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Fターム[2G060EA04]の内容

電気的手段による材料の調査、分析 (24,887) | キズ、欠陥検知センサ (539) | データ解析装置を持つもの (193) | 欠陥部の状態、程度をみるもの (86)

Fターム[2G060EA04]に分類される特許

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【課題】欠陥予備軍であっても発熱検査によって特定することができる配線欠陥検査方法および装置を提供する。
【解決手段】本発明の一形態に係る配線欠陥検査装置100は、半導体基板の配線経路に電圧を印加して、短絡欠陥に至っていない短絡予備軍を短絡させた後、電圧無印加状態を所定時間維持した後で、該半導体基板に印加して該短絡欠陥を含む配線もしくは配線間を発熱させ温度上昇させた後、該半導体基板を赤外線カメラで撮影する。 (もっと読む)


【課題】コンクリートの品質劣化を防止しつつ、測定対象物の状態を測定し、その測定結果に基づく情報を鉄筋の腐食前の計画的または予防的な保全に活用することができるセンサー装置を提供すること。
【解決手段】本発明のセンサー装置1は、電気抵抗体3と、電気抵抗体3に対して離間して設けられた電気抵抗体4と、電気抵抗体3上に設けられ、毛管凝縮効果を生じるように厚さ方向に貫通する貫通孔82を有する絶縁膜8と、電気抵抗体4上に設けられ、毛管凝縮効果を実質的に生じないように厚さ方向に貫通する貫通孔92を有する絶縁膜9と、電気抵抗体3、4の抵抗値をそれぞれ測定する機能を有する機能素子51とを備える。 (もっと読む)


【課題】小型化および低コスト化を図るとともに、コンクリートの品質劣化を防止しつつ、測定対象物の状態を測定し、その測定結果に基づく情報を鉄筋の腐食前の計画的または予防的な保全に活用することができるセンサー装置およびセンサー装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】本発明のセンサー装置1は、不測定対象部位の環境変化に伴って表面に不動態膜を形成するか、または、表面に存在した不動態膜を消失させる第1の金属材料で構成された第1の電極3と、第1の電極3に対して離間して設けられ、第1の金属材料とは異なる第2の金属材料で構成された第2の電極4と、基板21と、基板21の一方の面側に設けられ、第1の電極3と第2の電極4との電位差を測定する機能を有する集積回路50とを含む機能素子5とを備え、第1の電極3および第2の電極4は、それぞれ、集積回路50上に設けられている。 (もっと読む)


【課題】コンクリートの品質劣化を防止しつつ、測定対象物の状態を測定し、その測定結果に基づく情報を鉄筋の腐食前の計画的または予防的な保全に活用することができるセンサー装置を提供すること。
【解決手段】本発明のセンサー装置1は、表面の少なくとも一部に引っ張り応力を生じさせた状態で保持され、金属材料で構成された電気抵抗体3と、電気抵抗体3の抵抗値を測定する機能を有する機能素子51とを有し、機能素子51で測定された抵抗値に基づいて、測定対象部位の状態を測定し得るように構成されている。 (もっと読む)


【課題】コンクリート打設時のコンクリートの充填状態を測定し、その測定にかかる構成を有効利用しつつ、コンクリート打設後の長期にわたりコンクリート構造物の状態を測定することができるセンサー装置およびセンサーシステムを提供すること。
【解決手段】本発明のセンサー装置2は、互いに間隔を隔てて設けられた長尺状の1対の導体31、32と、1対の導体31、32の先端部に接続され、コンクリート構造物102の状態を測定するセンサー41、42を備えるセンサータグ4と、1対の導体31、32間の静電容量に基づいて、コンクリートの充填状態を測定する第1の状態と、1対の導体31、32を通じてセンサータグ4に電力を供給し、センサー41、42がコンクリート構造物102の状態を測定する第2の状態をと切り換える切換部6とを有する。 (もっと読む)


【課題】多接合太陽電池における成膜検査方法を提供。
【解決手段】太陽電池を仮想分割ユニットがマトリクス状に並んだものと想定し、3つのプローブ5a,5b,5cを行方向の3つの前記ユニットの電極103に当接させ、前記ユニットの単独セル特性を測定し、且つ、両端の2つのプローブによって、互いに行方向に接続された2つの前記ユニットの連結セル特性を測定し、光源7として、少なくともn個の利用波長の光を照射する光源ユニットを備え、且つ、n個の光源ユニットの任意のものの発光強度を調節可能にされているものを用い、測定部5により、スキャンしながら行う単独セル測定と連結セル測定を、光源中の複数の光源ユニットの任意のものの発光強度が調節された複数の状態で発光層分離型測定として複数回行い、さらに、判定装置によって、複数の発光層分離型測定によって得られる単独セル特性と連結セル特性とに基づいて、成膜状態を判定する。 (もっと読む)


