化学物質の分光同定システムが、容器と、メモリと、分光計と、プロセッサとを含む。この容器は、未知の化学物質を収容する。メモリは、既知の化学物質に対応する複数のスペクトルシグネチャを格納する。分光計は、容器を介して未知の化学物質のスペクトルシグネチャを測定する。メモリおよび分光計にはプロセッサが接続され、上記のスペクトルシグネチャと複数のスペクトルシグネチャのうちの少なくとも１つとの比較を実施し、この比較によって、未知の化学物質のアイデンティティを判定する。このシステムを、携帯型手持ち式筐体に収容可能である。化学物質は、薬剤または規制薬物を含み得る。このシステムを用いて、化学物質の未知の混合物中に薬剤または規制薬物が存在するか否かを判断することも可能である。
（もっと読む）

【課題】単一の物理系の位置や状態を高分解能および高感度で調べる。
【解決手段】共振器モードのモードウエスト直径が、２つの量子状態を有する物理系を内部に含む物質を含んだ状態で該モードと共鳴する電磁波の波長に、ある精度内で絞られた共振器２５１と、物質とモードウエストとの相対位置を、互いに平行でない３方向に走査する走査手段４０３と、共振器モードに結合するレーザーを発生する発生手段４０１と、レーザーが共振器に入力され該共振器からの反射光および透過光のいずれか一方の強度あるいは両方の強度を測定する測定手段２０６，２０７と、からなる。 （もっと読む）

【課題】偏光プローブを用いて高精度に軸方位および位相差を測定できる位相差測定装置を提供すること。
【解決手段】試料Ｓの前段の偏光子４１をＰＥＭ４２と一体として回転させる回転機構５を設け、試料Ｓの後段の偏光プローブ２の透過軸に対して、偏光子４１の透過軸の方位角を変更することで、偏光プローブ２で集光される近接場光の光強度信号を取得するので、偏光プローブ２に対して試料Ｓを回転させることも、試料Ｓに対して偏光プローブ２を回転させることも不要となる。また、偏光プローブ２を用いて近接場光を集光することで、試料Ｓの測定面に生じる近接場光を光の波長以下のオーダーの面内空間分解で測定することができる。従って、偏光プローブ２を用いて試料Ｓの軸方位および位相差を高精度に測定することができる。 （もっと読む）

【課題】 窒素濃度測定方法及び窒素濃度測定用比例換算係数の算出方法に関し、個別のリファレンスを要することなく、簡便な赤外線吸収差スペクトルによってシリコン結晶中の窒素濃度を精密に測定する。
【解決手段】 シリコン結晶を６００℃に加熱して、準熱平衡状態に到らしめたのち、前記シリコン結晶の第一の赤外線吸収スペクトルを測定し、次いで、前記シリコン結晶を６００℃より高い温度で加熱して、準熱平衡状態に到らしめたのち、前記シリコン結晶の第二の赤外線吸収スペクトルを測定し、次いで、前記第一の赤外線吸収スペクトルと前記第二の赤外線吸収スペクトルとの赤外線吸収差スペクトルを求めて窒素に起因する欠陥に対応する吸収ピークの強度を求め、前記吸収ピークの強度に基づいて、前記シリコン結晶中の窒素濃度を求める。 （もっと読む）

【課題】表面を照明するための装置、ならびに物体の視覚的特性を特定するための装置および方法を提供する。
【解決手段】一つの保持装置に設けられている少なくとも二つの放射光源を有する少なくとも一つの放射光装置であって、少なくとも二つの放射光源が異なる分光学的特性を有している放射光装置と、少なくとも一つの絞り装置と、光路において前記絞り装置の手前に設けられており、前記絞り装置を通って進んでゆく放射光を均一にするために用いられている少なくとも一つの散乱装置とを備え、前記保持装置はモータ装置によって移動自在とされており、それによって個々の前記放射光源はそれぞれ順々に前記絞り装置内の単独のスリットに対して最適な位置にもたらされ、それによって前記放射光源から放射可能とされた放射光が前記絞り装置内の単独のスリットに向けられるように構成されている、測定面を照明するための照明装置２を構成する。 （もっと読む）

