【課題】本発明の課題は、フィードバック制御による照射出力の安定化を行わずに短時間で計測の高精度化を図り、照射出力の安定化によるコ-ストアップと計測装置の大型化をもたらすことのない反射率計、反射濃度計の反射率校正方法を提示することにある。
【解決手段】本発明の校正機能を備えた反射率及び反射濃度を計測する方法は、反射率が既知の２種類の校正用反射率基準板を用い、予めそれぞれについての照射光量に対応する反射光量センサ出力との特性を測定し、その関係式と変動因子との関係を把握してその特性をメモリに記憶しておき、校正時にはその際の照射光量を検出し、その値と記憶した因果関係から２種類の校正用反射率基準板に基づく校正時の正確関係式を確立し、次に被測定物の反射光量センサ出力値Ｓを測定し、反射率及び反射濃度を算出する。 （もっと読む）

【課題】リフレクタにより十分な光量を確保して良好な測定が可能でありながら、白色光源の交換の際のコストが低く、交換作業が容易な分光反射率測定機を提供する。
【解決手段】ハロゲンランプ１２と、ハロゲンランプからの光を反射するリフレクタ１５と、反射光が通過するピンホール２ａを有するピンホール部材２と、ピンホールを通過した反射光を略平行な光束とするコリメータレンズ３とを有する光源部１０１を備えた分光反射率測定機において、光源部は、接触面１６ｂを有しリフレクタが取り付けられた第１基体１６と、当て付け面１４ａを有しハロゲンランプが着脱可能に取り付けられて第１基体に装着される光源着脱部１４とを備え、当て付け面および接触面は、光源着脱部を第１基体に装着し、当て付け面と接触面とが接触したときに、ハロゲンランプの発光点１２ｂがリフレクタの第１焦点１５ｂと略一致する所定の精度に加工されている。 （もっと読む）

【課題】検査対象物に照射される赤外光の広がりを防止して高精度な分析を行うことができる赤外線分析装置を提供する。
【解決手段】赤外線分析装置の一種である水分計は、検査対象物である紙Ｐの上方に配置され、紙Ｐ上に設定された焦点Ｆ１に向けて集束した赤外光を照射する光源（赤外線ＬＥＤ２１及び集光レンズ２２）と、紙Ｐを介した赤外光を検出する検出器２３とを有する上ヘッド１１と、紙Ｐの下方に配置され、紙Ｐを透過した赤外光を紙Ｐに向けて再帰性反射する反射部材３１を備える下ヘッド１２とを備えており、光源から射出される赤外光を用いて紙Ｐに含まれる水分を測定する。 （もっと読む）

【課題】硬化過程における吸収スペクトルおよび粘度、粘弾性を同時に測定できて、測定者の負担が軽減する紫外線硬化樹脂の物性測定装置を提供すること。
【解決手段】紫外線硬化樹脂性の試料Ｓを挟持する回転プレート１７およびトルク検出用プレート１８と、回転プレート１７を回転させることでトルク検出用プレート１８に発生するトルクを検出するトルクセンサ２０を備える。トルク検出用プレート１８は、試料Ｓよりも大きい屈折率を有し、紫外線と赤外線に対する光透過性を示す全反射プリズムとする。従って、全反射プリズム越しに紫外線を試料Ｓに照射しながら、検出するトルクにより粘度、粘弾性を測定できる。同時に、赤外線を全反射プリズムに入射して、プリズム内部での全反射によって減衰する赤外干渉光を干渉光検出器１４で検出して、赤外吸収スペクトルを測定できる。 （もっと読む）

【課題】精度良くワークの員数を計算することができるワーク員数計算装置及びワーク員数計算方法の提供。
【解決手段】
ワーク員数計算装置１では、光が複屈折性を有するワーク３を透過した場合と、透過しない場合とによって位相のずれる量が異なるので、光の偏光状態も異なり、第二偏光板１３を透過する光の透過量も異なる。従って、ワーク３の有無を精度良く検出できる。また、ワーク員数計算装置１では、鏡面仕上げされたワーク３であっても、良好に員数を計算できる。 （もっと読む）

【課題】測定対象膜に照明光を照射して測定される表面形状データ及び界面形状データから、この測定対象膜の屈折率を得ることができる膜構造測定方法及び表面形状測定装置を提供する。
【解決手段】表面形状測定装置の制御用プロセッサで実行される膜構造測定方法は、撮像装置により、物体に形成された測定対象膜に光を照射し、当該光の反射光からこの測定対象膜の表面の形状である表面形状データ及び測定対象膜と物体との界面の形状である界面形状データを測定するステップ２２０と、平均値がほぼ０となるように表面形状データ及び界面形状データの各々を基準面を用いて補正することにより、補正された表面形状データ及び補正された界面形状データを算出するステップ２３０と、補正された表面形状データ及び補正された界面形状データから、測定対象膜の屈折率を算出するステップ２４０と、を有する。 （もっと読む）

