【課題】多色カラープリンタなどの画像形成装置におけるトナー濃度やトナー位置検知制御において、トナーの消費量低減に加えて、光学センサを低消費電流で使用できるようにする。
【解決手段】中間転写体上に形成されたテストパターンにおけるトナー濃度やトナー位置を光学的に検知する反射型光学センサを、主方向に対向配列された３個以上の発光部と３個以上の受光部で構成する。そして、前記反射型光学センサを制御し、該センサの検知結果に基づき画像形成プロセス条件を決定する制御手段は、中間転写体で反射された光が各受光部で所定値になるように各発光部の駆動電流を較正する較正手段と、較正された電流値に基づいてトナー濃度やトナー位置を検知するのに使用する発光部を選択する手段を備え、選択された発光部の位置に前記テストパターンを形成するようにする。 （もっと読む）

【課題】ワイドギャップ半導体においても、ＣＰＭ測定による欠陥密度の精度の高い評価を可能とする。
【解決手段】ワイドギャップ半導体のバンドギャップの波長（λ_Ｅｇ）以下、所定の波長範囲以上におけるＣＰＭ測定で得られた照射光量から導出した吸収係数と、別途測定したワイドギャップ半導体のλ_Ｅｇ以下の所定の波長範囲以上における吸収係数とのフィッティング値Ｆ（ｘ）を０．０００１以上１以下、好ましくは０．０００１以上０．１以下とする。 （もっと読む）

【課題】小型化と高精度化とを両立させることができる水分センサを提供する。
【解決手段】 水分吸収波長光を射出するＬＥＤ２０１、リファレンス光を射出するＬＥＤ２０２、各ＬＥＤからの光が入射され、第１の偏光方向の直線偏光を対象物に向かう方向に射出するとともに、対象物で散乱された光が入射され、前記第１の偏光方向に直交する第２の偏光方向の直線偏光を前記対象物に向かう方向とは異なる方向に射出する光学系（２０３、２０４、２０５、２０７、２０８）と、該光学系から射出された前記第２の偏光方向の直線偏光を受光するフォトダイオード２０９などを有している。 （もっと読む）

【課題】対象物の識別を精度良く安定して行うことが可能な光学センサを提供する。
【解決手段】 第１の光照射系１０、第２の光照射系２０、第１の正反射光検出系３０、第２の正反射光検出系４０などを有している。第１の光照射系１０は、暗箱５０の開口部に対して−Ｘ側に配置され、第２の光照射系２０は、暗箱５０の開口部に対して＋Ｘ側に配置され、それぞれ開口部に向けて光束を射出する。試料台の表面に対する、第１の光照射系１０からの照射光の入射角、及び第２の光照射系２０からの照射光の入射角は、同じ入射角である。第１の正反射光検出系３０は、第１の光照射系１０から射出され、記録紙で正反射された光束を検出し、第２の正反射光検出系４０は、第２の光照射系２０から射出され、記録紙で正反射された光束を検出する。 （もっと読む）

【課題】調査される材料に所定の光路に沿って所定の放射線を照射する第１の照明機器と、調査される材料を透過した放射線を記録する放射線記録空間とを備えた光透過材の光学特性の測定装置の提供。
【解決手段】放射線記録空間４は、上記第１の照明機器２によって放射された上記放射線が、まず初めに上記材料１０に当たった後に、少なくともしばらくの間、上記放射線記録空間４の内壁４ａに当たるように設けられ、実質的に上記放射線記録空間４の内壁４ａからのみ反射した及び／又は散乱した放射線を記録するように設けられた放射線検出機器１２と、上記放射線記録空間４の内壁４ａに光を照射する第２の照明機器１４とを備えている。 （もっと読む）

【課題】透過光を検出することなくヘイズ値を求めることを可能とする。
【解決手段】測定光を射出する光源３１と、光源３１から射出された測定光を平行光束にして測定試料１に向けて射出する照射光学系３３と、照射光学系３３から射出された測定光による測定試料１からの反射光の光量を検出する検出光学系４０と、検出光学系４０により検出された反射光に含まれる正反射光成分と拡散反射光成分とに基づき、測定試料１のヘイズ値を算出する演算手段７１とを備えることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】短時間のうちに高精度にガスバリア性を評価することを可能とするガスバリア性積層フィルムの検査方法を提供する。
【解決手段】基材２と、基材２に形成されたガスバリア膜３と、を有するガスバリア性積層フィルム１の検査方法であって、ガスバリア膜３の屈折率を測定し、当該屈折率の測定値と、予め測定したガスバリア膜３のガス透過度とガスバリア膜３の屈折率との関係とから、ガスバリア膜３のガスバリア性を判定することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】測定対象物に塗布された塗布物質の塗布状態をより簡単に精度よく測定する。
【解決手段】測定対象物を撮像して測定対象物のスペクトル画像を取得する画像取得ステップＳ０１と、画像取得ステップにより得られたスペクトル画像に基づいて、塗布物質の種類を判別する塗布物判別ステップＳ０２と、画像取得ステップにより得られた前記スペクトル画像に基づいて、塗布物質の塗布量を測定する塗布量測定ステップＳ０３と、を備える。 （もっと読む）

