【課題】紫外線硬化樹脂の状態を精度よく推定する。
【解決手段】紫外線硬化樹脂の状態推定装置１０は、紫外線硬化樹脂５２に励起光を照射するプローブ１８と、紫外線硬化樹脂５２から発生した蛍光を受光して、該蛍光の分光分布を検出する分光器１６と、紫外線照射前の紫外線硬化樹脂５２に励起光を照射したときに検出される照射前分光分布の形状と、紫外線照射後の紫外線硬化樹脂５２に励起光を照射したときに検出される照射後分光分布の形状とを比較することで、紫外線硬化樹脂５２の状態を推定するコンピュータ５０とを備える。 （もっと読む）

【課題】 得られたスペクトルにおけるピークが、蛍光を示すピークか、あるいは、レーリー散乱光を示すピークであるかを識別することができる分光蛍光光度計を提供する。
【解決手段】 光源部１０と、試料が配置される試料室２０と、試料から放出される光を波長分解して、目的波長の光を光検出器３２に対して出射する回折格子３１ａを有する蛍光分光器３１と、目的波長の光強度を検出する光検出器３２とを備える検出部３０と、光検出器３２で目的波長領域の光強度を検出させることで、スペクトルを取得する制御部５０と、表示装置５３とを備える分光蛍光光度計１であって、制御部５０は、設定励起波長に基づいて、得られたスペクトルにおける各ピークが、レーリー散乱光を示すピークであるか、あるいは、蛍光を示すピークである可能性があるかのいずれかを示唆する表示を行う。 （もっと読む）

【課題】精度の高い測定を簡便に行うことができる分光測定装置、及び分光測定方法を提供すること。
【解決手段】
本発明の一態様にかかる分光測定装置は、レーザ光源１０１と、レーザ光源１０１からの光ビームを参照用サンプル１２０に集光するレンズ１０４と、第１レンズ１０４を通過した光ビームを測定用サンプル１２１に集光する対物レンズ１０６と、光ビームの照射によって、測定用サンプル１２１、及び参照用サンプル１２０で発生した光ビームと異なる波長の光を分光する分光器１０９と、分光器１０９で分光された光を検出する検出器１１０と、参照用サンプル１２０及び測定用サンプル１２１から分光器１０９に向かう光の光路を、レーザ光源か１０１から測定用サンプル１２１に向かう光ビームの光路から分岐するビームスプリッタ１０３と、を備えるものである。 （もっと読む）

【課題】
ＥＥＭイメージングを短時間で実施可能な分光画像取得装置及び方法を提供すること。また、装置全体を小型化することが可能な分光画像取得装置を提供すること。
【解決手段】
複数の異なる波長の励起光を試料に照射する励起光照射手段と、該励起光の波長毎に該試料からの蛍光のスペクトル分布を計測する蛍光計測手段とを有する分光画像取得装置において、該励起光照射手段は、空間的に異なる位置に異なる波長の励起光を同時に照射するように構成され、該蛍光計測手段は、前記異なる位置毎に蛍光の光路を分離し、分離された蛍光をスペクトル分光し、スペクトル分光された蛍光の少なくとも一部を、前記異なる位置毎に同時に計測するように構成されていることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】分光器波長正確さを容易に検査する蛍光分光光度計を提供する。
【解決手段】本発明の蛍光分光光度計は、光源１の光を励起光として分光し試料セル３に照射する励起側分光器２、試料セル３からの光を分光する蛍光側回折格子４１及び該回折格子を回転させる走査手段４２から成る蛍光側分光器４、蛍光側分光器４からの出射光を検出する検出器５、励起側分光器２の設定波長正確さを検査する励起側検査部６を備える。励起側検査部６は、特定波長検査光が蛍光側回折格子４１に入射したときのｎ次、ｎ＋１次回折光をそれぞれ出射させる蛍光側回折格子４１の回転角差と、励起側分光器２の波長を特定波長にし光源１の光を励起側分光器２に入射させ回折格子４１を回転させたときにｎ次とｎ＋１次回折光がそれぞれ得られる蛍光側回折格子４１の回転角差を比較し励起側分光器２の設定波長正確さを検査する。 （もっと読む）

【課題】弱いラマン散乱光であっても識別対象物を識別可能にするラマン散乱信号取得装置ならびにラマン散乱信号取得方法の提供。
【解決手段】励起用レーザ光Ｌの照射により被識別プラスチックＰから発生するラマン散乱光を、励起用レーザ光Ｌの照射範囲から広く集光する集光レンズ３２を含む採光光学系３０と、ラマン散乱光を分光する分光器５２を含む分光光学系５０と、複数の光ファイバからなり、採光光学系３０により集光される光を分光器５２の回折格子の向きに対応するスリット状に変換する光路変換体としての光ファイバ束４０とを有する。 （もっと読む）

