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Fターム[2G066AA15]の内容

放射温度計 (5,716) | 温度測定方法 (258) | 色温度 (42)

Fターム[2G066AA15]に分類される特許

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【課題】波長帯の異なる複数種類の赤外線が検出されることで行われる対象物の表面温度の測定に際し、表面状態の変化に起因して生じる測定誤差を低減することができ、測定精度の向上を図ることができる表面温度測定方法を提供すること。
【解決手段】表面温度測定方法であって、金型キャビティ面2aから放射される赤外線のうち、波長帯が異なる三種類の赤外線の強度分布を検出する赤外線分布検出工程と、前記分布の各要素について、計測温度(見かけ温度)を測定温度(黒体温度)に変換する温度変換工程と、放射率一定の仮定下、前記測定温度に基づいて金型キャビティ面2aの温度(表面温度)を算出する表面温度算出工程と、前記測定温度および前記表面温度に基づき、放射率および放射率比を算出する放射率比算出工程と、前記放射率比算出工程により算出された放射率比を用い、前記測定温度に基づいて前記表面温度を再算出する表面温度再算出工程とを備える。 (もっと読む)


【課題】 環境光の分光データから環境光種類を高精度に推定する。
【解決手段】 推定対象である環境光の分光データを取得する手段と、参照環境光の分光データと環境光種類情報を取得する手段と、前記推定対象である環境光の分光データと前記参照環境光の分光データとを比較する比較手段と、前記比較結果に基づき、前記参照環境光の環境光種類情報から前記推定対象である環境光分光データの環境光種類を推定する推定手段とを有する。 (もっと読む)


【課題】 放電によるプラズマ発光下や化学発光等の外乱光がある場合でも被検体の温度情報を高精度に求めることが温度情報計測方法を得ること。
【解決手段】 3つの波長λ1、λ2、λ3を選択する波長選択工程と、被検体の同一領域から放射される放射量及び外乱光の総合の放射量を波長λ1、λ2、λ3において該検出手段で検出する検出工程と、該検出手段からの出力値より、該3つの波長のうち任意の2つの波長における放射量の比を用いて比温度計算をして該被検体の温度情報を求める式を少なくとも2式作成する温度情報作成工程と、少なくとも2式に対して、該総合の放射量から、任意の放射量を段階的に順次、差し引いて該少なくとも2式より温度情報を演算する演算工程と、該演算工程で求めた2式の温度情報が互いに等しくなるか又は予め設定した許容範囲内の値となったか否かを判断する判断工程と、を利用していること。 (もっと読む)


【課題】 計測システムにおける非線形な検出手段からの出力値を予め求めた仮想1次関数に置き換えることにより、簡易にしかも迅速に被検体の温度情報を計測することができる温度情報計測方法を得ること。
【解決手段】放射率と透過率が波長λ1と波長λ2で等しくなる2つの波長λ1、λ2を選択する波長選択工程と、
検出手段に入力する放射量と、該検出手段からの出力値とから入出力特性を求める入出力特性検出工程と、
該入出力特性値から入射放射量に対する出力値との関係に基づく仮想1次関数の勾配と仮想原点を求め、該仮想原点を通る仮想1次式を求める算出工程と、
被検体の同一領域から放射される放射量を波長λ1と波長λ2において検出し、該仮想1次式を用いて放射量を求める計測工程と、
該計測工程で求めた放射量の比を用いて温度情報を求める温度情報計測工程と、
を利用していること。 (もっと読む)


【課題】排ガス流路の大きさなどに関係なく、燃焼排ガスの測定の信頼性を向上させること。
【解決手段】廃棄物焼却炉の燃焼排ガスの温度を放射温度計により測定する燃焼排ガスの温度測定方法であって、放射温度計は、燃焼排ガスの流路内の測定部位までの距離に応じて視野径が定められるものとする。ここで、測定部位は、複数の測定点を直線上に配置してなる温度測定用の機材を流路内に挿入し、この測定された結果に基づいて定められる。 (もっと読む)


【課題】人間である観察者によって知覚されたような色温度と光強度との両方を測定するセンサを提供する。
【解決手段】このセンサは、光によって照明される第1及び第2の光検出器(41,42)を含む。第1及び第2の光検出器は、400nm〜700nmの波長帯域における光の強度の第1及び第2の加重平均を示す第1及び第2の光検出器信号を生成する。第1の光検出器は、第2の光検出器よりも、400nm〜500nmの波長を有する光に対してより感度が高い。センサはまた、第1及び第2の信号の比に関連する第1の処理信号を生成する色温度処理回路を含む。色温度処理回路は、第1及び第2の光検出器信号からそれぞれ第1及び第2の対数信号を生成する第1及び第2の対数増幅器(61,62)と、第1の対数信号と第2の対数信号との差を示す信号を生成する減算回路(51)と、を含み得る。 (もっと読む)


