【課題】 反射電子像と光学像とを同時に取得することができる電子線分析装置の提供。
【解決手段】 試料表面上の分析位置に所定方向から電子線を照射する電子線源２０と、試料表面上の分析位置で反射した反射電子による信号を検出する反射電子検出器４０と、試料表面上の分析位置を含む領域に前記所定方向から可視光を照射する落射光用光源部６０と、試料表面上の分析位置を含む領域から前記所定方向と逆方向に反射した可視光が入射して、試料表面上の分析位置を含む領域の光学像を取得する画像取得部５１ｂ、７１と、試料表面上の一次元又は二次元範囲内で分析位置を走査させることにより、反射電子検出器４０で信号を収集し、信号の強度に基づいて試料表面上の一次元又は二次元範囲の反射電子像を取得する制御部５１とを備える電子線分析装置１であって、落射光用光源部６０は、赤色領域の光を出射しないものとする。 （もっと読む）

【課題】光励起によりテラヘルツ波を発生、検出する素子において低温成長半導体の歪みや欠陥がテラヘルツ波発生効率などを制限していた点を解決した光伝導素子等を提供する。
【解決手段】光伝導素子は、半導体低温成長層１４を有し、半導体低温成長層１４と半導体基板１０との間に位置し且つ半導体低温成長層１４よりも薄い半導体層１１、１２、１３を有する。半導体低温成長層１４は、半導体層１１、１２、１３と格子整合し半導体基板１０と格子整合しない半導体を含む。 （もっと読む）

【課題】光源と受光素子とを分析チップに対して同一面側に配置する方法に対して、さらに高い精度で検査対象物の物質量を定量することができるようにする。
【解決手段】生体物質を含む検体試料を分析する分析チップ１０に、分析チップと生体物質との反応によって分析チップに生成された検出物質を検出する検出光を光源４０から照射し、分析チップに対して光源と同じ側に配置された第１の光学検出器５１によって分析チップからの拡散反射光を検出し、分析チップに対して光源と反対側に配置された第２の光学検出器６１によって分析チップからの拡散透過光を検出し、第１の光学検出器によって検出された拡散反射光および第２の光学検出器によって検出された拡散透過光の両方を用いて生体物質中の検査対象物の測定を行う。 （もっと読む）

【課題】対象標本の現象に即して、対象標本画像を高精度で解析できる画像処理装置を提供する。
【解決手段】染色標本の染色に使用される色素のスペクトルを記憶する色素のスペクトル記憶部233と、記憶された色素のスペクトルに基づいて、当該色素のスペクトルの波長方向の鮮鋭または緩慢な変化を表す変化特性を算出する変化特性算出部2501と、記憶された色素のスペクトルと算出された変化特性とに基づいて、染色標本画像の各画素の画素値から色素量および変化特性に基づく変化量を推定する色素量・変化量推定部2503とを有し、少なくとも変化量に基づいて染色標本画像を解析する演算部250と、を備える。 （もっと読む）

【課題】分析試料を担持して分析試料中の標的物質の分光分析及び質量分析を行うための複合分析用基板を提供する。
【解決手段】、第一の水溶性分子で表面処理された導電性透明基板と、前記第一の水溶性分子と互いに結合するために必要な相互作用を有する第二の水溶性分子で被覆され、かつ、前記第一の水溶性分子と第二の水溶性分子との相互作用により前記導電性透明基板上に固定された金属ナノロッド複合体と、この金属ナノロッド複合体に保持され、標的物質のイオン化を促進する表面修飾剤とを備えている複合分析用基板及びその製造方法、並びにこの複合分析用基板を用いた分析方法である。 （もっと読む）

