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Fターム[4M104FF21]の内容

半導体の電極 (138,591) | 構造 (12,435) | コンタクトホールの孔埋め構造 (1,175)

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【課題】 カーボンナノチューブ束の密度を向上し、電気抵抗や熱抵抗の低減を図るカーボンナノチューブ構造体、半導体装置、および半導体パッケージを提供する。
【解決手段】 第1配線層21、層間絶縁膜22、第2配線層23が順次積層され、層間絶縁膜22を貫通するビアホール24に、第1配線層21と第2配線層23を電気的に接続するカーボンナノチューブ束25が形成されてなるビア26から構成する。カーボンナノチューブ束25は、第1配線層21の凹部28の側面および底面に形成された触媒層29から成長させ、側面から成長したカーボンナノチューブ25aによりカーボンナノチューブ束25の密度を向上する。 (もっと読む)


【課題】 配線上に良好なカーボンナノチューブを形成する。
【解決手段】 下層Cu配線1上にMoを堆積して接続層2を形成し、この接続層2上にCVD法を用いてカーボンナノチューブ6を成長させる。Moからなる接続層2を形成することにより、カーボンナノチューブ6を成長させるCVDの際に熱が加えられても、下層Cu配線1からのCuの熱拡散が抑制され、触媒金属5の活性低下が抑えられる。さらに、Moはカーボンナノチューブ6との間の接触抵抗が低いため、下層Cu配線1との低抵抗接続を確保しつつ、良好なカーボンナノチューブ6を形成することができる。 (もっと読む)


【課題】CVD法により良好な特性を有する下地層としてのチタン含有膜の形成方法の提供。
【解決手段】TDEATまたはTDMATなどの金属原料ガスと還元性ガスとを用いて、CVD法によりチタン含有膜を形成する。還元性ガスは、乖離してHラジカルや、Hイオンを放出することができるガスであり、例えばターシャリーブチルヒドラジン、NH、Hなどから選ばれたガスである。金属原料ガスと還元性ガスとの反応は、成膜速度が基板温度に依存する温度領域で行われる。 (もっと読む)


【課題】膜厚の異なる絶縁膜に対してテーパー形状を有するコンタクトホールを一定の底部幅で形成可能な半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】第1のレジスト13a及び第2のレジスト13bをマスクにして、第1の層間絶縁膜12a及び第2の層間絶縁膜12bをそれぞれ垂直にエッチングし、第1のコンタクトホール上部領域15a及び第2のコンタクトホール上部領域15bを形成する。このとき、第1の層間絶縁膜12aの残膜厚D2aと第2の層間絶縁膜12bの残膜厚D2bとが同じ膜厚になるようにする。その後、残存している第1の層間絶縁膜12a及び第2の層間絶縁膜12bをそれぞれテーパーエッチングし、第1のコンタクトホール下部領域16a及び第2のコンタクトホール下部領域16bを形成する。 (もっと読む)


【課題】CVD法により良好な特性を有する下地層としてのバナジウム含有膜の形成方法の提供。
【解決手段】TDEAVまたはTDMAVなどの金属原料ガスと還元性ガスとを用いて、CVD法によりバナジウム含有膜を形成する。還元性ガスは、乖離してHラジカルや、Hイオンを放出することができるガスであり、例えばターシャリーブチルヒドラジン、NH、Hなどから選ばれたガスである。金属原料ガスと還元性ガスとの反応は、成膜速度が基板温度に依存する温度領域で行われる。 (もっと読む)


本発明は、活性化剤溶液と銅シード表面上に銅をメッキするのを容易とするための銅シード面の活性化方法を目的とする。活性化剤溶液は、前駆体溶液を少なくとも約95℃に加熱し、そしてその温度に少なくとも約30分間維持することにより調製され、ここで、前駆体溶液は、水、塩化物イオン、錫(II)イオンおよび、錫(II)イオンの錫(IV)イオンへの酸化を実質的に防止する酸化防止剤からなる。 (もっと読む)


