【課題】 オペレータが必要とする画像を柔軟に表示することのできる画像処理装置のディスプレイ表示方法を提供する。
【解決手段】 ディスプレイ１３の画像表示部１４が横並びに、第１、第２の表示領域１４ａ、１４ｂに分割され、第１表示領域１４ａに取込画像が表示され、第２の表示領域１４ｂにＮＧ画像が表示される。オペレータは、取込画像によって検査状態を確認しつつ、ＮＧが発生した状態を確認することが可能になる。ＮＧ画像はオペレータの表示切換指示がない限り更新されない。 （もっと読む）

【課題】 画像の領域分割処理の信頼性を高める。
【解決手段】 画像内の少なくとも一部の領域である処理対象領域に対して、第１種のエッジ検出処理を実行することにより画素値の段差の位置を表す段差位置エッジを検出する。この段差位置エッジを利用することにより、処理対象領域を複数の閉領域に分割する。また、処理対象領域に対して、画素値に応じた領域分割処理を実行することにより、処理対象領域を複数の色領域に分割する。そして、複数の閉領域の中から、複数の色領域のうちの特定の色領域内に包含される１つ以上の閉領域を抽出することにより、画像から一部の領域を抽出する。 （もっと読む）

【課題】光学部材の交換頻度を低くした配線パターン検査装置を提供すること。
【解決手段】本発明は、光透過性のベースフィルムに配線パターンを有する半導体パッケージ用多層配線基板からなるワーク２１の最上層配線パターンを光学的に検査する配線パターン検査装置である。光源１０からの光は熱線カットフィルタ１２で赤外線成分が遮断される。バンドバスフィルタ１４は、赤外線成分を遮断された光の波長域から、最上層配線パターンにおける反射光量と、ベースフィルム及び配線パターンにおける反射光量との差が最も大きくなる波長域を選択する。偏光ビームスプリッタ１８は、この選択された波長域における光から、この光の導光方向に対して電界ベクトル方向が直交する第１の直線偏光を抽出し、λ／４板２０に導く。λ／４板２０は、第１の直線偏光を円偏光に変換しワーク２１に照射する。 （もっと読む）

【課題】 パターンの欠陥を漏れなく検出し、検出速度を低下させず、欠陥領域を分離させずに検出可能なパターン欠陥検出装置及びその方法を提供する。
【解決手段】 本発明のパターン欠陥検出方法は、基板上に形成された周期的なパターンにおける欠陥を検出するものであり、周期分ずれた位置同士のパターンの画像を比較し、欠陥を有するパターンを検出する欠陥検出過程と、検出された欠陥の位置座標と、前回検出された欠陥の位置座標とを比較し、両位置座標が所定の距離以下であるか否かを検出する距離検出過程と、前記両位置座標が所定の距離以下である場合、これら２つの欠陥を１つの欠陥として結合する欠陥領域結合過程とを有することを特徴とする。 （もっと読む）

強い光、弱い光、及び蛍光の光の用途における、要素の光学検査中の検査速度を最適化する方法。自動収束メカニズムと、高速度ＣＣＤカメラと高開口数（ＮＡ）光学部品とを組み合わせたときに、優れた信号対ノイズ比、解像度、及び検査の速度性能を達成する、蛍光及び非蛍光用途に対して最適化された方法が記載される。
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【課題】 検査対象物の欠陥検出処理の信頼性を高める。
【解決手段】 検査対象物を撮影した、カラー画像を取得する。このカラー画像上で、所定の条件を満たす特別処理領域を取得する。また、所定の色空間内に、特別処理領域が取りうる色の範囲を示す実在色範囲と、実在色範囲外の非実在色範囲と、を設定する。そして、特別処理領域中の各画素の色が実在色範囲と非実在色範囲とのいずれに属するかを判定することにより、特別処理領域中の欠陥を検出する。 （もっと読む）

【課題】
表示されたプリント基板のレイアウト上で印刷はんだされた状態が基準のデータに対してどの程度差があるか定量的に一瞥して分布或いは傾向が認識できるようにすることが目的である。
【課題を解決するための手段】
差演算手段９により、測定された印刷はんだ状態を表す、印刷はんだの高さ、面積又は体積を、予め記憶した基準との差を偏差値として求め、階調割振手段１０により、偏差値を表示上の階調で表現し、各印刷はんだ箇所毎に階調表示することで分布状態が認識できる構成にし、かつ階調表示がどの程度の偏差値かの目安となる階調スケールを表示する構成にした。さらに、より大きな目で全体の傾向が認識できるようにレイアウトを複数の領域に分けて領域毎に偏差値の平均をとり、その平均値を階調表示する構成にした。
【解決手段】 （もっと読む）

