【課題】 カメラを用いてFPCの外観検査を行うに当たり、複数の検査項目の検査を安定かつ確実に行うことができるフレキシブルプリント配線板(FPC)の外観検査方法、及びこの外観検査に最適なFPCの外観検査装置を提供する。
【解決手段】 FPC1を撮像するカメラ10cと、カメラ10cから得られた画像を処理する画像処理手段(パソコン20)と、FPC1に対して光を照射する複数の異なる照明手段とを具える外観検査装置を用い、複数の異なる検査群から選択された検査を行う際、複数の異なる照明手段から各検査に適合した照明手段を選択して検査を行う。照明手段として、赤色無影反射型照明11r、青色無影反射型照明11b、白色リング型照明11w、赤色/青色切り替え可能な透過照明11uを具える。 （もっと読む）

【課題】基板上にパターンを形成し対象物を製作して行く製造工程で発生する異物等の欠陥を検出する際に、照明の形状を最適化することにより、検出感度およびスループットを向上する欠陥検査装置およびその方法を提供することにある。
【解決手段】本発明では、照明範囲内の照明照度分布のうち照度が最小になる領域の照度が最大になるような照明を実現し、信号のＳ／Ｎを最大にすることにより、検出感度の向上およびスループットの向上を実現する。 （もっと読む）

【課題】 配線部分と樹脂フィルム部分のコントラストが大きくなるようにし、反射照明により配線パターンを容易に検出できるようにすること。
【解決手段】 配線パターンが形成されたＴＡＢテープ５は、送り出しリール１１から巻きだされ検査部１に送られる。検査部１で、反射照明手段１ａで照明し、撮像手段１ｂでＴＡＢテープ５上の検査パターンを撮像する。撮像された検査パターンの画像は制御部４に送られ、基準パターンと比較されパターンの良否が判定される。反射照明手段の１ａの光源は、例えば波長５００ｎｍ以上の光のみを放射する例えば赤外ＬＥＤである。ＴＡＢテープ５を透過する波長５００ｎｍ以上の光のみで照明するので、コントラストの良い画像を得ることができる。またステージ１ｃの赤外線反射率を１０％以下としたり、ステージ１ｃを設けないことで、さらにコントラストのよい画像を得ることができる。 （もっと読む）

【課題】撮像のゆがみが表面実装基板等の半田付けなどの検査に際して無視できるとともに、焦点深度を深くし、且つ、検査装置を高速移動しても装置振れや振動の影響が撮像に現れないようにし、同時に、検査装置自体をコンパクトで安価なものにする。
【解決手段】第１ミラー４を、長焦点レンズを備えたビデオカメラ３の下方に当該ビデオカメラ３の光軸に対し４５゜の傾斜角をなして配置し、第２ミラー５を、第１ミラー４から所定間隔を空けて当該第１ミラー４に対向する態様で配置し、第３ミラー６を、第２ミラー５から上方に所定間隔を空けて当該第２ミラー５に対向する態様で配置し、第４ミラー７を、第３ミラー６に対向するとともに、被検査対象Ｗに対向する態様で、且つ、第１ミラー６と第２ミラー７との間隔の略１／２に相当する距離を隔てて配置する。これにより、本外観検査装置１と被検査対象Ｗとの外見上の対物距離は短縮される。 （もっと読む）

【課題】基板検査装置に用いられるパラメータを生成するに際し、二次反射の影響を除去することのできる技術を提供する。
【解決手段】パラメータ設定装置が、基板上のスルーホールを撮像して得られた複数のスルーホール画像を取得し、スルーホール画像におけるスルーホール周辺画素の色分布から、良品画像の画素のうち入射角の最も小さい光の二次反射光成分を含む画素がとり得る色範囲である二次反射色範囲を推定する。良品画像の中から二次反射色範囲内の色をもつ画素で構成される二次反射領域を特定し、特定された二次反射領域を良品画像から除去する。そして、二次反射領域除去後の良品画像を教師画像として、基板検査で用いられるパラメータを生成する。 （もっと読む）

【課題】高精度な欠陥候補の種別の判定を容易に行う。
【解決手段】パターン検査装置の演算部５０は、被検査画像と参照画像とを比較して被検査画像中の欠陥候補領域を示す２値の欠陥候補画像を生成する欠陥候補画像生成部５１１を有し、被検査画像マスク部５２１により欠陥候補画像を用いて被検査画像がマスクされる。特徴抽出部５３１ではマスク後の被検査画像から自己相関特徴量が求められ、判定部５４に出力される。判定部５４は自己相関特徴量が入力されることにより判定結果を出力する判定器５４１、および、学習により判定器５４１を構築する判定器構築部５４２を有する。これにより、幾何学的特徴量や濃淡を示す特徴量に比べて特徴付けが困難となる自己相関特徴量を利用した高精度な欠陥候補の種別の判定が容易に実現される。 （もっと読む）