【課題】 繊維方向が多方向となった複合材においても、電気特性の検査の正確性を高める。
【解決手段】 複合材の電気特性測定装置は、グラウンド板と、正n角形(nは5以上の整数)の板状に形成された複合材をグラウンド板に対して所定の間隔を空けて配置されるように支持する絶縁性の支持部材と、複合材の各辺に沿うように、当該各辺に個別に取り付けられた複数の電極と、複数の電極のそれぞれとグラウンド板とを電気的に接続する複数の電線と、複合材の中央部に設けられた入力電極と、入力電極及びグラウンド板に接続され、入力電極に電流を付与する電流発生部と、複数の電線のそれぞれの電流を測定する電流センサとを備えている。 (もっと読む)


【課題】導電材料製構造物において発生する複雑な形状を呈するきずの発生、進展深さを監視できる、きずの深さ推定方法を提供する。
【解決手段】複雑形状を呈するきずについて、複数のきずの位置を特定し、該特定された各きずについて、複数の測定用端子2を格子状に配置するとともに、健全部にも測定用端子を配置し参照測定用端子対とし、さらに、それらを挟んで設けられた一対の電極11を介して電流を流し、複数の測定端子対に生じる電位差を測定し、参照測定用端子対に生じる電位差を基準として各測定端子対の電位差変化率を算出し、その最大の電位差変化率を各きずの電位差変化率とする。そして、各きずの電位差変化率からそのきずの深さを推定し、その中から、監視を必要とするきずを選定し、構造物の操業時に電位差法で電位差を測定しながら、マスターカーブを利用してきず深さの進展度合を監視し、補修の要否を検討する。 (もっと読む)


【課題】検査の実施に困難を伴う部位を対象に、非破壊でかつ簡便に推定できる、導電材料製構造物の損傷推定方法を提案する。
【解決手段】対象とする検査対象部位を挟んで、一対の測定端子と、当該部位以外の領域に、一対の参照電位差測定端子を配設し、直列に電流を供給しながら、測定端子間および参照測定端子間の電位差をそれぞれ測定する。参照測定端子間の単位長さ当たりの電位差を基準にして、測定端子間の単位長さ当たりの電位差から、当該部位の電位差変化率を算出する。電位差変化率に基づいて当該部位の肉厚減少量を推定する。なお、当該部位が直管部と曲り部とからなる場合には、当該部位以外の、同じ形状を有する直管部と曲り部に、参照電位差測定区間をそれぞれ設定して、当該直管部と曲り部とでそれぞれ参照電位差を測定する。得られた当該部位の電位差変化率から、当該部位の損傷の程度を推定する。。 (もっと読む)


【課題】複数プローブ法を用いて電位差法計測を行う方法において、構造物または試験体の表面に存在するき裂がSCC等により微小な形状変化を示すような場合に対して、少ない個数のプローブで精度よくき裂形状変化を検出することを可能とする。
【解決手段】金属材料に直流電流を付与し、そのときに生じる金属材料の電位差を測定して、当該金属材料に生じるき裂の形状を予測する構造物の欠陥評価法であって、き裂幅を求める際に、き裂幅の中心を挟む二つの電位差比分布として設定し、それぞれの電位差比分布からき裂幅c,cを求め、両電位差比分布の対比に基づいて欠陥を評価する。 (もっと読む)


【課題】太陽電池パネル本体の異常を検知することが可能であり、かつ、バイパスダイオードの異常を容易に検知することが可能な太陽電池パネルの異常検知装置を提供する。
【解決手段】太陽電池パネル本体3の正極側または負極側の一方に交流電源5を設けると共に、他方に測定手段6を設け、異常判定部11は、交流電源5を制御してバイパスダイオード4を逆方向バイアスし、そのときの入力電圧または入力電流と、出力電圧または出力電流とを基に太陽電池パネル本体3の異常を判定するパネル本体異常判定部12と、交流電源5を制御してバイパスダイオード4を順方向バイアスし、そのときの入力電圧または入力電流と、出力電圧または出力電流とを基にバイパスダイオード4の異常を判定するバイパスダイオード異常判定部13とを備えた。 (もっと読む)


【課題】太陽電池セルにおける一部の箇所の電気特性を簡易な構成で評価できる評価装置及び評価方法を得ること。
【解決手段】評価装置は、太陽電池セルの電気特性を評価するための評価装置であって、互いに絶縁されており、前記太陽電池セルにおける異なる接続箇所と電流計測回路とをそれぞれ接続する複数の第1の接続端子と、前記太陽電池セルと電圧計測回路とを接続する第2の接続端子と、前記太陽電池セルにおける接続箇所を切り替えるように、前記複数の第1の接続端子から少なくとも2つの第1の接続端子を選択し、前記少なくとも2つの第1の接続端子を介して前記電流計測回路を前記太陽電池セルに直列に接続させる切替機構とを備えている。 (もっと読む)


【課題】ワイドバンドギャップ半導体などの光応答性の低い試料においても、精度の高いCPM測定が可能となる測定方法を提供する。
【解決手段】CPM測定の際、ワイドバンドギャップ半導体などの光応答性の低い試料に光を照射することで生成される光励起キャリアを、試料に設けられた測定用の2電極に加えて設けられた第3の電極に正のバイアス電圧を印加することにより瞬時に追い出す。光励起キャリアが追い出されることにより、光電流値の制御性が高まり、光応答性の低い試料においても精度よくCPM測定を行うことができる。 (もっと読む)


