【課題】成形むらを欠けと区別できるようにし、良品である成形むらの無駄ばねを抑制することを可能にする。
【解決手段】検査領域生成部１６は、検査対象である物品Ｇの濃淡画像について指定した着目領域から検査領域を生成する。方向値画像生成部１４は、検査領域に含まれる画素の濃度勾配に対応付けた方向値を各画素の画素値とする方向値画像を生成する。着目画素抽出部１７は、方向値画像のうち物品の成形むらに相当する特定の方向値を持つ画素を着目画素として抽出する。演算部１８は、検査領域において方向値を持つすべての画素の画素数に対する着目画素の画素数の割合を算出する。判定部１９は、演算過程において求めた割合を欠けに対する範囲として規定した数値範囲と比較し前記割合が当該数値範囲を逸脱しているときには成形むらであると判定する。 （もっと読む）

【課題】 光学的手法を用いて、リチウムイオン電池等の電極用素材表面上の異物を検出し、迅速に形状や大きさを判定する。
【解決手段】ローラで搬送される電極用素材に対して、搬送方向上流から下流方向に斜め上方から第１照明装置によって光を照明し、その散乱光の画像データ１を得る。同じ測定部位に対して、搬送方向下流から上流方向に斜め上方から第２照明装置によって光を照明し、その散乱光の画像データ２を得る。画像データ処理装置では、得られた２種類の輝度分布のデータを重畳した総合画像データと、画像データ１、２とを比較して異物の形状の種類を判定するので、短時間で形状の種類判定ができ、高速で搬送される電極用素材の異物検査の精度が向上する。 （もっと読む）

【課題】樹脂シート間での厚みのばらつき、樹脂材料検査装置間での撮影装置の特性のばらつき、撮影装置の特性の経時変化等によらず、一定の検査基準で検査を行うことができる樹脂材料検査装置を提供する。
【解決手段】樹脂材料検査装置は、ペレット状態の樹脂材料を加熱加圧成形することによって作製された検査用の樹脂シートの透過光像を撮影して画像データを得るエリアカメラ１４と、画像データを解析して樹脂シートの欠陥を検出することによって樹脂材料の欠陥を検出する濃度・面積計測部３９と、画像データの少なくとも一部の領域内における画素の平均輝度値と予め設定された基準輝度値とを比較する比較部３３と、比較部３３における比較の結果に基づいてエリアカメラ１４の露光時間を変更する撮影装置制御部３４とを備え、濃度・面積計測部３９が、露光時間が変更された後のエリアカメラ１４によって得られた画像データを解析する。 （もっと読む）

【課題】被検査対象に実際の欠陥検出に近い状態で自己診断を行うことができる自己診断機能を備えた品質検査装置を提供する。
【解決手段】被検査対象Ｓに光を照射する光源１０と、光源１０から被検査対象Ｓに照射した光の反射光又は透過光を受光する撮影手段２０を備えた品質検査装置１であって、光源１０が、複数の発光体１１と、複数の発光体１１の作動を制御する制御手段３０とからなり、制御手段３０は、複数の発光体１１のうち、発光させる発光体１１を選択し、選択された各発光体１１の発光量を決定する機能を有するものである。選択する発光体１１の位置および数と、選択された各発光体１１の発光量を制御すれば、実際に発生する欠陥に類似した擬似欠陥像を被検査対象Ｓに形成することができる。すると、撮影手段２０が正常に撮影を行っているか、又は欠陥の検出が正確に行われているかを的確に判断することができる。 （もっと読む）

【課題】 検査対象領域のサイズがばらつきに対応して画像抽出を行い、十分な検査精度が得られる外観検査システムを提供する。
【解決手段】 画像処理を用いた外観検査システムであって、検査対象の撮像画像の回転補正を行った後、回転補正画像の加工部測定を行い、その測定結果に合わせてサイズを調整した良品画像とのパターンマッチングによって検査対象領域の抽出を行い、抽出された検査対象領域を２値化することにより、検査を行うようにした外観検査システム。 （もっと読む）

