非侵襲的に生存組織領域の内部の病斑を識別する装置及び方法が開示されている。領域に対して、中赤外線放射を照射し、選択的に病斑を加熱する。そして、領域は中赤外線における黒体放射によりスキャンされる。病斑は周囲の組織よりも高温であり、この病斑は中赤外線の局所的に増大された放射力を有する箇所として検出される。さらに、第２の波数帯でスキャンあるいは加熱することで、病斑における特定の分類を識別する。本発明は特に早期における悪性の乳癌を識別する際に便利である。 （もっと読む）

【課題】表面プラズマ共鳴測定器を提供する。
【解決手段】本発明は一種の表面プラズマ共鳴測定器に関わるもので、携帯便利、操作単純、光ファイバー生物センサーを簡単に交換できる。主に、光源；凹み溝、被覆層およびコア層を有する光ファイバー生物センサーユニット；光センサー；複数本の光ファイバーおよびこの光センサーに接続する演算表示ユニットより構成する。そのうち、光センサーは光ファイバー生物センサーユニットに通過する信号を検知し、演算表示ユニットに伝送する。演算表示ユニットにて演算した上、その結果を表示装置に表示する。本発明の表面プラズマ共鳴測定器の検出感度が極めて高いため、微量生物分子の種類も識別できる。 （もっと読む）

【課題】測定対象とする試料に加工を施すことなく、試料の熱特性を高感度で測定できること。
【解決手段】試料１にパルス光Ｌ０を照射して弾性波を生じさせ、試料１との間にその試料１に生じる弾性波を伝搬するカップリング材２が充填された状態で金属薄膜１１が配置され、その金属薄膜１１の表面に測定光（レーザ光）を照射して表面プラズモン共鳴を生じさせるとともに、パルス光Ｌ０の照射によって試料１に弾性波を生じさせ、光検出器６により測定光Ｌ１の金属薄膜１１に対する反射光Ｌ２の強度を検出する。予め、反射光Ｌ２の検出結果に基づいて、測定光Ｌ１の照射角度θを調節することにより、金属薄膜１１表面の熱弾性特性を高感度で測定できる状態に調節する。 （もっと読む）

紙などのシート材料の温度測定を、水の赤外域の吸収スペクトルの解析から直接に達成する。この技法は、部分的に、選択された水分ピークの中心波長位置はシート温度に依存する、という認識に基づく。この波長位置はまた、既知の温度感度を有する。従って、この水分ピークの波長位置が決定されれば、監視されている製品の水分温度を計算することができる。好ましくは、水分ピークの位置は、ピークの導関数から得られる。吸収ピークの赤外吸収の大きさおよび波長位置を測定することにより、シート材料の水分含量と水分温度との両方を求めることができる。このデータはプロセス制御に使用される。この温度センサの赤外放射源としては、チューナブル・レーザ・ダイオードが特に適する。
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【課題】
水素吸着によって光学特性が変化する水素検出材料の高感度な水素検出方法を提供する。
【解決手段】
水素を含んだ雰囲気に触れた時に光学的な透過率が変化する水素検出材料を用いた高感度な水素検出方法は、（１）上記水素検出材料の主成分が酸化タングステンであり、その形状が薄膜である、（２）上記水素検出材料の表面上に触媒が堆積されている、（３）上記水素検出材料を６０℃以上５７０℃以下に保持することにより、水素検出性能の劣化を防ぐことを特徴とする水素検出方法である、（４）室温（２０℃付近）で上記水素検出材料を使用する場合は、経時変化により低下した水素検出性能を、純水を用いた超音波洗浄により一時的に回復させることを特徴とする水素検出方法。 （もっと読む）

【課題】安全システムで使用するため、高感度で着目化学種状物を受動的に測定し、選択領域で化学的特異性を受動的に測定できる化学蒸気センサーが提供される。
【解決手段】蒸気濃縮器は化学物質蒸気状物の濃度を赤外線検出器で使用するため検出可能レベルまで増幅する。化学蒸気センサーの受動的測定に影響を及ぼす環境変動の補償が提供される。環境変動には、周囲の空気中の外来的な蒸気又はサンプル蒸気が蒸気状物源から化学物質センサーのサンプリング用吸引口へとドリフトするときサンプル蒸気の少なくとも一部分を逸らす空気流れが含まれ得る。一例では、エタノール蒸気が測定され、二酸化炭素トレーサー測定値が環境変動に対して調整されるエタノール蒸気測定値を計算するため使用される。一態様では、血液アルコール濃度を計算するため人工時間フィルターが二酸化炭素センサーの出力をエタノールセンサーの時間依存性に合致させるように設定される。 （もっと読む）