本発明は、半導体デバイス中に少なくとも1つのコンタクトを提供する方法およびシステムを提供する。半導体デバイスは、基板(201)、エッチング停止層(240)、このエッチング停止層(240)上にある層間絶縁膜(250)、層間絶縁膜(250)上にある反射防止(ARC)層(260)、およびエッチング停止層(240)より下にある少なくとも1つの構造を含んでいる。少なくとも1つのアパーチャを有しているとともに、このARC層(260)上にあるレジストマスクを提供する。このアパーチャは、ARC層(260)の露出した部分上方にある。この方法およびシステムは、エッチング停止層(240)を貫通してエッチングすることなく、露出したARC層(260)およびその下にある層間絶縁膜(250)をエッチングすることを含む。これにより、少なくとも1つのコンタクトホールの一部を提供する。この方法とシステムはまた、原位置でレジストマスクを除去し、少なくとも1つのコンタクトホールを原位置に提供すべく、コンタクトホールの一部において露出したエッチング停止層(240)の一部を除去し、コンタクトホールを導電材料で充てんすることを含む。
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【課題】 表示品位が高く、周辺回路とのコンタクト性に優れた液晶表示装置を構成するマトリックス基板およびその製造方法を実現する。
【解決手段】 複数の液晶セルを形成するためのマトリクス回路が形成されている液晶用マトリクス基板において、液晶パネルを組み立てるときに貼り合わせ面となる表面に島状に、第1の導電材からなる絵素電極12と、第2の導電材からなる端子電極13とを形成する。このとき、第1の導電材は、第2の導電材よりも透過性が高く、かつ、導電性が低いものを使用する。 (もっと読む)


【課題】不純物の除去力を向上させながらも、金属層の損傷を最小化することができる半導体基板洗浄用組成物を用いた半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】
半導体装置の製造方法において、半導体基板上に金属を含む構造物パターン形成し酸性水溶液78ないし99.98質量%、第1キレート剤0.01ないし11質量%を含む半導体基板洗浄用組成物を、半導体基板に適用して構造物パターンの不純物が覆っていない第1表面部位上に第1腐食抑制膜を形成し、構造物パターンの不純物が覆っている第2表面部位上の不純物を除去する。 (もっと読む)


【課題】 ランプアニールにより効果的に被処理膜を加熱処理するための方法を提供する。
【解決手段】 基板101の上面側からは紫外光ランプ104を用いて紫外光107が照射される。また、基板101の下面側からは赤外光ランプ108を用いて赤外光111が照射される。本発明では赤外光照射による振動励起効果に加えて紫外光照射による電子励起効果が付加されるため、被処理膜103の励起効率が大幅に高まり、効果的な加熱処理が可能となる。 (もっと読む)


【課題】 写真製版処理で解像可能な寸法より小さな寸法の積層物を半導体基板上に形成できる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】 この半導体装置の製造方法は、半導体基板3上に写真製版処理により所定の横幅W2の積層物11aを形成する工程と、積層物11a上に第1のマスク層13を形成し、この第1のマスク層13に、エッチングにより、積層物11aの前記横幅方向に直交する方向に渡って、前記積層物11aの前記横幅方向のその開口幅W4が第1のマスク層13の上面から下面に向かってテーパ状に狭まった開口部13dを形成する工程と、第1のマスク層13をマスクとして積層物11aを開口部13dの下面開口に沿って部分的にエッチング除去することにより、積層物11aを開口部13dの下面開口に沿って分割積層物11に分割する工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】 金属配線の微細化とエレクトロマイグレーションの抑制との両立を図ることができる多層配線構造を工程数の増加を招くことなく実現する。
【解決手段】 第1の金属配線13の一端部13aと第2の金属配線15の一端部15aとは第1のプラグ16を介して接続されており、第1の金属配線13の他端部13bと第3の金属配線17の一端部17aとは第2のプラグ18を介して接続されている。第1、第2及び第3の金属配線13、15、17の配線幅は、互いに等しいと共に第1及び第2のプラグ16、18の径ともほぼ等しい。第1の金属配線13の他端部13bの配線幅は、第1の金属配線13の一端部13a及び第3の金属配線17の一端部17aの配線幅よりも大きい。第2の金属配線15の一端部15aの配線幅は第1の金属配線13の一端部13aの配線幅よりも大きい。 (もっと読む)


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