【課題】半導体ウェハに代表される被検査物において、異物が電極パッド上に残っていたとしても針痕に異常がなければ、正常な針痕、しいては正常な電極パッドとして扱う方法と装置の提供。
【解決手段】電気的特性検査をおこなった時の通電のために電極パッド上に形成される針痕だけでなくその他異物が混在している場合において、電極パッドの画像を２値化、ラベリング処理、穴埋め処理、ヒストグラム算出という一連の処理により針痕と異物とに分類する。 （もっと読む）

【課題】簡易な構成で、高い検査精度を維持したまま検査時間の短縮化を可能とする環状部材の外観検査装置を提供すること。
【解決手段】環状の被検査体１００の内周面１００ａを照明する照明手段２０と、該照明手段２０によって照らされた前記被検査体１００の内周面１００ａの全面を映し出す反射面１０１を有する反射体１０と、該反射体１０に映し出された前記被検査体１００の内周面１００ａの全部を一時に撮像する撮像手段３０と、該撮像手段３０により撮像された画像に基づいて前記被検査体１００の内周面１００ａにおける欠陥の有無を判別する判別手段４０とを備え、前記照明手段２０および撮像手段３０は、前記被検査体１００の一方の端面側に設けられ、前記反射体１０は、前記被検査体１００の他方の端面よりも外側に配設されている。 （もっと読む）

【課題】液体が充填された透明な容器に混入した不透明な異物を検査する際、照明の不均一さや照射光の屈折による異物の誤検出を低減する画像処理方法を提供する。
【解決手段】検査する容器の原画像に対し平滑化などの雑音画像処理を施して擬似的な基準画像を取得し、その基準画像の輝度を基準として原画像との輝度差分を求め、差分画像を生成する。この差分画像を検査することにより、照明の不均一さや照射光の屈折により生じる画像の輝度変化の影響を回避し、誤検出を低減させる。 （もっと読む）

【課題】形状の異なるモジュールであっても確実に欠陥部分を抽出する欠陥検査方法を提供する。
【解決手段】リング照明でモジュールＭへ投光して撮像された第１の画像１０Ａの所定以上の輝度を有する領域を抽出する第１のステップを行い、抽出された所定以上の輝度を有する領域において所定の大きさ以上の面積を有する領域を第１の画像１０Ｂより除去する第２のステップを行い、第１の画像１０Ｃから直線または曲線形状で抽出された領域を除去する第３のステップを行い、モジュールＭをリング照明により投光して撮像された第２の画像１１Ａにおける第２のステップと第３のステップとにより第１の画像１０Ａから除去された領域に対して、第１のステップ、第２のステップ、第３のステップを再び実施する第４のステップを行うことにより、不要な高輝度領域を削除して欠陥部分８、１２のみを抽出することにより形状の異なるモジュールＭでも検査が可能になる。 （もっと読む）

【課題】簡便にかつ迅速に、より高精度にボイラ等の火炉壁管等の前記亀裂の前記亀裂深さを評価するようにした寿命評価方法を提供する。
【解決手段】検査対象の表面の亀裂長さ分布、亀裂幅分布、亀裂面積比の何れか一つ又はこれらの組合せからなる亀裂評価項目を画像処理により測定し、予め設定された前記亀裂評価項目と亀裂深さの相関関係に基づいて前記測定された亀裂評価項目から亀裂深さを推定する寿命評価方法において、前記相関関係は、予め前記亀裂評価項目と亀裂深さの関係式として複数設定されており、前記検査対象の使用環境、温度条件等を含む環境因子に基づいて前記複数の関係式から選択された関係式を用いて、前記亀裂の表面を撮影した撮影画像から画像処理により検出された前記亀裂評価項目から前記亀裂深さを推定するようにした。 （もっと読む）