【課題】非接触型で、多種類のガスの濃度をほぼリアルタイムで測定することができる光学式ガスセンサの提供。
【解決手段】測定対象ガスが導入されるガスセルと、ガスセルにレーザー光を照射するレーザー装置と、ガスセルからのラマン散乱光を反射する反射機構と、反射機構により反射された前方および後方ラマン散乱光を集光するための波長選択フィルターを有する受光機構と、前方および／または後方ラマン散乱光に基づき測定対象ガスの濃度を算出する演算部と、を備えたガスセンサであって、検出対象となる一のガスの種別に応じた波長選択フィルターを選択可能に構成されたガスセンサ及びその方法。 （もっと読む）

【課題】照射と同時に発光が計測できるようにしてリアルタイムで計測が可能であり、かつ廃棄物が計測の過程で発生しないようにする。
【解決手段】検査対象である金属表面６にパルス状のレーザー光１１を照射して付着物質をアブレーションし、その後アブレーションによりプラズマ化された物質からの発光１３を計測し、分光することにより、金属表面に付着する微量成分の特定と濃度を求めるようにしている。この計測方法は、狭隘な空間に面している金属表面に付着している微量成分の濃度を計測する場合には、狭隘な空間の外にレーザーと少なくとも分光器を含む濃度計測装置本体を配置し、狭隘な空間に金属表面に沿って挿入される光伝送部を介して金属表面にレーザー光を照射して付着物質をアブレーションすると共にプラズマ化し、プラズマ化された物質からの発光を光伝送部を介して狭隘な空間の外の分光手段に導いて分光すると共に受光素子で発光スペクトルを得るようにしている。 （もっと読む）

【課題】多色光を用いて試料を高精度で観測できる試料観測装置を提供する。
【解決手段】波長の異なる複数の光をそれぞれパルス光として試料３１に順次照射する光照射部１０と、光照射部１０からのパルス光の照射により試料３１から発生する応答光を受光して光応答信号を出力する光検出部４０と、光照射部１０からのパルス光の照射に同期して、光検出部４０から、当該照射されたパルス光に対応する光応答信号を取得するサンプリング部５０と、サンプリング部５０で取得された光応答信号を処理する信号処理部７０と、を備える。 （もっと読む）

【課題】広い捕集角を確保しつつ試料への光の入射角を小さくすることのできる拡散反射測定装置を提供する。
【解決手段】光源１１からの光を集光して試料４０に照射する照射用ミラー２０と、前記試料４０で拡散反射した光を捕集して検出部１４に送る捕集用ミラー３０を備えた拡散反射測定装置において、該捕集用ミラー３０に光を通すための貫通孔３１を設け、前記照射用ミラー２０によって集光された光が該貫通孔３１を通過して試料４０に照射されるように前記照射用ミラー２０及び捕集用ミラー３０を配置する。 （もっと読む）

【課題】 分光手段とマルチ検出器を用いたフローサイトメーターにおいて、リアルタイムの蛍光強度測定を行う前の最適な波長帯域設定を支援する。
【解決手段】 信号処理手段において、キャリブレーション試料を測定して得られた複数の波長帯域の強度を記憶し、前記複数の波長帯域ごとの強度の分布を算出、表示する。 （もっと読む）

【課題】励起光及び蛍光の波長組合せを切り替えながら励起光及び蛍光の検出を繰り返す多波長同時検出において、検出信号のＡ／Ｄ変換処理に割り当てる時間を長くすることでノイズ低減を図る。
【解決手段】４波長同時検出において、波長組合せ切り替え前後の励起光波長λEXの差、蛍光波長λEMの差が０でない場合には、それぞれ波長差から回折格子を回動させるモータの駆動時間Ｙ１、Ｙ２を計算し（Ｓ４、Ｓ８）、さらに回折格子が停止するに要する時間を見込み、１波長に割り当てられた切替時間のうちの残りをＡ／Ｄ変換時間Ｚ１、Ｚ２として求める（Ｓ６、Ｓ１０）。励起光の波長が設定された状態でないと蛍光検出は行えないので、Ｚ１＜Ｚ２のときにはＺ２もＺ１に揃え、そのチャンネルのＡ／Ｄ変換時間を決定する。このように決められた時間に基づく積算回数だけＡ／Ｄ変換後のデータを積算して測光値を求めることで、ノイズ低減を図ることができる。 （もっと読む）

【課題】直径１５ｍｍ以下の小さなサイズの金属試料についてもスパーク放電発光分光分析法で精度のよい分析ができ、しかも、試料について実質的に非破壊の分析を迅速に行うことができる発光分光分析装置を提供すること。
【解決手段】本発明の発光分光分析装置１は、開口１３を有する試料支持台１０と、その表面１０ａ側に載置した金属試料３の開口１３からの露出部分３ｄの下方位置に設けた電極４とを有する。金属試料３と電極４との間で、多数回のスパーク放電を不活性ガス雰囲気中で発生させ、スパーク放電ごとの発光を分光して金属試料中の元素を定量する。スパーク放電の際に、試料支持台の裏面の前記開口に隣接する部分１４に放電するのを防止する電気絶縁材料からなるリング部材１１を配置し、試料支持台の表面上に位置する表面開口の開口径が１５ｍｍ以下であることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】励起波長等が未知の試料に対しても適用可能な蛍光分光光度計を提供する。
【解決手段】本発明に係る蛍光分光光度計は、光源１と、試料セル３と、光源１からの光を分光し、所望の波長の光を試料セル３に照射する励起側分光系２と、励起側分光系２から試料セル３に入射し、該試料セル３を透過した透過光の光路上から外れた位置に配置された、試料セル３からの出射光を分光する出射側分光系４と、出射側分光系４からの出射光のうち励起側分光系２から試料セル３に照射された光と同一波長の出射光を検出可能な光検出器５とを有する。光検出器５で検出される散乱光量が減少するときの分光系２、４の設定波長が測定試料の吸光波長となるため、未知の試料の吸光特性の測定が可能になる。 （もっと読む）