配線パターン検査装置は、光源（１０）と、光源からの光をほぼ平行に導光する平行導光部と、平行導光部によって導光された光から、導光方向に対して直交する横波光成分を抽出し、この横波光成分を特定偏波成分に変換し、この特定偏波成分をワーク（５１）に照射し、照射された特定偏波成分がワークで反射してなる反射光から、縦波光成分を抽出する光抽出部を備えている。
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【課題】 基板検査用のウィンドウの設定条件を簡単に決定できるようにする。
【解決手段】 部品検査機１は、部品実装後基板のモデルを撮像するとともに、前工程の検査機であるはんだ印刷検査機３から同一基板の画像の提供を受ける。そして、これらの画像間の差分演算や差画像の２値化処理により、基板上の各部品を抽出した後、各種部品の標準検査データが登録された部品ライブラリを抽出した部品の大きさにより照合することにより、各部品を特定する。また抽出された部品に応じて部品ウィンドウの設定条件を決定し、その設定条件を部品の特定情報とともに登録する。そして、検査の際には、登録された設定条件に基づき検査対象の部品実装画像上に部品ウィンドウを設定し、そのウィンドウ内の画像データと部品特定情報に対応する標準検査データとを用いて部品の実装状態を検査する。 （もっと読む）

【課題】オペレータが基板の欠陥を検査するために適した照明を提供することにより、オペレータが欠陥を確認する際の作業効率を向上させる。
【解決手段】目視確認装置の制御部に照明制御部４８６を設ける。さらに、照明制御部４８６に方向決定部４８６ａおよび光量決定部４８６ｂを設ける。また、照明機構４６を複数の光源がリング状に配置された分割リング照明とする。方向決定部４８６ａおよび光量決定部４８６ｂは、欠陥に関する情報である欠陥データ１００に応じて照明方向および照明光量を決定する。照明制御部４８６は、照明機構４６の複数の光源のうち点灯する光源を選択することにより方向決定部４８６ａが決定した照明方向となるように照明機構４６を制御する。また、点灯する光源の光量を光量決定部４８６ｂが決定した照明光量となるように照明機構４６を制御する。 （もっと読む）

【課題】プリント回路基板上に実装された電子部品の外観検査において、シルクスクリーン印刷部による悪影響を除去可能な構成を提供する。
【解決手段】該当する電子部品１００の周囲にシルク検査ウインドウを設定する。次に予め登録されているシルクスクリーン印刷部２１０の色／輝度のデータに基づき、シルク検査ウインドウ内の画像データを二値化する。プリント回路基板上の部品１００の周囲のシルクスクリーン印刷部２１０を検出し、検出されたシルクスクリーン印刷部２１０と重複しないように所定の検査領域Ｗ１を画定する。 （もっと読む）

【課題】 対象物に均一に光を照射することができ、且つその光の色の設定が容易な同軸落射照明装置を提供すること。
【解決手段】 上下方向に伸びる筒体、この筒体内部に筒体の長さ方向に沿って互いに同軸に配置された一対の光学レンズ、この一対の光学レンズの間にレンズの軸に対して表面を傾斜させて配置されたハーフミラー、そして上記筒体の側部に備えられ、上記ハーフミラー表面での反射を介してレンズの軸と同軸に且つ筒体の下側方向に伝わる光を発する光源からなり、この光源が、直流電圧の印加により発光する有機エレクトロルミネッセンス素子を少なくとも一個備えていることを特徴とする同軸落射照明装置。 （もっと読む）

【課題】 部品の形態を明瞭にする部品の画像生成方法を提供する。
【解決手段】 画像生成方法は、スキャナー１７０により電子部品をカラーで撮像することで、その電子部品のカラー画像を生成するカラー画像生成ステップ（Ｓ１０１）と、そのカラー画像生成ステップ（Ｓ１０１）で生成されたカラー画像を、背景が白色又は黒色となって電子部品の外形が白黒の濃淡で表された部品白黒画像と、その電子部品の電極が白黒の濃淡で表された電極白黒画像に変換する変換ステップ（Ｓ１０２，Ｓ１０４）とを含む。 （もっと読む）

