【課題】所定の試料を比色分析するのに適した、小型の
分析試料保持装置及び試料分析装置を提供する。
【解決手段】回折格子Ｇ１０１に侵入した分析光ｒ５は、回折格子Ｇ１０１によって分光され、分光された分析光ｒ６として、第１基材部１０１の表面Ｐ１０１に形成される分析光導出部Ａ１０１に向かって垂直に進行する。このように、生体試料分析チップの内部に回折格子Ｇ１０１を配置することによって、生体試料分析チップに投光する前に、白色光から所定波長の分析光を分光する必要がない。また、分析の項目に対応する所定波長の分析光を発光する光源を複数用意しておく必要もない。よって、分析装置を小型にすることができる。 （もっと読む）

【課題】音響センサおよび音響センサの製造方法を提供する。
【解決手段】音響センサは、少なくとも１つのフォトニック結晶構造と、この少なくとも１つのフォトニック結晶構造に光学的に結合された端部を有する光ファイバとを含む。音響センサはさらに、上記少なくとも１つのフォトニック結晶構造および光ファイバに機械的に結合された構造部分を含む。上記少なくとも１つのフォトニック結晶構造、光ファイバおよび構造部分は、音響センサの周波数応答が音響周波数の範囲内で全体的に平坦となるように、ある体積を有する領域と実質的に境をなす。 （もっと読む）

【課題】測光装置および測光方法において、測定可能波長領域の全域にわたって測定精度を向上することができるようにする。
【解決手段】測光装置は、蓄積時間を変えて１次元撮像素子を駆動する制御回路１３と、光強度データを取得するデータ取得部１０２と、未飽和蓄積時間を蓄積時間に設定した際に、データ取得部１０２が取得した被測定試料および基準試料による光強度データから最大光強度を求めて、最大光強度をＮ分割（ただし、Ｎは２以上の整数）した光強度範囲に対応するＮ群の分割波長領域を設定する波長領域分割部１０３と、Ｎ群の分割波長領域ごとに異なる蓄積時間を設定する蓄積時間設定部１０４と、被測定試料および基準試料からの測定光の光強度データを用いて、Ｎ群の分割波長領域ごとに、光強度データの比率を求めて被測定試料の相対測光値を算出する相対測光値算出部１０５と、を備える。 （もっと読む）

【課題】光干渉断層計を用いた断層像撮像装置において、設定された計測範囲において断層像の深さ方向の撮影位置を容易且つ適切に設定可能にする。
【解決手段】眼底からの戻り光と参照ミラーからの戻り光を光干渉させて眼底の断層像を撮影する断層像撮像装置は、断層像を取得し、取得した断層像を含む画像を表示装置の画面に表示させ、断層像が画像の上端、下端のいずれか一方にかかる場合に警告表示する。 （もっと読む）

【課題】光干渉断層計を用いた断層像撮像装置において、設定された計測範囲において断層像の深さ方向の撮影位置を容易且つ適切に設定可能にする。
【解決手段】 光干渉断層計により眼底の断層像を撮影する断層像撮像装置は、眼底における二次元の計測範囲の中央部及び対向する端部の位置の断層像を取得し、取得された断層像を表示装置の画面に隣り合わせで並べて表示させる。 （もっと読む）

【課題】検体の個体差を低減しつつ、界面活性剤によるセンシング膜の崩壊を防ぐことが可能な成分測定装置及び成分測定方法を提供する。
【解決手段】実施形態に係る成分測定装置は、界面活性剤を含む溶液を保持する第１のタンクと、被測定対象成分を含む溶液を保持する第２のタンクと、被測定対象成分を検出するための試薬を含む溶液を保持する第３のタンクと、前記第１乃至第３のタンクから供給される溶液を混合する混合部とを備え、前記混合部は前記第１のタンクから供給される溶液と前記第２のタンクから供給される溶液とを混合して第１の混合液を作製した後に、前記第１の混合液と前記第３のタンクから供給される溶液とを混合して第２の混合液を作製する。 （もっと読む）

【課題】視野絞りの開口形状による制限を受けることなく、様々な形状を測定範囲としてその測定範囲の分光スペクトルを測定することを可能とする。
【解決手段】測定試料１を撮像して測定範囲のカラー画像情報を取得する撮像手段４１と、カラー画像情報を画像処理することにより、測定範囲から複数の色領域１１を抽出する画像処理手段６８と、画像処理手段６８により抽出された色領域の一部を照射範囲として照明光を照射する照明光学系２９と、照射範囲に照射された照明光による反射光により色領域１１の一部の分光スペクトルを取得する分光スペクトル取得手段５１とを備える。照明光学系２９及び分光スペクトル取得手段５１により複数の色領域１１それぞれの一部の分光スペクトルを取得し、前記複数の色領域１１それぞれに対応した領域面積及び一部の分光スペクトルに基づいて、測定範囲全体の分光スペクトルを算出する。 （もっと読む）

