【課題】果実が生育段階の前期にある場合も、その熟度を正確に把握することができる熟度測定装置及び熟度測定方法を提供する。
【解決手段】検査対象である果実に光を照射する光源と、前記光を照射された前記果実からの透過光又は反射光を分光し、検出する光検出部と、前記光検出部からの出力信号を受信し、前記透過光又は反射光のスペクトルデータを取得して、当該スペクトルデータに所定の演算処理を施し、スペクトル関連値データを算出するスペクトル関連値算出部と、前記スペクトル関連値データのうち所定の基準波長におけるデータを取得して、前記スペクトル関連値を変数とする関数により表される果実の熟度を算出する熟度算出部と、を備えており、前記基準波長が、クロロフィルの吸収波長領域における複数の波長であり、前記関数が、複数の波長における複数のスペクトル関連値を変数とするものであるようにした。 （もっと読む）

【課題】セット作業を簡単化および光学安定性を良好にすると共に、必要最小限の測定領域でキャビティリングダウン分光法による測定を行う。
【解決手段】光ファイバプローブ１は、キャビティリングダウン分光法に用いる。光ファイバプローブ１は、コア２１とクラッド２２とを備え、一端側から光が導入される光ファイバ２３と、光ファイバ２３の他端を含み、他端から測定対象物４に挿入されるプローブ部２４と、プローブ部２４に形成され、光の強度を測定対象物４の光吸収物質により減衰させる減衰部２５と、プローブ部２４における減衰部２５を挟んだ両側に形成され、光の一部を反射する反射部２６・２７とを有している。 （もっと読む）

【課題】被写体の断層画像における位置ずれ補正を高精度で行える仕組みを提供する。
【解決手段】断層画像取得部１２０において被写体の第１の断層画像を取得し、断層画像解析部１３０における第１の断層画像の解析結果に基づいて、被写体の第２の断層画像を撮影する際の撮影パラメータを断層画像撮影パラメータ設定部１４０で設定する。そして、断層画像取得部１２０では、断層画像撮影パラメータ設定部１４０で設定された撮影パラメータに基づき第２の断層画像を取得し、断層画像位置補正部１６０において第２の断層画像を用いて１の断層画像の位置ずれを補正する。 （もっと読む）

【課題】 複数の測定光からなる光を用いたＯＣＴ装置においてラインセンサ上でクロストークが発生しないように構成する。
【解決手段】 センサ１３９は、分光された第１及び第２の光をそれぞれ集光する第１の領域と第２の領域（例えば、１６１−１〜３のいずれかである。）とを含み構成される。次に、第１の領域と第２の領域とが、分光の方向（例えば、図６のｙ方向である。）に配置、あるいは分光の方向に対して略垂直の方向（例えば、図６のｘ方向である。）に配置される。そして、第１の領域と第２の領域との間隔（例えば、図６におけるＤｘあるいはＤｙである。）は、複数の合成光１４２を射出する複数のファイバ端１６０どうしの間隔と、検出部における光学的倍率と、を用いて調整される。 （もっと読む）

【課題】 センサにおける干渉光どうしのクロストークを抑制することで、最小限の画素数のセンサを構成する。
【解決手段】 本発明に係る撮像装置は、被検査物に照射する第１及び第２の測定光に基づく第１及び第２の合成光の重なりを低減する低減手段を有する。そして、本発明に係る撮像装置は、上記低減手段で低減された第１及び第２の合成光に基づく被検査物の光干渉断層画像を取得する取得手段を有する。 （もっと読む）

【課題】物質固有の減衰係数による影響を軽減して計測精度を向上させた多波長同時吸収分光装置を提供する。
【解決手段】キャリアエンベロープオフセット（ＣＥＯ）ロックされた光周波数コム光源から出力されるレーザ光を２つのレーザ光へ分岐する分岐部(120)と、分岐されたレーザ光のうち一方のレーザ光をプローブ光として測定対象物を設置するキャビティ(131)に入射してこのプローブ光の出力波形を抽出するプローブ光抽出部(130)と、分岐されたレーザ光のうち他方のレーザ光をリファレンス光として周波数をシフトし、この周波数をシフトしたリファレンス光を前記キャビティ(131)と同じ構成でかつ真空状態のキャビティ(142)に入射してリファレンス光の出力波形を抽出するリファレンス光抽出部(140)と、プローブ光とリファレンス光を干渉させる干渉信号導出部(150)と、前記干渉信号の光周波数コムのモード毎の光強度を導出する干渉信号調整部(160)とを設けた。 （もっと読む）