正規化された曝露量を確立する共振デバイスの表面のかなりの面積にわたって複数の結合で材料エレメントを結合することを含むアッセイを実施する方法および装置。この方法および装置はさらに、材料エレメントに適用される外部影響を第１期間にわたって制御することと、表面に結合した材料エレメントの量の、正規化された曝露量に対する変化を示す信号を第２期間にわたって測定することとを含む。場合によっては、測定された信号を時間で積分して、表面に結合した材料エレメントの時間平均量を決定する。
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【課題】 加熱又は冷却部材や試料の熱膨張・熱収縮による試料表面の位置の変動を除去するための機構を持つ試料加熱又は冷却装置を得ること。
【解決手段】 凹部を有する試料支持機構と、凹部に収容されるとともに試料加熱部材又は試料冷却部材を有し、試料を保持する試料保持機構と、試料保持機構を取り囲む断熱機構と、試料支持機構に固定され、試料を上部より押さえる試料固定機構とを備えた試料加熱又は冷却装置において、上記断熱機構の底部と試料支持機構の凹部との間に弾性緩衝機構を介在させた試料加熱又は冷却装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】水素ガスと炭化水素ガスとを同時に検知できる光式水素ガス及び炭化水素ガスセンサを提供する。
【解決手段】被検知空間に水素ガスに触れると所定の赤外吸収波長帯における吸光度が変化する水素検知用触媒を配置し、炭化水素ガスの赤外吸収波長を含み、かつ上記触媒の赤外吸収波長帯に含まれる波長範囲内で光波長が掃引され、その掃引された光波長を中心波長として光波長及び光強度が正弦波（基本波とする）で変調されたレーザ光を被検知空間に照射して上記触媒を透過した光を受光し、その受光強度信号に含まれる基本波に同期した信号の大きさから水素ガスを検知し、上記受光強度信号に含まれる２倍波に同期した信号の大きさから炭化水素ガスを検知する。 （もっと読む）

【課題】配管内部を流れる対象ガスの濃度をリアルタイムに安定して検知する。
【解決手段】ガス検知装置１は、光源部５からのレーザ光を配管１２内のガス雰囲気中に出射する出射部５２と、ガス雰囲気を通過してくるレーザ光が入射される入射部５３とが一体に並設されて配管１２に着脱可能に装着される検知部３を具備する。検知部３は、ガス雰囲気中の配管１２の中心軸と直交する管径方向に既知の長さの光路を形成し、出射部５２から出射されたレーザ光を既知の長さの光路を介して入射部５３に導く。 （もっと読む）

【課題】測定精度が高く、設置が容易で、しかも小型化が可能な凝縮センサーを提供することを目的とする。
【解決手段】本発明に係る凝縮センサー１ａは、レーザ光Ｌを照射する投光装置４と、凝縮検知用プリズム２０と、レーザ光Ｌを受光する受光装置７とで構成した。そして、投光装置４、凝縮検知用プリズム２０、及び受光装置７をアイソレーター２内にそれぞれ設置した。さらに、投光装置４から照射されたレーザ光Ｌが、凝縮検知用プリズム２０を通過し、この凝縮検知用プリズム２０により直角に偏向されたレーザ光Ｌを受光装置７で受光するようにした。そして、アイソレーター２内に過酸化水素ガスＸを投入し、凝縮検知用プリズム２０の表面に凝縮液３０を形成し、受光装置７で受光量を測定し、凝縮の有無を把握するようにした。 （もっと読む）

【課題】ロータ分析器の長所をもち、その短所を備えない分析器を提供する。
【解決手段】血液サンプルの分析用の小型乾式生化学分析器であって、同一フレーム１１に、乾式試薬を入れた微小容器１３Ａ、１３Ｂを含む使い捨てロータ１３を受容するように構成された測定室２０と、分析サンプルの種に応じて決定される固定または可変比率のデジタル希釈モジュール２１と、測定室の内部で前記ロータの遠心と角方向の位置決めとを行うように構成されたサンプルの遠心モジュール１２と、ロータの微小容器に光束を当てるように構成され、フラッシュランプ型の光源１４と基準光センサ１６とを含む、光学モジュールと、少なくとも使用中の使い捨てロータの特徴を示す情報を少なくとも含む携帯可能な外部メモリ２７を読み込むように構成された、外部メモリ読取装置２６を備えた、電子処理および制御システム２３、２４、２５とを含む。 （もっと読む）

【課題】結露の発生の発生箇所を高精度で特定する。
【解決手段】判定対象物（窓、床、天井、壁等の建具）２の表面に結露が生じているか否かの判定を行う結露発生の判定システム１であって、判定対象物２の表面に所定のパターンで設けられる撥水処理が施された撥水処理部と撥水処理が施されていない非撥水処理部とからなる結露検知部７と、該結露検知部７の画像情報を取得する撮像手段１０と、該撮像手段１０が取得した画像情報に基づいて前記結露検知部７に結露が生じているか否かの判定を行い、この判定結果に基づいた結露情報を出力する制御手段１１とを備えている。 （もっと読む）

