【課題】封止部材を透過する水蒸気をデバイスが封止された状態で簡便かつ高感度に測定することができる水蒸気透過測定装置および水蒸気透過測定方法を提供する。
【解決手段】本発明の一実施形態に係る水蒸気透過測定装置１０は、光源２１と、結露促進部１２と、受光部２２と、液体凝縮解析部３２と、封止部材１３と、を有する。結露促進部１２は、光源２１が照射した光の一部をプラズモン吸収する。受光部２２は、結露促進部１２による反射光および透過光の少なくとも一方を受光する。液体凝縮解析部３２は、受光部２２により受光された反射光および透過光の少なくとも一方にもとづいて結露促進部１２の上面の液体の凝縮を解析する。封止部材１３は、太陽電池デバイス１４の一部または全部および結露促進部１２を封止する。 （もっと読む）

【課題】表面プラズモン共鳴（ＳＰＲ）現象を応用して電場増強度を測定する方法に基づいて、金属薄膜の光学特性を正確かつ容易に測定することができる金属薄膜の光学特性測定方法及び金属薄膜の光学特性測定装置を提供する。
【解決手段】第１の励起光を照射し、金属薄膜表面に表面プラズモン光を発生させるとともに、金属薄膜に向かって、第１の励起光とは別の第２の励起光を照射して、金属薄膜表面に第２の光を発生させ、表面プラズモン光と前記第２の光とによる干渉縞を発生させ、第２の励起光の光量を変えながら、干渉縞のコントラストが最大となる時の干渉縞ピッチ及び伝搬長を測定し、干渉縞ピッチ及び伝搬長に基づいて、金属薄膜の光学特性を算出する。 （もっと読む）

【課題】所望のセルロース繊維集合体やセルロース繊維複合体を得るために、微細セルロース繊維を含む分散液やフィルム中における微細セルロース繊維の分散性を評価する最適な手段を提供することを課題とする。
【解決手段】基材上にセルロース繊維を含む分散液を成膜した後、該膜を撮像し、撮像した画像を解析して数値化することにより、評価することを特徴とする、セルロース繊維を含む分散液の評価方法、および、セルロース繊維を含むフィルムを撮像し、撮像した画像を解析して数値化することにより、評価することを特徴とする、セルロース繊維を含むフィルムの評価方法。 （もっと読む）

【課題】所望の被測定箇所における不純物の検出下限値を向上させ、正確に不純物濃度を測定する。
【解決手段】本発明の表面不純物測定方法は、まず、被測定物２００の表面における被測定箇所に溶媒を滴下する。このとき、溶媒を留めておくための溶液保持部材（たとえば小片化基板４２０）を、被測定物２００の一部領域上に載せた状態で、溶媒を保持することにより試料溶液３００を作製する。次いで、試料溶液３００を溶液抽出部５６０で抽出する。その後、試料溶液３００の不純物分析を行う。 （もっと読む）

【課題】保護膜付印刷物の色再現精度を低下させることなく、カラーチャートの印刷、保護膜の被覆及び測色の作業工数を大幅に低減可能な印刷色予測装置、印刷色予測方法及びプログラムを提供する。
【解決処理】印刷物３８の分光反射率（第１の分光データ１１２）を取得し、ラミネートフイルム４０の光学物性値（第２の分光データ４１０、４１２、４１４）を印刷物３８の分光反射率Ｒｇに応じて複数組推定する。そして、第１の分光データ１１２と、第２の分光データ４１０、４１２、４１４とを用いて保護膜付印刷物４２の分光反射率（第４の分光データ１１８）を予測する。 （もっと読む）

【課題】微小な領域の薄膜の厚さや光学定数の２次元分布を高速かつ高精細に計測することのできる測定機の提供。
【解決手段】入射・受光光学系と偏光測定モジュール１０５と解析装置とを具えるエリプソメータで、入射光学系は平行光ビームを出射する機構と光ビームの偏光状態を定める偏光子１０２あるいは波長板を有し、受光光学系は測定試料１０３から反射された光ビームを受光し、測定試料面の像を前記偏光計測モジュールに含まれるエリアセンサ１０６に結像させるレンズ系、偏光計測モジュールは波長板アレイ１０７と、均一偏光子１０８と、エリアセンサとを含む。波長板アレイは１次又は２次元的に繰り返し配置された複数の単位ユニットを含み、該ユニットは同異方性軸の方向が異なる少なくとも４種類の波長板を含む。均一偏光子は一方向の透過軸を有し、エリアセンサは前記波長板アレイおよび前記均一偏光子の順に通過した光を独立にその強度を測定できる。 （もっと読む）

【課題】送受信器間に定在波が立つと被測定物の位置によって受信器で受信する電磁波の強度が異なるため、被測定物を透過した電磁波の強度を測定するだけでは被測定物に含有している所定の材料の含有量を精度よく計測することが難しい。
【解決手段】
受信器を定在波の波長λの１／２より長い距離に亘って移動しながら電磁波の強度の最大値などの規定値を測定し、予め採ってある検量データを用いて被測定物中に含まれる所定の材料の含有量を計測する。 （もっと読む）