【課題】路面状況の判別を低コストな構成で実現し、多くの自動車に搭載させることを現実的とすることができる路面状況判別装置を提供する。
【解決手段】複数の撮像素子が車両の進行方向に略直交し、路面に略平行な方向に配列されたラインセンサを用いた撮像部１０が、車両のバンパー下から前方路面を撮像するように設置される。撮像部１０では、車両が進行中に複数回撮像することにより、路面を走査でき、２次元画像を構築することも可能である。判別部１２は、撮像部１０から得られる画像データに基づいて路面状況を判別する処理を行なう。 （もっと読む）

試料（３１０）の欠陥を検出する検出システムは、照射アセンブリ（３２０，３２２）と検出アセンブリ（３５０，３５４）を備える。照射アセンブリは、赤外線光源（３２０）と、光源からの光線を試料の上または内部のスポット（３４６）に向ける照射光学系（３２２）と、を有する。検出アセンブリは、試料の上または内部の被照射スポットからの光を検出する検出器（３５４）と、試料の上または内部の被照射スポットからの光を検出器（３５４）に向ける検出光学系（３５０）と、を有する。このようなシステムは、タービンブレードの遮熱コーティングまたは歯科用もしくはその他の医療用部品等の試料の欠陥を検出するために使用してもよい。特に、このシステムは、セラミック試料の欠陥を判定するために使用してもよい。試料中の欠陥を検出する方法も開示されている。
（もっと読む）

【課題】本発明はＸ線分光装置に関し、広い波長範囲でＸ線の分光を再現性よく得ることができるＸ線分光装置を提供することを目的としている。
【解決手段】 試料１１から発生した特性Ｘ線１３を受ける互いにほぼ９０°の角度で配置された２つの分光素子１，２と、該２つの分光素子からの分散光を同時に受けて電気信号に変換する位置敏感検出器１５と、該位置敏感検出器の出力を記憶するメモリと、該メモリに記憶されたデータを読み出して所定の画像処理を行なう画像処理部と、該画像処理部の出力を受けて分光情報を表示する表示部と、を有して構成される。 （もっと読む）

【課題】ミルの磨耗トラブルを解消し、石炭の無駄な消費を抑制すると共に、燃焼効率が低下するのを防止し、安定して石炭が供給可能な異物除去装置及び石炭中の異物除去方法を提供する。
【解決手段】第一の異物除去装置１０は、パイライト１１、石炭１２からなる石炭原料１３を供給し、パイライト１１を粗選別し、除去する選別手段１４と、粗選別した石炭原料１３中のパイライト含有量を判定し、パイライト含有量が２５％未満の石炭主体原料Ａと、パイライト含有量が２５％以上、１００％未満のパイライト含有石炭原料Ｂと、パイライト１１とに分別する第１の判定手段１５Ａと、パイライト含有石炭原料Ｂ中のパイライト含有量を判定し、パイライト含有量が２５％以上、５０％未満の第１のパイライト含有石炭ｂ１と、パイライト含有量が５０％以上、１００％未満の第２のパイライト含有石炭ｂ２とに分別する第２の判定手段１６Ａとを具備する。 （もっと読む）

【課題】物体が拡散媒質内に配置されているときに物体の位置および／または形状を遠隔測定する比較的簡単なセンサを提供する。
【解決手段】センサと物体との間の距離に対して短いコヒーレンス長を有する光源１１０と、送られたビームを入射ビーム１２６と基準ビーム１２３とに分割するビームスプリッタ１１２と、基準ビーム１２３と、入射ビーム１２６により照射された物体１２０から反射されたビーム１２７との干渉受光時にホログラムを生成し、基準ビーム１２３の作用による異方性回折によりクリスタルガラスから送り返される回折ビーム１２４でホログラムを再生する光屈折クリスタルガラス１１４と、回折ビーム１２４の受光時に情報を生成する検出装置１１６とを含み、それによって、検出装置１１６は、クリスタルガラスから回折ビーム１２４だけを受け取る。 （もっと読む）