【課題】インプリントパターンの欠陥の有無の検査を効率化する。
【解決手段】下地層1上に導電層2を形成し、導電層2上にインプリントパターン4を形成し、インプリントパターン4に電解液6を接触させ、電解液6に電極7を接触させ、導電層2と電極6との間に電圧を印加し、導電層2と電極7との間に流れる電流を計測し、その電流の計測結果に基づいてインプリントパターン4の欠陥の有無を判定する。 (もっと読む)


【課題】雷撃電流値を電荷量に置き換えることが可能となり、架空地線の損傷発生箇所を正確に推定することができる架空地線溶断推定装置及び溶断推定方法を提供する。
【解決手段】素線溶断特性データ、電荷量累積頻度分布データ、及び雷撃電流累積頻度分布データを少なくとも記憶するデータ記憶手段7と、電荷量と溶断本数の関係式を導き、素線の溶断本数ごとの電荷量を推定する電荷量推定手段2と、各電荷量に対する雷撃頻度を推定する雷撃頻度推定手段3と、測定対象とする送電線路付近における雷撃電流頻度分布を作成する雷撃電流頻度分布作成手段4と、溶断が発生する雷撃電流値を推定する溶断発生雷撃電流値推定手段5と、測定対象とする送電線路に発生した雷撃電流に基づいて溶断発生雷撃電流値推定手段5により送電線路に係る溶断本数を推定する対象送電線溶断本数推定手段6と、各手段を制御する制御手段1と、を備えて構成されている。 (もっと読む)


【課題】燃焼タービンエンジンの燃焼器において材料欠陥を検出する方法、システム及び装置を提供すること。
【解決手段】タービンエンジンの運転中に該タービンエンジンの燃焼システムの燃焼ダクトにおける欠陥を検出する方法であって、燃焼ダクトが運転中に高温ガス流路に曝される内側表面を含み、本方法は、燃焼ダクトに電気的に接続された第1の電極を提供するステップと、高温ガス流路内に位置する第2の電極を提供するステップと、第1の電極及び第2の電極の両端に電圧を印加するステップと、第1の電極及び第2の電極間に流れる電流を検出するステップとを含む。 (もっと読む)


【課題】燃焼タービンエンジンのロータブレードにおいて欠陥を検出するシステムを提供すること
【解決手段】本システムは、絶縁皮膜を含むタービンロータブレードと、タービンロータブレードに電気的に接続された第1の電極と、タービンロータブレードに近接して位置する第2の電極と、第1の電極及び第2の電極の両端に電圧を誘起する手段と、第1の電極及び第2の電極間に流れる電流を検出する手段とを含むことができる。 (もっと読む)


【課題】鉄筋コンクリートに地中の埋設部分があっても鉄筋の異常を判定することができる鉄筋異常判定方法及び鉄筋異常判定システムを提供する。
【解決手段】鉄筋コンクリート10の鉄筋2の異常を非破壊検査する鉄筋異常判定方法である。鉄筋コンクリート10の外部から周波数掃印信号を印加してインピーダンスの周波数特性の検出が可能な電気回路3を、鉄筋2にて構成し、初期段階の周波数特性と、所定期間経過後の測定時での周波数特性とを比較して、これに基づいて鉄筋2の異常を判定する。 (もっと読む)


【課題】電子部品内部の物理的性状を評価し、電子部品の特性解析に寄与することができる電子部品の特性評価方法を実現する。
【解決手段】誘電体セラミック2の両端に電極3a、3bが形成されたセラミックコンデンサに対し、表面が金属部7を有するプローブ4を、誘電体セラミック2の表面であって一方の電極3b(陰極)の近傍所定位置に接触させ、異なる複数の電圧をプローブ4と電極3bとの間に印加して電流値を測定し、電流−電圧特性をファウラー・ノルドハイムの式にフィッテングさせ、ショットキー障壁高さφを推定し、さらに空乏層幅w及び酸素欠陥濃度Nを算出し、これにより電子部品の特性評価を行う。 (もっと読む)


【課題】ワイヤ接合部の剥離やクラック発生による劣化を高精度かつ容易に診断可能とした半導体パワーモジュールの劣化診断方法及び劣化診断装置を提供する。
【解決手段】半導体パワーモジュールを構成する半導体チップとボンディングワイヤとの接合部の劣化を診断するための劣化診断方法において、半導体チップを複数、直列に接続して各半導体チップのオン時における飽和電圧の合計値を測定し、この合計値が閾値を超えたことから前記接合部に劣化が生じたと判断する。または、前記接合部を第1の接合部とすると共に、半導体チップとボンディングワイヤとの線膨張係数の差よりも大きい線膨張係数の差を持つようなダミー基板とボンディングワイヤとの接合部を、第2の接合部として別個に備え、第1の接合部と第2の接合部とを直列に接続して主回路電流を通流し、第2の接合部の劣化状態から第1の接合部の劣化を予測する。 (もっと読む)


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