【課題】種々の計測箇所において内部品質を計測することを良好に行え、しかも、長期間に亘って内部品質を適正に計測することが可能な粉粒体の内部品質測定装置を提供する。
【解決手段】粉粒体収納容器Ｕが装填される装填箇所Ｐに向けて計測用光を投光する投光手段１と、装填箇所Ｐからの光を受光する受光手段２と、受光手段２にて受光されて導かれる光を分光する分光手段３３、及び、その分光手段３３にて分光された光の強度を波長毎に検出する光強度検出手段４を備えた分光部３０と、光強度検出手段４の検出結果に基づいて内部品質を求める内部品質評価手段１００が、可搬型のケーシングＷの内部に収納され、装填箇所Ｐが、ケーシングＷの外壁部に形成した挿脱孔４６を通して粉粒体収納容器Ｕを挿脱可能な状態で、且つ、ケーシングＷの内部と仕切り壁１１Ｄ、１１Ｂ、１１Ｌ、１１Ｕ、１２にて区画された状態で設けられている。 （もっと読む）

【課題】分光光度計の出力値の変動を防止する分光光度計を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明の分光光度計は、試料への入射光を発生させる光源２と、光源２を冷却する冷却ファン３と、測定対象の試料を収容するフローセル１と、フローセル１に収容した試料へ光を入射させる集光系１０と、試料を透過した光を分光するグレーティング８と、分光した光を検出するためのフォトダイオードアレイ検知器９と、光源２を冷却する冷却ファン３を備える分光光度計であって、冷却ファン３は周りの環境温度及び環境湿度に基づいて光源２を冷却する。 （もっと読む）

【課題】ランニングコストの低下を図り、しかも、粉粒体の損傷を抑制して適正な測定を行える粉粒体の内部品質測定装置を提供する。
【解決手段】光が横断透過可能に構成された粉粒体収納容器Ｕが装填される装填箇所Ｐに対してその装填箇所Ｐを横断する横断方向に向けて計測用光を投光する投光手段１と、装填箇所Ｐからの光を受光する受光手段２とが、装填箇所Ｐの両側に振り分け配置され、装填箇所Ｐが、投光手段１と受光手段２との並び方向に沿って光を通過自在に構成され、粉粒体収納容器Ｕが、投光手段１と受光手段２並び方向に沿って光を透過させる状態で前記装填箇所Ｐに装填自在に構成され、受光手段２の受光用端部２Ａが、装填箇所Ｐに装填される粉粒体収納容器Ｕに近接する状態で配設されている。 （もっと読む）

【課題】配線状況を簡単にして組付性や省スペース化の向上を図ることができる物理量測定装置を提供すること。
【解決手段】物理量測定装置１０は、燃料タンク２０内部の状態を示す複数の物理量を測定するものである。この物理量測定装置１０は、測定する物理量ごとに異なる波長の光を反射する複数のＦＢＧ１〜５を有する光ファイバ１６を備えている。光ファイバ１６に入力された入射光は、光サーキュレータ１８を通過して燃料タンク２０内の各センサ１１〜１５へと導かれる。入射光は、各センサ１１〜１５を通過する部位に設けられた各ＦＢＧ１〜５で部分的に反射する。反射光は、光サーキュレータ１８により信号処理部１７へと導かれ、各ＦＢＧ１〜５の反射光ごとに処理される。 （もっと読む）

