【課題】シリコン材料表層における金属不純物を迅速かつ簡易的に感度良く分析する。
【解決手段】分析対象サンプルを小分けし、小分けサンプルを複数の処理容器に入れる。第１処理容器にＨＮＯ₃液を注入し、ＨＦ液を添加して第１エッチング液を調製し、サンプル表層の金属不純物を第１エッチング液中に含ませる。処理後の第１エッチング液を第２処理容器に注入し、ＨＦ液を添加して第２エッチング液を調製し、サンプル表層の金属不純物を第２エッチング液中に含ませる。第１処理容器から処理後サンプルを取出し、内部を洗浄した後の第１処理容器に新たな小分けサンプルを入れる。処理後の第２エッチング液を第１処理容器に注入し、ＨＦ液を添加して第３エッチング液を調製し、サンプル表層の金属不純物を第３エッチング液中に含ませる。全ての小分けサンプルに対して同じ処理を繰返す。容器から処理後のエッチング液を回収し、液中の金属不純物を定量分析する。 （もっと読む）

既知の強度の光でシーンを照らすための光源と、照射する既知の強度の光からシーンによって反射される光に応じてシーンを結像する光軸および光心を有するカメラと、カメラによって結像されるシーンの面要素までの距離を決定するように制御可能なレンジファインダと、カメラからの面要素の距離、照射する光の既知の強度、およびカメラによって結像される面要素からの光に応じてカメラによって結像されるシーンの面要素の反射率を決定するように構成uされたコントローラとを備える撮像システム。
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本発明は、１）第１周波数コムと、２）干渉を生成するべく、第１周波数コムと相互作用するべく構成された第２周波数コムと、３）２つのコムの周波数成分中の周波数成分のサブセットの間においてうなり信号を隔離する手段であって、この周波数成分のサブセットは、好ましくは、第１周波数コムの単一ライン及び第２周波数コムの単一ラインであるが、これは、必須ではない、手段と、４）このうなり信号を監視し、且つ、この信号を第１及び第２周波数コムの周波数成分全体の間のうなり干渉信号を記録する取得ユニット装置用のトリガとして又はクロックとして使用する手段と、を有する干渉計に関する。
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【課題】高密度化した二次電池用活物質の材料を検査する検査システムを提供する。
【解決手段】二次電池用活物質の材料の密度を上げる高密度化手段と、高密度化された材料に光を照射する照射手段と、照射手段により照射された光により、高密度化された材料から発せられる反射光または透過光を受光し、受光した光に基づいた信号を出力する受光手段と、信号から色彩値を算出する算出手段と、算出手段が算出した色彩値と予め算出された良品による色彩値とを照合し、算出した色彩値が当該良品による色彩値に基づいた規定の範囲内の値であるか否かにより、二次電池用活物質の材料が良品か否かを判定する判定手段と、を含む。 （もっと読む）

媒体の減衰及び他の光学的特性を利用して、センサーとターゲット面との間の該媒体の厚さを測定する。本明細書には、種々の画像形成状況において、これらの厚さ測定値を取得して、ターゲット面の３次元画像を得るために使用可能な種々の媒体、ハードウェアの配列、及び処理技術が開示されている。これには、内面／凹面並びに外面／凸面を撮像するための一般的な技術、並びに、外耳道、人間の歯列などの画像形成へのこれらの技術の具体的な適用が含まれる。
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【課題】固体表面の液体中における気体保持状態を計測し、客観的に把握する方法及び装置を実現する。
【解決手段】液体中に浸漬された、微細な凹凸構造を有する固体表面に向けて光を照射し、該固体表面から反射される反射光の強度を計測することにより、液体と固体表面の間に存在する気体の、固体表面による保持状態を検知することを特徴とする固体表面の液体中における気体保持状態検知方法、および気体保持状態検知装置。 （もっと読む）

周波数領域光コヒーレンストモグラフィ（ＦＤ−ＯＣＴ）システムおよび方法が提供される。これにより、第１の測定および第２の測定が行なわれ、第１の測定において第１のスペクトル幅のスペクトルを有する測定光で対象物区域が照射され、第２の測定において第２のスペクトル幅のスペクトルを有する測定光で対象物区域が照射され、第１のスペクトル幅は、第２のスペクトル幅よりも少なくとも１０％大きい。さらに、第１の測定中に、対象物と相互作用しかつ参照光と重畳される光のスペクトル範囲の強度が検出され、これらのスペクトル範囲の幅は、第２の測定中の対応する幅よりも大きい。したがって、対象物における照射損傷を最小化するとともに、深さ方向にわたる対象物の構造的情報の軸方向視野を切替えることが可能となる。
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【課題】 光学素子の透過率や反射率を高い精度で決定することができる光強度測定装置及び光強度測定方法を提供すること。
【解決手段】 光強度測定装置１は、試料４を透過した光の第１光強度を検出する第１の光検出器５と、試料４を透過していない光の第２光強度（Ｐ０’）を検出する光検出器９と、第１光強度及び第２光強度の強度差（ΔＰ’）を測定するロックインアンプ１２と、前記強度差と前記第２光強度を用いて数式Ｔ＝１＋（ΔＰ’／Ｐ０’）の演算処理を行い試料４の透過率を計算する演算器１４を有する。 （もっと読む）