【課題】包装機に設けたレーザー式ガス濃度計により全数の包装容器について当該容器を損傷することなく内部の特定ガスの濃度を迅速に測定することができるガス濃度測定方法を提供すること。
【解決手段】特定波長のレーザー光を発信器によって特定ガスに照射する機能を有するレーザー発生部と、その発信器から発振され特定ガスを通過するレーザー光を受信器によって受光し、そのガスにより吸収されたレーザー光の強度を測定してその強度から当該ガスの濃度を出力させる機能を有するレーザー受光部とからなるレーザー式ガス濃度計Ｍを用い、包装容器内に被包装物を充填してガス置換を行なってから開口部の密封を施す包装機の製品排出経路に、発信器と受信器を所定間隔に配置したレーザー式ガス濃度計のガスパージ室を設け、そのガスパージ室内にパージガスを流した状態にて発信器と受信器の間を通過する包装容器内の特定ガスの濃度を測定する。 （もっと読む）

【課題】テラヘルツ波発生素子及びテラヘルツ波検出素子が一体に設けられた内部全反射プリズムにおいて、被測定物の加熱・冷却に伴う影響を抑制できるテラヘルツ波分光計測装置を提供する。
【解決手段】本発明に係るテラヘルツ波分光計測装置では、内部全反射プリズム３１は、全反射面３１ｃを含む第１のプリズム部分３１ｆと、テラヘルツ波発生素子３２及びテラヘルツ波検出素子３３が一体に固定される本体部分３１ｇと、を有し、第１のプリズム部分３１ｆと本体部分３１ｇとの嵌合部分に断熱材３１ｈが介在している。これにより、被測定物３４を加熱・冷却する際の温度変化が、第１のプリズム部分３１ｆから本体部分３１ｇに伝わり難くなっている。従って、テラヘルツ波発生素子３２及びテラヘルツ波検出素子３３に温度変化が過剰に伝わることを防止できる。 （もっと読む）

【課題】複合プラスチックから各成分を効率良く抽出する加熱式ソックスレー抽出装置及び簡易抽出装置と、これらの加熱式ソックスレー抽出装置及び簡易抽出装置を用いてポリオレフィンを主成分として含む溶融混練した複合プラスチックをペレットの状態から各種成分を化学的に分離して定性及び定量分析するポリオレフィンを主成分として含む溶融混練した複合プラスチックの分析方法を提供することである。
【解決手段】溶媒としての有機溶剤３を注入可能な容器部２と、この容器部２の底部を加熱する第１の加熱部と、容器部２に接続され２本の側管を備え抽出成分を含む試料を投入する円筒濾紙７を内設する抽出部４と、この抽出部４に接続される冷却部９とを有する加熱式ソックスレー抽出装置１であって、抽出部４は円筒濾紙７が配置される周部に第２の加熱部８を備えるものである。 （もっと読む）

【課題】全反射プリズムの観察面上ないし近傍の試料の状態を、光を第１部品の観察面で全反射させ、その観察面と波長以下のレベルの距離をおいた第２部品の面上に複数の離間する金属粒子を配し、全反射光と金属粒子に誘起されるプラズモンとの共鳴によって増強された電磁場に起因する、光の吸収スペクトルを測定することで、観測面近傍の試料状態を観察する観察装置に関し、その吸収スペクトル検出感度をより向上させる。
【解決手段】離間する複数の金属粒子の離間間隔を、その金属粒子が表面に形成された、第２部品材料と同じ材料で埋める構造とする。例えば、金属粒子同士の間隔をその第２部品材料の粒子で埋めるようにする。 （もっと読む）

【課題】基板に形成された凹部の深度を、非破壊、非接触で検査できるとともに、高速に検査できるようにする技術を提供する。
【解決手段】基板検査装置１００は、ポンプ光の照射に応じて、基板Ｗに向けてテラヘルツ波を照射する照射部１２と、プローブ光の照射に応じて、基板Ｗを透過したテラヘルツ波の電場強度を検出する検出部１３と、テラヘルツ波が検出部１３に到達する時間と、検出部１３における検出タイミングを遅延させる遅延部１４とを備える。また、基板検査装置１００は、基板Ｗの第１領域を透過した第１テラヘルツ波の時間波形を構築する時間波形構築部２１と、基板Ｗの第２領域を透過した第２テラヘルツ波について、特定の検出タイミングで検出される電場強度と、前記時間波形とを比較することにより、第１テラヘルツ波と第２テラヘルツ波の位相差を取得する位相差取得部２４とを備える。 （もっと読む）