【課題】本発明は、取得したスペクトルから基板上に形成した膜の複数の測定点に対する光学定数を唯一の値として求めることができる光学特性測定装置および光学特性測定方法を提供する。
【解決手段】本発明は、光源１０と、検出器４０と、データ処理部５０とを備えている。データ処理部５０は、モデル化部と、解析部と、フィッティング部とを備えている。複数の膜モデル式を連立させ、複数の膜モデル式に含まれる光学定数が同一であるとして所定の演算を行ない、算出した膜の膜厚および光学定数を膜モデル式に代入して得られる波形と、検出器４０で取得した波長分布特性の波形とのフィッティングを行なうことにより、複数の膜モデル式に含まれる光学定数が同一で、解析部で算出した膜の膜厚および光学定数が正しい値であることを判定する。 （もっと読む）

【課題】血液中に含まれるウニ状赤血球を検出するための新規な装置および方法の提供。
【解決手段】赤血球の可視吸収スペクトルを取得し解析を行った結果、ウニ状赤血球がＳｏｒｂｅｔ帯とＱ帯との間の、４５０〜４９０ｎｍの波長域に吸収ピークを伴う特徴的なスペクトルパターンを示すことを見出した。そこで、血液について取得された可視吸収スペクトルの前記吸収ピークを検出する解析部を有する血液分析装置を提供する。この装置によれば、前記吸収ピークに基づいて血液中に含まれるウニ状赤血球を検出することができる。 （もっと読む）

【課題】洗浄液で洗浄し、続いてリンス液で洗浄された基板を乾燥させる処理を、簡易な装置構成で速やかに進行させること。
【解決手段】ウエハＷ表面に、昇華性物質の凝固点よりも高い温度になるように加熱された置換液を供給し、次いで、液状の昇華性物質を含む処理液を前記凝固点よりも高い温度にして共用ノズル５を介して供給する。前記置換液の供給により、リンス液の置換液による置換とウエハＷの表面の加熱を同時に行うことができ、加熱されたウエハＷに、前記凝固点よりも高い温度の処理液を供給しているので、ウエハＷ上に処理液の液膜を薄く広げることができる。加熱した置換液や処理液をウエハＷ表面に供給しているので装置構成が簡易なものとなり、また、処理液の薄い液膜を形成することができるため、昇華性物質の固化や昇華に要する時間が短縮され、基板を乾燥させるための処理が速やかに進行する。 （もっと読む）

【課題】表面の光学的特性を調査するための方法を提供する。
【解決手段】照射装置２によって表面１０に対して所定の入射角ａ１で照射され、この表面１０によって散乱及び／又は反射された放射は表面１０に対して所定の検出角度ｂ１をなして配置された、白黒画像を記録する画像記録ユニット４ａを有する放射検出装置４に達し、この放射検出装置４は放射の空間分解検出を可能とするように構成した方法である。照射装置２は表面１０に向かって第１の波長域Ｗ１と、第２の波長域Ｗ２の放射を時間的にずらして照射して、画像記録ユニット４ａは表面１０から散乱及び／又は反射された第１の空間分解画像Ｂ１及び第２の空間分解画像Ｂ２をそれぞれの波長域の照射に応じて記録する。 （もっと読む）

【課題】より正確なスペクトルデータをより短時間に取得することができる。
【解決手段】撮像部１０８はサンプル１０１から入射された光に応じた画像を撮像する。カラーセンサ１１０はサンプル１０１から入射された光のスペクトルデータを取得する。光源制御部１０５は、通常サンプリング期間に光源１０４を点灯させ、暗時サンプリング期間に光源１０４を消灯させる。補正部１１１は、通常サンプリング期間にカラーセンサ１１０が取得したスペクトルデータと、暗時サンプリング期間にカラーセンサ１１０が取得したスペクトルデータとに基づいて、撮像部１０８が撮像した画像の色を補正する。ステージ制御部１０３は、暗時サンプリング期間に、ステージ１０２と、対物レンズ１０６およびハーフミラー１０７との相対位置を移動させる。 （もっと読む）

【課題】本発明の目的は、迅速に布帛in vitroＳＰＦ値を、低コストで客観的に評価することのできる布帛用in vitroＳＰＦ評価装置を提供する。
【解決手段】本発明の測定方法はＵＶＢ及び／又はＵＶＡを放射する光源と、該光源より放射された紫外線Ｕ１の所望の波長λを選択する分光器と、布帛が入れられ、該分光器からの紫外線Ｕ２が該布帛に照射されるように設置された紫外線透過材料からなる試料保持板と、該布帛からの拡散透過光Ｕ３を集光する積分球と、該拡散透過光Ｕ３の光量を検出する検出器と、所定の測定波長範囲及びスペクトルバンド幅の拡散透過スペクトルが得られるように該分光器を制御する分光器制御手段と、該スペクトルＴを用いて、式（１）に従いＳＰＦ相当値を計算する算定手段と、を備えたことを特徴とする布帛用in vitroＳＰＦ評価装置。 （もっと読む）