【課題】 検査対象部位や検査の目的が変わっても、同じ構成の照明系を用いて検査に適した照明を実施できるようにする。
【解決手段】 基板４の上方に、カメラ１を光軸を下方に向けて配備し、このカメラ１の撮像対象領域を、複数のフルカラーＬＥＤランプを有する照明装置により照明する。照明装置の各ＬＥＤランプは、前記カメラ１の光軸を取り囲み、かつ基板４上の撮像対象領域の中心点Ｏに対し、所定の角度幅をもつ範囲に配置される。これらのＬＥＤランプを、角度範囲の異なる複数の領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅに分類し、領域単位で制御することによって、検査の内容に応じた照明パターンを実現する。 （もっと読む）

【課題】 検査対象を強調して、検査すべき対象の取り違え、検査漏れ、不具合箇所の見逃し、良否の誤判断等を低減することができる検査方法、及び低コストで汎用性が高い検査支援システムを提供する。
【解決手段】 作業者は、電子部品５１，５２，…が配置された回路基板５に対し液晶パネル２３を被せるようにして離隔配置する。液晶パネル２３は、電子部品５１の位置に対応する高透光領域２３１ａ、及び低透光領域２３１ｂが混在するパターン２３１を表示する。作業者は、液晶パネル２３に表示されたパターン２３１の内の高透光領域２３１ａから透けて見える電子部品５１を検査する。 （もっと読む）

【課題】 検査感度及び検査速度を落とさずに、撮像部と照明系とからなる、複数の撮像系間の機差を校正する撮像装置及び撮像方法、さらにこれを用いた検査装置を提供する。
【解決手段】 本発明の撮像装置は、各々撮像部を有する複数の撮像系からなる撮像装置において、全ての撮像部の、露光時間に対応した輝度情報を読み込み、該輝度情報から各撮像部毎の露光時間係数を計算する露光時間係数計算部と、所定の露光時間に対して、各撮像部毎に対応する露光時間係数を乗じて、各撮像部の撮像に用いる撮像露光時間を計算する露光時間計算部とを有している。 （もっと読む）

【課題】プリント基板上の有機皮膜を検査する場合において、作業者の負担を軽減するとともに、高精度な検査を実現する。
【解決手段】コンピュータによってデータ処理部１１０および検出部１１１といった機能構成を実現する。データ処理部１１０は、良品基板やサンプル基板から実験により求めた閾値情報や検査領域を特定する情報を入力として受け付け、特性データ１００および検査領域データ１０１を生成する。検出部１１１は、検査領域データ１０１を参照することにより、検査対象となる基板を撮像した画像データ１０２を構成する画素から検査領域に相当する画素を選択する。さらに、選択した画素の画素値から実測値を演算し、求めた実測値と特性データ１００の閾値とを比較して、比較結果に応じて有機皮膜を検出する。 （もっと読む）

【課題】 欠陥の検出対象の形状による欠陥の検出処理量の増大を抑制する。
【解決手段】 複数の色の領域を有する検査対象物を撮影する。撮影によって得られた検査対象物のカラー画像を、色に応じて領域分割する。この領域分割結果から、特定の領域の形状を表す被検査画像を取得する。そして、被検査画像と比較画像とを対比することにより、特定の領域に関する欠陥を検出する。 （もっと読む）

【課題】 物体の表面領域の配置を画像の領域分割により取得する。
【解決手段】 互いに異なる複数の照明条件の下で物体を撮影した、複数の画像を取得する。これらの複数の画像をそれぞれ領域分割することにより、物体の表面領域の配置とは異なる複数の画像領域配置を取得する。そして、複数の画像領域配置に基づいて、物体の表面領域の配置を取得する。 （もっと読む）

本発明の実施形態は工作物に関連する位置情報と、工作物に関連して取得される検査情報との間の関連を提供する。この関連により、ユーザまたは技術者が、検査情報がかかわる工作物（３１０）上の物理的な位置を迅速に特定することの助けとなる。その後工作物上の検査された部品（１０４）の位置の指示とともに、部品検査情報をオペレータに供給することができる。
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