【課題】中空糸膜モジュールの欠陥検査方法では、検査精度を高めるためには、画像の分解能をあげなければならない。しかし、画像の分解能を上げると、画像データ量が増える。すると画像撮影のために時間がかかり、検査時間が増大するという課題があった。
【解決手段】比較的低い分解能で中空糸膜モジュールの端面の映像を撮り、画像補間によって情報量を増やす。その上で２値化した画像データを用いて欠陥検査を行う。このようにすることで、撮影時間を短くすることができ、またデータ補間と２値化によって、誤検出や過検出といったことのない精度よい欠陥検出をすることができる。 （もっと読む）

【課題】 本発明は、赤外線領域において異なる特性を有するインキで印刷模様を印刷した印刷物の検査装置に関するものである。
【解決手段】 検査台の固定手段に被印刷物を固定設置し、被印刷物のしわ、曲がり又は浮き上がりを伸ばしながら固定する伸長手段から成る押さえ手段と、赤外線を含む光を照射する照明ユニットが複数個を有する照明手段と、赤外線画像データを取得する画像入力手段と、基準となる印刷模様の判定データ及び基準となる印刷模様の基準位置を示す基準位置画像データを記憶する記憶手段と、赤外線画像データと判定データを比較して良否を判定する比較判定手段と、比較結果に基づいて被印刷物の印刷模様の面積及び／又は濃淡の階調の良否を報知する報知手段から成る。 （もっと読む）

【課題】散発的な点を除いた自然な形で薄板の表面欠陥をグループ化できるようにする。
【解決手段】薄板コイルのプロセスラインや検査ラインに設置された自動疵検査装置で測定された疵データ（座標データを含む）を入力する疵データ入力部１０１と、疵データ入力部１０１によって入力された疵データに基づいて、例えばＫ-ｍｅａｎｓ法を用いて、薄板コイルの疵の分布形態を表わす初期クラスタを生成する初期クラスタ生成部１０３ａと、初期クラスタ生成部１０３ａによって生成された初期クラスタから散発的な分布をなすデータを分離して、集中的な分布をなすデータを含むクラスタを生成する分離部１０３ｃと、分離部１０３ｃによって生成された集中的な分布をなすデータを含むクラスタ同士を結合する結合部１０３ｄとを備える。 （もっと読む）

【課題】人の主観によらず、均一な結果を得ることが可能な金属の腐食率計測方法を提供する。
【解決手段】
金属部材を含む領域を撮影し、R（赤）、G（緑）、B（青）それぞれの原色について複数段階の階調で表現した画素の集合からなる撮影画像を生成する工程と、金属部材を含む領域を、金属部材の領域と、金属部材以外の領域に２極化して２極数値画像を生成する工程と、前記金属部材表面の撮影画像から、前記２極数値画像の金属部材以外の画素の領域を除外して解析用画像を生成する工程と、解析用画像の画素の、R、G、Bのそれぞれの原色の階調の強弱を比較して、複数の識別コードに分類する工程と、前記複数の識別コードに分類された画素を、正常部位、発錆部位、侵食部位に分類する工程を含み、前記正常部位、発錆部位、侵食部位に分類された画素の比率から、腐食率を計測する。 （もっと読む）

【課題】 溶接部の溶接品質を判定するのに要する手順を簡単化するとともに、検査者の技量に依存することなく一定の判定精度を確保することができるレーザ溶接評価方法を提供する。
【解決手段】 本発明に係るレーザ溶接評価方法は、溶接部の断面が測定面２２となるように、金属材から試片１５を切り出す切出しステップＳ１０１と、撮像面１１ａ上にスケール１６が配置された撮像用ステージ１１を用意し、測定面２２が撮像面１１ａに対面して接するように、複数の試片１５を配置する配置ステップＳ１０３と、試片をスケール１６と共に撮像手段１２を用いて撮像する撮像ステップＳ１０４と、スケール１６を共通の基準とし、各試片の測定面の画像から各測定項目の物理量を算出する算出ステップＳ１０５と、物理量を評価基準と比較して、溶接部の溶接品質を評価する評価ステップＳ１０６と、を備える。 （もっと読む）

