【課題】被測定物体が運動を伴う場合でも明瞭な画像を取得可能な光コヒーレンストモグラフィを用いた光画像計測装置を提供する。
【解決手段】運動検出部２２０は被検眼Ｅの運動速度に基づくドップラー周波数シフト量を求める。駆動制御部２３０は、このドップラー周波数シフト量に基づいて出力光Ｍの強度の変調周波数を求める。光源駆動部２４０はこの変調周波数で強度が変調された出力光Ｍを光源ユニット２０１に出力させる。出力光Ｍは信号光Ｓと参照光Ｒに分割される。被検眼Ｅを経由した信号光Ｓと参照光路を経由した参照光Ｒを重畳して干渉光Ｌを生成する。λ／４板２０７により干渉光Ｌの２つの偏光成分は１８０°の位相差を有する。偏光ビームスプリッタ２１１により分離された偏光成分Ｌ１、Ｌ２はＣＣＤ２１２、２１３に検出される。コンピュータ２５０はこれら検出結果に基づき断層像を形成する。 （もっと読む）

【課題】解析に要する時間と解析精度とをバランス良く両立させる。
【解決手段】エリプソメータ１は試料Ｓのいずれかのポイントに対し第１分光器８及び第２分光器９で測定を行う。第１分光器８の測定結果を用いて解析を行うと共に第２分光器９の測定結果を用いて解析を行い、第２分光器９に係る解析結果を第１分光器８に係る解析結果へ近似する近似式を算出する。試料Ｓの残りのポイントに対しては、第２分光器９で測定を行い、その結果を用いた解析の結果を近似式に基づき補正する。第２分光器９は第１分光器８に比べて測定精度は低いが測定時間が短いため全体の測定時間は短くなり、また、第２分光器９に係る解析結果を補正するため解析精度は向上する。 （もっと読む）

【課題】磁性体材料の磁気光学スペクトルを高速、高精度、及び、安価に測定するための磁気光学スペクトル測定装置及び磁気光学スペクトルの測定方法を提供する。
【解決手段】磁気光学スペクトル測定装置１００において、光源１と、この光源からの光を分光して波長選択する分光器２と、この分光器で選択された光を直線偏光とする偏光板３と、交流磁界を発生させてその交流磁界を測定試料に印加する磁界印加手段１０と、前記偏光光が測定試料を反射もしくは透過した光の偏光面を測定する検光子５と、この検光子からの出力信号と前記磁界印加手段からの前記交流磁界の参照信号とをロックイン検出する前記ロックインアンプ２０とを備え、磁界印加手段は、永久磁石６と、その永久磁石を回転駆動するモータ７と、そのモータの回転を制御するコントローラ８とを備える。 （もっと読む）

【課題】固体高分子型燃料電池に使用される、個々の電解質膜の劣化を検出する方法を提供する。
【解決手段】電解質膜の劣化検出方法であって、電解質膜に偏光を入射する工程と、電解質膜を透過した透過光の強度を検出する工程と、透過光の強度の経時変化に基づいて、電解質膜の劣化を判定する工程と、を備える。 （もっと読む）

