【課題】複数のピグテールが写る可能性が有る場合でも、ピグテールがばらけているか否かを正確に判断することが可能な部品の検査装置及び検査方法を提供する。
【解決手段】検査装置は、第２のピグテール取り付け部１２７−２が第１のピグテール取り付け部１２７−１の背後に隠れるように配置して撮影した第１の検査画像と、各ピグテール取り付け部を逆に配置して撮影した第２の検査画像を取得する撮像部５と、第１及び第２の検査画像から二つのピグテール（１２３−１、１２３−２）の何れかに相当するピグテール領域を抽出するピグテール領域抽出部６４と、第１及び第２の検査画像について、最も面積の大きいピグテール領域をそれぞれ第１及び第２の着目ピグテール領域として選択するピグテール領域選択部６６と、第１又は第２の着目ピグテール領域に囲まれた非ピグテール領域が存在する場合、部品は不良品であると判定する良否判定部６７とを有する。 （もっと読む）

【課題】垂直、水平及びその他の角度のクラック（亀裂）を膨れから区別することができるガラス容器の検査装置を提供すること。
【解決手段】ガラス容器の口部の“膨れ”を“亀裂”から区別するための装置。複数の隣接する帯内の対象物中心を判定する制御装置によって、１つの列内の対象物の各々の中心が判定される。対象物中心を最も多く有する帯が判定され、最も多くの対象物中心を有する帯内の対象物が、残りの帯から削除される。当該制御装置は、各帯内の対象物が特有のものとなるまで、対象物中心を最も多く有する帯の残りの部分を繰り返し判定し且つ残りの帯から対象物中心を最も多く有する帯の残りの部分内の対象物を削除する。各帯内の対象物の最大離隔距離が規定され、この離隔距離に基づいて、“亀裂”が“膨れ”から区別されるであろう。 （もっと読む）

【課題】穀粒の断面（硝子質部分）を瞬時に解析できる方法、および、品質評価の対象となる複数の穀粒の切断を一度に同時に行うことのできる装置を提供する。
【解決手段】ほぼ赤道部を切断した所定数の穀粒の切断面をスキャナ１により同時に撮像してＰＣ３に取り込み、撮像した穀粒の切断面の原画像から、当該穀粒の断面の抽出を行い、抽出した穀粒の断面と原画像における穀粒の切断面の画像を合成して、背景にノイズのない穀粒の切断面の画像を生成し、穀粒の切断面のコントラストを所定の閾値で二値化することにより、粉状質部分の抽出を行い、穀粒の断面の画像より求めた各穀粒の断面積と、当該穀粒における粉状質部分の面積から、１粒の硝子率を演算し、さらに、所定の式に基づいて、サンプル群の硝子率を求め、当該サンプル群の穀粒の品質を評価する。 （もっと読む）

【課題】 膜欠陥の定量化が容易であり、広い範囲における薄膜の欠陥を評価することができる膜欠陥評価装置および膜欠陥評価方法を提供する。
【解決手段】 膜欠陥評価装置（１００）は、基材上に形成された膜上に金属材料が配置された試料（１０）において、膜における金属材料の透過状況に基づいて膜の欠陥を評価する評価手段（４０，５０）、を備える。膜欠陥評価方法は、基材上に形成された膜上に金属材料が配置された試料において、膜における金属材料の透過状況に基づいて膜の欠陥を評価する評価ステップ、を含む。 （もっと読む）

【課題】メタリック塗装の外観を数値化する。
【解決手段】メタリック塗装数値化装置は、標準的試料又は評価対象の試料のメタリック塗装面を拡大する顕微鏡、拡大されたミクロ画像を撮像する顕微鏡デジタルカメラ、ミクロ画像から第１の特徴量を抽出するミクロ画像解析手段４１、標準的試料の第１の特徴量を記憶するデータベース（記憶手段４０）、データベースに記憶された第１の特徴量と評価対象の試料から抽出された第１の特徴量とを比較して、評価対象の試料を判別する判別手段４３を備える。第１の特徴量としては、メタリック塗装中の金属光沢の微小片であるフレークのサイズ、フレークの密度、フレークの浮き沈みの度合いを示す評価値、及びフレークの表面状態を示す評価値のうちの少なくとも１つが採用される。 （もっと読む）

