【課題】分光センサー及び角度制限フィルターを小型化する。また、角度制限フィルターの表面の平坦性を向上する。
【解決手段】角度制限フィルターは、第１の遮光性材料を含み、第１の開口部が設けられた第１の遮光層と、第２の遮光性材料を含み、且つ第１の遮光層を囲む領域に位置する第２の遮光層と、第１の遮光性材料を含み、第１の開口部と少なくとも一部が重なる第２の開口部が設けられ、第１の遮光層の上方に位置する第３の遮光層と、第２の遮光性材料を含み、且つ第３の遮光層を囲む領域であって第２の遮光層の上方に位置する第４の遮光層と、を含む。 （もっと読む）

【課題】試料とＡＴＲプリズムとの圧着と離間を繰り返すことなく、しかも安価にＡＴＲマッピング分析を行うことができるＡＴＲマッピング方法及びＡＴＲマッピング装置を提供する。
【解決手段】本実施例の赤外線検出部９は、結像光学系の結像面に受光部１５１が配置された赤外線検出器１５と、結像面に平行に赤外線検出器１５を移動させることにより、結像面上で受光部１５１を移動させる検出器移動機構１６と、を備える。受光部１５１がある結像面では、試料とＡＴＲプリズムとの接触面の像が結像光学系の倍率に従い、拡大されて結像する。受光部１５１は、この拡大された像全体を網羅するように移動し、結像面上の接触面の像を走査することで、マッピング測定を行う。 （もっと読む）

【課題】視野絞りの開口形状による制限を受けることなく、様々な形状を測定範囲としてその測定範囲の分光スペクトルを測定することを可能とする。
【解決手段】測定試料１を撮像して測定範囲のカラー画像情報を取得する撮像手段４１と、カラー画像情報を画像処理することにより、測定範囲から複数の色領域１１を抽出する画像処理手段６８と、画像処理手段６８により抽出された色領域の一部を照射範囲として照明光を照射する照明光学系２９と、照射範囲に照射された照明光による反射光により色領域１１の一部の分光スペクトルを取得する分光スペクトル取得手段５１とを備える。照明光学系２９及び分光スペクトル取得手段５１により複数の色領域１１それぞれの一部の分光スペクトルを取得し、前記複数の色領域１１それぞれに対応した領域面積及び一部の分光スペクトルに基づいて、測定範囲全体の分光スペクトルを算出する。 （もっと読む）

【課題】検査対象物中に混在する毛髪の検出精度が高められた毛髪検出装置を提供する。
【解決手段】検査対象物に対して１９４０ｎｍ〜２４００ｎｍの波長範囲から選ばれる複数波長の光を照射することで得られる反射スペクトルを用いて毛髪を検出する。毛髪の反射スペクトルは、波長２０００ｎｍ、２１２０ｎｍ、２２４０ｎｍにおいて反射強度が大きくなり、波長２０６０ｎｍ、２１８０ｎｍにおいて低くなるため、反射スペクトルが上記のような特徴を有しているか否かを判定することによって毛髪を検出する方法が、毛髪の検出感度の向上に効果的である。 （もっと読む）

【課題】
植物の水分ストレス状態を緑葉分光特性の変化から読み取る方法において、葉の性状などの影響を軽減した水分ストレス状態の推定を行うことにある。
【解決手段】
測定対象物表面の任意の箇所の分光反射特性を計測する装置を用いて、測定対象物である樹木表面の分光反射特性を一文字に走査する。そして、この走査で得られた分光反射特性の並びから、必要な分光反射特性だけを選択して平均化処理することで、樹木全体の緑葉分光反射特性を決定する。さらに、この樹木全体の緑葉分光反射特性から水分ストレス状態を計測する。 （もっと読む）

【課題】外部から干渉フィルターへ伝達される振動を低減することができ、分光精度の高い光モジュールを提供すること。
【解決手段】本発明の光モジュール（測色センサー）は、可動反射膜５７を備える可動基板５２、および可動反射膜５７にギャップを介して対向する固定反射膜５６を備え、可動基板５２に接合される固定基板５１、を備える干渉フィルター５と、干渉フィルター５を保持する筐体６と、を備える。可動基板５２は、固定基板５１の外周縁よりも外側に突出する突出部５２４を備える。この突出部５２４は、突出先端側に設けられ、筐体６に固定される固定部５２５を備える。可動基板５２と筐体６によって閉じられている密閉空間５８は筐体６にある充填孔６１を介して充填物質５９を密閉空間５８に充填することが出来る。 （もっと読む）

【課題】 測定対象の汚泥の発熱量等の分析要素量を直接的に測定できるようにし、演算効率を向上させるとともに測定精度の向上を図る。
【解決手段】 汚泥を保持する汚泥保持部１と、汚泥保持部１に保持された汚泥に近赤外領域の光を照射する照光部２と、この汚泥からの反射光あるいは透過光を受光する受光部３と、受光部３が受光した光の吸光度と予め算出しておいた回帰式とから汚泥の高位発熱量，低位発熱量，水分量，灰分量，イオウ分量，水素量，炭素分量の分析要素量のうち少なくとも何れか１つの分析要素量を算出する制御部２０とを備え、上記回帰式は、測定に係る分析要素量既知のサンプル汚泥に近赤外線を照射し、該サンプル汚泥からの反射光あるいは透過光を受光し、受光した光の吸光度における二次微分スペクトルの重回帰分析により当該測定に係る分析要素量に直接起因する帰属波長に係る式としている。 （もっと読む）