【課題】角度オフセット修正を用いて、表面特性を決定する方法および装置を提供すること。
【解決手段】解析されるべき表面（８）上に放射を放つ少なくとも第一の放射デバイス（３）と、該少なくとも１つの放射デバイス（３）によって放たれ、次いで、該表面（８）によって散乱および／または反射される放射の少なくとも一部を受け、該反射および／または散乱された放射の特徴である少なくとも第一の測定信号を出力する少なくとも第一の放射検出デバイス（５）と、該少なくとも１つの放射デバイス（３）によって放たれ、次いで、該表面（８）によって散乱および／または反射される放射の少なくとも一部を受け、該反射および／または散乱された放射の特徴である少なくとも第二の測定信号を出力する少なくとも１つの第二の放射検出デバイス（１５）とを備える、表面特性を決定する装置（１）。 （もっと読む）

【課題】 容易且つ高感度で散乱光を測定する方法、ならびに、それに用いる散乱光測定装置を提供する。
【解決手段】 光源から試料に光を照射し、前記試料に照射された照射光における前記試料を透過した直接光の受光部への到達を遮断し、散乱光を受光部で受光する。このように直接光を遮断することで、容易に高感度で散乱光を測定できる。この方法は、光を出射する光源と、光を受光する受光部と、試料を配置する試料配置部と、光を遮断する遮光部とを有し、前記受光部が、前記光源からの照射光の光路方向に配置され、前記試料配置部が、前記光源と前記受光部との間に配置され、前記遮光部が、試料配置部と前記受光部との間であって、前記試料を透過する直接光の光路途中に配置されている装置によって、容易に実施できる。 （もっと読む）

【課題】調整やメンテナンスの負担が小さく、自ら振動を生じさせることなく外部からの振動が測定器に伝達するのを抑制することができる除振装置及びこれを備えた測定装置を提供すること。
【解決手段】設置面Ｔ上に設置される第一金属板２と、第一金属板２の上に設けられた第二金属板４と、第一金属板２と第二金属板４との間に挟持され、第一金属板２からの振動を受けて弾性変形可能な防振ゴム３と、第二金属板４上に設けられ、その上面に測定器６の少なくとも一部が載置されるとともに、第二金属板４からの振動に応じて少なくとも一部が弾性変形することにより、前記振動を吸収することが可能な除振台５とを備え、第一金属板２、防振ゴム３及び第二金属板４により吸収される振動の周波数の帯域と、前記除振台により吸収される振動の周波数の帯域とが異なるように構成されている。 （もっと読む）

【課題】フロアーポリッシュ研磨面の美観を目視評価したときの主観的な光沢感覚値を、客観的に数値化することができるフロアーポリッシュ研磨面の美観評価方法を提供する。
【解決手段】本発明のフロアーポリッシュ研磨面の美観評価方法は、床材を被覆しているフロアーポリッシュ皮膜を磨くことにより形成された研磨面の美観を、ＪＩＳ Ｈ８６８６に規定された写像性値を指標として評価することを特徴とする。研磨面は、超高速バフ機に取り付けられた磨き専用バフパッドにより磨くことにより形成された研磨面であることが好ましい。また、フロアーポリッシュ皮膜は、水性フロアーポリッシュ組成物を用いてなる水性フロアーポリッシュ皮膜であることが好ましい。 （もっと読む）

【課題】周囲の環境の変化により水分を含有しうる量が変化する毛髪などの対象物質の保湿力、すなわち該対象物質の含有する水分量を保つ力を簡易に測定する方法を提供する。
【解決手段】測定対象物質に対して少なくとも２水準の絶対温度Ｔ（Ｋ）における基準水分データを求める段階、得られた各基準水分データの水分量ｗ（ｍｏｌ／ｋｇ）の対数
ｌｎｗ（ｍｏｌ／ｋｇ）を、１／Ｔ（Ｋ^-1）に対してプロットした直線の傾きを求めることを特徴とするによる保湿力測定方法。 （もっと読む）

【課題】測定精度を向上させ得る光学遅延装置を提案する。
【解決手段】入射されるパルス光の光路長が短縮される方向又は延長される方向へ移動可能な可動ステージの移動方向に沿って配される等間隔の目盛りを検出したことを示すパルス信号に同期させて、テラヘルツ波検出部からパルス光のパルス間隔ごとに出力される信号を取り込むようにする。 （もっと読む）