【課題】
検査装置で得られた欠陥の情報とレビュー装置で得られた欠陥の情報とを自動的に突合せして得られたデータの加工を容易として、欠陥の種類ごとの分類が容易なデータ処理装置，検査作業支援システム，データ処理方法を提供する。
【解決手段】
検査装置から送信された試料の欠陥に関する検査情報と、レビュー装置から送信された該欠陥の観察により得られたレビュー情報とを表示するディスプレイと、検査情報とレビュー情報とを突合せして同一の欠陥に関する検査情報とレビュー情報とを並べてディスプレイに表示させるマイクロプロセッサとを備え、該マイクロプロセッサは、欠陥から選択された複数の欠陥のＩＤをひとつの軸とし、ディスプレイに表示された特徴量を得たときの複数の条件をひとつの軸とし、該特徴量をディスプレイへ表として表示させ、さらに選択された特徴量のデータを別のソフトへ貼り付け可能とした。 （もっと読む）

【課題】従来法における引け巣の影響を排除し熟練者による測定値と高い相関性を確保して介在物数を自動計測する方法およびそれに用いる鋳物試料採取用鋳型を提供する。
【解決手段】アルミニウム合金からなる鋳物試料片の矩形の破面をＣＣＤカメラなどの撮像手段で撮像して、前記撮像手段により撮像された画像をカラー濃淡処理し、所定の閾値によって２値化して、所定サイズの画素クラスターの数を計測する非金属介在物の測定方法であって、前記撮像前に前記破面の端部エッジを検出し、前記破面の両端部に該破面の１／４〜２／３の面積の測定領域を自動的に設定する非金属介在物数の測定方法。凹溝を有する上型と、湯口付き下型とから構成され、前記上型と前記下型とを組み立てた状態で、湯流れ方向に伸びる略直方体のキャビティを有し、前記取手付き上型の凹溝の底面には、湯流れ方向とは垂直な方向に伸びる逆Ｖ字型凸部を等間隔に設けた鋳物試料採取用鋳型。 （もっと読む）

【課題】微細な疵と大きな疵との双方を従来よりも精度良く検出できるようにする。
【解決手段】鋼板１の表面に形成された疵の形状を可及的に正確に表す画像信号を第３の２値化部２４及び孤立点除去部２５で生成し、相対的に小さな１つの疵領域を可及的に確実に１つの領域として表す画像信号を、第１の２値化部２６及び膨張部２７で生成し、相対的に大きな１つの疵領域を可及的に確実に１つの領域として表す画像信号を、低分解能化部２８、第２の２値化部２９、膨張部３０、及び伸張部３１で生成する。従って、第３の２値化部２４及び孤立点除去部２５で、本来１つの疵領域であるべきものが、複数の疵として検出されても、それら複数の疵が１つの疵領域に属するものであることを、第１の２値化部２６、膨張部２７、低分解能化部２８、第２の２値化部２９、膨張部３０、及び伸張部３１における検出結果により判別できる。 （もっと読む）

【課題】この発明はリードの輝度が高い場合であっても、そのリードに異方性導電部材が貼着されているか否かを確実に判定することができる検査装置を提供することにある。
【解決手段】基板に貼着された異方性導電部材４の端部の部分を撮像する撮像カメラ２と、撮像カメラの撮像範囲におけるリード３の異方性導電部材が貼着されていない部分の輝度を測定するリード明暗測定部６と、リード明暗測定部の測定に基づいて閾値を設定する二値化閾値設定部８と、二値化閾値設定部によって設定された閾値に基づいて撮像カメラの撮像画像を二値化処理する二値化画像作成部９と、二値化画像作成部によって得られた二値化画像に基づいて異方性導電部材の端部の状態を判定する判定部１３を具備する。 （もっと読む）