【課題】 追尾機能を有する光断層像撮像装置において、断層像を取得するときに適切な走査の制御をすることができる。
【解決手段】 本発明の光断層像撮像装置の制御方法は、被検眼の眼底画像を撮像する眼底画像撮像部と、被検眼の断層画像を撮像する断層像撮像部とを有し、眼底画像において、予め取得した複数の特徴領域と一致する座標の値を計算する工程、複数の座標の値の間における空間変化を計算する工程、及び計算結果に基づき、断層画像を取得するための断層像撮像部による測定光の走査を制御する工程、を有することうを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】光断層画像撮像装置において、簡便に画質を向上する方法を提供する。
【解決手段】被検査物の断層像を生成する光断層画像生成方法であって、信号を取得する工程、フーリエ変換を行なう工程、及び断層画像を得る工程を含み、さらに、所定時間に取得した複数の信号を合成する工程又は所定時間に取得した複数の信号をフーリエ変換した後に合成する工程を含むことを特徴とする光断層画像生成方法。 （もっと読む）

【課題】 眼底用ＯＣＴ装置に適した短い波長で高速に波長挿引可能な光源装置を提供する。
【解決手段】 光を増幅させる光増幅媒体と、光共振器と、を備えた発振波長を変化可能な光源装置であって、前記光共振器は、前記光増幅媒体の一方の側に位置する第一の反射部材と、前記光増幅媒体の他方の側に位置する第二及び第三の反射部材を有して構成され、該第二及び第三の反射部材は前記光増幅媒体で増幅された光の光束を該光束の径方向に空間的に分離した状態で前記光増幅媒体方向に反射するものであり、第一の反射部材と前記光増幅媒体と第二の反射部材とを含んで規定される第一の光路と、第一の反射部材と前記光増幅媒体と第三の反射部材とを含んで規定される第二の光路と、の光路長差を可変とする光路長差調整部材により前記光路長差を変化させて前記発振波長を変化させる光源装置。 （もっと読む）

【課題】半導体内の多重励起子の生成状態を評価する。
【解決手段】回折格子の背後に標準試料を移動可能に配置し、前記回折格子を通して前記標準試料に、励起光としての第１のレーザー光及びプローブ光としての第２のレーザー光を入射させると共に、前記第１のレーザー光によって縞状の強度分布を持つ光を前記標準試料内に発生させ、前記回折格子及び前記標準試料からの回折光を観察することで、前記標準試料の複素屈折率の虚数部の変化による回折光が消失する前記標準試料の位置を特定し、特定した前記位置に半導体を含む測定試料を配置し、前記回折格子を通して前記測定試料に、前記第１のレーザー光及び前記第２のレーザー光を入射させると共に、前記第１のレーザー光によって縞状の強度分布を持つ光を前記測定試料内に発生させ、前記回折格子及び前記測定試料からの回折光を観測する。 （もっと読む）

【課題】優れた耐ハロゲン性を有し、且つ反射光強度の低減が抑制されてＡｕ膜と同等の反射光強度を備えたＡｇ合金膜を使用したＳＰＲ測定用チップを提供すること。
【解決手段】透明誘電体基板の上に、Ｂｉを含むＡｇ合金膜が形成された表面プラズモン共鳴測定用チップであって、前記Ａｇ合金膜の表面近傍におけるＢｉ含有率が、前記Ａｇ合金膜全体のＢｉ含有率よりも高いＢｉ濃化層領域が形成されていることに要旨を有する。 （もっと読む）

【課題】本発明の目的は、ＯＣＴの分野に関する、既知の機器及び方法と比較して、より高い測定速度及びより広い測定領域によって特徴付けられるデバイス及び方法を提供することである。
【解決手段】透明物体又は拡散物体の少なくとも第１の領域（ＭＢ１）からの幾何学量及び第１の領域（ＭＢ１）から離れた第２の領域（ＭＢ２）からの幾何学量を確定するデバイスは、物体アーム、基準アーム、検出器アーム、及び光を放出する光源（ＡＬＱ）を有するコヒーレンス断層撮影装置を備える。デバイスは、物体アーム及び／又は基準アームによって形成された、第１の光路長を有する第１の経路及び第２の光路長を有する第２の経路を有し、光源（ＡＬＱ）によって放出される光は、第１の経路及び第２の経路を通って伝播することができる。 （もっと読む）

【課題】 三次元断層像を取得したときに検者を好適に補助できる。
【解決手段】 測定光源から発せられた光を二次元的に走査する光スキャナと、測定光源から発せられた測定光と参照光との干渉状態を検出する検出器と、を有し、被検者眼の三次元断層像を得るための光コヒーレンストモグラフィーデバイスと、被検眼の正面観察像を動画像として取得する観察光学系と、光コヒーレンストモグラフィーデバイスによって取得された三次元断層像を画像処理により解析することにより異常部位を特定する演算解析手段と、演算解析手段によって特定された異常部位に対応する断層像を三次元断層像から抽出し、抽出された断層像を，観察光学系によって取得される正面観察像の動画像と同時にモニタに表示する表示制御手段と、を備える （もっと読む）

