０は複数個のＳＭＤ型受動素子１０を連続的に積み込んで移動させ、可動式検知装置１２０はそれらのＳＭＤ型受動素子１０の電極１１に電気接触することによって、ＳＭＤ型受動素子１０群は連続的に多種の試験を受けることになる。試験を行う際に、伝動装置１１０と可動式検知装置１２０とは分類作業まで同時に移動して試験による傷を低減することが可能である。 （もっと読む）

【課題】強誘電体のヒステリシス特性を高精度に測定し、強誘電体の分極特性評価を高精度で行うことができる強誘電体特性測定装置を提供する。
【解決手段】電圧源１４は三角波電圧を出力する。電流電圧変換器１６は強誘電体薄膜試料１０に流れる電流を読み取って電圧変換して測定信号を出力する。参照信号源１７は、電流電圧変換器１６が出力する測定信号に含まれる強誘電体薄膜試料１０の漏洩電流による信号成分と、測定系の寄生容量および強誘電体薄膜試料１０の静電容量による信号成分とを重畳した信号を参照信号として出力する。差動増幅器２１は、電流電圧変換器１６が出力する測定信号から参照信号源１７が出力する参照信号を差し引き、差動増幅器２１の出力信号を強誘電体薄膜試料１０の分極反転電流のみを反映した測定信号とする。 （もっと読む）