【課題】薄膜の物性を非破壊かつ高精度で測定することができる物性測定装置及び物性測定方法を提供する。
【解決手段】薄膜の物性を測定する装置において、レーザ発生源と、薄膜を励起する励起手段と、レーザ発生源が発生するレーザの偏光方向を制御する制御手段と、該制御手段により制御されたレーザを受光することによりｐ偏光およびｓ偏光のテラヘルツ波を発生し、励起手段により励起にされた薄膜にテラヘルツ波を照射する照射手段と、照射手段によりテラヘルツ波が照射された薄膜で反射したｐ偏光及びｓ偏光のテラヘルツ波を検出する検出手段と、検出手段により検出されたｐ偏光及びｓ偏光のテラヘルツ波夫々の振幅及び位相スペクトルを測定する測定手段と、測定手段が測定した振幅及び位相スペクトルに基づいて、検出手段により検出されたｐ偏光及びｓ偏光のテラヘルツ波の振幅比及び位相差を測定する手段とを備える。 （もっと読む）

【課題】 金属部材の化成処理膜中に含まれる六価クロムを重量濃度で定量する分析方法を提供する。
【解決手段】
分析対象となる検体を研磨シート上に採取した分析試料に励起Ｘ線を照射し、弾性散乱Ｘ線強度を測定する手順と、散乱Ｘ線強度に基づいて分析試料の重量を算出する手順と、研磨シートの接着剤層を有機溶媒中で溶解した溶液をろ過し、ろ過残渣として分析試料を分離する手順と、ろ過した残渣をアルカリ分解液に溶解させた溶液中の六価クロム量を測定する手順と、分析試料の重量に対する六価クロム量の比を六価クロムの重量濃度として算出する手順とを有することを特徴とする六価クロムの分析方法に関する。 （もっと読む）

【課題】測定の感度向上と確からしさの向上をもたらすＣＤ測定装置及び方法を提供すること。
【解決手段】円二色性測定装置は、直線偏光の互いに直交する２つの偏光成分間の位相差（δ）を変調して、長軸方向の一致する扁平率の大きい左右の楕円偏光を交互に形成する楕円偏光変調手段と、被測定試料を透過した前記左右の楕円偏光から短軸方向の偏光成分を取り出して、該偏光成分の強度変化を測定する偏光強度測定手段と、前記強度変化の直流成分（ＤＣ）、および、前記位相差の変調に同期する前記強度変化の交流成分（ＡＣ）をそれぞれ抽出して、該交流成分および該直流成分の比（ＡＣ／ＤＣ）に前記位相差の変調振幅（δ_０）を掛けた値を算出して、被測定試料の円二色性を取得する演算手段と、を備える。 （もっと読む）

【課題】電解液中にフッ素化合物を含む非水電解液二次電池の赤外分光測定にも好適に使用し得る赤外分光分析装置、分析方法、および分析用プリズムを提供する。
【解決手段】赤外分光分析装置１は、プリズム基材（ゲルマニウム結晶等）１２と該基材の底面１２ａに設けられた金属酸化物膜（アルミナ膜等）１４とを備える全反射用プリズム１０と、金属酸化物膜１４の表面上に配置される作用極３２と、対極３６と、参照極３８とを備える。また、プリズム基材１２と金属酸化物膜１４との界面（プリズム基材１２の底面）１２ａに赤外線を入射し、該赤外線が界面１２ａで反射した反射光を採光する光学系を備える。さらに、上記反射光のスペクトルを得るための赤外分光器を備える。 （もっと読む）

【課題】フーリエ変換型近赤外分光法と比較して短時間で所望の波長領域のスペクトル情報を取得する。
【解決手段】生体試料を構成する官能基の高次伸縮振動バンドの内のいずれかを主バンドとして、前記生体試料のスペクトルが該主バンドにおいて極大値を有する振動数を主バンド振動数とし、前記生体試料に含まれるオルガネラや組織等の分子に固有の振動数と前記主バンド振動数との結合音である分子固有結合音に対応する波長を有する近赤外光を前記生体試料に照射して、その反射画像または透過画像を取得する赤外分光方法を提供する。 （もっと読む）