【課題】試料の光沢について、主観的な光沢感と相関の高い評価が可能な光沢感評価装置及び光沢感評価方法を提供する。また、主観的な光沢感を光沢感評価値として、拡散反射、鏡面反射、表面粗さの成分に分離して、取得することが可能な光沢感評価装置及び光沢感評価方法を提供する。
【解決手段】光沢画像として、反射モデルにより算出された拡散反射輝度と鏡面反射輝度を含む画像を生成する手段と、該画像を投影装置３に入力して、参照試料１に投影する手段と、該画像を投影中、少なくとも拡散反射輝度か鏡面反射輝度の一方を変化させ、光沢感評価画像として、該試料の光沢と投影により付与される該参照試料の光沢とが同等であると認識する画像を取得する手段と、該試料の光沢感を光沢感評価値として、該光沢感評価画像を構成する成分に分離して取得する手段とを有する光沢感評価装置。 （もっと読む）

【課題】多結晶シリコン薄膜の表面の状態を光学的に観察して、多結晶シリコン薄膜の結晶の状態を検査することを可能にする。
【解決手段】本発明では、表面に多結晶シリコン薄膜が形成された基板に光を照射し、光が照射された多結晶シリコン薄膜の表面から発生する１次回折光の像を撮像し、撮像して得た１次回折光の像の画像を処理して多結晶シリコン薄膜の結晶の状態を検査し、画像を処理して検査した１次回折光の像を検査した結果の情報と共に画面上に表示するようにした。 （もっと読む）

【課題】受光素子の意外な反射経路による受光を抑制し、濃度検知精度の向上を図ることができる濃度センサを提供すること。
【解決手段】保持ケース５０を介して基板１０に保持され、底部２３から導出されたリード端子６４が基板１０に電気的に接続されるとともに、濃度測定対象に向けて照射光を照射する発光素子２０と、保持ケース５０を介して基板１０に保持され、底部から導出されたリード端子６４が基板１０に電気的に接続されるとともに、照射光の濃度測定対象による反射光を受光する正反射受光素子および拡散反射受光素子と、を備え、リード端子６４が、発光素子２０からリード端子６４に向かって到来する光の反射光が両受光素子の底部から逸れる方向に傾斜した傾斜部６４ｄを備えていることを特徴とする濃度センサとした。 （もっと読む）

【課題】大型化及び作業性を低下させることなく、高い画像品質を維持することができる画像形成装置を提供する。
【解決手段】 プリンタ制御装置は、第１の基準受光量Ｄｓ１、第２の基準受光量Ｄｓ２、及びそれぞれ０以上で１以下の係数αとβを用いて、矩形パターン毎に、該矩形パターンで反射された光を受光した受光部の受光量をα×Ｄｓ１＋β×Ｄｓ２で表し、該矩形パターンで反射された光を受光した受光部の受光量の実測値と第２の基準受光量Ｄｓ２とから係数βを算出し（ステップＳ４１９）、該算出された係数βと該矩形パターンで反射された光を受光した受光部の受光量の実測値と第１の基準受光量Ｄｓ１とから係数αを算出する（ステップＳ４２１）。 （もっと読む）

【課題】ＣＮＴ懸濁液あるいはＣＮＴ薄膜の単分散性を効率的に評価でき、定量評価が可能な評価方法がなかった。
【解決手段】分散媒にＣＮＴ（カーボンナノチューブ）を分散させたＣＮＴ懸濁液又は該ＣＮＴ懸濁液を基板表面に施して形成したＣＮＴ分散薄膜に対して、入射光として紫外線を照射し、該ＣＮＴ懸濁液からの透過光又は該ＣＮＴ分散薄膜からの反射光から吸光度を計算して、該ＣＮＴ懸濁液又は該ＣＮＴ分散薄膜のＣＮＴの単分散性を評価する方法であって、吸光度から吸光曲線を求める工程と、該吸光曲線において２つの特定のエネルギーレベルを中心とした２箇所の吸収ピークの強度をそれぞれ抽出する工程と、該２箇所の吸収ピークの強度比を計算する工程と、を含むことを特徴とする、ＣＮＴの単分散性を評価する評価方法。 （もっと読む）

【課題】本発明は、分光反射強度に含まれる迷光成分を低減し、パターンドディスク表面のパターン形状を精度よくまたはパターン欠陥を確実に検出できるハードディスクメディアの検査装置または検査方法を提供することである。
【解決手段】本発明は、パターンが形成されたハードディスクメディアの表面に複数の波長を含む光を照射し、波長毎に検出される反射光の強度を前記ハードディスクメディアからの反射光を検出する検出器に発生する迷光成分の強度で補正し、前記補正された反射光の強度から分光反射率を算出することを第１の特徴とする。前記補正は、前記ハードディスクメディアからの反射光の強度を前記反射光の短波長領域をカットした状態とカットしない状態で波長毎に検出し、両者の前記反射光の強度との差に基づいて行なうことを第２の特徴とする （もっと読む）