本発明は、決められた方向に従って偏光されたＮ（Ｎは、３以上の整数である）波長のビームでシーン（１）を照明するステップを含む、シーン（１）の画像を識別するための方法である。それには、以下のステップ、すなわち、
− 前記方向に従って偏光された画像、すなわちｉが１からＮまで変わる、Ｘ_‖（λ_ｉ）で示されたＮ画像（１１）、および前記方向に垂直な方向に従って偏光された画像、すなわちＸ_⊥（λ_ｉ）で示されたＮ画像（１２）であって、これらの画像Ｘ_⊥（λ_ｉ）が画像Ｘ_‖（λ_ｉ）と空間的に異なる画像の、各波長用の同時取得ステップと、
− Ｘ_‖（λ_ｉ）およびＸ_⊥（λ_ｉ）の線形結合である強度画像の、各波長用の計算ステップであって、したがってこれらのＮ強度画像に対して、各画素用に強度スペクトルが対応するステップと、
− Ｘ_‖（λ_ｉ）およびＸ_⊥（λ_ｉ）の関数として計算された強度比に基づいた偏光コントラスト画像の、各波長用の計算ステップであって、したがってこれらのＮ偏光コントラスト画像に対して、各画素用に偏光コントラストスペクトルが対応するステップと、
− 分光偏光コントラスト画像と名付けられ、かつＳＰＣ画像と呼ばれる、シーンの画像の計算ステップであって、この画像の各画素が、検討される画素の強度スペクトルおよびコントラストスペクトルに基づいて取得されるステップと、
が含まれる。
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【課題】誤った低いオーバーレイ計算を識別する方法を提供する。
【解決手段】スキャトロメータで１次回折次数と０次回折次数の両方が検出される。１次回折次数はオーバーレイエラーを検出するために使用される。その後、これがバイアスより大きくしかし回折格子のピッチより小さい大きさの誤ったオーバーレイエラー計算である場合、フラグを立てるために０次回折次数が使用される。 （もっと読む）

モニタ対象の領域（３８）内の粒子を検出するために協働して作動する光源（３２）と、受信器（３４）と、ターゲット（３６）とを含むビーム検出器（１０）。ターゲット（３６）は入射光（４０）を反射して、反射光（３２）を受信器（３４）に戻す。受信器（３４）は、その視界を横切る複数の点における光強度を記録して報告できる。好ましい形態では、検出器（１０）は、第１の波長域の第１の光線（３６１４）と、第２の波長域の第２の光線（３６１８）と、第３の波長域の第３の光線（３６１６）と、を放射し、ここで、第１および第２の波長域は実質的に等しく、第３の波長域とは異なっている。
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本発明は、領域内の組織型の正確な同定とともに組織領域の迅速な画像化が可能な新規な多波長画像化方法及び装置を対象とする。共通偏光又は交差偏光した蛍光又は反射強度、光学密度及び／又は反射率のような、光学特性を組織領域内の複数部位においてそれぞれの波長について確認することができる。波長に関する光学特性の算出した導関数を包含している、２つの波長における当該特性を解析して、単一波長において測定された特性に基づいて得られるものよりも正確に、組織構造の画像化及び組織領域内の組織型の同定ができる。 （もっと読む）

【課題】実時間での測定を行うことが可能な偏光特性測定装置及び偏光特性測定方法を提供すること。
【解決手段】光源１２から出射された光を、偏光子２２、第１の１／４波長板２４を介して試料３０に入射させ、試料３０を透過した光を、第２の１／４波長板４２、検光子４４を介して円錐ミラー６２の頂点に入射させる。第１の１／４波長板２４の各位置における主軸方位と、第２の１／４波長板４２の各位置における主軸方位の比が、それぞれ１：Ｎとなるように構成する。カメラ５０は、円筒形スクリーン６０の内面に投射されたリングビームＲＢを撮像し、画像データを演算装置７０に対して出力する。 （もっと読む）

【課題】分光エリプソメータの光源における熱の発生を低減するとともに対象物からの反射光の偏光状態を精度良く取得する。
【解決手段】分光エリプソメータ１では、光源３１からの光が偏光子３２１を介して基板９に導かれ、基板９からの反射光が、回転する検光子４１を経由して分光器４２にて受光されて反射光の偏光状態が取得される。分光エリプソメータ１では、半導体発光素子からのパルス状の光を連続スペクトルを有するパルス光に変換して出射する光源３１が利用されることにより、光源３１における熱の発生を低減することができる。その結果、光源３１と基板９との間に配置された光学素子等の熱膨張を抑制し、基板９からの反射光の偏光状態を精度良く取得することができる。また、検光子４１の回転位置が所望の角度となっているときの分光強度を正確に取得することができるため、基板９からの反射光の偏光状態をより精度良く取得することができる。 （もっと読む）

