【課題】生産性を損なうことなく、ＭＩＳトランジスタを有する半導体装置を高性能化する。
【解決手段】シリコン基板１の主面ｓ１のＮＭＩＳ領域ＲＮには素子用ｐウェルｐｗを、ＰＭＩＳ領域ＲＰには素子用ｎウェルｎｗを形成した後、主面ｓ１に順に形成したゲート絶縁膜ＧＩおよび第１多結晶シリコン膜Ｅ１ａを透過させるようにしてアクセプタとなる不純物イオンを注入して、チャネル領域ＣＨの不純物濃度を調整する。その後、第１多結晶シリコン膜Ｅ１ａおよびその上に形成した第２多結晶シリコン膜のうち、ＮＭＩＳ領域ＲＮにはドナー不純物を、ＰＭＩＳ領域ＲＰにはアクセプタ不純物を注入した後、これらを加工して、ｎ型のゲート電極とｐ型のゲート電極とを形成する。ゲート絶縁膜ＧＩは、シリコン基板１の主面を酸化した後、炉体内において一酸化二窒素雰囲気中で熱処理を施すようにして形成する。 （もっと読む）

【課題】 パンチスルー現象を改善し、ボディーの体積を増加させることのできる半導体素子およびその製造方法を提供する。
【解決手段】 半導体素子は、シリコン基板、埋め込み酸化膜およびシリコン層の積層構造からなり、前記シリコン層におけるゲート形成領域に、チャンネル幅方向に上端部よりも下端部の方が幅が広いフィンパターンが形成されたＳＯＩ基板と、前記フィンパターンを取り囲むように形成されたゲートと、前記ゲートの両側のシリコン層内に形成された接合領域とを含む。 （もっと読む）

【課題】半導体層と絶縁層との間の界面特性である半導体層のキャリヤ移動度の低下を防止した半導体装置とその製造方法を提供する。
【解決手段】活性多結晶シリコンからなる半導体層１２と、酸化ケイ素からなる絶縁層６との間に窒化ケイ素からなる界面層５を設けている。窒化ケイ素中の窒素元素が活性多結晶シリコン膜からなる半導体層１２中に拡散し、この活性多結晶シリコン膜中の格子歪みを補償し、半導体層１２と絶縁層６との所望の界面特性を満たす。 （もっと読む）

【課題】接触抵抗の増加が抑制されたピラー形状の縦型ＭＯＳトランジスタを用いた半導体装置を提供する
【解決手段】基部１ａと複数のピラー部１Ａとを有するシリコン基板１と、基部１ａに設けられた一方のソースドレイン領域６と、ピラー部１Ａの側面１ｂを覆うゲート絶縁膜４と、ゲート絶縁膜４を介してピラー部１Ａの側面１ｂを覆うゲート電極５と、ピラー部１Ａの上部に設けられた他方のソースドレイン領域１２と、他方のソースドレイン領域１２と接続されるコンタクトプラグ９とを備え、ピラー部１Ａの上面１ｃの全面にコンタクトプラグ９が接続されていることを特徴とする半導体装置１０。 （もっと読む）

【課題】膜厚バラツキを抑制し、かつドライエッチングダメージの発生を抑制できる優れた素子特性を兼ね備えた薄膜半導体装置及びその製造方法を提供すること。
【解決手段】透明絶縁性基板上に形成され、所定の間隔を隔てて第１導電型の不純物を含むソース領域及び第１導電型の不純物を含むドレイン領域を有する島状半導体層、前記ソース領域及びドレイン領域の間の島状半導体層上に形成されたゲート絶縁膜及びゲート電極、前記ゲート電極の側壁に形成された、低温酸化膜、低温窒化膜及び低温酸化膜の３層構造のサイドウォールスペーサー、及び島状半導体層及びゲート電極を覆う層間絶縁膜を具備することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】ターンオフ時のソースドレイン電圧の跳ね上がりを抑えることができる半導体装置及びこの半導体装置を用いたＤＣ−ＤＣコンバータを提供する。
【解決手段】半導体装置１において、ＭＯＳＦＥＴ領域Ａ_{ＭＯＳＦＥＴ}にトレンチ１６を形成し、その内部にトレンチゲート電極１８を埋設する。また、キャパシタ領域Ａ_{Ｃａｐａｃｉｔｏｒ}にトレンチ２６を形成し、その内部にトレンチソース電極２８を埋設する。トレンチソース電極２８の形状はストライプ状であり、その長手方向の一部分を介して、ソース電極２１に接続されている。 （もっと読む）

【課題】メモリセルトランジスタ及びセレクトトランジスタともに良好な特性を有する優れた半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体基板１０上に設けられた第１の下層絶縁膜２０ａと、第１の下層絶縁膜上に設けられた第１の中間絶縁膜３０ａと、第１の中間絶縁膜上に設けられた第１の上層絶縁膜４０ａと、第１の上層絶縁膜上に設けられた第１のゲート電極５０ａと、を有するメモリセルトランジスタ１００ａと、半導体基板上に設けられた第２の下層絶縁膜２０ｂと、第２の下層絶縁膜上に設けられた第２の中間絶縁膜３２ｂと、第２の中間絶縁膜上に設けられた第２の上層絶縁膜４０ｂと、第２の上層絶縁膜上に設けられた第２のゲート電極５０ｂと、を有するセレクトトランジスタ１００ｂと、を備え、第２の中間絶縁膜３２ｂのトラップ密度は、第１の中間絶縁膜３０ａのトラップ密度よりも低い。 （もっと読む）

