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Fターム[4G077ED06]の内容

結晶、結晶のための後処理 (61,211) | 結晶成長共通−種結晶、基板 (2,660) | 基板(例;形状、構造) (2,234) | 基板材料の選択○ (1,302)

Fターム[4G077ED06]に分類される特許

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【課題】厚膜層の成長過程で厚膜層にヒビやクラックが発生することを抑制可能な窒化物半導体基板の製造方法を提供する。
【解決手段】基材2上に窒化物半導体からなる下地層を設けて下地基板3を形成し、下地基板3の下地層上に金属膜を形成した後、水素ガスまたは水素含有化合物ガスを含む雰囲気中で下地基板3を熱処理することで、下地層中に空隙を形成すると共に金属膜に微細孔を形成し、その微細孔を形成した金属膜上に窒化物半導体を成長させて厚膜層5を形成した後、厚膜層5を下地基板3から剥離して窒化物半導体基板1を得る窒化物半導体基板の製造方法において、基材2として、窒化物半導体基板1の径よりも大きい径のものを用い、下地基板3の中央部で厚膜層5を成長させる。 (もっと読む)


【課題】結晶品質の良いIII族窒化物単結晶を得ると共に、その基板からの自然剥離を促進することで、クラックを更に低減することである。
【解決手段】基板1と、基板1上に形成されたIII族窒化物からなるバッファ層2およびこのバッファ層2上に形成されたIII族窒化物単結晶からなる種結晶膜3を備える複数の育成部9とを備えており、隣り合う複数の育成部9の間に基板1の表面1bが露出している育成用部材7を使用する。育成用部材7をウエットエッチングに供することによってバッファ層2を育成部9の端面からエッチングし、次いでIII族窒化物単結晶を種結晶膜3上にフラックス法によって育成する。 (もっと読む)


【課題】挿入損失で0.6dBを下回り、高い収率で製造可能なビスマス置換型希土類鉄ガーネット結晶膜(RIG)と光アイソレータを提供する。
【解決手段】化学式Gd3(ScGa)512で示される非磁性ガーネット基板上に液相エピタキシャル成長法により育成されたビスマス置換型希土類鉄ガーネット結晶膜において、化学式Nd3-x-yGdxBiyFe512で示され、xとyが0.89≦x≦1.43、0.85≦y≦1.19であることを特徴とする。化学式Nd3-x-yGdxBiyFe512で示される本発明のRIGは、従来のRIGと比較して挿入損失で0.6dBを下回り、かつ、波長1μm程度の光吸収に起因した発熱量の低減が図れるため、加工用高出力レーザー装置の光アイソレータ用ファラデー回転子に使用するできる顕著な効果を有する。 (もっと読む)


【課題】良好な結晶品質を有するGaN層のようなIII族−窒化物が得られる方法で形成されたIII族−窒化物/基板構造と、少なくとも1つのそのような構造を含む半導体デバイスを提供する。
【解決手段】基板1の上に、例えばGaN層5のような、III族−窒化物層の堆積または成長を行う方法であり、基板1は、少なくともGe表面3、好適には六方対称を有する。この方法は、基板1を400℃と940℃の間の窒化温度に加熱するとともに、基板1を窒化ガスの流れに露出させる工程と、続いて、100℃と940℃の間の堆積温度で、Ge表面3の上に、例えばGaN層5のようなIII族−窒化物を堆積する工程を含む。 (もっと読む)


【課題】p層とn層を順次積層させなくても、多形や転位の引継ぎを抑制しつつ、貫通転位を低減できるSiC単結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】縦型MOSFETのドレインリークなどのリークを引き起こす転位は貫通らせん転位であるということに基づき、Alイオンの注入および活性化アニール後に溶融KOHエッチング等を行うことにより、リーク部に相当する場所に非常に深いエッチピット1bを形成する。そして、その表面に、エッチピット1bの側壁部に成長した部分同士が互いに接触する条件にてSiC成長層4をエピタキシャル成長させることで、SiC成長層4に転位が引き継がれないようにする。これにより、貫通らせん転位1aが存在しない表面を有するSiC成長層4を得ることが可能となる。したがって、p層とn層を順次積層させなくても、多形や転位の引継ぎを抑制しつつ、貫通転位を低減できるSiC単結晶を製造することができる。 (もっと読む)


【課題】挿入損失で0.60dBを下回り、高い収率で製造可能なビスマス置換型希土類鉄ガーネット結晶膜(RIG)と光アイソレータを提供する。
【解決手段】化学式Gd3(ScGa)512で示される非磁性ガーネット基板上に液相エピタキシャル成長法により育成されたビスマス置換型希土類鉄ガーネット結晶膜であって、化学式La3-x-yGdxBiyFe512(但し、0<x<3、0<y<3)で示され、La、Gd、Biの組成割合が、La-Gd-Bi三元系組成図上において、組成点A、組成点B、組成点C、組成点Dを頂点とする四角形の内部に相当する数値範囲を有することを特徴とする。
組成点A(La/0.15,Gd/1.66,Bi/1.19)、組成点B(La/0.32,Gd/1.88,Bi/0.80)、
組成点C(La/0.52,Gd/1.68,Bi/0.80)、組成点D(La/0.35,Gd/1.46,Bi/1.19)。 (もっと読む)