【課題】大きさや形状が異なるむらが混在する場合においても、むらの検出を安定して自動的かつ効率的に行うことができる外観検査装置及び外観検査方法を提供する。
【解決手段】中心領域平均算出部１４は、対象画素に対応する中心領域における輝度（画像データにおける各画素の濃淡値）の平均値（中心領域平均輝度）を算出する。周辺領域１平均算出部１５１〜周辺領域Ｎ平均算出部１５Ｎは、同様に、この中心領域に対応する周辺領域１〜周辺領域Ｎにおける各画素の濃淡値の平均値（周辺領域Ｎ平均輝度）を算出する。次に、平均差分算出部１６は、中心領域平均輝度と周辺領域１平均輝度〜周辺領域Ｎ平均輝度との差分値（差分値１〜差分値Ｎ）を算出する。さらに、平均差分算出部１６は、差分値１〜差分値Ｎの中から代表値（代表差分値）を抽出する。この外観検査装置１においては、この代表差分値を用いてむらの検出を行う。 （もっと読む）

【課題】ウォータージェットピーニング施工面の残留応力を、非破壊かつ炉内環境下で評価できる残留応力評価方法を提供する。
【解決手段】ウォータージェットピーニング施工面を撮影した画像からピーニング痕を抽出し、単位面積あたりのピーニング痕の総面積あるいは数を計測し、あらかじめ作成した残留応力とピーニング痕総面積または数の関係式に代入して残留応力を評価する。あるいは、ピーニング施工前後での表面積増加率を算出し、あらかじめ作成した残留応力と表面積増加率の関係式に代入して残留応力を評価する。原子炉炉内環境下で、非破壊でピーニング施工面の残留応力を評価できる。 （もっと読む）

【課題】目視判定における良否判定の基準を安定させ、検査効率を高める。
【解決手段】本発明の外観検査装置１は、プリント基板Ｐを撮像するカメラ５２と、プリント基板Ｐの状態の良否を判定するための基準となる基準画像データを記憶する記憶部６１と、カメラ５２により撮像されたプリント基板Ｐの撮像画像の画像データと記憶部６１に記憶された基準画像データとを比較して差分をとり、この差分に基づく差分画像を作成するコントロールユニット６０と、差分画像を表示する液晶モニタ４とを備えている。図８は表示画面の一例であって、左上の表示領域に左側ずれ限度画像を、右上の表示領域に差分画像（差分領域Ｄ２）及びプリント基板Ｐの撮像画像を、左下の表示領域に標準画像を、右下の表示領域に差分画像（差分領域Ｄ１）及びプリント基板Ｐの撮像画像をそれぞれ同時に表示させたものである。 （もっと読む）

【課題】異物等の被検出体を精度良く認識する。
【解決手段】本発明に係る画像処理装置は、被検出体を含むシート状物を表す画像データを取得し（ステップＳａ）、その端部領域の階調値を「０（白）」に変更する（ステップＳｂ）。その後、画像処理装置は、この画像データに平滑化処理、膨張処理、二値化処理などの画像処理を施すことによりオブジェクトを抽出し（ステップＳｃ）、抽出したオブジェクトのなかから、被検知体に相当するオブジェクトを特定する（ステップＳｄ）。このようにすることで、カールやスキューに起因して生じる認識率の低下を抑えることが可能となる。 （もっと読む）

【課題】 成長型共通欠陥を容易に検出可能なカラーフィルタの検査方法を提供すること。
【解決手段】 カラーフィルタ基板を欠陥検査装置に供し、共通欠陥を検出する工程、この共通欠陥が良品欠陥であるかどうかを判定し、良品欠陥である場合に良品座標登録する工程、前記良品座標登録された共通欠陥の欠陥画素数を基準共通欠陥画素数として記録する工程、設定された数のカラーフィルタ基板を順次欠陥検査装置に供し、良品欠陥である共通欠陥を検出し、共通欠陥の欠陥画素数を計数し、それらを平均して比較共通欠陥画素数を求める工程、及び前記基準共通欠陥画素数と比較共通欠陥画素数の差分が設定された差分を超えた場合に前記良品座標登録を解除する工程を具備することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】
抄造工程で付与されるすき入れ、すき入れコード情報及び印刷模様を抄紙機上で検査する用紙品質検査装置を提供する。
【解決手段】
本発明は、従来例の用紙品質管理装置の検査方法とは別の方法としたすき入れ検査部と、印刷検査部と、新たな機能としてすき入れコード情報検査部を設け、これらを制御部によって制御する用紙品質検査装置である。 （もっと読む）