【課題】対象物の表面に形成された被膜の膜厚の分布を精度良く測定することが可能な膜厚測定装置および膜厚測定方法を提供するとともに、表面に被膜が形成された対象物の表面温度の分布を当該被膜の膜厚の分布によらず精度良く測定することが可能な表面温度検査装置および表面温度検査方法を提供する。
【解決手段】波長帯が異なる二種類の赤外線の強度分布から算出される測定温度分布の差分値に基づいて鍛造用金型10のキャビティ面10aに形成された被膜11の膜厚分布を算出する。また、被膜11の膜厚に基づいて鍛造用金型10のキャビティ面10aの放射率分布を補正し、波長帯が異なる三種類の赤外線の強度分布および補正された鍛造用金型10のキャビティ面10aの放射率分布に基づいて鍛造用金型10の表面温度分布を算出する。 (もっと読む)


【課題】複数の異なる波長帯の赤外線の強度分布をそれぞれ異なる検出時間に検出する場合でも対象物の表面温度を精度良く測定することが可能な表面温度検査装置および表面温度検査方法を提供する。
【解決手段】鍛造用金型102のキャビティ面102aから放射される赤外線のうち、波長帯が異なる三種類の赤外線の強度の分布をそれぞれ異なる検出時間に検出するとともに各波長帯について二回以上検出する赤外線分布検出装置110と、前記波長帯が異なる三種類の赤外線の強度または当該強度から算出される測定温度とそれぞれの検出時間との関係(直線式)を求め、前記赤外線の強度または測定温度を短波長の赤外線の検出時間における補正値に補正する補正部121bと、前記補正値に基づいて鍛造用金型102のキャビティ面102aの温度の分布を算出する表面温度分布算出部121cと、を表面温度測定装置101に具備した。 (もっと読む)


【課題】 被測定物体の温度計測を高速に行うことが可能な温度計測装置を提供する。
【解決手段】 半導体光電陰極C1は、印加電圧に応じて波長に対する量子効率の特性が異なる。したがって、検出器駆動回路Eを制御して印加電圧を制御すると、波長特性が異なる出力(電子量:検出信号)を得ることができる。これら複数の出力は、被測定物体Aの温度と相関を有するので、解析装置Dは、被測定物体Aの温度を演算することができる。この装置では、機械的な回転フィルタではなく、半導体光電陰極C1への印加電圧制御により波長特性を変化させているため、高速の温度計測が可能となる。 (もっと読む)


【課題】本発明は、正確に、融雪を必要とする時期や融雪を必要としない時期に合わせて、融雪装置を稼動させることができる融雪装置の制御装置を提供する。
【解決手段】本発明の融雪装置の制御装置は、融雪装置8により融雪が行なわれる場所での降雪を検出し、降雪した雪片数Mと気温Kに基づき融雪装置8の運転開始を制御し、融雪が行なわれる場所の表面温度Tを離れた地点から検出し、当該検出温度にしたがい融雪装置8の運転停止を制御するようにした。同制御により、融雪装置8の運転は降雪状況に合わせて開始され、また対象となる場所の温度が、融雪を必要としない温度状況に合わせて停止するようにした。 (もっと読む)


【課題】 2色式放射温度測定において、被測定対象の近傍に時間的に変化する明るい迷光源がある場合に、その迷光の影響を取り除き、被測定対象の温度を測定する。
【解決手段】 迷光を含む温度測定対象からの光に対して2波長帯で光強度の時間変化を測定する主検出系と、迷光のみを光強度の時間変化を測定する副検出系とを備え、光源駆動電流に重畳パルスを加えたときの主検出系、副検出系の測定結果のパルス状変化分を抽出し、両測定結果のパルス状変化分の比に基づき迷光寄与分を推定し、2波長帯での光強度測定値から迷光寄与分を除去した後の測定値から2波長式放射温度測定法に基づき温度測定対象の温度を求める演算装置を設けた。 (もっと読む)


【課題】フィラメントからの輻射熱の放射や加熱プレートの表面からの輻射熱の反射等に影響されることなく、輻射温度計により加熱プレートの温度を正確に測定する。
【解決手段】背面電子衝撃加熱装置は、加熱容器1の天板となっている加熱プレート2の背後に設けられたフィラメント9と、このフィラメント9を加熱する加熱電源12と、このフィラメント9に加速電圧を印加する加速電源7とを有する。そして、加熱プレート2の温度測定位置に凹部11を設け、この凹部11の中の輻射熱を輻射温度計5により測定するものである。この加熱プレート2の温度測定位置に設けた凹部11は、温度測定点がある奥側より入口側で狭くなっていることが好ましい。 (もっと読む)