【課題】 高品質なシリコン膜を高速で結晶成長させる技術を提供する。
【解決手段】 1200℃〜1400℃に加熱されているとともに1500rpm〜3500rpmで回転している基板6に向けて、基板の表面に直交する方向から、塩化シランガス18を供給する。このときの塩化シランガス18の供給量を、基板6の表面1cm当たり200μmol/分以上とする。 (もっと読む)


【課題】支持基板とIII族窒化物層との接合強度が高いIII族窒化物複合基板を提供する。
【解決手段】III族窒化物複合基板1は、サファイア等からなる支持基板10と、支持基板10上に形成されている酸化物膜20と、酸化物膜20上に形成されているIII族窒化物層30aと、を含む。ここで、酸化物膜20は、TiO2膜およびSrTiO3膜からなる群から選ばれるいずれかの膜とすることができ、NbおよびLaからなる群から選ばれる少なくとも1種の元素を不純物として添加することができる。 (もっと読む)


【課題】格子定数や歪などの情報も共通化させ、より結晶性の優れたモザイク状の単結晶を提供する。
【解決手段】種基板上に気相合成法によって単結晶ダイヤモンドを合成した後、その成長界面付近で種基板と成長層とを分離し、分離面が上面になるように配置して並べ、該2枚の基板上にダイヤモンドをエピタキシャル成長させて1枚の接合したダイヤモンド基板を作製する。さらに、上記で得た接合したダイヤモンド基板を種基板として利用し、2回、3回と同じ操作を繰り返すことによって、単結晶基板を大きくしてゆける。これにより、種結晶基板の結晶学的特徴を有する単位A(種結晶の表面に由来)と、種結晶基板の結晶学的特徴と鏡像関係を有する単位B(成長層の分離面に由来)とがモザイク状に並んだ単結晶ダイヤモンド基板が得られる。 (もっと読む)


【課題】石英製の反応炉の損傷を抑制することができ、副生成物の生成を抑制できるIII族窒化物結晶の製造方法、III族窒化物テンプレートの製造方法、III族窒化物結晶及びIII族窒化物テンプレートを提供する。
【解決手段】本発明に係るIII族窒化物結晶は、III族窒化物結晶中に1×1016cm−3以上1×1020cm−3未満の炭素を含み、前記炭素がV族サイトを置換しており、かつ、前記III族窒化物結晶内でアクセプタとして働く他の不純物を含まないものである。 (もっと読む)


【課題】凹部のない大面積で高品質なCVDダイヤモンド単結晶及びこれを実現する製造方法の提供。
【解決手段】主面が{100}であるダイヤモンド単結晶基板の{100}側面同士を近接させて4枚以上配置し、該配置した単結晶基板の主面にダイヤモンドを気相合成により成長させた後、該単結晶基板を除去して1枚の大面積CVDダイヤモンド単結晶を製造する方法であって、前記ダイヤモンド単結晶基板の配置が、近接する任意の4枚の単結晶基板の、隣接する2枚の単結晶基板A1とA2とからなる単位Aと、他の2枚の単結晶基板B1とB2とからなる単位Bとにおいて、A及びBが対向する側の面がそれぞれ同一平面上にあり、かつA1とA2が対向する側面間の間隔の真中の面と、B1とB2が対向する側面間の間隔の真中の面とが、単位Aと単位Bが対向する面の方向にずれている配置であることを特徴とする大面積CVDダイヤモンド単結晶を製造する方法。 (もっと読む)


【課題】シリコンおよび炭化ケイ素基板上に堆積されたGaNフィルムにおける応力の制御方法、およびこれによって生成されたGaNフィルムを提供する。
【解決手段】典型的な方法は、基板を供給すること、および供給の中断をまったく伴なわず、成長チャンバへの少なくとも1つの先駆物質の供給によって形成された、当初組成物から最終組成物までの実質的に連続したグレードの様々な組成物を有する基板上にグレーデッド窒化ガリウム層を堆積させることを含む。典型的な半導体フィルムは、基板と、供給の中断をまったく伴なわず、成長チャンバへの少なくとも1つの先駆物質の供給によって形成された、当初組成物から最終組成物までの実質的に連続したグレードの様々な組成物を有する基板上に堆積されたグレーデッド窒化ガリウム層とを含む。 (もっと読む)


【課題】基板に割れを発生させることなく、主面の面積が大きく反りの小さいGaN系膜を製造することが可能なGaN系膜の製造方法を提供する。
【解決手段】本GaN系膜の製造方法は、主面11m内の熱膨張係数が、GaN結晶のa軸方向の熱膨脹係数に比べて、0.8倍より大きく1.0倍より小さい支持基板11と、支持基板11の主面11m側に配置されている単結晶膜13と、を含み、単結晶膜13が単結晶膜13の主面13mに垂直な軸に対して3回対称性を有するSiC膜である複合基板10を準備する工程と、複合基板10における単結晶膜13の主面13m上にGaN系膜20を成膜する工程と、を含む。 (もっと読む)