【課題】検査対象のプラスチック製印刷物の近赤外波長域での分光特性に応じて、吸収となる波長の画像を限定的に取得することにより、透明部分と穴や欠損部分を確実に分離して正確な欠損検査が可能となるプラスチック製印刷物検査装置を提供する。
【解決手段】プラスチック製印刷物の一方の面に対し投光部により近赤外波長域の光を照射し、当該プラスチック製印刷物の他方の面に対し上記投光部と相対向して配設された近赤外波長域に感度を有する画像取得部により当該プラスチック製印刷物からの透過光を電気信号に変換することにより近赤外波長域の透過画像を取得し、この取得された透過画像に基づき当該プラスチック製印刷物の外形を求め、この求められた外形範囲内の透過画像により当該プラスチック製印刷物の欠損量を求め、この求められた欠損量とあらかじめ設定される基準値とを比較することにより当該プラスチック製印刷物の最終的な欠損判定を行なう。 （もっと読む）

【課題】検査対象材料が透光性を有するもの、または、結晶化ガラスのように内部に結晶を有するものであっても、内部の欠陥や異物、あるいは光散乱粒子（結晶）の有無にかかわらず、表面の欠陥や異物のみを検査できる表面欠陥検出方法および表面欠陥検査装置を提供する。
【解決手段】検査対象材料の被検査面に接するように、前記検査対象材料より大きな屈折率を有する媒体層を配置し、前記媒体層側から、該媒体層と被検査面の境界面で全反射を生じる入射角で検査光を入射し、前記検査光の前記被検査面における反射光を検出することにより、前記被検査面の表面欠陥や異物を検査する。 （もっと読む）

【課題】表面パターンを含む回折面上の欠陥を検出するための改良された高感度光学検査システムの提供
【解決手段】本発明のシステムは、回折面上の所定の領域を照射して、欠陥または表面パタンに応答して散乱強度分布を生成する第１および第２の照射手段と、回折面のまわりの複数の位置において散乱強度分布の強度レベルを検出する手段と、検出された最小強度レベルを確定する手段と、検出された最小強度レベルが閾値強度レベル未満である場合に回折面の照射領域上に欠陥が存在しないことを示し、検出された最小強度レベルが閾値強度レベルを超える場合に回折面の照射領域上に欠陥が存在することを示す、検出された最小強度レベルに応答する手段と、回折面を移動させ回折面上に走査パターンを生成し表面全体を検査する手段とを備える。 （もっと読む）

【課題】軽微な欠陥の検出及び欠陥の誤検出を抑制することを可能とする円筒体検査装置及び円筒体検査方法を提供する。
【解決手段】円筒体検査装置１の制御部３は、撮像部２によりロール６の１周強分の検査画像を取得して欠陥を検出する。制御部３は、設定済のマスク領域以外で検出された検出欠陥の欠陥画像を表示し、検出結果から除外してリセットする場合には、検出幅位置の全長に渡って検査画像にマスク領域を設定する。制御部３は、マスク領域における検出欠陥数がリセット数を超えない場合、当該マスク領域における欠陥画像を表示しない。制御部３は、マスク領域における検出欠陥数がリセット数を超える場合、当該マスク領域における欠陥画像を全て表示し、リセット数を超える検出欠陥を検査結果から除外してリセットする場合には、リセット数を更新する。制御部３は、マスク幅位置及びリセット数をマスクリセット情報２２として記憶部１３に保持する。 （もっと読む）

【課題】大型の対象物の光沢面の検査に好適なＬＥＤ照明装置を備えた表面検査装置を提供すること。
【解決手段】表面検査装置は、ＬＥＤを使用した照明装置１１、対象物の表面に写り込んだ照明装置１１の発光面を撮影するためのカメラ１２、カメラ１２を任意の位置および方向に移動可能なロボットアーム１０、ロボットアームを予め定められた経路に従って移動させ、カメラによる撮影の指示を繰り返すシーケンサ、カメラにより撮影された画像を取り込み、傷を検出して位置を表示するするコントローラを備える。照明にＬＥＤを使用することにより、発光面の面積が広く、広い面積に渡ってむらが少なく均一で、余分な拡散光が少ない照明が可能となるので、検出精度が向上すると共に検査時間が短縮できる。 （もっと読む）