【課題】検出可能な結露量の最低値を調整可能で、結露の程度つまり結露量を高感度で検出可能とする。
【解決手段】結露検出面（例えば貫通孔１１ａの周面）を有する部材１１の結露検出面に沿って進む光束１２を発する光照射手段１３と、光束１２の径を変化させる手段１４と、前記結露検出面を通過した後の光束１２を受光する光検出器１５とを設け、この光検出器１５が出力する光検出信号に基づいて結露状態を検出する。光束１２の径をより大きくすればより少ない結露量で光の吸収、散乱が生じるようになり、検出可能な結露量の最低値をより小さく設定可能となる。反対に上記光束１２の径をより小さくすればより多くの結露量が無いと上記吸収、散乱が生じないので、検出可能な結露量の最低値をより大きく設定可能となる。 （もっと読む）

【課題】溶媒に対して相互作用を生じる溶質の濃度を、非侵襲的にかつ精度良く定量することができる濃度定量方法及び濃度定量装置を提供する。
【解決手段】溶媒の吸収係数（μ_ａｗ（λ））を参照する工程と、予め測定した、溶媒と第一の溶質との相互作用が生じた後の、既知の第一の溶質の見かけの吸収係数（μ’_aｇ（λ））を参照する工程と溶媒と第一の溶質との相互作用が生じた後の、第一の溶質の濃度が未知の第一の試料の吸収係数（μ_ａ（λ））を測定する工程と、これら溶媒の吸収係数（μ_ａｗ（λ））、既知の第一の溶質の吸収係数（μ’_aｇ（λ））、および第一の溶質の濃度が未知の第一の試料の吸収係数（μ_ａ（λ））に基づいて、未知の第一の溶質の体積分率（Ｖｇ）、および溶媒の体積分率（Ｖｗ）を得る工程と、を少なくとも備える。 （もっと読む）

【課題】試料に含まれる特定成分濃度に適した検出感度で測定を行なうことができる分析装置を提供する。
【解決手段】キャリアガス供給機構１２からセル４４に供給されるキャリアガス流量は流量制御部６２によって制御されている。流量制御部６２は検出器４８で得られる検出信号を読み取り、その検出信号のピーク強度が検出器４８の検出限界強度を超えるか否かをピーク強度判定部６６で判定し、超える場合は流量制御手段７０がキャリアガス流量を増加させるようにキャリアガス供給機構１２を制御する。 （もっと読む）

【課題】炉立ち上げ時において、炉内ガスに含まれる成分ガスの測定をレーザ式ガス分析計により行うことが可能なガス分析装置及びそれを用いたガス分析方法を提供する。
【解決手段】廃棄物処理炉内で発生する炉内ガスＧ２にレーザ光を照射して炉内ガスＧ２に含まれる成分ガスの測定を行うガス分析装置１０において、廃棄物処理炉から排出される炉内ガスＧを燃焼室に導く配管１１の途中に設けられたバイパス管１３と、バイパス管１３内を流れる炉内ガスＧ２を加温するヒータ１７と、加温された炉内ガスＧ２に含まれる成分ガスの測定を行うレーザ式ガス分析計１８とを備えている。 （もっと読む）

【課題】被観察物に応じた好適な検出が可能な観察を実現する。
【解決手段】入射した光を第１の参照光と第１の測定光とに分岐する第１の分岐手段３と、被観察物に対して第１の測定光を斜入射照明する第１の照明光学系と、斜入射照明された被観察物からの透過光と第１の参照光とを合成する第１の合成手段４と、第１の参照光と被観察物からの透過光との第１の干渉光を検出する第１の検出手段１６とを備えた透過型観察装置と、入射した光を第２の参照光と第２の測定光とに分岐する第２の分岐手段４と、被観察物に第２の測定光を照明する第２の照明光学系と、第２の参照光と被観察物からの反射光とを合成する第２の合成手段４と、第２の参照光と被観察物からの反射光との第２の干渉光を検出する第２の検出手段１６とを備えた反射型観察装置とを備える。 （もっと読む）