【課題】解析に要する時間と解析精度とをバランス良く両立させる。
【解決手段】エリプソメータ１は試料Ｓのいずれかのポイントに対し第１分光器８及び第２分光器９で測定を行う。第１分光器８の測定結果を用いて解析を行うと共に第２分光器９の測定結果を用いて解析を行い、第２分光器９に係る解析結果を第１分光器８に係る解析結果へ近似する近似式を算出する。試料Ｓの残りのポイントに対しては、第２分光器９で測定を行い、その結果を用いた解析の結果を近似式に基づき補正する。第２分光器９は第１分光器８に比べて測定精度は低いが測定時間が短いため全体の測定時間は短くなり、また、第２分光器９に係る解析結果を補正するため解析精度は向上する。 （もっと読む）

【課題】高解像度で撮像することが必要な部分だけ他の部分よりも分解能を上げることによって、撮像時間の短縮化を図り、効率的な断層画像の取得が可能となるＯＣＴによる断層画像の形成方法を提供する。
【解決手段】被検査物の断層画像を形成するＯＣＴによる断層画像の形成方法であって、
前記被検査物に対する撮像に際し、高解像度で撮像することが必要な部分に対して、その必要性に応じて他の部分よりも高い解像度で撮像する工程を有し、
前記高解像度で撮像することが必要な部分を撮像するときには、前記光源からの光によるビームのスポット径を前記他の部分を撮像するときよりも小さいスポット径に設定し、
深さ方向に対して、前記他の部分を撮像するときよりも多い撮像回数で撮像する構成とする。 （もっと読む）

【課題】バックラッシュに起因する波長設定誤差の影響を回避し、３次元蛍光スペクトル測定の高速化または高精度化を図る。
【解決手段】コンピュータ１０は、励起側分光器２および蛍光側分光器７が輝線スペクトルを有する入射光を往方向および復方向にスペクトルスキャンしたとき、検知器８によって得られる蛍光スペクトルを取得し、その蛍光スペクトルを既知の輝線の波長と比較することによって、励起パルスモータ１２や蛍光パルスモータ１１で設定される往方向および復方向スキャン時の波長設定誤差を取得し、各方向スキャン時の波長校正値とする。従って、両方向スキャン時での蛍光スペクトルの波長校正が可能となる。従って、片方向スキャン時の蛍光スペクトルしか利用できない場合に比べ、３次元蛍光スペクトル測定の高速化または高精度化が可能となる。 （もっと読む）

【課題】リーク検出専用のガス検出器を不要とし、さらにリークを高精度に検出可能なガス分析計を提供する。
【解決手段】測定ガス供給ライン４によりケーシング２外から測定ガスが供給される測定ガス室Ｓ１と、雰囲気ガス供給ライン５によりケーシング２内の雰囲気ガスが供給される雰囲気ガス室Ｓ２と、測定ガス室Ｓ１又は雰囲気ガス室Ｓ２の少なくとも一方に光を照射する光源３１と、測定ガス室Ｓ１又は雰囲気ガス室Ｓ２の少なくとも一方を通過する光を検出する光検出部３３と、を備え、雰囲気ガス室Ｓ２内における光路長が、測定ガス室Ｓ１内における光路長よりも長いことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 誤差要因である複屈折成分を分離し、測定対象の旋光度を高精度に計測することが可能な計測装置及び計測方法を提供すること。
【解決手段】 位相子２２及び検光子２４が所与の回転比で回転する変調部２０で試料３０を透過した光を変調させることによって得られる変調光の光強度情報に基づき試料３０を透過した光のストークスパラメータを算出する。試料３０を旋光度と複屈折位相差とを有するものとみなし、測定対象３０の旋光度と複屈折位相差とを反映したストークスパラメータの理論式と、偏光子１６及び試料３０のいずれか一方を回転させて算出したストークスパラメータとに基づいて、試料３０の旋光度及び複屈折位相差を算出する。 （もっと読む）