【課題】印刷機内で印刷済みウェブを操作するためのウェブ検査モジュール。
【解決手段】ウェブ検査モジュールは、ウェブの一部分を照明する光源と、複数の検出要素を有する接触式画像センサと、印刷済みウェブを示す画像データを受け取って処理するための処理器とを備えている。 （もっと読む）

【課題】本発明は、非破壊であって測定環境をコントロールすることなく、基板上に導電性を持つ導電層を介して半導体層を形成した測定対象物における前記半導体層の結晶性を評価し得る半導体薄膜結晶性評価装置および該方法を提供する。
【解決手段】本発明の半導体薄膜結晶性評価装置Ｄａは、基板ＬＡ１上に導電性を持つ導電層ＬＡ２を介して半導体層Ａ３を形成した測定対象物ＷＡに、半導体層ＬＡ３の厚さよりも短い浸透長となる波長域の測定光を照射して、測定対象物ＷＡで反射した測定光の反射光を測定する測定部１と、測定部１の出力に基づいて反射スペクトルにおける所定のピークに関する情報を求め、この求めた前記情報に基づいて半導体層ＬＡ３における結晶性の評価を表す評価指標を求める演算部２とを備える。 （もっと読む）

【課題】金属材料サンプルのサブミリ波反射特性（反射損失、反射率）を高精度に測定するための装置、及び方法を提供する。
【解決手段】本発明は、温度の異なる２つの熱放射体それぞれから発生する放射光について、当該放射光が参照経路を進行した場合と金属材料サンプルによる反射を伴って測定対象経路を進行した場合とで異なるサブミリ波の強度を測定し、当該測定結果を用いてサンプルの反射特性を算出するための装置、及び方法を提供する。 （もっと読む）

【課題】数秒／枚程度で生産されるパターンドメディアを全面を全数に亘って検査することを可能にするパターンドメディアの形状欠陥検査方法及びその装置を提供する。
【解決手段】基板に形成された寸法が１００nm以下の繰り返しパターンを検査する方法において、基板に複数の波長成分を含む光を照射し、この光を照射した基板からの反射光を分光して検出し、この分光して検出して得た信号を処理して分光反射率を求め、この求めた分光反射率から評価値を算出し、予め求めておいた評価値とパターン断面形状との関係に基づいて分光反射率から算出した評価値からパターンの形状欠陥を判定するようにした。 （もっと読む）

【課題】試料を切り出すことなく、単位面積あたりの重量を測定する。
【解決手段】以下のステップを備えてテラヘルツ時間領域分光法に基づいて試料の単位面積当たりの重量を求める。
（ステップ１）試料がない場合と、単位面積あたりの重量が既知の複数の標準試料について、テラヘルツ電磁波パルスの時間領域波形のピーク時間を測定し、標準試料の単位面積当たりの重量と、試料がない場合のピーク時間を基準としたときの単位面積当たりの重量に基づくピーク時間の遅延時間ΔＴとの関係をあらかじめ求めて検量線を作っておくステップ、
（ステップ２）未知試料に対してテラヘルツ電磁波パルスの時間領域波形のピーク時間を測定してピーク時間の遅延時間ΔＴｓを求めるステップ、及び
（ステップ３）前記検量線から遅延時間ΔＴｓに対応する単位面積当たりの重量を未知試料の単位面積当たりの重量として求めるステップ。 （もっと読む）

【課題】表面の反射特性を客観的に決定することができ、さらに、下流側システムに利用できるパラメータに反射特性を変換し、これらの特性をデータレコードの形態で利用可能にする方法を提供する。
【解決手段】オリジナル圧刻表面のトポロジを３次元の走査方法を用いて走査し、表面のトポロジデータを決定し、オリジナル圧刻表面を走査したラスタの各々の面素に属する深さ値を実質的に含むトポロジデータを第１のデータレコードに記憶し、第１のデータレコードについて、エッジ検出を行い、次に、深さ値を参照して平均計算を行って、反射特性に対する深さ値の影響に関する深さ値の評価を行い、平均計算で得られた、エッジの周波数及び／又は高さを記述する値を、反射値として各々の面素に割り当てて、第２のデータレコードに記憶し、第２のデータレコードが、別の加工システム又は試験システムに利用可能になる。 （もっと読む）

【課題】実生活の利用条件及び利用環境で照射される太陽光源に含まれる紫外線に対する防御効果の高精度な評価を実現する。
【解決手段】塗布対象部材に塗布された測定試料における紫外線防御効果の評価を行う評価方法において、予め設定された光照射条件による紫外線、可視光線、赤外線を含む光源の光照射により所定の波長領域における前記測定試料の分光透過スペクトルの経時変化を所定の波長間隔で測定する第１のステップと、前記分光透過スペクトルの経時変化に基づき、光照射時間と前記測定試料の紅斑効果量から１ＭＥＤあたりの紅斑効果量を除算することで得られる所定時間単位の紅斑効果量との相関関係を設定する第２のステップと、前記相関関係から時間積分した累積紅斑効果量が１ＭＥＤに到達するまでの時間によって前記測定試料におけるｉｎ ｖｉｔｒｏ ｒＳＰＦ予測値を算出する第３のステップとを有する。 （もっと読む）