【課題】 本発明は、プリンタ基板からの反射光を取り込んだ画像データを用いて正確な良否判定を行うことができ、良否判定の基準となる基準データの作成を短時間で行うことができるはんだ付け外観検査装置およびはんだ付け外観検査方法を提供することを課題とする。
【解決手段】 投影データ作成部１２は、パット４と接続端子２１とのはんだ付け部の画像データをパット４の幅方向に投影処理した検査対象投影データを作成し、演算部１４は、検査対象投影データと基準投影データ記憶部１３に記憶されている基準投影データとを比較し、判定部１５は、検査対象投影データと基準投影データとの比較結果に基づいてはんだ付け状態の良否を判定する。 （もっと読む）

【課題】高密度実装基板における半田フィレットの良否判定を高精度に行うことのできる技術を提供する。
【解決手段】基板検査装置は、まず第１ロジックに従って、検査画像から青系色の第１画素領域を抽出し、第１画素領域がもつ特徴量が第１判定条件を満足するか判定する。次に、基板検査装置は、第２ロジックに従って、検査画像から赤系色の第２画素領域を抽出し、第２画素領域がもつ特徴量が第２判定条件を満足するか判定する。そして、第１ロジックおよび第２ロジックの判定結果が共に真の場合に検査対象部品を良品と判定する。 （もっと読む）

【課題】不良品のサンプルが無い場合でも、基板検査装置に用いられるパラメータを自動生成可能な技術を提供する。
【解決手段】パラメータ設定装置が、基板上のスルーホールを撮像して得られた複数のスルーホール画像を取得し、そのスルーホール画像におけるスルーホール周辺画素の色分布から、不良な半田領域の画素がとり得る不良色範囲を推定する。そして、良品画像における半田領域の各画素の色を良点として色空間（色ヒストグラム）マッピングするとともに、その色空間の不良色範囲内に所定数の不良点をマッピングする。この色空間における良点と不良点の度数分布に基づいて良点の色と不良点の色とを分離するための色範囲を求め、その色範囲を基板検査で用いられる色条件（色パラメータ）として設定する。 （もっと読む）

【課題】
プリント板に付された認識マーク（バーコード）からプリント板を特定する基板工程情報を取得するのに係る時間的、コスト的負担を軽減できる印刷はんだ検査装置の提供である。
【解決手段】
測定手段１００によりプリント板の表面にレーザ光を走査しつつ照射させ、その反射光から得られるプリント板表面の各位置における高さ方向の変位を示す測定値を取得して測定値記憶手段６に記憶し、その測定値に基づいて判定手段８が印刷はんだの形成状態の良否を判定し、コード検出手段９が測定値記憶手段６に記憶された測定値から認識コードのパターンを検出し、検出された認識コードのパターンから翻訳手段１０が基板工程情報を読み出す構成とした。 （もっと読む）

【課題】 メッキ不良等によりフィルドビア内部に生じている凹状欠陥を確実かつ高能率に発見できる配線基板の検査方法を提供する。
【解決手段】 上面にフィルドビア導体１３４ｓの頂面が露出した状態の被検査基板体において、基板主表面法線に対し、その片側から傾斜した角度で入射する照明光ＬＢによりフィルドビア導体１３４ｓの頂面領域を照らしながら該頂面領域の画像を撮影する。そして、撮影された画像上の頂面領域に生ずる陰影情報に基づいて、フィルドビア導体１３４ｓの金属充填不良により生ずる凹状欠陥ＰＦの発生状態を検査する。 （もっと読む）

【課題】基板検査装置に用いられるパラメータを自動生成可能な技術を提供する。
【解決手段】パラメータ設定装置が、部品の実装位置が正常な良品画像における半田領域の各画素の色を対象点として、部品の実装位置が正常でない不良品画像における半田領域の各画素の色を除外点として、それぞれ色空間（色ヒストグラム）にマッピングする。そして、色空間を分割する色範囲であって、そこに含まれる対象点の数と除外点の数の差（度数合計値）が最大となるような色範囲を求め、求められた色範囲を基板検査で用いられる色条件（色パラメータ）として設定する。これにより、検査用のパラメータの１つである色条件が自動的に生成される。 （もっと読む）

【課題】発光ダイオードを用いて移動する対象物上の所定領域の画像を精度よく取得する。
【解決手段】画像取得装置１は、対象物９を連続的に移動するコンベア２、および、コンベア２の上方に設けられたヘッド部３を備える。ヘッド部３は、フラッシュ光を出射するＬＥＤ３１、対象物９にフラッシュ光を導くとともに対象物９からの光が入射する顕微鏡３２、および、顕微鏡３２により所定の倍率で結像された対象物９の像を電気信号に変換する撮像デバイス３３を有する。画像取得装置１では、連続点灯時の許容電流を超える電流がＬＥＤ３１に入力されて、コンベア２により移動する対象物９に対してフラッシュ光が照射され、対象物９上の検査領域の画像が取得される。これにより、ＬＥＤ３１を用いて移動する対象物９上の検査領域の画像を精度よく取得することができる。 （もっと読む）