【課題】 小型化しても高精度に測定可能であり、かつコストを抑えた表面プラズモン共鳴スペクトル測定装置におけるデータ校正方法を提供すること。
【解決手段】 水を測定して、第１のスペクトルデータを所定の温度毎に取得し、かつデータベースを作成するステップ（２０１）と、未知試料を測定して、第２のスペクトルデータおよび測定時における温度を取得するステップ（２０７）と、光学計算を行い第４のスペクトルデータを取得するステップ（２０４）と、フーリエ変換された第４のスペクトルデータをフーリエ変換された第３のスペクトルデータで除算して、第１のデータを取得するステップ（２０６）と、第１のデータを第２のスペクトルデータをフーリエ変換して得られる第２のデータで除算し、第３のデータを取得するステップ（２０９）と、第３のデータを逆フーリエ変換して、校正スペクトルデータを取得するステップ（２１１）とを有する。 （もっと読む）

本発明はラボラトリ装置に関し、該ラボラトリ装置は、アレイ状に配置された複数試料の反応を同時に実行するためのラボラトリ装置であって、該試料を照射光で照射する照射装置と、上記試料から来る光の光強度に応じた信号を発生し、その信号を評価装置に転送する検知器と、前記照射装置の機能検査を行うためのモニター装置と、を有するラボラトリ装置において、前記照射装置が複数個の、各々が１個ずつの試料に割り当てられた発光ダイオードを有すること、及び前記モニター装置が複数の電気的装置を有し、該電気的装置を用いて発光ダイオードの電気的な機能検査を実行することができ、且つ、前記モニター装置は、ある発光ダイオードの機能障害が確認された場合、信号を生成するように作られていること、を特徴とする。
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物質の溶解度を求めるシステムは、一定量の物質及び一定量の溶媒系を含む試料を保持するホルダを備える。本システムは、試料の温度を変える温度調節器と、試料の光学パラメータを測定する光学測定装置と、少なくとも温度調節器及び光学測定装置を制御する制御装置とをさらに備える。制御装置は、温度調節器により試料の温度を変え、光学測定装置により試料の光学パラメータを測定し、且つ試料の光学パラメータの変化から、温度の関数として物質の溶解度を求めるようにプログラムされ得る。 （もっと読む）

【課題】 流体試料中の被測定物質を同時に測定でき、容易に定性分析することができると共に被測定物質の励起エネルギー間の測定誤差を減少させることができる検出方法及び当該検出方法を用いたマイクロ化学システムを提供する。
【解決手段】 検出光光源１６からＣＷ発振された波長７８０ｎｍの検出光を微細流路１内の被測定物質に照射し、波長がそれぞれ６５８ｎｍ及び５３２ｎｍである励起光を周波数がそれぞれ１ｋＨｚ、及び１．２ｋＨｚであるＤｕｔｙ５０％の複数の点滅励起光に変調して微細流路１内の被測定物質に照射し、照射された点滅励起光に起因して形成された熱レンズにより屈折した検出光を点滅励起光の周波数成分毎に同時に検出し、検出された検出光の信号をＰＤ２１からＩＶアンプ２２を介して信号処理装置としてのＰＣ２４に導いた。ＰＣ２４ではＦＦＴ処理を行い、各周波数成分毎に信号強度を測定した。 （もっと読む）

【課題】電磁波（例えば、テラヘルツ波）を用いて水等の流体などの試料のセンシングを行う際に、電磁波によるセンシングに対して試料を好ましい相状態にして、センシングを行うことができるセンシング装置ないし方法を提供することである。
【解決手段】センシング装置は、電磁波を伝播させるための伝送路10と、伝送路10を伝播する電磁波が分布する領域の少なくとも一部を含む部分に試料を収容するための収容部を有する。更に、収容部に収容される試料を相変化させるための相変化手段11、12を有することで、収容部内の試料を所望の相にした状態で伝送路10に電磁波を伝播させて分光学的手段などで試料の情報を得る。 （もっと読む）

【課題】
不完全部分を有する半導体結晶を予め製造プロセスから取り除くことができる、半導体結晶のスクリーニング方法を提供すること。
【解決手段】
本発明の半導体結晶のスクリーニング方法は、半導体結晶に電子線又は光を照射することによって半導体結晶の不完全部分での欠陥を誘起し、その後、カソードルミネッセンス法又はフォトルミネッセンス法により半導体結晶の欠陥検査を行い、その結果に基づいて半導体結晶のスクリーニングを行う工程を備える。 （もっと読む）

【課題】 高分子物質の分子量分布を測定することが可能な新規な方法を提供する。
【解決手段】 高分子物質および溶媒を含む試料を入れた容器内の圧力Ｐを上昇および低下のいずれかにより変化させて種々の圧力とし、試料の溶媒相中に存在する高分子物質を該種々の圧力下にて検出して検出強度Ｉを測定し、圧力Ｐに対する検出強度の変化率ｄＩ／ｄＰを求め、そして、圧力Ｐに対する検出強度の変化率ｄＩ／ｄＰを、分子量Ｍに対する高分子物質の量の変化率、例えばｄＷ／ｄ（ｌｏｇＭ）に変換することによって、高分子物質の分子量分布を求める。この方法において圧力に代えて温度を用いて高分子物質の分子量分布を求めてもよい。 （もっと読む）