【課題】複写機、ファクシミリ、プリンタ、印刷機等の画像形成装置等に用いられる、物体表面の光沢ムラを比較的簡易な手法で定量的に測定して評価する光沢ムラ評価装置、光沢ムラ評価方法、かかる光沢ムラ評価装置を有するかかる画像形成装置、かかる光沢ムラ評価方法を実行するプログラムを格納した記録媒体の提供。
【解決手段】撮像された被評価サンプルＳＡの正反射光を含む画像の画素の光輝感成分と色彩成分とを算出する第１の算出手段８０と、光輝感成分の平均値と色彩成分の平均値とを算出する第２の算出手段８０と、光輝感成分の平均値からの偏差の空間周波数特性に、人の視覚特性を考慮した重み付け処理を行い積分して所定値を算出する第３の算出手段８０と、所定値に色彩成分の平均値を用いた色味の度合いで重み付け処理を行った光沢ムラ評価値を算出する第４の算出手段８０とを用いる。 （もっと読む）

発明は、表面付近の複屈折の対象を検出することに適合させられた、検出器及び方法に、並びに、ヒトの体の部分又は動物の体の部分の皮膚の表面付近の毛を検出することに及びカットすることに適合させられたシェービングデバイスに、関係する。検出器（２６）は、最も少ないときで第一の波長、第二の波長、及び入射の偏光状態を具備する光学的な放射を放出することに適合させられた源（２７）、並びに、表面付近の複屈折の対象をイメージングすることに適合させられたイメージングユニット（２８）を具備するが、それにおいてイメージングユニット（２８）は、第一の波長で及び第二の波長で複屈折の対象及び／又表面によって散乱させられた及び／又は反射させられた光学的な放射を検出することに適合させられた検出ユニット（２９）、並びに、複屈折の対象及び表面の間における識別のために検出ユニット（２９）からの信号を処理することに適合させられた制御ユニットを具備するが、それにおいて検出ユニット（２９）は、入射の偏光状態に対応する第一の偏光状態及び第一の偏光状態とは異なるもののものである第二の偏光状態を具備する、複屈折の対象及び／又は表面から来る散乱させられた及び／又は反射させられた光学的な放射を検出するために配置されたものである。この方式では、検出の効率及びこのようにシェービングの品質は、増加させられたものであると共に、同じ時間にエネルギー消費は、低減されたものであると共に、またシェービングの安全性は、改善されたものである。
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【課題】磁性体に形成された磁区の磁化ベクトルの方向を効率的に、かつ視認性良く観察できる磁区観察顕微鏡を提供する。
【解決手段】磁区観察顕微鏡１は、磁区を有する観察対象物Ｗを載置するＸＹステージ３及び回転ステージ４を有し、観察対象物Ｗの上方に光学系１０が配置されている。光学系１０は、直線偏光の光を照射可能に構成されており、直線偏光が観察対象物Ｗで反射したときに生成する光を取り込む撮像装置を有する。さらに、制御系１２として、ＣＰＵ３１やグレースケール磁区像を生成するグレースケール磁区像生成部３３、グレースケール磁区像からカラー磁区像を生成するカラー磁区像生成部３４を有する。 （もっと読む）

【課題】単純な構成で外乱光の影響を受けずに雨滴を安定して検出することができるとともに装置の小型化を図り、車両に容易に装着可能とする。
【解決手段】光源２から車両のフロントスクリーン１００に入射角がブリュースター角になる平行光束を照射し、撮像装置１でフロントスクリーン１００に照射した光束の反射光を受光してＳ偏光画像とＰ偏光画像を撮像し、雨滴検出処理部６は撮像したＳ偏光画像とＰ偏光画像の反射率の差からフロントスクリーン１００に雨滴が付着しているか否を判別し、フロントスクリーン１００に雨滴が付着している場合の雨滴量を単純な構成で外乱光の影響を受けずに安定して検出する。 （もっと読む）

【課題】光ファイバに対して安定的に圧力を付与し、光ファイバを通過する光の偏光状態の経時的変動を抑える。
【解決手段】偏光コントローラ１０００は、回転部１０２０の平面部１０２１とブロック１０３０の平面部１０３２とを光ファイバ２０００に当接させ、調整ネジ１１００によって回転部１０２０とブロック１０３０とを相対的に移動させることにより、平面部１０２１と平面部１０３２との間隔を変更して光ファイバ２０００に圧力を印加する。更に、偏光コントローラ１０００は、サブファイバ３０００を有している。サブファイバ３０００は、平面部１０２１と平面部１０３２との間に配置され、光ファイバ２０００と略等しい径を有する。 （もっと読む）