【課題】装置の動作異常の原因究明を短時間で簡単に行え、その異常部分を短時間で正常にすることができるＸ線分析装置および発光分析装置を提供する。
【解決手段】Ｘ線分析装置は、試料Ｓに１次Ｘ線２を照射し発生する２次Ｘ線６の強度をＸ線検出器７で測定する装置であって、分析室１０の真空度と温度、Ｘ線検出器７の高電圧、Ｘ線検出器７のフローガス流量のうちの少なくとも１つの計測値を求める計測手段１３と、当該装置の動作の異常を検出する異常検出手段２１と、現時点以前の所定の時間内の計測値の時系列を記憶しながら現時点以前の所定の時間内から外れた計測値の時系列を順に消去する記憶手段２２と、異常検出手段２１が異常を検出すると、記憶手段２２から記憶されている計測値の時系列を読出して記憶し、警告情報または異常情報、および記憶した時系列を表示手段２３に表示させる管理手段２５とを備える。 （もっと読む）

【課題】簡単かつ安価な構成で、明るく、かつ、波長分解能の高い分光検出ができるレーザ走査型顕微鏡を提供する。
【解決手段】レーザ光を射出する光源装置１０と、射出されたレーザ光を走査するＸＹガルバノスキャナ２２と、走査されたレーザ光を標本Ａに照射する一方、標本Ａからの光を集光する対物レンズ４５と、集光された標本Ａからの光を複数の波長帯域に分散する透過型の回折格子と、分散された光を検出する光検出部３６と、標本Ａからの光の回折格子への入射角を変化させるガルバノメータとを備え、ガルバノメータは、光検出部３６により検出される複数の波長帯域の光がブラッグの反射条件をそれぞれ満たすように、標本Ａからの光の回折格子への入射角を、各検出波長帯域毎に変化させるレーザ走査型顕微鏡１を採用する。 （もっと読む）

【課題】面倒な調整の必要がなく、波長再現性の良い安価な分光器を提供する。
【解決手段】回折格子およびスリット部を、可動部を持たない固定型とし、回折格子１で分光された分光光に対応した位置に複数のスリットが設けられたスリット部３を設置し、さらに特定波長の分光光のみ透過可能なマスクを該スリット部の入射側手前に設置し、減光フィルタ２６を付設したλ３用マスク４に開口されたスリット４ａに合致した光のみを透過させて、前記複数の分光光すべての検出が可能な大きさを有する検出器５により光強度を検出する。 （もっと読む）

【課題】標本の状態変化に応じて観察条件を変化させ、高速かつ高分解能な観察を行うことができるレーザ顕微鏡装置を提供する。
【解決手段】ＣＡＲＳ励起光およびラマン散乱励起光を同軸で標本に照射可能なレーザ照射光学系１０と、標本１０５から発生したラマン散乱光のスペクトルを検出するラマン散乱スペクトル検出部３と、ラマン散乱光のスペクトルを解析して標本中の分子の特定の振動数を算出するラマン散乱スペクトル解析部１１０と、ラマン散乱スペクトル解析部１１０により算出された振動数をＣＡＲＳ励起光の離調として設定する離調追加／削除制御部１１１と、設定された離調のＣＡＲＳ励起光をレーザ照射光学系１０により照射することで標本１０５から発生したＣＡＲＳ光を検出するＣＡＲＳ検出部５とを備えるレーザ顕微鏡装置２１を採用する。 （もっと読む）

【課題】広い波長域で高い光の利用効率を有する、分光検出機能を備えた共焦点顕微鏡を提供する。
【解決手段】標本を走査するガルバノミラー５を備えた共焦点走査型顕微鏡１００は、ＶＰＨグレーティング１を利用して標本からの光を分光し、光検出器１３で検出する。 （もっと読む）

【課題】歪みを有する薄膜半導体結晶層と前記薄膜半導体結晶層を支持する支持層を有する試料において前記薄膜半導体結晶層の歪みを測定する方法および装置を提供する。
【解決手段】本発明による方法を実施する薄膜半導体結晶層の歪みを測定する装置は、可視光と紫外光を励起光として共通光軸で発生できる励起光源（１〜５）を備えている。顕微鏡室７には試料１１を支持するステージ１２が設けられている。投射光学系８，９，１０は、ステージ１２に支持された試料１１に前記励起光を投射する。分光器１８に設けられた分光手段は試料１１からの各ラマン散乱光をそれぞれ分光する。演算手段は、前記分光手段の出力から前記薄膜半導体結晶層の歪みを演算する。 （もっと読む）