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Fターム[4M119AA11]の内容

MRAM・スピンメモリ技術 (17,699) | 目的 (2,141) | 高集積化,微細化 (354)

Fターム[4M119AA11]に分類される特許

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【課題】記憶素子に充分な電流を流すことができるようにセルトランジスタの電流駆動能力を充分に確保しつつ、ユニットセルのレイアウト面積が従来よりも小さい半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】本実施形態による半導体記憶装置は、半導体基板と、半導体基板に形成されたアクティブエリアを備える。複数のセルトランジスタがアクティブエリアに形成されている。第1のビット線および第2のビット線は、互いに対をなす。複数のワード線は第1および第2のビット線と交差する。複数の記憶素子の一端がセルトランジスタのソースまたはドレインに電気的に接続され、他端が第1または第2のビット線に接続されている。第1および第2のビット線は、両方とも同一のアクティブエリアに対して記憶素子を介して接続されている。 (もっと読む)


【課題】MTJ素子にデータを書き込むために充分に大きな電流を駆動することができるセルトランジスタを備え、かつ、容易に製造可能なメモリを提供する。
【解決手段】本実施形態によるメモリはアクティブエリアを備え、セルトランジスタはアクティブエリアに形成されている。MTJ素子の一端がセルトランジスタのソース/ドレインの一方に電気的に接続されている。第1のビット線は、セルトランジスタのソース/ドレインの他方に電気的に接続されている。第2のビット線は、MTJ素子の他端に電気的に接続されている。ワード線は、セルトランジスタのゲートに電気的に接続され、あるいは、セルトランジスタのゲートとして機能する。1つの第1のビット線に対して複数の第2のビット線が対応している。MTJ素子が同一のワード線および同一のアクティブエリアを共有している。アクティブエリアは、第1および第2のビット線の延伸方向に連続して形成されている。 (もっと読む)


【課題】トレンチを均一に形成することができる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態に係る半導体装置の製造方法は、第1の材料からなる第1部分及び前記第1の材料とは異なる第2の材料からなる第2部分を含む被加工基材上に、前記第1部分の直上域に配置され第3の材料からなる第3部分及び前記第2部分の直上域に配置され前記第3の材料とは異なる第4の材料からなる第4部分を含み、前記第3部分及び前記第4部分の双方に開口部が形成されたマスク膜を形成する工程と、前記マスク膜をマスクとして、前記第4の材料のエッチングレートが前記第3の材料のエッチングレートよりも高く、前記第1の材料のエッチングレートが前記第2の材料のエッチングレートよりも高くなるような条件でエッチングを施すことにより、前記第1部分及び前記第2部分をそれぞれ選択的に除去する工程と、を備える。 (もっと読む)


【課題】外部放射線に対し耐性を有し、誤動作なく安定した動作する信頼性の高い記憶素子の提供。
【解決手段】記憶素子は、情報を磁性体の磁化状態により保持する記憶層と、記憶層に記憶された情報の基準となる磁化を有する磁化固定層と、記憶層と上記磁化固定層の間に設けられる非磁性体による中間層とを有する。そして記憶層、中間層、磁化固定層を有する層構造の積層方向に流れる電流に伴って発生するスピントルク磁化反転を利用して記憶層の磁化を反転させることにより情報の記憶を行うとともに、記憶層は、Bを含有する強磁性層を含み、Bにふくまれる10Bの同位体比率が、自然界における19.9%よりも低くなっている。 (もっと読む)


【課題】
2データビットより多いデータビットをMRAMセルに対して書き込み読み出すための方法であって、当該MRAMセルは、読み出し磁化方向を呈する読み出し層と、第1記憶磁化方向を呈する第1記憶強磁性層と第2記憶磁化方向を呈する第2記憶強磁性層と から成る記憶層とから形成された磁気トンネル接合から構成される。
【解決手段】
本発明の方法は、前記磁気トンネル接合を高温閾値より上で加熱するステップと前記第1記憶磁化方向を前記第2磁化方向に対して或る角度で指向させるステップとを有する。その結果、前記磁気トンネル接合が、読み出し磁化方向の方向に対する前記第1記憶磁化方向の方向によって決定される1つの抵抗状態レベルに到達する。書き込み領域を発生させるためのただ1つの電流線を使用することで、当該方法は、異なる少なくとも4つの状態レベルをMRAMセル内に記憶することを可能にする。 (もっと読む)


