【課題】窒化物半導体層の表面に形成したオーミック電極のコンタクト抵抗を低減した窒化物半導体装置およびその製造方法を提供すること。
【解決手段】第一の窒化物半導体層３と、第一の窒化物半導体層３の上に形成された第二の窒化物半導体層４と、第二の窒化物半導体層４の表面に形成されるオーミック電極としてのカソード電極６と、を備え、第二の窒化物半導体層４の表面におけるカソード電極６が形成される領域に、凹凸構造を有するコンタクト部４ａが形成され、このコンタクト部４ａの表面粗さ（ＲＭＳ）が０.２５ｎｍ以上５ｎｍ以下であり、かつコンタクト部４ａの表面の酸素の組成比率が５ａｔ．％以下に設定されている。 （もっと読む）

【課題】高輝度化の半導体発光素子及びその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体発光素子は、第１導電形の第１半導体層と、第２導電形の第２半導体層と、前記第１半導体層と前記第２半導体層との間に設けられた発光層と、第１電極層と、第２電極層と、を備える。第１電極層は、第２半導体層の第１半導体層とは反対側に設けられ、第２半導体層と接する金属部と、第１半導体層から第２半導体層に向かう方向に沿って金属部を貫通し前記方向に沿って見たときの形状の円相当直径が１０ナノメートル以上５マイクロメートル以下である複数の開口部と、を有する。第２電極層は、第１半導体層と導通する。第２半導体層は、金属部に接する凸部と、開口部の底部において凸部よりも前記方向に沿って後退した凹部と、を有する。 （もっと読む）

【課題】電流コラプスを抑制し、高出力動作可能な窒化物半導体装置を提供する。
【解決手段】ショットキ接触する電極（ゲート電極１６）１６とオーミック接触する電極（ソース電極１７ａ、ドレイン電極１７ｂ）との間のIII−Ｖ族窒化物半導体層１４表面に、ＥＣＲスパッタリング法により珪素膜１５を形成する。ショットキ接触する電極１６とIII−Ｖ族窒化物半導体層１４との間に、珪素膜１５を形成してもよい。 （もっと読む）

【課題】制御性の良い製造方法のみで形成することができる高周波数動作が可能なノーマリオフ型の窒化物半導体装置を提供する。
【解決手段】ソース電極５とドレイン電極６との間の電子供給層４上に、電子供給層とショットキー接触する浮遊電極８を配置し、この浮遊電極８上に絶縁膜９を介してゲート電極７を配置する。そして、ゲート電極に正バイアス印加し、浮遊電極に電子を蓄積される。 （もっと読む）

【課題】歩留まり良く形成することができ、高い信頼性を保つことができる、高周波特性が優れた窒化物半導体装置を提供する。
【解決手段】ソース電極５とドレイン電極６との間の電子供給層４上に、電子供給層とショットキー接触する浮遊電極８を配置し、この浮遊電極上に絶縁膜９を介してゲート電極７を配置する。特に絶縁膜を強誘電体材料とすると好ましい。 （もっと読む）

【課題】電流コラプスを抑制し、且つゲートリーク電流を低減するヘテロ接合電界効果トランジスタとその製造方法の提供を目的とする。
【解決手段】本発明に係るヘテロ接合電界効果トランジスタは、バリア層４０及びバリア層４０上に形成されたキャップ層５０を含む窒化物半導体層と、前記窒化物半導体層に下部を埋没するようにして前記窒化物半導体層上に設けられたゲート電極９０と、前記窒化物半導体層上に形成されたＳｉを含まない絶縁膜からなる表面保護膜１００とを備える。 （もっと読む）

【課題】本発明は、外部ノイズ等の過大電流に起因するＨＥＭＴの損傷、破壊若しくは発火を防止することができる半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置１は、第１の半導体層３１と、第２の半導体層３２と、二次元キャリアガス層３３と、ソース電極４１と、ドレイン電極４２と、ゲート電極５と、二次元キャリアガス層３３上においてゲート電極５とドレイン電極４２との間に配設された補助電極６と、を備え、二次元キャリアガス層３３のゲート電極５とソース電極６との間のチャネル抵抗Ｒ１に比べて、二次元キャリアガス層３３のゲート電極５と補助電極６との間のチャネル抵抗Ｒ２が高く設定されている。 （もっと読む）

【課題】半導体装置、ショットキーバリアダイオードの特性を向上させる。
【解決手段】禁制帯幅の異なる第１膜と第２膜とが積層されたヘテロ接合部を少なくとも一つ有する積層体Ｈと、積層体Ｈと同層の積層物よりなるダミー積層体Ｄと、積層体Ｈとダミー積層体Ｄとの間に設けられた溝Ｇと、溝内部を含み積層体Ｈの上部からダミー積層体Ｄの上部まで延在するように配置され、積層体Ｈの第１の側壁に接するように配置され、積層体Ｈとの間にショットキー接続される第１電極ＳＥと、積層体Ｈの第１の側壁と対向する第２の側壁に接するように配置された第２電極ＯＨＥと、で半導体装置を構成する。このように、ダミー積層体Ｄを残存させ、積層体Ｈとの間に溝Ｇを設け、溝内部に充填された第１電極ＳＥによって、側壁コンタクトを実現したので、積層体Ｈをエッチングする際の欠陥が溝底部に発生する確率を低減でき、逆リーク電流を低減することができる。 （もっと読む）