【課題】対象物からの反射光の波長スペクトルを計測タイミングに応じて適切に計測することができる分光計測装置を提供する。
【解決手段】 第１結像光学系１２は、互いにレンズピッチが異なる３つのマイクロレンズアレイを含み、開口系１３は、互いに開口ピッチが異なる３つの開口部材を含み、分光系１５は、互いに格子ピッチが異なる３つの回折素子を含んでいる。駆動装置１２３によって、任意の１つのマイクロレンズアレイを反射光の光路上に配置させることができ、駆動装置１３３によって、任意の１つの開口部材を反射光の光路上に配置させることができ、駆動装置１５３によって、任意の１つの回折素子を反射光の光路上に配置させることができる。 （もっと読む）

【課題】 断層画像の画像欠陥部分や組織構造上画像取得の困難な部位を画像化できる。
【解決手段】 測定光源から出射された光を測定光と参照光に分割し、所定部位で反射された測定光と参照光との干渉状態を検出器により検出する干渉光学系と、干渉光学系における測定光の光路中に配置され、所定部位上で測定光を走査させる光スキャナと、光スキャナを制御し，所定部位上のある撮影領域に対して測定光を走査させ、検出器からの撮像信号を処理することにより撮影領域における断層画像を取得する制御手段と、撮影領域に対する測定光の入射角を変更する入射角変更手段と、を備え、撮影領域に関して入射角が異なる複数の断層画像を取得する画像取得手段と、画像取得手段によって取得された入射角が異なる複数の断層画像を，画像処理により合成し、合成断層画像を取得する画像処理手段と、を備える。 （もっと読む）

【課題】迷光を低減させた光学特性に優れる回折格子、および迷光を低減させた光学特性に優れる回折格子を備えた分析装置を提供する。
【解決手段】本発明の回折格子は、基板と、光反射膜を有し、前記光反射膜には複数本の鋸歯形状の溝が設けられた回折格子において、前記基板と前記光反射膜との間には、光吸収膜が備えられたものであって、前記反射膜はＡｇ合金、もしくはＡｌ、もしくは酸化チタン系金属であり、前記光反射膜はカーボン、もしくは黒クロム、もしくは黒ニッケル、もしくは黒色石英である。 （もっと読む）

【課題】実形状に近い断層画像データを得る。
【解決手段】光を発生させるための光源と、光源からの光を、参照光と測定光とに分岐する光分岐手段、参照光の光路長を調整する調整手段を有する参照光学系、測定光を被検査物に照射することにより得られる戻り光と参照光との合波光を分光して干渉信号を取得する分光手段被検眼の断層画像撮像時の光路長を検出する検出手段
被検眼の屈折要素の屈折率に関するデータを記録する記憶手段、光路長及び屈折率に関するデータを用いて実寸法に基づき、分光手段で取得した干渉信号から画像データを演算する演算手段と、を有することを特徴とする断層画像撮像装置。 （もっと読む）

【課題】ポリゴンミラーを用いた従来技術の波長掃引光源では、発振波長は、時間に対してやや上に凸で概ね線形的に変化する。一方、ＳＳ−ＯＣＴの波長掃引光源では、時間軸上で、波数（波長の逆数）が直線的に変化するように、波長変化することが求められる。従来技術の波長掃引光源ではこのような波長変化を実現できず、得られるＯＣＴイメージに非線形な歪が生じ、点像をシャープに保つことができない問題があった。
【解決手段】ＫＴＮ等を含む電気光学偏向器を利用した波長掃引光源において、発振出力の一部を２つの光路長の間に差を設けた干渉計に入射し、干渉光強度の交流成分を含む電気信号に基づいてＰＬＬ回路引き込み動作時のＶＣＯ入力信号を、高電圧増幅器のゲイン制御電圧に印加する。回折格子方程式に由来する非線形性に拘らず、波数が時間に対して直線的に変化する波長掃引を実現できる。電気光学偏向器の材料の不均一性、温度分布や変化または個体ばらつきによる制御電圧対偏向角特性のばらつきや非線形性も解消する。 （もっと読む）

【課題】既存の生体内または生体外ＯＣＴ／ＯＣＭシステムに現在実施されているようなシリアル走査の代わりに、複数本のファイバ(すなわちチャネル)を採用して画像の様々な部分のパラレル走査を可能にするＯＣＴを有する内視顕微鏡を提供する。
【解決手段】複数の光放射源からの光（２１，２２，２３）が第１の光路に沿って進行する。第１の光路において、装置はそれぞれの光源からの光を第１の光路に沿う複数の焦点（２１ａ，２２ａ、２３ａ）のそれぞれに集束させて、第１の光路の選ばれた部分の実質的に連続な覆域を提供する。次いで、試料内に延び込む選ばれた長さの範囲内にある第１の光路上の試料が、第１の光路の選ばれた範囲に沿って走査される。 （もっと読む）