【課題】 優れたコンタクト特性及び優れた素子特性を持った薄膜半導体装置及びその製造方法を提供すること。
【解決手段】 透明絶縁性基板上に形成され、所定の間隔を隔てて不純物を含むソース領域ドレイン領域を有する島状半導体層、前記ソース領域及びドレイン領域の間の島状半導体層上に形成されたゲート絶縁膜、前記ゲート絶縁膜上に形成されたゲート電極、前記島状半導体層及びゲート電極を覆う層間絶縁膜、前記ソース領域及びドレイン領域にそれぞれ接続する、前記層間絶縁膜に形成されたコンタクト孔内にそれぞれ埋め込まれた不純物を含む多結晶半導体層、及び前記多結晶半導体層に接続する高融点金属層を含む配線層を具備し、前記多結晶半導体層と配線層の高融点金属層との間には、高融点金属と半導体との化合物からなる薄層が形成されていることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】コンタクトおよび配線形成時の合わせマージンがゼロであり、集積度を大幅に向上し、パターンレイアウトの自由度の拡大を可能とする薄膜半導体素子及びその製造方法を提供する。
【解決手段】透明絶縁性基板１０上に形成され、第１導電型の不純物を含むソース領域及びドレイン領域を有する島状半導体層、前記ソース領域及びドレイン領域の間の島状半導体層上に形成されたゲート絶縁膜及びゲート電極１８、前記ソース領域又はドレイン領域の表面に形成された高融点金属と半導体との化合物からなる層、前記島状半導体層及びゲート電極を覆う層間絶縁膜２９、及び前記ソース領域又はドレイン領域に接続された局所配線２８を具備し、前記局所配線２８は、前記ソース領域又はドレイン領域の表面に形成された前記化合物層と高融点金属層との２層構造、及び前記ソース領域又はドレイン領域の外側に形成された前記高融点金属層の延長からなることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 イオン注入時のチャネリングを防止することが可能な半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】 キャパシタを有する半導体装置の製造工程において、キャパシタの誘電膜となる絶縁膜とゲート電極上のチャネリング防止膜を同時に形成する。製造工程の簡略化および熱工程の削減が可能となる。 （もっと読む）

【課題】バックゲート電極を有するＭＯＳトランジスタのＳ／Ｄ層について、その抵抗を小さくすることができ、且つ、その寄生容量を低減できるようにした半導体装置の製造方法及び半導体装置を提供する。
【解決手段】Ｓｉ基板１上に形成されたＳｉ層６８と、Ｓｉ層６８上に絶縁膜２を介して形成されたＳｉ層３と、Ｓｉ層３を平面視で囲むようにＳｉ基板１上に形成された絶縁膜４とを有し、絶縁膜４が絶縁膜２よりも厚く形成されたＳＯＩ基板１０に、ＭＯＳトランジスタ５０を形成する方法であって、Ｓｉ層３上にゲート絶縁膜５を介してゲート電極６を形成する工程と、ゲート電極６の両側にＳ／Ｄ層２０を形成する工程と、を含み、Ｓ／Ｄ層２０を形成する工程は、ゲート電極６が形成される領域の両側に位置する端部領域のＳｉ層３に不純物層７を形成する工程と、不純物層７と接触する導電膜８を、不純物層７上から絶縁膜４上にかけて形成する工程と、を有する。 （もっと読む）

【課題】歪みの少ないゲート電極を有するＥＥＰＲＯＭやＮＡＮＤフラッシュメモリ等の半導体装置およびその製造方を提供する。
【解決手段】半導体基板１１と、半導体基板１１の主面に、第１ゲート絶縁膜１２を介して形成された第１ゲート電極１３と、第１ゲート電極１３上に第２ゲート絶縁膜１６を介して形成された第２ゲート電極１７と、第２ゲート電極１７上に形成されるとともに、中央部が外周部より厚く、且つ第２ゲート電極１７内に２段凸状に突出したシリサイド膜１８と、第１ゲート電極１３と、第２ゲート電極１７と、シリサイド膜１８の側壁にそれぞれ形成された酸化膜２１と、第１ゲート電極１３および第２ゲート電極１７を挟むようにゲート長方向に沿って形成されたソースドレイン不純物層１９と、を具備する。 （もっと読む）

【課題】半導体装置とその製造方法において、半導体基板に欠陥が入るのを防止することを目的とする。
【解決手段】素子分離溝２０ａにより活性領域ARが画定されたシリコン基板２０と、素子分離溝２０ａ内に形成された素子分離絶縁膜２３とを有し、素子分離絶縁膜２３の上面が、活性領域ARにおけるシリコン基板２０の上面よりも低い半導体装置による。 （もっと読む）