【課題】半導体装置が有する保護膜や層間絶縁膜にかかる電界を抑制し、半導体装置の絶縁破壊耐圧を向上する。
【解決手段】半導体装置は、基板１と、基板の上方に形成されたキャリア走行層４と、キャリア走行層の上に形成された化合物半導体層５，６，７と、化合物半導体層の上に形成されたソース電極１０と、基板の裏面から基板を貫通し、キャリア走行層の内部まで形成された第１の溝１２と、第１の溝の内部に形成されたドレイン電極１４と、ソース電極１０と第１の溝１２との間に位置し、化合物半導体層の上に形成されたゲート電極１１と、ソース電極の斜め下方であってソース電極と第１の溝との間に位置し、基板の裏面から基板を貫通し、キャリア走行層４の内部まで形成された第２の溝１３と、を備える。 （もっと読む）

【課題】III-V族窒化物半導体を有する半導体装置において、熱による出力低下を低減する。
【解決手段】半導体装置は、基板１０１上に設けられ、III-V族窒化物半導体からなるバッファ層１０２と、バッファ層１０２上に設けられ、III-V族窒化物半導体からなる第１の半導体層１０３と、第１の半導体層１０３上に設けられ、III-V族窒化物半導体からなる第２の半導体層１０４と、基板１０１の裏面上に設けられ、接地に接続された裏面電極１１１と、第２の半導体層１０４上に互いに離間して設けられたソース電極１３２及びドレイン電極１３４と、第２の半導体層１０４上に設けられたゲート電極１３６とと、第２の半導体層１０４、第１の半導体層１０３、及びバッファ層１０２を貫通し、少なくとも基板１０１に達し、ソース電極１３２と裏面電極１１１とを電気的に接続させるプラグ１０９とを備えている。 （もっと読む）

【課題】素子面積の増大を抑制しつつ、信頼性に優れた構造を有する半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置１００は、化合物半導体基板１２と、化合物半導体基板１２に埋め込まれた埋込電極と、を備え、化合物半導体基板１２の主面に溝２２、２４が設けられており、少なくとも溝２２、２４の側壁上に設けられた第一の金属膜１０ａ、１０ｂと、少なくとも溝２２、２４の底面上に設けられており、第一の金属膜１０ａ、１０ｂと異種材料で構成される第二の金属膜９ａ、９ｂと、を含む積層体により溝２２、２４を埋め込むことで、上記埋込電極が構成されており、第一の金属膜１０ａ、１０ｂのフェルミエネルギーは化合物半導体基板１２の真性フェルミエネルギーと異なり、第二の金属膜９ａ、９ｂのフェルミエネルギーは化合物半導体基板１２の真性フェルミエネルギーと異なる。 （もっと読む）

【課題】コンタクト抵抗率を低く抑えることが可能な半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】本発明は、Ａｌ組成比が０．２以上のＡｌＧａＮ層をエッチングして、ＲＭＳ粗さが０．３ｎｍ未満の底面を有する凹部を形成する工程と、前記凹部の底面に接して、４ｎｍから８ｎｍの厚さの第１Ｔａ層を形成する工程と、前記第１Ｔａ層に熱処理を施して、前記ＡｌＧａＮ層にオーミック接触させる工程と、を有する半導体装置の製造方法である。 （もっと読む）

【課題】高温・高電圧で動作させた場合でも故障の発生を抑制することが可能な半導体装置を提供すること。
【解決手段】本発明は、ＧａＮキャップ層３８上のソースフィンガー１２と、ソースフィンガーと交互に配置されたドレインフィンガー１４と、ソースフィンガーとドレインフィンガーとの間のゲートフィンガー１６と、ゲートフィンガーの上面と側面を覆う第１絶縁膜４４と、ゲートフィンガーとドレインフィンガーとの間の第１絶縁膜上に設けられたフィールドプレート２６と、活性領域１８の外側で第１絶縁膜上にフィンガー方向と交差方向に設けられソースフィンガーとその両側のフィールドプレートとを接続するフィールドプレート配線２８と、を備え、フィールドプレートと第１絶縁膜の第１段差部４６とは１００ｎｍ以上離れ、フィールドプレート配線と第１絶縁膜の第２段差部４８とは１００ｎｍ以上離れている半導体装置である。 （もっと読む）