【課題】 平面、円筒、自由形状を含む各種形状の基板の外面および内面上に施したＤＬＣ薄膜の膜厚と屈折率を近赤外光を用いて精度良く測定することを目的とする。
【解決手段】 グラファイト成分を含むダイアモンド状カーボン薄膜が半透明な波長域の近赤外光を光源として利用することを特徴として垂直反射干渉スペクトル計測によって膜厚と屈折率の積を求める。
また、干渉測定する対象試料の同一点の屈折率を同一光源を用いて、傾斜入反射測定計で反射物質の屈折率のみで決まるブリュースター角を測定することで、屈折率を決定する。結果として、正確な膜厚が求まる。 （もっと読む）

【課題】基板表面に形成した薄膜の物性を非破壊かつ高精度で測定することができる物性測定装置、物性測定方法、薄膜基板製造システム及びプログラムを提供する。
【解決手段】基板Ｋ表面に形成された薄膜Ｈの物性を測定する物性測定装置において、テラヘルツ波を発生するテラヘルツ波発生源と、基板Ｋ表面に薄膜Ｈが形成された成膜領域Ｆ及び該基板Ｋ表面に薄膜Ｈが形成されていない非成膜領域Ｎに、テラヘルツ波発生源からのテラヘルツ波が照射されるように、基板Ｋ及び薄膜Ｈを移動する移動手段と、成膜領域Ｆ及び非成膜領域Ｎからの透過波又は反射波の電場強度を複数回検出する検出手段と、検出手段が複数回検出した透過波又は反射波の電場強度を積算する積算手段と、積算手段が積算した透過波又は反射波の電場強度の時間変化を測定する測定手段とを備える。 （もっと読む）

【課題】計測対象物の色情報及び付加価値情報を全幅で取得することが可能な画像特性計測方法、画像特性計測装置、画像評価装置、及び画像形成装置を提供する。
【解決手段】画像担持媒体及び前記画像担持媒体上の画像の所定の領域に、可視域の光及び可視域外の光を含む照射光を照射する光照射工程と、前記所定の領域からの拡散反射を、複数の領域に分割する領域分割工程と、分割された各領域の前記拡散反射光を、前記可視域及び前記可視域外で分光する分光工程と、前記可視域で分光された前記拡散反射光を可視光受光領域で受光し、前記可視域外で分光された前記拡散反射光を可視外光受光領域で受光する受光工程と、を有し、前記可視域の前記拡散反射光の受光強度により、前記各領域の色を計測し、前記受光工程で受光した前記可視域外の前記拡散反射光の受光強度により、前記各領域の透明を呈する色材の状態を計測する。 （もっと読む）

【課題】トナー量が異なる領域が混在している画像の全体にたいして「光沢感」が一致していることを表現することができる光沢評価装置及び光沢評価方法を提案する。
【解決手段】記録媒体上に形成したトナー像の光沢感を評価する光沢評価装置４０において、前記光沢評価装置４０は、複数のトナー付着量に相当する特性値（以下、付着量特性値と略す。）に対する光沢に関係する特性値（以下、光沢特性値と略す）との関係から、２つの直線で予め定める理想関係と、計測することにより得られる実測データとの差異にもとづいて光沢感を評価する。 （もっと読む）

【課題】 テラヘルツ時間領域分光装置において光軸上に配置させた複数のレンズを用いて光路長を変化させる時間遅延機構を提供する。
【解決手段】
テラヘルツ時間領域分光装置の時間遅延ユニットにおいて、レーザー光の光軸を中心として、入射面が該光軸と垂直になるように配設した複数のレンズと、レンズの一つから入射したレーザー光を折り返し他のレンズより出射可能に配設したミラーと、レンズに対するレーザー光の入射位置を移動することによって光路長を可変とする手段と、を有することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】測定物の温度測定と同時に、測定物の所望の面の状態を分析することができる表面分析装置を実現すること。
【解決手段】表面分析装置は、スーパーコンティニューム光を放射する光源１０と、ＳＣ光を測定光と参照光とに分割する光ファイバカプラ１１と、ミラー１２と、ミラー１２を移動させる駆動装置１３と、測定光と参照光との干渉波形を測定する受光手段１４と、干渉波形から測定物の温度および表面状態を分析する干渉波形解析手段１５と、によって構成されている。干渉波形解析手段１５は、干渉波形の干渉ピーク位置の温度変化から温度を測定する手段と、干渉波形から測定物の所望の面に対応する干渉ピークを切り出し、その切り出した波形をフーリエ変換したスペクトル図を求めることで、測定物の膜質、表面状態などを測定する。 （もっと読む）

【課題】光コヒーレンストモグラフィ（以下「ＯＣＴ」という。）手法を用いて紙葉類の断面構造情報を検出する。
【解決手段】搬送機構部２０にセットされた検出対象である紙葉類１０に対し、ＯＣＴ信号検出部３０から低干渉性（コヒーレンス）光を照射し、紙葉類１０からの反射光を受光して、参照光との間で得られる干渉光の強さを検出する（ＯＣＴ生信号の検出）。得られたＯＣＴ生信号は、データ処理および判定部５０へ与えられて、データ処理および判定処理として、「反射率の深さ方向のプロファイル算出処理」（Ｓ１）、「反射率の深さ方向プロファイル解析処理」（Ｓ２）および「判定処理」（Ｓ３）が行われる。 （もっと読む）