【課題】可搬性に優れ、光学系のアライメント工数が省け且つテラヘルツ光の筐体内水蒸気による減衰が少いテラヘルツ光測定装置を提供すること。
【解決手段】筐体１と、筐体１に収容されたテラヘルツ光発生手段２と、発生手段２から発生されるテラヘルツ光Ｌtを被測定対象に入射させる筐体１に収容された入射手段３と、被測定対象から出射される出射テラヘルツ光Ｌtrを受光する筐体１に収容された受光手段４と、受光手段４で受光された出射テラヘルツ光Ｌtrを検出する筐体１に収容されたテラヘルツ光検出手段５と、筐体１内の空気中のＨ_２Ｏを除去する除去手段６と、を有することを特徴とするテラヘルツ光測定装置。 （もっと読む）

【課題】被測定物の測定対象表面に存在する物質とその物質の存在状態を、簡単な構成で容易に特定することができる表面性状特定装置および表面性状特定方法を提供する。
【解決手段】走査型共焦点光学系２による光学測定により測定対象表面Ｗａの被測定点における凹凸高さとその光反射率を測定し、その測定した凹凸高さと光反射率に基づき分類データマップ３１を参照して物質と物質の存在状態を特定する。これにより、測定対象表面における物質の分布状態、位置、形状等を簡単な構成で迅速且つ容易に特定する。 （もっと読む）

本発明は、特に自動車に使用するため、電磁放射線に対する感応面を持つ半導体素子（４）、及び半導体素子（４）の感応面へ電磁放射線を投射するレンズ（１）を持つ光学モジュールに関する。レンズ（１）と半導体素子（４）の感応面との間の空間の所定の部分体積に、付加光学素子（１１）が設けられて、付加光学素子（１１）により、半導体素子（４）の感応面の第１の範囲に第１の距離範囲（８）が写像され、付加的な光学素子（１１）が存在しない第２の範囲に第２の距離範囲（９）が写像されるようにしている。
（もっと読む）

【課題】ウレタン発泡工程の流量や温度ムラなどにより、冷蔵庫箱体及び扉体内部のウレタンフォームが未充填の箇所が発生すると、冷蔵庫の断熱特性の低下に繋がるが、従来の検査方法は、多くの時間と労力を要するにも拘らず、正確な定量的な検査が出来ておらず、さらに検査結果の製造作業への迅速なフィードバックが困難で、不良品が発生する可能性がある。
【解決手段】前述の課題を解決するために、本発明は、冷蔵庫の内箱に使用される合成樹脂板の板厚を測定するステップと、その検査箇所に対し垂直方向に光源を配置し、前記光源から光を照射し、照射箇所からの反射光の強度を検出するセンサを有し、前記反射光の強度の関係から前記ウレタンと冷蔵庫の内箱との密着性（ウレタンフォームの充填度）を測定することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】セラミックス部材の表面の一部のみを効率的にエッチングすることが可能であり、また、該部材の形状により、酸性溶液によって該部材の表面以外の部分がエッチングされたり、抽出液を回収できなかったりする等の不具合を生じることなく、金属不純物の抽出液を簡便かつ効率的に回収して、該部材の表面の金属不純物を高精度で分析することができるセラミックス部材の不純物分析方法を提供する。
【解決手段】セラミックス部材の表面の一部に、酸性溶液の液滴を形成した後、前記酸性溶液の膜を形成してエッチングし、金属不純物を抽出する工程（Ｓ１０１）と、前記金属不純物の抽出液を回収する工程（Ｓ１０２）と、前記抽出液に含まれる金属不純物を分析する工程（Ｓ１０３）とを経て、分析を行う。 （もっと読む）