【課題】化成被覆率を高精度・短時間で測定が可能な車両鋼板における化成被覆率の簡易計測方法及びその装置を提供する。
【解決手段】化成被膜が表面に被覆された車両鋼板の化成被覆率を計測する簡易計測方法であって、前記車両鋼板表面に光を所定の照射角度で照射し、当該車両鋼板表面から所定の受光角度で反射される正反射成分を用い、前記正反射成分を含む反射強度と前記正反射成分を含まない反射強度の比を得ることにより、前記車両鋼板における化成被膜の被覆率を計測する。 （もっと読む）

【課題】複層塗膜の内部構造及び内部欠陥を、非接触非破壊且つ簡便に測定、解析することができる複層塗膜の非接触非破壊評価方法及びそれを用いた装置を提供すること。
【解決手段】本評価方法は、光源１からの光を参照光と複層塗膜４への入射光とに分岐する分岐ステップと、前記参照光の光学距離を調整する調整ステップと、前記複層塗膜からの反射光と前記参照光とを干渉せしめる干渉ステップと、前記複層塗膜からの前記反射光を含む干渉光を検出して前記干渉光の強度信号を出力する検出ステップと、前記強度信号を解析する解析ステップと、を含む。 （もっと読む）

【課題】測定対象物の波長毎の反射率を精度良く測定することができる反射率測定装置及び反射率測定方法、並びに本発明による反射率測定装置を備えた膜厚測定装置及び本発明による反射率測定方法を含む膜厚測定方法を提供する。
【解決手段】
反射率測定装置１は、照射光Ｌ１を測定対象物へ供給する測定光源３０と、照射光Ｌ１の強度及び測定対象物からの反射光Ｌ２の強度を波長毎に検出する分光検出部８０と、照射光Ｌ１の波長毎の強度の検出値を、基準測定対象物からの反射光Ｌ２の波長毎の強度の検出値に相当する値に変換する変換係数Ｋ（λ）を記録する係数記録部９２と、照射光Ｌ１の波長毎の強度の検出値及び変換係数Ｋ（λ）より求まる、基準測定対象物からの反射光Ｌ２の波長毎の強度に相当する値に基づいて、波長毎の反射率を算出する反射率算出部９３とを備えることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】高価なハイパースペクトルカメラを使用することなく、推定精度の高い検量線を得て、目的成分濃度を高精度で非破壊計測する方法ならびに装置を提供する。
【解決手段】波長６００ｎｍ〜２５００ｎｍの範囲またはその一部範囲の波長光を葉菜などの計測対象に照射し、その透過光を受光して近赤外線吸光スペクトルを取得し、検量線を用いて計測対象の目的成分濃度を非破壊計測する近赤外線分光計測法において、所定の径の貫通孔を設けた近赤外線の遮蔽部材または吸収部材を用いて、計測対象を挟み込み、該貫通孔に向け近赤外線光を照射し、照射範囲を該貫通孔から露出する部位に限定することにより線量線の推定精度を向上させる。 （もっと読む）

【課題】 本発明は、テラヘルツ波を用いて物性の測定を行うテラヘルツ波測定装置およびテラヘルツ波測定方法に関する。
【解決手段】 本発明のテラヘルツ波測定装置は、本発明のテラヘルツ波測定装置は、パルスレーザーをポンプ光とプローブ光とに分割するビームスプリッターと、ポンプ光の入射によりテラヘルツ波を発生するテラヘルツ波発生器と、入射されたプローブ光から複数のパルスを生成するパルス列発生部と、パルス列をテラヘルツ波検出器に入射し、テラヘルツ波検出器に入射されたテラヘルツ波の電場の時間的変化を複数のパルスに基づいて測定するテラヘルツ波測定部とを備える、よう構成する。 （もっと読む）

【課題】細孔を有した薄膜に対して超臨界流体とエリプソメータを利用して膜厚を計測する方法において、容器の窓における光弾性効果を補正する方法を提供
【解決手段】あらかじめ大気中で試料５０の反射光の偏光状態を測定し，続いて試料を超臨界流体容器内に配置し超臨界流体を封入ないし流通させた状態で反射光の偏光状態を測定し，続いて試料を超臨界流体容器内に配置し超臨界流体を封入ないし流通させた状態でプローブ材料を添加し偏光状態を測定し，前記大気中偏光状態と前記超臨界流体中偏光状態とから入力窓１１０と出力窓１１２の光弾性効果を求め，さらに入力窓と出力窓の光弾性効果の結果を利用し，プローブ材料を添加した場合の偏光状態から，超臨界流体中にプローブ材料を添加した場合の試料の光学的状態を求める、細孔を有する薄膜の測定方法。 （もっと読む）