【課題】ＯＣＴによる被検査物の断層像を撮像するに際し、特に、被検査物が眼底である場合等において、一度に網膜から脈絡膜にいたる眼底の広い範囲を撮像することが可能となる光干渉断層撮像装置等を提供する。
【解決手段】光干渉断層撮像装置であって、中心波長の異なる第１の測定光と第２の測定光と、第１の測定光の焦点位置を調整するための第１の調整手段と、第２の測定光の焦点位置を調整するための第２の調整手段と、
第１の測定光によって生じる第１の戻り光と第１の参照光によって生成される干渉光を検出するための第１の検出手段と、第２の測定光によって生じる反射または散乱した第２の戻り光と第２の参照光とによって生成される干渉光を検出するための第２の検出手段とを有し、
第１と第２の調整手段によって第１の測定光と第２の測定光の焦点位置とが、深さ方向で異なるように調整可能に構成する。 （もっと読む）

【課題】液体中の溶存物質の含有量を短時間で高精度に測定でき、しかも、その液体を使用するプロセスのインラインでの測定を簡単に行える方法及び測定装置を提供すること。
【解決手段】 液体３５との界面をなすプリズム３２の境界面３２ｂに光源３１からの光Ｒ１を入射させ、プリズム境界面３２ｂからの反射光Ｒ２の反射度を検出する光学部１と、該光学部１の検出信号に基づいて、液体３５の溶存物質含有量を算出するデータ処理部２とを備える。データ処理部２は受光素子３３から出力される反射光Ｒ３の反射光量に対応する信号に基づいて吸光度（反射強度）を演算する。そして、演算した吸光度と検量線式とから、試料液（液体）中の溶存物質の含有量を演算する。 （もっと読む）

【課題】被検査物の断層情報と移動速度情報が高速で取得でき、スポット径よりも広範囲に亙る領域でこれらの情報の取得が可能となるＯＣＴシステムにおける情報処理装置を提供する。
【解決手段】被検査物の断層情報と移動速度情報とを取得するＯＣＴシステムにおける情報処理装置であって、
前記第１及び第２のビームからなる測定光を、前記被検査物に対して走査するための走査光学系と、
前記第１及び第２のビームからなる測定光を、前記被検査物の異なるスポット位置に照射する光学系と、
前記被検査物の異なるスポット位置に照射された測定光による戻り光と、前記参照光による干渉信号を生成する干渉信号生成手段と、
前記生成された第１及び第２の干渉信号による干渉信号を用いて位相の変化量を求め、該位相の変化量を元に前記被検査物の移動速度を求める演算処理手段と、を有する。 （もっと読む）

【課題】干渉光の検出と断層画像の形成とを並行して行う光画像計測装置を提供する。
【解決手段】ガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂの向きを変更しながら被検眼Ｅに対して信号光を走査させる制御部２１０と、干渉光を検出するＯＣＴユニット１５０と、被検眼Ｅの断層画像を形成する画像形成部２２０と、形成した断層画像の画像状態を基に該断層画像の異常を検出する異常検出部２５０と、を備え、異常検出部２５０は、所定フレーム分の前記断層画像が得られる度毎に異常検出を行い、異常検出時に、制御部２１０はガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂの向きの変更を停止し、ＯＣＴユニット１５０は停止した向きから干渉光の検出を再度開始する。 （もっと読む）

【課題】複数の測定光からなる光を用いて被検査物における異なる部位に照射し、光学系の特性をこれらの部位に適合するように設定して、断層像を撮像する光断層画像撮像装置を提供する。
【解決手段】複数の測定光の被検査物への照射による複数の戻り光のそれぞれと、参照光とを干渉させた合波光を用いて、断層画像を撮像するＯＣＴシステムを備えた光断層画像撮像装置であって、
複数の測定光を走査する走査手段と、
走査手段により走査された複数の測定光を、被検査物の異なる照射領域に照射する照射手段と、
照射手段により照射される複数の測定光の被検査物の照射位置を調整する調整手段と、
複数の測定光の照射による複数の戻り光のそれぞれと、参照光とを光干渉させた合波光のそれぞれを検出する検出手段とを備え、
検出手段は、複数の分光手段とセンサーから構成され、複数の分光手段は、センサーで取得する合波光の分光幅が、少なくとも１つは異なっている。 （もっと読む）