【課題】書き込み電流(反転電流)および熱安定性のばらつきを抑制し、安定して動作する、信頼性の高い記憶素子の提供。
【解決手段】記憶素子は、情報を磁性体の面内磁化状態により保持する記憶層と、該記憶層に記憶された情報の基準となる磁化を有する磁化固定層と、記憶層と磁化固定層の間に設けられる非磁性体による中間層とを有する。
そして記憶層、中間層、磁化固定層を有する層構造の積層方向に流れる電流に伴って発生するスピントルク磁化反転を利用して上記記憶層の磁化を反転させることにより情報の記憶を行うとともに記憶層の困難軸方向の異方性磁界が、垂直方向の異方性磁界よりも小さくなっている。 (もっと読む)


【課題】面積の増大を抑えつつ、シリコン膜を用いて所望の特性を有する抵抗素子を形成することが可能な半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板1上に延在するゲート積層構造膜100a上およびゲート側壁絶縁膜7上にレジスト膜を選択的に形成する。レジスト膜をマスクとして、メタル膜の表面が露出するように、ゲート側壁絶縁膜の上部およびハードマスク膜を、エッチングにより選択的に除去する。抵抗素子領域1000において、メタル膜の露出した表面から、ハードマスク膜が残存するシリコン膜上の領域まで、メタル膜およびメタル膜に繋がるバリアメタル膜を、ウエットエッチングにより除去した後、レジスト膜を除去する。レジスト膜を除去した後、残存するハードマスク膜の上面よりも上の高さまで、埋め込み絶縁膜を成膜する。埋め込み絶縁膜の上部を、残存するハードマスク膜をストッパとして、CMP法により平坦化する。 (もっと読む)


【課題】垂直磁化を有するスピントルク型磁気メモリにおいて、垂直磁気異方性を強化し、高い情報保持特性を実現させる。
【解決手段】記憶素子は、膜面に対して垂直な磁化を有し、情報を磁性体の磁化状態により保持する記憶層17と、記憶層17に記憶された情報の基準となる、膜面に対して垂直な磁化を有する磁化固定層15と、記憶層17と磁化固定層15の間に設けられる非磁性体による中間層16とによるMTJ構造を持つものとする。この場合に、中間層16と反対側で記憶層17に隣接する、2層以上の酸化物で形成されたキャップ層18を設けるようにする。 (もっと読む)


【課題】高い熱揺らぎ耐性を確保しつつ、スイッチング電流を低減するも、記憶保持特性を向上させ、更なる高速動作化及び高集積化を可能する信頼性の高い磁気抵抗素子及び磁気記憶装置を提供する。
【解決手段】反強磁性層51及び積層フェリー固定層50と、トンネルバリア層2と、非磁性層4を間に挟持した第1の磁性層3と第2の磁性層5とを有する積層磁化自由層11とを有してMTJ10が構成されており、MTJ10は、その周縁において、当該MTJ10の面内磁化容易軸の方向と垂直となる方向に一対の溝10a,10bが形成されている。 (もっと読む)


【課題】抵抗変化を利用したマルチレベルのデータをセンシングする非揮発性メモリ装置において、読出し動作の回数を減らし、読出し動作の制御に係わる回路の面積を縮小する。
【解決手段】非揮発性メモリ装置は、1つ以上の単位セルを含んでデータの読出し又は書込みが行なわれるセルアレイと、単位セルに格納されたデータに対応するセンシング電圧SAIと基準電圧REFを比較及び増幅して出力し、ビットラインがプリチャージされた以後にセンシングイネーブル信号SENの活性化区間で、単位セルの抵抗値に応じてセンシング電圧がディスチャージされる時間の差を測定し、データをセンシングするセンシング部100とを含む。 (もっと読む)