【課題】本発明は、ソース電極およびドレイン電極の熱耐久性を向上させて、かつ製造過程においてオーミック性に与える不安定要因を取り除き信頼性および量産性の高いＧａＮ系ＨＥＭＴを提供する。
【解決手段】ＧａＮ系ＨＥＭＴは、基板と、窒化ガリウム系半導体と、融点が３０００℃と高融点金属のタンタルと低融点金属のアルミニウムが前記窒化ガリウム系半導体上に積層されてなる前記ソースおよび前記ドレイン電極を備えている。前記ソース電極および前記ドレイン電極は、前記タンタルと前記アルミニウムの積層膜厚の比（前記アルミニウム膜厚／前記タンタル膜厚）を１０以上にし、積層後のアニール処理温度が５１０℃以上、６００℃未満で処理されて成る。 （もっと読む）

【課題】ゲート−ソース間の容量低減及びソース抵抗を低減させ、且つ耐圧向上、高出力化及び高周波化を、容易且つ確実に可能とする量産化に優れた信頼性の高い化合物半導体装置を実現する。
【解決手段】ゲート電極１９を形成する際に、４層の電子線レジスト１１〜１４を用いてゲート開口１７を形成し、ゲート開口１７内に、キャップ層５の表面との接触面を含む幹状の下方部分１９ａと下方部分１９ａから傘状に拡がる上方部分１９ｂとが一体形成されてなり、下方部分１９ａの接触面がドレイン電極７に比べてソース電極６に偏倚した位置に設けられており、上方部分１９ｂの傘状の下端面のうちソース電極６側の部位がドレイン電極７側の部位よりもキャップ層５の表面からの高さが高いゲート電極１９を形成する。 （もっと読む）

【課題】歩留りの低下を抑制する。
【解決手段】開口部１２１．１の形成により、第１の半導体層１１０の上面のうち、上方に第２の半導体層１２０が形成されていない部分の少なくとも一部には、絶縁体１３０．１が形成される。開口部１２１．１には、絶縁体１３０．１を覆うようにソース電極Ｓ１０が形成される。ソース電極Ｓ１０は、第１の半導体層１１０と前記第２の半導体層１２０との界面と接するように形成される。 （もっと読む）

【課題】活性層の上に電極パッドを形成する場合に生じる問題を解決し、オン抵抗の上昇を抑えた窒化物半導体装置を実現できるようにする。
【解決手段】窒化物半導体装置は、活性領域１０２Ａを有する窒化物半導体層積層体１０２と、活性領域の上に互いに間隔をおいて形成されたフィンガー状の第１の電極１３１及び第２の電極１３２とを備えている。第１の電極の上に接して第１の電極配線１５１が形成され、第２の電極の上に第２の電極配線１５２が接して形成されている。第１の電極配線及び第２の電極配線を覆うように第２の絶縁膜が形成され、第２の絶縁膜の上に第１の金属層１６１が形成されている。第１の金属層は、第２の絶縁膜を介して活性領域の上に形成され、第１の電極配線と接続されている。 （もっと読む）

【課題】ＦＥＴの閾値電圧のばらつきのない半導体トランジスタおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体トランジスタ１００は、基板１と、基板１の上方に形成された第１化合物半導体層１０３と、第１化合物半導体層１０３上に形成され、第１化合物半導体層１０３よりもバンドギャップの大きい第２化合物半導体層１０４と、第２化合物半導体層１０４内の少なくとも一部に、酸素がドープされた酸素ドープ領域１０５と、第２化合物半導体層１０４上に形成された第３化合物半導体層１０６と、第１化合物半導体層１０３に電気的に接続されたソース電極１０７およびドレイン電極１０９と、酸素ドープ領域１０５の上方に、酸素ドープ領域１０５に接するように形成されたゲート電極１０８とを有する。 （もっと読む）

【課題】窒化物系半導体素子及びその製造方法を提供する。
【解決手段】ダイオード構造物を有するベース基板１１０と、該ベース基板１１０上に配置されるエピタキシャル成長膜１２０と、該エピタキシャル成長膜１２０上に配置される電極部１４０とを含み、該ダイオード構造物は、第１タイプの半導体層１１２と、該第１タイプの半導体層の中央に介在する第２タイプの半導体層１１４とを含む。 （もっと読む）

【課題】半導体層とソース電極、ドレイン電極とのコンタクト抵抗が小さい電界効果トランジスタを提供すること。
【解決手段】ＳｉＣ基板１１の表面上に形成された、活性層を含む半導体層１２と、半導体層１２上に互いに離間して形成され、チタン層１８、およびこのチタン層１８に対する膜厚比が１２〜１５であるアルミニウム層１９を有するソース電極１６およびドレイン電極１５と、半導体層１２上のうち、ソース電極１６とドレイン電極１５との間に形成されたゲート電極１７と、を具備する電界効果トランジスタ。 （もっと読む）