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Fターム[4M104DD18]の内容

Fターム[4M104DD18]に分類される特許

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【課題】コンタクト構造物の形成方法及びこれを利用した半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】コンタクト領域103を有する対象体100上に絶縁層106を形成した後、絶縁層106をエッチングしてコンタクト領域103を露出させる開口を形成する。露出されたコンタクト領域103上にシリコン及び酸素を含む物質膜を形成した後、シリコン及び酸素を含む物質膜上に金属膜を形成する。シリコン及び酸素を含有する物質膜と金属膜を反応させて、少なくともコンタクト領域103上に金属酸化物シリサイド膜121を形成した後、金属酸化物シリサイド膜121上の開口を埋める導電膜を形成する。コンタクト領域とコンタクトとの間に金属、シリコン、及び酸素が三成分系を成す金属酸化物シリサイド膜を均一に形成することができるため、改善された熱安定性及び電気的特性を有する。 (もっと読む)


【課題】新たなレイアウトパターンを作成せずにNMOSの駆動力を向上することができる半導体装置及び半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の一態様に係る半導体装置1は、半導体基板100と、第1の導電型の第1の半導体素子が設けられる半導体基板100に形成される第1の半導体素子領域と、第2の導電型の第2の半導体素子が設けられる半導体基板100に形成される第2の半導体素子領域と、第1の半導体素子領域と第2の半導体素子領域とを分離する素子分離領域120とを備え、第1の半導体素子領域は、第1の半導体素子領域に隣接する素子分離領域120より高い位置に形成され、素子分離領域120の表面からの第1の半導体素子領域の表面までの距離が、第1の半導体素子領域の上面視における幅以下である。 (もっと読む)


【課題】強誘電体キャパシタを含む強誘電体素子において、強誘電体膜の配向方向を制御して従来よりも残留分極特性を向上させることを目的とする。
【解決手段】基板10の上方にストライプ状の凹凸を有する第1絶縁膜11を形成し、その上にHDPCVD法によりテーパ部12aを有する下地絶縁膜12を形成する。この下地絶縁膜12の上に、下地絶縁膜の上面に垂直な方向が(111)方向となるように自己配向したPt膜を形成しこれを平坦化して第1導電膜14aを形成する。その上に、強誘電体膜15としてPZT膜を形成し、その上に上部電極16を形成する。PZT膜は第1導電導電膜14aと同じ方向に配向するため、分極軸である(001)方向が、上下の電極間を結ぶ方向(印加電界方向)に揃う。これにより強誘電体膜15の単位面積当たりの残留分極量が増加し、強誘電体素子の残留分極特性が向上する。 (もっと読む)


【課題】信頼性の高い半導体装置を提供する。
【解決手段】ゲート電極と、ゲート電極の上に設けられたゲート絶縁膜と、ゲート絶縁膜の上に設けられソース領域及びドレイン領域を含む半導体膜と、ソース領域又はドレイン領域に電気的に接続する配線又は電極と、配線又は電極の上に設けられ第1の開口部を有する第1の絶縁膜と、第1の絶縁膜の上に設けられ第2の開口部を有する第2の絶縁膜と、第2の絶縁膜の上に設けられた画素電極とを有し、第1の絶縁膜は窒化シリコン膜を含む積層の無機絶縁膜からなり、第2の絶縁膜は有機樹脂膜からなり、第2の絶縁膜の第2の開口部の底面において、第1の絶縁膜の上面は第2の絶縁膜に覆われていない露呈した部分を有し、第2の絶縁膜の第2の開口部の断面において、第2の絶縁膜の内壁面は凸状の曲面を有しており、画素電極は、第1の開口部及び第2の開口部を介して配線又は電極に電気的に接続されている。 (もっと読む)


【課題】発光素子の製造プロセスにおいて、あるいは又、発光素子の動作時、安定した挙動を示す第2電極を有する発光素子を提供する。
【解決手段】発光素子は、n型の導電型を有する第1化合物半導体層11、第1化合物半導体層11上に形成され化合物半導体から成る活性層12、活性層12の上に形成された、p型の導電型を有する第2化合物半導体層13、第1化合物半導体層11に電気的に接続された第1電極15、及び、第2化合物半導体層13上に形成された第2電極14を備えており、第2電極14は、チタン酸化物から成り、4×1021/cm3以上の電子濃度を有し、活性層で発光した光を反射する。 (もっと読む)


【課題】素子形成領域間の分離絶縁膜を保護し、接合リークなしに素子と配線膜とを電気的に接続することができる半導体装置およびその製造方法を提供すること。
【解決手段】半導体基板1に形成されて素子形成領域2を画定する分離絶縁膜3と、素子形成領域2に形成された素子と、素子および分離絶縁膜3を覆うように半導体基板1上に形成された層間絶縁膜5と、層間絶縁膜5をエッチングして形成されたコンタクトホール内に埋め込まれて素子と電気的に接続する配線膜6、7とを備え、少なくとも分離絶縁膜3と層間絶縁膜5との間に、前記エッチングによる分離絶縁膜3の浸食を防止するための3層以上の絶縁膜4a、4b、4cが積層されてなる保護積層膜4が形成されていることを特徴とする半導体装置。 (もっと読む)