【課題】 物体からのテラヘルツ波のうち、物体における任意の位置からのテラヘルツ波を選択的に検出すること。
【解決手段】 以下を備える分析装置である。まず、発生部１０１から発生したテラヘルツ波を物体１０７における第１の位置１２１に集光させる第１の光学部１１１を備える。次に、物体１０７からのテラヘルツ波を第２の位置１２２に集光させる第２の光学部１１２を備える。また、第２の位置１２２に集光したテラヘルツ波を第３の位置１２３に集光させる第３の光学部１１３を備える。また、第３の位置１２３に集光したテラヘルツ波を検出するための検出部１０２を備える。そして、物体１０７からのテラヘルツ波のうち、物体１０７における第１の位置１２１からのテラヘルツ波を選択的に検出可能に構成される。 （もっと読む）

一態様において、本発明は、柔軟型基板と、該基板上に配置された光学素子と、を備えた光学センサーを提供する。柔軟型基板が、光学素子に作用する変形部を有し、該変形部が、少なくとも部分的に光学素子を囲む基板変形領域内に設けられる。本発明の目的は、ロールツーロール製造に適合する光学センサー構造を提供することである。
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【課題】偏光プローブを用いて高精度に軸方位および位相差を測定できる位相差測定装置を提供すること。
【解決手段】試料Ｓの前段の偏光子４１をＰＥＭ４２と一体として回転させる回転機構５を設け、試料Ｓの後段の偏光プローブ２の透過軸に対して、偏光子４１の透過軸の方位角を変更することで、偏光プローブ２で集光される近接場光の光強度信号を取得するので、偏光プローブ２に対して試料Ｓを回転させることも、試料Ｓに対して偏光プローブ２を回転させることも不要となる。また、偏光プローブ２を用いて近接場光を集光することで、試料Ｓの測定面に生じる近接場光を光の波長以下のオーダーの面内空間分解で測定することができる。従って、偏光プローブ２を用いて試料Ｓの軸方位および位相差を高精度に測定することができる。 （もっと読む）

【課題】測定対象に含まれる散乱物質の影響を極力除外し、目的物質の成分濃度を正確に測定する。
【解決手段】測定対象の状態を第１磁界状態として測定対象に対して光を照射し、そのときの測定対象からの光の状態を検出する第１ステップと、測定対象の状態を第１磁界状態とは異なる第２磁界状態として測定対象に対して光を照射し、そのときの測定対象からの光の状態を検出する第２ステップと、上記第１ステップにおける検出結果と、上記第２ステップにおける検出結果に基づいて目的成分の濃度を演算する第３ステップと、を有する。第１および第２ステップにおいては、測定対象およびリファレンスについてスペクトルを取得し、第３ステップにおいては、第１ステップにおいて測定された光量と、第２ステップにおいて測定された光量との差分Δをスペクトルとして取得しつつ目的成分を演算する。 （もっと読む）

【課題】高次の走査による計測時間の遅延がなく、複素共役画像を含まないフルレンジのＯＣＴ計測を可能とする多重化スペクトル干渉光コヒーレンストモグラフィーを実現する。
【解決手段】この多重化スペクトル干渉光コヒーレンストモグラフィーは、光源１からの光路２上に配置され、物体光４と参照光５を分離する第１のビームスプリッター３と、物体光４の光路上に配置され被計測物８に物体光を走査するガルバノミラー６と、参照光５の光路上に配置された第２のビームスプリッター１０と、第２のビームスプリッター１０で分離された第１の参照光１１の光路上にある第１の参照鏡１２と、第２のビームスプリッター１０で分離された第２の参照光１３の光路上にある第２の参照鏡１５と、第１の参照光１１と第２の参照光１３を交互に通過させるチョッパ１６とを備えている。 （もっと読む）