【課題】簡便な構成で高い精度の検査を実現するとともに、検査コストを抑えつつ、検査効率の高い検査装置及び検査方法を提供するとともに、視認し難い樹脂の異常歪みを検出することができる検査装置及び検査方法を提供する。
【解決手段】樹脂成形体の検査装置であって、樹脂成形体に対して検査光を照射する光源と、検査光の進行方向上に配置した偏光手段と、検査光が偏光手段を通ることによって生ずる干渉模様を撮像する撮像手段と、干渉模様に基づいて樹脂成形体の歪み、形状、及び外観のうち少なくとも一つを解析する解析手段と、を備え、偏光手段は、少なくとも、光源と樹脂成形体との間に配置した第１偏光手段と、樹脂成形体と撮像手段との間に配置した第２偏光手段と、を有する。 （もっと読む）

【課題】エラーとなり得る情報記録媒体の表面の欠陥を精度良く検出可能な表面欠陥検査方法および表面欠陥検査装置を提供する。
【解決手段】表面欠陥検査装置１の微分干渉顕微鏡３とＣＣＤカメラ４で検査対象物Ｍの情報記録媒体表面の微分干渉画像を撮像する。画像処理装置５では、この微分干渉画像に対して欠陥を含むレファレンスサンプルの画像例に基づく欠陥候補スライスレベルを設定し、微分干渉画像から欠陥候補を選定する。そして、選別された各欠陥候補に対して、その面積がエラーとなる最小サイズの欠陥の面積に基づく欠陥面積判定値以上のものを真にエラーに対応する欠陥として抽出する。 （もっと読む）

【課題】印刷半田の状態を的確に検査することができる印刷半田検査方法及び装置を提供することにある。
【解決手段】基板１０に印刷された半田１０ｘの２次元画像を撮像する光学系２０、３０と、当該印刷半田の３次元画像を撮像する光学系２０、３０と、撮像した２次元画像及び３次元画像を処理して、該印刷半田の底部面積、パッド面積等の２次元性状の項目６１を測定すると共に断面積、突起面積、平均高さ、ピーク高さ、体積等の３次元性状の項目６２を測定し、当該測定項目に基づいて該印刷半田の形状を決定し、また、少なくとも２つの前記測定項目をマトリックス状に組み合わせて該印刷半田の形成合否を判定する検査部５０、６０、８０とを備える。これにより、２次元測定と３次元測定をそれぞれ単独で実施するよりも、正確に印刷半田の形状を決定することが可能となると共に正確に印刷半田の形成合否を判定することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】従来、製造プロセスの不良対策は、該検査装置で検出された欠陥を分析することにより行われている。一方、光散乱方式の欠陥検査装置の検出結果として総検出個数や欠陥の検出座標、欠陥の寸法などの情報を出力している。光散乱方式の欠陥検査においては、散乱光を用いて欠陥の寸法を測定しているが、寸法が適切に算出できない場合があった。
【解決手段】光学的系により検査する欠陥検査装置において、欠陥検出とほぼ同時に欠陥の寸法を測定する。欠陥寸法の測定を高精度化するために、標準粒子などの標準試料を用いて欠陥寸法を校正する手段を備えた。 （もっと読む）

【課題】パターン画像検出部１１０の特性変動や被検査ウェーハ６の表面特性の個体ばらつきに応じて、欠陥判定のしきい値を自動的に調整する。
【解決手段】画像処理部１２０は、被検査ウェーハ６表面のある領域の検出画像とその領域と同じパターンを有する他の領域の検出画像との差分画像に基づき、欠陥信号を抽出する欠陥信号抽出部２１、前記差分画像の全画素について、その各画素の欠陥信号量を累積して、その頻度分布および分散を算出する欠陥信号累積部２３、その算出した分散を、基準の被検査ウェーハ６から得られた基準の頻度分布の分散と比較して、頻度分布のオフセット量を算出するオフセット算出部２４、あらかじめ設定された基準の欠陥判定しきい値を前記オフセット量により修正し、その修正した欠陥判定しきい値に基づき、前記欠陥画像についての欠陥信号の欠陥判定を行う欠陥判定部２５、を含んで構成される。 （もっと読む）