【課題】検出感度の低下を招くことなく高精度に眼底の分光特性を測定することができる眼底分光特性測定装置及び眼底分光特性測定方法を提供する。
【解決手段】本発明の眼底分光特性測定装置１は、光源からの光を被検眼眼底Ｓｂに照射して該眼底Ｓｂから発せられる光を対物レンズを通して第１反射部１６と第２反射部１５に導く。そして第１及び第２反射部１６、１５で反射された第１及び第２反射光を結像レンズで同一点に導き、干渉光強度を検出部２４で検出する。位相シフター１４によって第１及び第２反射光の光路長差を伸縮させつつ検出部２４で干渉光強度変化を検出し、処理部３０はその干渉光強度変化からインターフェログラムを求める。このとき、処理部３０は結像レンズの光軸と結像面の交点から受光素子までの距離、結像レンズの焦点距離、第１反射部１６の移動量から光路長差を算出し、光路長差に応じてスペクトルを補正する。 （もっと読む）

【課題】回折構造体の測定パラメータモデルを利用する分光散乱システムおよび方法を提供する。
【解決手段】モデルの固有値を事前計算し、記憶し、ある共通の特性をもつ他の構造体に対して後に再利用する。１つ以上のパラメータの値を求めるために用いられる散乱データは、下敷フィルム特性に対して感度が低くなる波長におけるデータだけに制限することが可能である。代表的な構造体をスラブ２００’（ｉ）のスタックにスライスし、各スラブの近似を行うため四角形ブロック２１０，２１２，２１４，２１６，２１８のアレイを作成することによって三次元グレーティングに対するモデルを構築することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】光断層画像撮像装置において、簡便に画質を向上する方法を提供する。
【解決手段】被検査物の断層像を生成する光断層画像生成方法であって、信号を取得する工程、フーリエ変換を行なう工程、及び断層画像を得る工程を含み、さらに、所定時間に取得した複数の信号を合成する工程又は所定時間に取得した複数の信号をフーリエ変換した後に合成する工程を含むことを特徴とする光断層画像生成方法。 （もっと読む）

【課題】多くの環境ガスにおいて最も吸収が強くなる波長４μｍ帯の中赤外領域にて発光する光源を実現する。
【解決手段】第１の励起光を発生する第１のレーザと、第２の励起光を発生する第２のレーザと、前記第１の励起光と前記第２の励起光とを入力し、差周波発生により変換光を出力する非線形光学結晶からなる波長変換素子とを含む中赤外光源において、前記第１のレーザは、波長０．９７μｍから１．０４μｍの間の波長範囲で前記第１の励起光の波長を可変することができ、前記第２のレーザは、波長を１．２５μｍから１．３６μｍの間の任意の波長の前記第２の励起光を出力し、前記波長変換素子は、波長３．５μｍから５．８μｍの間の中赤外光を変換光として出力する。 （もっと読む）

【課題】テクスチャ構造を有する対象物上に形成された薄膜の形状を容易かつ高精度に取得する。
【解決手段】膜形状取得装置１では、上面に複数のテクスチャ凸部を有する基板９上に形成されたシリコン膜の光学モデルにおいて、複数のテクスチャ凸部に一致する薄膜凹部およびその上方に位置する薄膜凸部が設定される。そして、薄膜凸部、薄膜凹部、および、薄膜凸部と薄膜凹部との間の中間部の形状を表すパラメータ群に含まれる各パラメータを有効膜厚にて表現し、有効膜厚を変更することにより各パラメータの値を変更して理論スペクトルの測定スペクトルに対するフィッティングが行われる。これにより、シリコン膜の形状を容易かつ高精度に取得することができる。 （もっと読む）

【課題】スペクトル情報をより正確に取得することができる。
【解決手段】ステージ１０２は、試料１０１を保持する。撮像部１０７は、撮像素子を備え、入射した光に応じた画像を撮像する。カラーセンサ１０９は、入射した光のスペクトル情報を取得する。ハーフミラー１０６は、試料１０１からの光を、撮像部１０７とカラーセンサ１０９とに入射する。視野領域変更部１０８は、試料１０１からの光のうち、カラーセンサ１０９に入射する光の領域を変更する。 （もっと読む）