本発明は、変態プロセスを制御するための方法であり、前記方法においては、装入原料の製品への変換が、結晶及び／又は結晶粒及び／又は相及び／又は細孔の表面に発し前記装入原料内に至る変態境界面に沿って行われ、１つ又は複数の化学元素が前記装入原料に放出され、及び／又は、組み入れられ、及び／又は置換されるとともに、前記装入原料の変換が、進行する変態境界面に沿って行われる。本発明によると、前記装入原料は、少なくとも視覚的分析、特に顕微鏡を用いた分析に基づき、その相及び／又は相の割合及び／又は相の形態、構造、組織及び／又は化学組成に関して識別される。これらの値に基づいて、前記プロセスにおける前記装入原料の変換を記述する、前記装入原料に関する参照関数が割り当てられ、前記変態プロセスのプロセスパラメータを決定するために用いられる。
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【課題】導電性物質上に測定対象を載せた状態で測定対象の導電率の測定を可能にするとともに、溶かすことができない測定対象の分子量の測定を可能にする
【解決手段】非接触測定装置１は、試料を収納する試料収納部２と、試料収納部２にテラヘルツ光を照射するテラヘルツ光照射部３と、試料収納部２から出射するテラヘルツ光を検出する検出部４と、検出部４での検出結果に基づき解析を行う解析部５を備える。試料収納部２は、テラヘルツ光を反射し易い金属で構成されて試料が載置される試料載置板４１を備える。即ち検出部４は、試料を通り抜けて試料載置板４１で反射したテラヘルツ光を検出する。また解析部５は、検出部４での検出結果に基づき試料の透過率を算出する透過率算出部５１と、算出された透過率を用いて試料の導電率を算出する導電率算出部５２と、算出された透過率を用いて試料の分子量を算出する分子量算出部５３とを備える。 （もっと読む）

【課題】測定領域の反射率にかかわらず、正しい透明性の評価を行える方法の提供。
【解決手段】本発明は、第１の照射領域と第１の照射領域を含む第２の照射領域とにそれぞれ光を照射して第１及び第２の照射領域から戻って来る射出光をそれぞれ受光し、第１及び第２の照射領域へのそれぞれの照射光量と、第１及び第２の照射領域から受光したそれぞれの前記射出光の射出光量とを求め、各照射領域についての前記照射光量と前記射出光量との比Ｏ１／Ｉ１及びＯ２／Ｉ２をα１及びα２としたときに、α２を反射率Ｒ、（１−α１／α２）を透明性Ｔとするか、又はα１を反射率Ｒ、（１−α２／α１）を透明性Ｔとして透明性を評価する。 （もっと読む）

【課題】 波長可変半導体レーザ光源からの可視光や近赤外光を対象物に照射して得られる透過スペクトルや反射スペクトルを分析すると、対象物に含まれる特定成分の含有率が得られる。しかしあらかじめ対象物の正しい品種名がわかっていないと基準スペクトルが設定できないから、測定したスペクトルとの比較ができず、特定成分の含有率の算出が不可能となる問題があった。
【解決手段】 そこでこの発明は、あらかじめ対象となる分野毎に様々な品種に関してスペクトルと特定成分の含有率を測定して、それをデータベース化してカードメモリに記憶させておく。測定時に携帯型スペクトル分析機に該当分野のカードメモリをセットし、測定したスペクトルとカードメモリ内のデータベースのスペクトルをコンピュータで逐次パターン比較して最も近似したスペクトルを決定して対象物の品種名を自動的に同定し、双方のスペクトルのわずかな差異から特定成分の含有率を算出している。 （もっと読む）

【課題】被検査体における内部析出物、空洞欠陥、表面の異物ないしスクラッチ、表層のクラックの欠陥を精度よく検出し、欠陥の種類を特定して欠陥を分類できるようにする。
【解決手段】光源装置４からの光をポラライザー５を介して偏光を与えて被検査体Ｗに対し斜め方向に入射させ、その散乱光ＳＢを暗視野に配置された偏光分離素子９を有するＣＣＤ撮像装置７で撮像し、得られたＰ偏光成分画像とＳ偏光成分画像とについて成分光強度を得て、それらの比としての偏光方向を求める。被検査体に応力を印加していない状態と、応力を印加した状態の光散乱体の撮像により得られた画像から成分光強度、偏光方向を求め、所定の閾値と対比することにより欠陥の検出、分類がなされる。 （もっと読む）

【課題】エアー噴射による落下位置変更精度が低下し難く、安定した選別が可能となるシュートタイプ選別装置を提供する。
【解決手段】プラスチック片Ｐを順次滑落させて下端から放出するシュート５と、近赤外線を用いてシュート５上を滑落するプラスチック片Ｐの材質を検出する手段５Ｌ、５Ｒ、６と、検出結果に応じて、シュート５の下端から放出されるプラスチック片Ｐに落下方向と交差する方向にエアーを噴射する噴射ノズル１０と、噴射を行わないときの自然落下位置に配置された第一のベルトコンベア２１と、噴射を行ったときの落下位置に配置された第二のベルトコンベア２２とを備えたプラスチック選別装置において、シュート５の下端から噴射ノズル１０の噴射位置までのプラスチック片Ｐの落下経路に通過センサー１１を設け、エアー噴射を行う際、通過センサー１１の検出タイミングを基準としてその所定時間経過後にエアー噴射を行うように構成する。 （もっと読む）