【課題】稼働効率を向上させることができる実装基板の検査用データ作成方法を提供する。
【解決手段】本発明は、実装基板Ｐ上に搭載された電子部品の実装状態を検査装置により検査するために用いる検査用データを作成する方法を対象とする。本発明は、検査装置１０の撮像手段によってサンプル基板を撮像してサンプル画像を得るステップと、検査装置１０による検査用ラインに対し独立するオフライン上にサンプル画像を取り込むステップと、オフライン上に検査用データを取得するステップと、オフライン上で検査用データを基準にしてサンプル画像の画像処理テストを行って、検査用データを検証し、必要に応じて修正するステップと、検査用データを検査装置１０に送り出すステップと、を含む。 （もっと読む）

【課題】分割して撮像した画像を精度良くつなぎ合わせることができる実装基板の撮像方法を提供する。
【解決手段】本発明の撮像方法は、電子部品Ｅが実装された実装基板Ｐを複数の撮像領域Ｐｇに分割するとともに、各撮像領域Ｐｇに撮像手段３を順次移動させて撮像して複数の分割撮像データを得る撮像ステップと、複数の分割撮像データをつなぎ合わせて合成撮像データを得る合成ステップと、合成撮像データにおける撮像領域毎の位置ずれ量に基づいて、撮像手段３の撮像領域Ｐｇに対する撮像位置を補正する補正ステップと、を含む。 （もっと読む）

【課題】 部品の形状や大きさに関わらずに、その部品の形態を正確に示す部品教示データを作成する部品自動教示装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 光を透過するガラス板１１２に載置された部品を含む周辺に対し、その部品から見てガラス板１１２と反対側（上方）から、青色又は赤色の光を照射するカバー１２０と、そのカバー１２０が照射している状態で、その部品をガラス板１１２を介してカラーで撮像することで、その部品のカラー画像を生成するスキャナ本体１１０と、スキャナ本体１１０によって生成されたカラー画像から、その部品の形態を特定して前記部品教示データを作成する制御部２２０とを備える。 （もっと読む）

【課題】発光ダイオードを用いて移動する対象物上の所定領域の画像を精度よく取得する。
【解決手段】画像取得装置１は、対象物９を連続的に移動するコンベア２、および、コンベア２の上方に設けられたヘッド部３を備える。ヘッド部３は、フラッシュ光を出射するＬＥＤ３１、対象物９にフラッシュ光を導くとともに対象物９からの光が入射する顕微鏡３２、および、顕微鏡３２により所定の倍率で結像された対象物９の像を電気信号に変換する撮像デバイス３３を有する。画像取得装置１では、コンベア２により移動する対象物９に対してパルス幅が１０μ秒以下のフラッシュ光がＬＥＤ３１から出射され、対象物９上の検査領域の画像が取得される。これにより、ＬＥＤ３１を用いて移動する対象物９上の検査領域の画像を精度よく取得することができる。 （もっと読む）

【課題】信頼性の高い検査結果を得ることができる実装基板の検査方法および同装置を提供する。
【解決手段】電子部品の形状を示す数値データと、この数値データに応じて作成される電子部品の見え方を表現した人工画像を含む人工部品データを作成する。検査対象の実装基板を撮影して得られる該実装基板上の電子部品の撮像画像を前記人工画像と照合し、実装基板における電子部品の搭載位置データと比較することにより、該実装基板上の電子部品の実装状態を検査する。 （もっと読む）

【課題】 パターンの欠陥を漏れなく検出し、検出速度を低下させず、欠陥領域を分離させずに検出可能なパターン欠陥検出装置及びその方法を提供する。
【解決手段】 本発明のパターン欠陥検出方法は、基板上に形成された周期的なパターンにおける欠陥を検出するものであり、周期分ずれた位置同士のパターンの画像を比較し、欠陥を有するパターンを検出する欠陥検出過程と、検出された欠陥の位置座標と、前回検出された欠陥の位置座標とを比較し、両位置座標が所定の距離以下であるか否かを検出する距離検出過程と、前記両位置座標が所定の距離以下である場合、これら２つの欠陥を１つの欠陥として結合する欠陥領域結合過程とを有することを特徴とする。 （もっと読む）

強い光、弱い光、及び蛍光の光の用途における、要素の光学検査中の検査速度を最適化する方法。自動収束メカニズムと、高速度ＣＣＤカメラと高開口数（ＮＡ）光学部品とを組み合わせたときに、優れた信号対ノイズ比、解像度、及び検査の速度性能を達成する、蛍光及び非蛍光用途に対して最適化された方法が記載される。
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