【課題】
堆積物中のガスハイドレートの生成・分解状況を検知する方法及びガスハイドレートの生成・分解状況検知装置を提供する。
【解決手段】
ガスハイドレートを含む測定対象物を波長が2.5 μm〜4.0
μmの範囲において赤外分光測定し、測定対象物中の水分子のOH伸縮振動吸収バンドの変化を測定することにより、ガスハイドレートの生成・分解状況を検知することを特徴とするガスハイドレートの生成・分解状況を検知方法及びこれを利用したガスハイドレートの生成・分解状況検知装置。
（もっと読む）

【課題】炉壁が輻射光で発光している場合であっても、コントラストが高く、且つ、レーザー光の反射光の画像情報だけでなく、輻射光の一部の画像情報も合わせた画像を取得することができるとともに、炉壁の凹凸や亀裂の影を判別し易くすることができる炉内観察装置を提供する。
【解決手段】輻射光で発光している炉内を観察する炉内観察装置２１であって、レーザ光を炉内の炉壁面に照射するレーザ照射装置１００と、炉壁面からの反射レーザ光を受光する受光装置２００と、を備える。受光装置２００は、レーザ光、および、３原色のうち赤色に対応する波長領域内の所定波長域の光を透過させる光学フィルタ１５と、光学フィルタ１５を通過した反射レーザ光を含む光に基づいて炉壁面の画像を生成する画像生成装置８と、を備える。 （もっと読む）

【課題】比較的迅速且つ簡単に赤外分光法によるフィールド測定を行うことを含む、従来技術の欠点の少なくとも一部を克服する赤外分光法による測定法と赤外分光計とを提供する。
【解決手段】一実施形態において、高分子含有表面の一分類方法が提供され、本方法は、一定のスペクトルの波長に亘り表面から反射された赤外エネルギーの一又は複数のスペクトルを収集するステップ、一又は複数の波長において多変量処理を実行するステップ、多変量処理の結果を、一又は複数のモデル材料表面から収集されたモデル材料赤外エネルギースペクトルに基づく一又は複数の所定の材料分類モデルと比較するステップであって、一又は複数のモデル材料表面の各々が既知の高分子材料組成を有しているステップ、並びに、一又は複数の波長における多変量処理の結果と、所定の材料分類モデルとの類似性に基づいて、高分子含有表面を適切な分類にソーティングするステップを含む。 （もっと読む）

【課題】 偏光解析装置、偏光解析による異常検出方法、磁気記録媒体の製造方法、及び、半導体ウェーハの製造方法に関し、試料の広範囲の平均的な膜厚、形状、物理特性を短時間、かつ精度よく計測する。
【解決手段】 試料上の分光光学特性を計測する計測機構と、前記計測機構からの計測光が前記試料に当たる位置を調整できるステージ機構と、前記計測光の前記試料上での照射位置を検出するためのステージ位置検出機構と、前記試料を移動させながら前記計測光が前記試料上の予め設定した所定の領域にある時のみ所定の波長の光学特性を加算して取得および記録する受光記録機構と、前記受光記録機構における記録を基に前記試料の表面の構造を解析するエリプソメーター或いはスキャトロメーターのいずれかの解析機能を有する偏光解析機構とを設ける。 （もっと読む）

【課題】短時間にスペクトル測定を行うことができる光学顕微鏡、及びスペクトル測定方法を提供すること。
【解決手段】本発明の第１の態様にかかる光学顕微鏡は、対物レンズ２３を介してレーザ光を試料２４に照射するステップと、対物レンズ２３を介して、試料で反射した反射光を検出するステップと、レーザ光の焦点位置を光軸方向に変化させるステップと、レーザ光の焦点位置を変化させたときの反射光の検出結果に基づいて、スペクトル測定を行う焦点位置を抽出するステップと、抽出された焦点位置になるように調整するステップと、焦点位置を調整した状態で、レーザ光の照射により試料から出射される出射光をレーザ光から分岐するステップと、レーザ光から分岐された出射光のスペクトルを分光器３１で測定するステップと、を備えるものである。 （もっと読む）