【課題】同一基板上に形成されたメモリセル、トランジスタ及び抵抗素子それぞれの特性を向上させる。
【解決手段】半導体記憶装置は、半導体基板１１と、半導体基板１１に設けられ、かつトンネル絶縁膜１５、電荷蓄積層１６、ブロック絶縁膜１７、制御ゲート電極１８が順に積層された積層ゲート構造１４を有するメモリセルＭＴと、半導体基板１１上にゲート絶縁膜２２を介して設けられたゲート電極２３を有するトランジスタＳＴと、半導体基板１１上に設けられ、かつ多結晶シリコンからなる抵抗素子２４とを具備する。制御ゲート電極１８は、全体がシリサイド層からなり、ゲート電極２３は、その上部の一部にシリサイド層を含む。 （もっと読む）

【課題】半導体装置の製造方法において、広範囲な材料組成のメタル層をエッチングして配線層等を形成する際の、エッチング時間の短縮化を図り、それによって加工精度の向上及びダメージの抑制を図ることが可能な新規な技術を提供する。
【解決方法】半導体装置の製造方法であって、半導体基材上に絶縁層を形成し、前記絶縁層上にメタル層を形成し、前記メタル層のエッチング除去すべき領域に対してイオン注入を施して少なくとも一部にイオン注入領域を形成した後、前記メタル層の、前記エッチング除去すべき領域に対してエッチング処理を施して除去する。 （もっと読む）

【課題】膜厚の異なる半導体層上においても、良好にゲート電極を形成可能な半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】絶縁体２上の膜厚の異なる半導体層３ａ，３ｂにそれぞれ形成された電界効果型トランジスタを有する半導体装置の製造方法である。まず、膜厚の異なる半導体層３ａ，３ｂを絶縁体上に形成する。そして、半導体層３ａ，３ｂ上にゲート絶縁膜５ａ，５ｂを形成し、ゲート絶縁膜５ａ，５ｂ上にゲート電極材料を積層する。パターニング時におけるフォトリソグラフィに影響を与えない膜厚を有する犠牲膜をゲート電極材料上に形成し、エッチングにより犠牲膜をパターニングするとともに、パターニングされた犠牲膜８ａをマスクに用いてゲート電極材料をパターニングしてゲート電極１１，１２を形成する。 （もっと読む）

【課題】高耐圧で微小化容易なＭＯＳトランジスタをより簡略化した工程で作製できる半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】半導体基板の第１導電型層表面にゲート絶縁膜を形成する工程、導電層形成予定領域近傍の両側に位置する第１導電型層に、第２導電型の不純物を注入し低濃度拡散層を形成する工程、不純物が注入されなかった第１導電型層表面および当該第１導電型層に隣接する一対の低濃度拡散層の一部の領域表面を被覆するように位置するゲート絶縁膜表面に導電層を形成する工程、一対の低濃度拡散層の導電層で被覆されていない領域に、ソース・ドレイン電極と接触を取るために第２導電型の不純物を注入し高濃度拡散層を形成する工程、低濃度拡散層上に位置する導電層の少なくともドレイン電極と接触を取るために設けられた高濃度拡散層側の領域を２つに分断するスリットを形成する工程を含む半導体装置製造方法。 （もっと読む）

【課題】ゲート電極起因の容量を低減し、かつ製造工程における熱酸化に起因する結晶欠陥の発生が抑制できる半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】第１導電型の半導体層と、前記第１導電型の半導体層の表面付近に形成された第２導電型の半導体領域と、前記第２導電型の半導体領域の上部に選択的に設けられた第１導電型の半導体領域と、前記第１導電型の半導体領域から前記第２導電型の半導体領域を貫通して前記第１導電型の半導体層に至るまで穿設されたトレンチと、前記トレンチの内壁に沿って設けられたゲート絶縁膜と、前記ゲート絶縁膜の内側空間に充填された導電体と、を備え、前記導電体は、前記トレンチ内で絶縁膜を挟んで分割された断面構造を有することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 ゲート電極とドレイン領域間のリーク電流の増加を抑制する。
【解決手段】 半導体基板上にゲート酸化膜を介してゲート電極を形成する工程と、ゲート電極に第１の不純物を注入し、ゲート電極をマスクとして半導体基板に第１の不純物を注入する第１の不純物注入工程と、第１の不純物を活性化させる第１の熱処理を行う工程と、ゲート電極のゲート絶縁膜から離間させた位置に第２の不純物を注入する第２の不純物注入工程と、第２の不純物を含有する領域を活性化する形成する第２の熱処置を行う工程と、を含み、第１の不純物はリンからなる。 （もっと読む）

【課題】ニッケルシリサイドを始め他の膜をエッチングすることなく、速やかに半導体装置に利用される側壁スペーサ等の薄膜を除去可能とする薄膜を提供すること。
【解決手段】半導体装置の製造過程で用いられる薄膜であって、薄膜は、ゲルマニウム、珪素、窒素、及び水素を含む。 （もっと読む）