【課題】光測定分析を行う装置において、分析対象物の全面に光を照射して、光スペクトルを取得することができる光分析測定装置を提供する。
【解決手段】本発明に関わる光測定分析装置は、光源１０と、光照射部１１と、受光部１３と、分光部１４と、分光部で得た光のスペクトルを分析する分析部１７とで構成され、容器１２の内壁は、測定対象物から反射した光と透過した光を、反射するように構成されている。このような光測定分析装置を用いることで、分析対象物のほぼ全面に効率よく光を照射し、分析の精度を向上させることが可能となる。 （もっと読む）

【課題】光学フィルムを停止させることなく、光学フィルムの光学特性を高精度に測定する。
【解決手段】光学フィルム１１に円偏光を測定光として照射する投光部１２と、Ｘ方向に配列された複数種類の波長板と、各波長板に対応する領域内に、ひとつの測定値を得る単位となる単位受光エリアが複数配列された撮像素子とを有し、光学フィルム１１を透過した測定光を複数種類の偏光状態で単位受光エリア毎に受光する受光部１３と、光学フィルム１１をＸ方向に搬送することにより、単位測定エリアをＸ方向に移動させる搬送ローラ１４と、単位測定エリアをＸ方向に移動させながら単位測定エリアを透過した測定光を複数の単位受光エリアで受光することによって、同一の単位測定エリアについて複数得られる測定値から単位測定エリアのミュラー行列を算出するとともに、算出したミュラー行列の要素を用いて光学特性を算出する制御部１６と、を備える。 （もっと読む）

【課題】光学フィルムを停止させることなく、光学フィルムの光学特性を高精度に測定する。
【解決手段】光学フィルム１１に円偏光を測定光として照射する投光部１２と、Ｙ方向に配列された複数種類の波長板と、ひとつの測定値を得る単位となる結合画素を波長板の各々に対応するように設けた単位受光エリアがＸ方向に複数配列された撮像素子とを有し、光学フィルム１１を透過した測定光を複数種類の偏光状態で単位受光エリア毎に受光する受光部１３と、光学フィルム１１をＸ方向に搬送することにより、単位測定エリアを移動させる搬送ローラ１４と、単位測定エリアを移動させながら測定光を複数の単位受光エリアで受光することによって、同一の単位測定エリアについて複数得られる測定値から単位測定エリアのミュラー行列を算出するとともに、算出したミュラー行列の要素を用いて光学特性を算出する制御部１６と、を備える。 （もっと読む）

【課題】プラスチックシートの素材（ＰＥＴ／ＰＳ）を的確に判別する。
【解決手段】プラスチックシート判別装置は、２８０ｎｍ以上３２０ｎｍ以下の範囲内にピーク波長を有する紫外発光ダイオードから構成される発光部３２０と、発光部３２０からプラスチックシートへ照射されプラスチックシートを透過した透過光を受光する受光部３３０と、透過光から透過率を算出して、透過率が予め定められたしきい値よりも大きいとＰＳシートであると判定して、大きくないとＰＥＴシートであると判定する制御部３１０とを含む。 （もっと読む）

【課題】テラヘルツ波の反射波を利用して金属の腐食を防ぐための塗膜や半導体ウェーハのエピ層等の積層物中の欠陥（気泡）検査を行う際に測定対象物の位置合わせを容易に行えるテラヘルツ波を用いた検査装置及び検査方法。
【解決手段】第１レーザ光の照射によりテラヘルツ波を発振するテラヘルツ波発振アンテナ５、第２レーザ光に時間遅延を与える時間遅延機構７と、第２レーザ光に基づいた検出タイミングでテラヘルツ波を検出し、検出したテラヘルツ波の強度に応じた検出信号を生成するテラヘルツ波受信アンテナ８、測定対象物１００の位置と傾きとが所定の状態にあるか否かを検出する状態検出部、測定対象物の位置と傾きとが所定の状態にあり、時間遅延機構７で与えられる時間遅延を変化させた場合のテラヘルツ波受信アンテナで生成された検出信号に基づく時系列信号強度データのピーク値に基づいて測定対象物の欠陥の有無を検査する検査部部５４を備える。 （もっと読む）

【課題】測定装置を較正するため、較正位置に移動した場合にも、より高い正確性で較正できる較正方法を提供する。
【解決手段】光出口開口部１７を含む中空体３と光検出器４，５および光源６は、測定位置から較正位置へスイッチするため、回転可能である。中空体は、その内部に拡散散乱層１５があり、光源から発せられる光は、中空体の内部で全方向に拡散され、この拡散光の一部は、光出口開口部を通して中空体を出る。測定装置の位置に応じて、その後、試料Ｘ（測定位置）へ、又は、参照基準７（較正位置）へ通過する。そこから、少なくとも部分的に、光出口開口部を通って中空体の中へ送り戻される。第１光検出器４は両位置において光出口開口部を通って中空体の中に入射する光を受信するよう整列され、第２光検出器５は両位置において拡散散乱層による散乱光を受信するよう整列される。 （もっと読む）