【課題】安定した素子特性および良好な信頼性を実現する薄膜トランジスタおよびその製造方法、並びにそれらを用いた液晶表示装置を提供する。
【解決手段】薄膜トランジスタ14は、透光性基板1上において、多結晶シリコンの半導体層3上に積層するゲート絶縁膜4およびゲート電極6、及び、上記半導体層3のソース領域8、ドレイン領域9およびチャネル領域10を有する。そして、前記ゲート絶縁膜4は酸化シリコン膜4aからなり、ゲート電極6の底面と接する上記酸化シリコン膜4aの少なくとも表面は酸窒化シリコン層4bから成っている。ここで、ゲート電極6は、例えば500℃程度の比較的に低温で酸化シリコン膜と化学反応する高融点金属材料を含んで構成されている。 (もっと読む)


【課題】ソースドレイン領域のサイズが増大することがない局所配線構造を備えた半導体装置を実現できるようにする。
【解決手段】半導体装置は、半導体基板11の上に形成されたゲート電極22及び半導体基板11におけるゲート電極22の両側方にそれぞれ形成された第1のソースドレイン領域29A及び第2のソースドレイン領域29Bを有するトランジスタ12と、半導体基板11の上における第1のソースドレイン領域29Aを挟んでゲート電極22と反対側に形成されたゲート配線42と、ゲート配線42と第1のソースドレイン領域29Aとを接続する局所配線構造60とを備えている。局所配線構造60は、第1のソースドレイン領域29A及びゲート配線42の上面に跨って形成されたSiGe層61によって構成されている。 (もっと読む)


【課題】コンタクト抵抗を減らし、ギャップフィル特性を向上させることにより、コンタクトプラグ上に低抵抗金属配線を形成する金属配線形成方法を提供する。
【解決手段】金属配線形成方法は、半導体基板の上部の第2の絶縁膜16にコンタクトホール18を形成する段階、上記第2の絶縁膜の表面に沿ってTiN膜を含む第1のバリアメタル膜20を形成するが、上記TiN膜が上記第2の絶縁膜の側壁及び上部の表面より上記コンタクトホールの下部にさらに薄く形成されるように上記第1のバリアメタル膜を形成する段階、上記コンタクトホールを含む上記第1のバリアメタル膜上に第1の金属層を形成する段階、上記第1の金属層がリフローされ平坦化されながら上記コンタクトホールが満たされるように熱処理を行う段階、上記第1の金属層上に第2の金属層を形成する段階及び上記第2の金属層をパターニングして上部金属配線24aを形成する段階を含んでなる。 (もっと読む)


【課題】SOI構造を有する半導体装置において、高性能化、低消費電力化を目的の一とする。また、より高集積化された高性能な半導体素子を有する半導体装置を提供することを目的の一とする。
【解決手段】絶縁表面を有する基板上にnチャネル型及びpチャネル型電界効果トランジスタがそれぞれ層間絶縁層を介して積層している半導体装置とする。nチャネル型及びpチャネル型電界効果トランジスタの有する半導体層は半導体基板より分離されており、該半導体層は絶縁表面を有する基板、又は層間絶縁層上にそれぞれ設けられた絶縁層に接して接合されている。応力を有する絶縁膜によって半導体層へ与えられる歪み、半導体層の面方位、又はチャネル長方向の結晶軸を制御することによって、nチャネル型とpチャネル型電界効果トランジスタとの移動度の差を軽減し、電流駆動能力及び応答速度を同等とする。 (もっと読む)


【課題】製造工程を簡略化する。
【解決手段】一枚の絶縁性基板3上にnチャネル型MOSトランジスタ21およびpチャネル型MOSトランジスタ22からなる相補型半導体装置を形成する製造方法において、nチャネル型MOSトランジスタ21のチャネル領域7と接合するソース領域5Sおよびドレイン領域5Dのいずれか一方をショットキー接合とし、他方をp−n接合とする際、前記p−n接合を前記ショットキー接合より先の工程で形成する。 (もっと読む)


【課題】
互いにパターン(平面形状)の異なる2種類以上の薄膜を積層した積層構造を形成する工程にて、1回のフォトリソグラフィ工程で夫々の薄膜形状を画定すること。
【解決手段】
基板1上に2層の薄膜3,2を順次成膜し、次に薄膜2の上面に形成された第1マスクパターン4を用いて薄膜2のエッチングを行い、第1の薄膜パターン6を形成する。その後、第1マスクパターン4を残した状態で第1マスクパターン4及び薄膜2の上に、有機材料のオフセット印刷、インクジェット印刷、又はディスペンサノズルによる追加塗布で第2マスクパターン5を形成する。最後に、薄膜3を第1マスクパターン4及び第2マスクパターン5を用いて第2の薄膜パターン7に成形し、続いて2つのマスクパターン4,5を除去する。以上の工程により、フォトリソグラフィが第1マスクパターン4を形成する1回のみに制限されるも、基板1の主面に所望の積層構造が形成される。 (もっと読む)