【課題】主面の面積が大きく反りの小さいGaN系膜を製造することが可能なGaN系膜の製造方法を提供する。
【解決手段】本GaN系膜の製造方法は、主面11m内の熱膨張係数が、GaN結晶のa軸方向の熱膨脹係数に比べて、1.0倍より大きく1.2倍より小さい支持基板11と、支持基板11の主面11m側に配置されている単結晶膜13と、を含み、単結晶膜13が単結晶膜13の主面13mに垂直な軸に対して3回対称性を有するSiC膜である複合基板10を準備する工程と、複合基板10における単結晶膜13の主面13m上にGaN系膜20を成膜する工程と、を含む。 (もっと読む)


【課題】製造された複数のn型SiC単結晶インゴット間の窒素濃度のばらつきを抑えることができるn型SiC単結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】本実施の形態におけるn型SiC単結晶の製造方法は、坩堝7が配置される領域を有するチャンバ1を備えた製造装置100を準備する工程と、坩堝7が配置される領域を加熱し、かつ、チャンバ1内のガスを真空排気する工程と、真空排気した後、希ガスと窒素ガスとを含有する混合ガスをチャンバ1内に充填する工程と、領域に配置された坩堝7に収納された原料を加熱により溶融して、シリコンと炭素とを含有するSiC溶液8を生成する工程と、混合ガス雰囲気下において、SiC種結晶をSiC溶液に浸漬して、SiC種結晶上にn型SiC単結晶を育成する工程とを備える。 (もっと読む)


【課題】窒化物半導体単結晶の反り(面方位分布)を抑制するとともに、均質な結晶成長を行うことができる窒化物半導体基板の製造方法及び窒化物半導体自立基板の製造方法を提供する。
【解決手段】窒化物半導体基板の製造方法は、HVPE炉20において、石英リアクタ7内の結晶成長領域の温度分布を略均一に保持してGaN薄膜2及びストライプマスク4を有する基板1上にGaN厚膜5を成長させるとともに、成長中のGaN厚膜5の反りが予め定めた範囲内になるように当該HVPE炉20を加熱するヒータ8の制御温度を変化させる。 (もっと読む)


【課題】Inを含む窒化物化合物半導体結晶で、より容易にp型の電気的特性が得られるようにする。
【解決手段】まず、基板101を加熱する。次に、少なくともIn原料、アンモニア、窒素以外のV族の原料、およびp型ドーパントの原料を基板101の上に供給する。ただし、窒素以外のV族は、As,P,およびSbの中より選択したものである。なお、In原料の他に、Ga原料、Al原料などを加えるようにしてもよい。これにより、基板101の上に、Inを含むp型窒化物化合物半導体結晶の層102が形成できる。 (もっと読む)


【課題】種原子層が成膜されていない基板上に、種原子を含まないウィスカ集合体を直接成長させることを可能としたウィスカ集合体の製造方法を提供する。
【解決手段】被形成基板の対面に種基板を配置し、シリコンを含むガスを導入し減圧化学気相成長を行う。被形成基板は、減圧化学気相成長を行う時の温度に耐えられる物であれば、種類を問わない。種原子を含まないシリコンウィスカ集合体を、被形成基板上に接して、直接成長させることができる。更に、形成されたウィスカ集合体の表面形状特性を利用することで、ウィスカ集合体が形成された基板を太陽電池や、リチウムイオン二次電池等へ応用することができる。 (もっと読む)


【課題】平坦性、結晶性および配向性に優れ、厚さ方向の熱伝導率が高く放熱性に優れたエピタキシャル成長用基板およびその製造方法を提供する。
【解決手段】炭素基板の少なくとも一方の主表面に、算術平均表面粗さRaが0.05μm以下で、表面粗さの最大値Ryが0.5μm以下であり、X線回折法による(0002)面のロッキングカーブの半値幅が1.5度以下であり、ラマンスペクトルにおけるGバンドのピーク強度に対するDバンドのピーク強度の比が0.01以下である高結晶グラファイト層を形成してなることを特徴とするエピタキシャル成長用基板である。 (もっと読む)


【課題】サファイア基板の表面に形成されたGaN系化合物結晶層を剥離するためのレーザリフトオフ処理において、ワークの温度が多少上昇したとしても、レーザリフトオフ装置内で、レーザリフトオフ後のサファイア基板がGaN層から、完全に剥がれてしまうことがないようにすること。
【解決手段】レーザ光をGaN結晶層の一部に複数回(2回以上)照射する。詳しくは、レーザ光を1回照射してGaN層のサファイア基板との界面がガリウム(Ga)となったところに、再度サファイア基板越しにレーザ光を照射する。 (もっと読む)


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