【課題】 ユーザが使用する映像表示装置に映像が表示される際に、映像表示装置周辺の照明環境の特性を獲得して記録することのできる映像表示装置周辺の照明特性データの生成方法を提供することを課題とする。
【解決手段】 照明特性データを、照明光の色温度値及び照明光の色度座標系の座標値のうち少なくとも一つを含む照明光種類情報を表すタイプブロックで生成する段階と、照明特性
データを、ルクス単位で表現される数値的輝度値に該当する照明光の輝度情報を表す輝度ブロックに生成する段階とを含むことにより上記課題を解決する。 (もっと読む)


【課題】対象物の測定温度域が広い場合でも簡便かつ精度良く対象物の表面温度分布を測定することが可能な表面温度測定装置を提供する。
【解決手段】表面温度測定装置101に、鍛造用金型102の逃がし孔102bから放射される赤外線強度の検出とキャビティ面102aから放射される波長帯が異なる三種類の赤外線の強度の分布の検出とを行う赤外線カメラ110と、表面仮温度を算出する表面仮温度算出部121aと、波長帯が異なる三種類の赤外線の強度とキャビティ面102aの表面温度との関係に係るデータを記憶する記憶部121bと、表面仮温度を含む所定温度域について記憶部121bにより記憶されたデータを直線近似する直線近似データ算出部121cと、波長帯が異なる三種類の赤外線の強度の分布と当該直線近似して得られたデータとに基づいてキャビティ面102aの分布を算出する表面温度分布算出部121dと、を具備した。 (もっと読む)


宇宙カプセルまたは宇宙で使用される装置のようなビークル中のセンサを較正するシステムは膨張可能な集積された球体を使用する。ビークルのセンサは較正ウィンドウを通して集積球体内の電磁エネルギソースからのエネルギを測定する。膨張可能な流体の不浸透性の集積球体は流体で充填されるとき膨張してその内部が較正ウィンドウを通して観察可能である。システムは集積球体を充填するための流体ソースと、集積球体内の適切な気体圧力レベルを維持するため流体を集積球体に供給するときを決定するためにビークルに結合される流体調節装置とを含んでいる。 (もっと読む)


このシステムは、カラー・カメラ及び光学系を使用して、炉、ボイラ燃焼領域、又はバーナー火炎などの対象物から発せられる2つの色を温度画像にマッピングする。カラー・カメラは、色ごとに、散在する画素を有するカラー・ビデオ・チップを利用して、整合上の問題を軽減させ、同じ光路を利用する。さらに、光学系は、2重帯域通過光フィルタを利用し、それによって光学要素の数を減少させ、光学系による放射損失を最小化し、それによってシステムのダイナミック・レンジを改善する。
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【課題】燃焼溶融炉1の高温熱交換器3における伝熱管9の損傷を防止するため、高温熱交換器3に流入する燃焼排ガス8の温度を精度よく測定する。
【解決手段】赤外線検出素子がSi素子である二色式放射温度計を用いて、高温熱交換器3に流入する燃焼排ガス8に含まれるダストからの0.7〜1.1μm及び0.97〜1.1μmの範囲にある互いに異なる2つの波長の放射エネルギーを計測する。 (もっと読む)


光源(2)の色温度(TC)を測定するための方法が、1つの予め規定された青色スペクトル成分(B)の部分強度を測定するステップ、輝度(V)を測定するステップ、及び色温度(TC)を表すものとして商BNを計算するステップを有する。色温度(TC)は、色温度(TC)と商BNとの所定の関係に基づいて計算される。
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【課題】 表面に薄膜が成膜されている半導体基板のように、放射率が刻々変化する表面処理中の被処理物の温度を、放射率の変動の影響を受けずに非接触で正確に測温することのできる温度測定方法と放射温度計、および、それを用いた基板処理装置を提供すること。
【解決手段】 被測定体1の同じ領域からの放射光の異なる複数の波長λ1、λをそれぞれの受光手段4a、4b、4c、4dで受光し、受光手段4a、4b、4c、4dが受光したそれぞれ異なる波長毎の受光結果から被測定体1の温度を算出する放射温度計20による測定で、異なる波長と、被測定体1の法線に対する受光手段4a、4b、4c、4dの受光角をそれぞれθ1、θとした場合に、波長と被測定体1の法線nに対する受光手段4a、4b、4c、4dの受光角との関係を、λcosθ=λcosθにする。 (もっと読む)


測定システムの光源(22)がInGaAsシステム検出器(68a〜68d)の標準化/校正及び正規化のために必要最小限の時間だけ遮断されるように、単一羽根(46,48)から成るシャッターフラッグ(38)が非同期的に制御される。半球状の光源光/検出器光ホモジナイザー(50,62)又は直列に連結されたランダム配向光ファイバー束(132)が、各検出器素子へ通される光を均質化する。光源のテストは、複数の光源パワーレベルでスペクトルパワー分布を測定し、それらの測定値を光源のために確定された基線特性と比較することによって実施される。校正用サンプルの寿命は、標準光レベルが供給されている短い校正時間以外には光源を遮蔽するようにシャッターフラッグを制御することによって延長される。
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