【課題】安定して電界集中緩和効果を得ることが可能なフィールドプレート構造を有するショットキーバリアダイオードを提供する。
【解決手段】ショットキーバリアダイオード1は、GaN自立基板2上に形成されたGaNエピタキシャル層3と、ショットキー電極5と、絶縁層4と、電極部分7とを備える。ショットキー電極5は、GaNエピタキシャル層3の表面に接触するように形成される。絶縁層4は、GaNエピタキシャル層3の表面上において、ショットキー電極5に隣接するように形成される。電極部分7は、ショットキー電極5と接続され、絶縁層4上に接触して延在するとともにショットキー電極5を構成する材料と異なる材料により構成される。 (もっと読む)


【課題】材料や形成されたパターンが異なる複数の層が積層された構造の半導体装置において、CMP法による研磨処理やSOG膜成膜による平坦化処理を行わなくても平坦化でき、さらに基板材料を選ばず、簡便に平坦化を行う方法を提供することを課題とする
【解決手段】異なる層が複数積層されて形成された半導体装置において、絶縁膜に開口部を形成し、その開口部内に配線(電極)または半導体層を形成することにより、絶縁膜および配線(電極)または半導体層上に形成される絶縁膜に対してCMP法による研磨処理またはSOG膜の成膜による平坦化を行わなくても表面の平坦化を行うことができる。 (もっと読む)


【課題】薄膜トランジスタ液晶表示装置の薄膜トランジスタ及びその製造方法を提供する。
【解決手段】ゲート電極、ゲート絶縁層、活性層及びソースドレイン電極を有した薄膜トランジスタであって、該ゲート電極は該活性層のチャンネル領域と重なり、該ゲート絶縁層は該ゲート電極と該活性層間に設けられており、該ソースドレイン電極と該活性層のソースドレイン領域は重なり、該活性層と前記ソースドレイン電極間に電子の走行を許容する薄いSiNx又はSiOxNy層が設けられる。 (もっと読む)


【課題】集積回路部上にアンテナを作り込んで設ける場合であっても、接続不良やコンタクト抵抗の増加を抑制することを課題とする。
【解決手段】基板上に第1の導電膜を有する集積回路部を形成し、集積回路部上に絶縁膜を形成し、絶縁膜上にアンテナとして機能する第2の導電膜を選択的に形成し、絶縁膜及び第2の導電膜に開口部を形成して第1の導電膜を露出させ、メッキ処理により開口部及び第2の導電膜の上面に第3の導電膜を形成することにより、第1の導電膜及び第2の導電膜とを電気的に接続する。 (もっと読む)


【課題】ソース領域又はドレイン領域と接触する電極と、ソース領域又はドレイン領域との接触面積を十分に確保するための半導体装置の素子構造及び該素子構造を有する半導体装置の作製方法を提供することを目的とする。
【解決手段】高濃度不純物領域(ソース領域又はドレイン領域)の上に上部電極を形成し、層間絶縁膜を貫通するコンタクトホールを上部電極と高濃度不純物領域(ソース領域又はドレイン領域)とが積層された領域と重なる位置に形成する。 (もっと読む)


【課題】コンタクトホール形成時のエッチングの制御を容易に行う半導体装置を作製する技術を提案する。
【解決手段】少なくとも絶縁表面上に形成された半導体層と、半導体層上に形成された第1の絶縁層と、第1の絶縁層上に形成されたゲート電極と、ゲート電極上に形成された第2の絶縁層と、を有し、少なくとも半導体層及び第2の絶縁層に開口部が形成されて絶縁表面が部分的に露出されており、開口部を介して第2の絶縁層上に形成された導電層と、を有する。なお、ここで導電層は半導体層に形成された開口の側面において半導体層と電気的に接続している。 (もっと読む)


【課題】窒化ガリウム系半導体素子のショットキ電極に関連するリーク電流を低減可能な構造を有する窒化ガリウム系半導体素子が提供される。
【解決手段】ショットキバリアダイオード11では、絶縁体領域15は、窒化ガリウム系半導体領域13の第1のエリア13bを覆うと共に第2のエリア13cに設けられた開口19を有する。第1の電極17は、ショットキ接合導体部17aおよびオーバーラップ導体部17bを含む。ショットキ接合導体部17aは、窒化ガリウム系半導体領域13にショットキ接合24を成す。オーバーラップ導体部17bは絶縁体領域15に位置している。絶縁体領域15は、開口19を規定しひさし形状の縁部15aを含む。庇の下に空隙23が設けられており、これによって、第1の電極17および絶縁体領域15が窒化ガリウム系半導体領域13の表面13cを部分的に覆われていない。 (もっと読む)


【課題】信頼性の向上した半導体装置及びその作製方法を提供する。
【解決手段】ゲート電極と重畳し、該重畳領域の外側に不純物領域が形成された半導体層と、半導体層のゲート電極が設けられた側と同じ側の面に設けられ、不純物領域と一部が接する第1導電層と、ゲート電極及び第1導電層の上に設けられた絶縁層と、該絶縁層に形成され、第1導電層と少なくとも一部が重畳する開口を介して第1導電層と接する第2導電層と、を有する。 (もっと読む)


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