【課題】微結晶シリコン膜における結晶化の程度を示す結晶化指数を容易かつ精度良く取得する。
【解決手段】結晶化指数取得装置１では、微結晶シリコン膜の理論誘電関数を複数の部分誘電関数モデルの合成として表現し、微結晶シリコン膜における結晶化の程度を示す結晶化指数κが、複数の部分誘電関数モデルのうち、結晶シリコン膜の誘電関数における虚部の高エネルギー側のピークに寄与する高エネルギーピークモデルの振幅に基づいて設定される。そして、複数の部分誘電関数モデルに含まれるパラメータ群の各パラメータを結晶化指数κにより表現し、結晶化指数κを変更することにより各パラメータの値を変更し、分光エリプソメータ３により取得された測定誘電関数に対する理論誘電関数のフィッティングが行われる。これにより、微結晶シリコン膜の結晶化指数κを容易かつ精度良く求めることができる。 （もっと読む）

【課題】１スキャン毎に適切なゲイン調整が行えるレーザガス分析装置を実現すること。
【解決手段】測定ガスにレーザ光をスキャンしながら照射する半導体レーザを含む光源ユニットと、前記測定ガスを透過したレーザ光を検出する受光素子とこの受光素子の出力信号が入力されるゲイン可変のアンプとこのアンプの出力信号が入力されるＡ／Ｄ変換器とこのＡ／Ｄ変換器の出力データに基づき前記測定ガスの濃度を演算する演算処理部を含む検出ユニットとで構成されたレーザガス分析装置において、前記半導体レーザのスキャンごとに前記Ａ／Ｄ変換器の出力データのピークツーピーク値を検出するピークツーピーク検出器と、このピークツーピーク検出器の出力信号があらかじめ設定されている閾値から外れていたら前記アンプのゲインを閾値内に戻す方向に調整するゲイン調整部、を設けたことを特徴とするもの。 （もっと読む）

【課題】光分析装置に組み込んだ際にＳ／Ｎ比を高くできて高精度の測定を行うことができる波長可変干渉フィルター、光モジュールと、高精度の測定を行うことができる光分析装置を提供すること。
【解決手段】波長可変干渉フィルターであるエタロン５は、第１基板５１と、第２基板５２と、固定ミラー５４と、可動ミラー５５と、静電アクチュエーター５６を備える。各ミラー５４，５５は、一層のＴｉＯ_２膜５７と、一層の合金膜５８とが積層されて形成される。ＴｉＯ_２膜５７の膜厚寸法ＴおよびＡｇ合金膜５８の膜厚寸法Ｓは、参照波長５６０ｎｍの反射率が目標反射率９１％となり、かつ、設定波長４００ｎｍの反射率が、前記金属膜のみで反射膜を構成した場合より低くなる膜厚に設定される。 （もっと読む）

【課題】容器内に充填された検査対象物の異状をより高い精度で検出することを可能とする。
【解決手段】異状判定装置１００では、まず対象物撮像画素を抽出した後に、この対象物撮像画素における各波長に対するスペクトル強度の平均を求め、平均反射スペクトルを算出し、これを用いて異状の有無を判定する。このように、平均反射スペクトルを算出して利用することで、各画素に含まれるノイズ等に由来する誤判定を減らすことができ、容器内に充填された検査対象物の異状をより高い精度で検出することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】酸化防止剤の減少速度と、酸化劣化が急速に進む酸化防止剤の限界濃度から酸化防止剤を適量添加したケーブル絶縁材料の寿命を短時間で見積もること。
【解決手段】被覆材のベースポリマの酸化劣化反応を抑制する官能基を有する酸化防止剤を配合したケーブル被覆材料について、前記酸化防止剤を含む被覆材について熱劣化試験を行い、前記酸化防止剤の官能基の吸光度とベースポリマの吸光度の比から複数の熱劣化試験時間における被覆材の劣化度及び劣化速度を求め、前記被覆材の寿命を判定することを特徴とするケーブル被覆材料の寿命検査方法。 （もっと読む）

【課題】ビール類の香味劣化を官能試験によらず、また特定の成分の濃度等を求めることなく評価することを可能にする。
【解決手段】保存されたビール類から水分を除去して調製したサンプルをＦＴ−ＩＲに付してスペクトルを得、これと、製造日当日のビール類から水分を除去して調製したサンプルから得たＦＴ−ＩＲのスペクトルとから差分スペクトルを得、得られた差分スペクトルを多変量解析に付して、保存されたビール類の劣化度を、予め求めた検量線を用いて評価する。 （もっと読む）

【課題】簡素な構成で電極間の導通を可能にする波長可変干渉フィルター、光モジュール、及び光分析装置を提供すること。
【解決手段】エタロン５は、固定基板５１と、固定基板５１に対向する可動基板５２とを備える。固定基板５１は、接合膜５３１，５３２を介して可動基板５２に接合される第１接合面５１５と、第１電極５６１の一部が形成される第１電極面５１６とを備える。可動基板５２は、接合膜５３１，５３２を介して第１接合面５１５に接合される第２接合面５２４と、第２電極５６２の一部が形成される第２電極面５２５とを備える。固定基板５１及び可動基板５２が接合膜５３１，５３２により接合された状態において、第１電極面５１６に形成された第１電極５６１と、第２電極面５２５に形成された第２電極５６２とが接触する （もっと読む）