【課題】スピントルク型磁気メモリにおいて、異方性エネルギーを大きくし、微細化しても十分な熱揺らぎ耐性を有するようにする。
【解決手段】記憶素子は、膜面に対して垂直な磁化を有し、情報を磁性体の磁化状態により保持する記憶層と、記憶層に記憶された情報の基準となる、膜面に対して垂直な磁化を有する磁化固定層と、上記記憶層と上記磁化固定層の間に設けられる非磁性体による中間層とにより、MTJ構造を持つ。これに加え、記憶層に隣接する、Cr、Ru、W、Si、Mnの少なくとも一つからなる保磁力強化層と、保磁力強化層に隣接する酸化物によるスピンバリア層を設ける。 (もっと読む)


【課題】高い信頼性で書き込み・消去・読み出しが可能な低コストの半導体不揮発性記憶装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態の半導体不揮発性記憶装置は、基体Sと、第1の電極2と、機能膜10と、第2の電極50と、を持つ。前記第1の電極2は、前記基体S上に設けられる。前記機能膜10は、前記第1の電極2上に成膜されて記憶媒体をなす。前記第2の電極50は、上面に凸の曲面を有するように、前記機能膜10上または前記機能膜10内に設けられる。 (もっと読む)


【課題】セルトランジスタの電流駆動能力の劣化を抑制し、メモリセルごとの信号のばらつきを抑制し、かつ、微細化された半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】メモリは、MTJを備える。アクティブエリアは、セルトランジスタごとに分離されており、セルトランジスタのゲートの延伸方向に対してほぼ直交する第1の方向に延伸している。アクティブエリアは、第1の方向に配列されてアクティブエリア列を構成している。第2の方向に隣接する2つのアクティブエリア列は、第1の方向に半ピッチずつずれて配置されている。アクティブエリアの表面上方から見たときに、MTJは各アクティブエリアの一端に重複するように配置されている。第1および第2の配線は、互いに隣接するアクティブエリア列のMTJに交互に重複するように第1および第2の方向に対して傾斜する方向に折り返しながら延伸している。 (もっと読む)


【課題】 セル面積を縮小させつつ、コストの増大を抑制する。
【解決手段】 実施形態による磁気ランダムアクセスメモリは、第1の方向Xに所定のピッチ2Fを有して配置され、第1の方向と直交する第2の方向Yに延在された第1及び第2のゲート電極GC1、GC2と、第1及び第2のゲート電極間の上方に配置された磁気抵抗素子MTJaと、磁気抵抗素子より高い位置に配置され、磁気抵抗素子と第1の方向にピッチの半分の距離Fを有して配置された電極層UE2と、電極層より高い位置に配置され、第1の方向に延在された配線M1と、磁気抵抗素子と配線との接続及び電極層と配線との接続を1つの導電層で行うビアV1Yと、を具備する。 (もっと読む)


【課題】TMR素子間の特性のばらつきを低減でき、かつ製造歩留まりの高い不揮発性磁気メモリの製造方法およびその構造を提供する。
【解決手段】TMR素子を含む磁気記憶装置の製造方法が、配線層が設けられた層間絶縁膜の上に、絶縁膜を形成する工程と、絶縁膜に、配線層が露出するように開口部を形成する開口工程と、開口部を埋めるように、絶縁膜上に金属層を形成する金属層形成工程と、CMP法を用いて絶縁膜上の金属層を研磨除去し、開口部内に残った金属層を下部電極とするCMP工程と、下部電極上にTMR素子を形成する工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】書込電流を増大させることなく、高い保持力を有し熱安定性を改善することができる記憶素子の提供。
【解決手段】記憶素子は、情報を磁性体の磁化状態により保持する記憶層と、記憶層に記憶された情報の基準となる磁化を有する磁化固定層と、記憶層と磁化固定層の間に設けられる非磁性体による中間層と、記憶層に隣接し中間層と反対側に設けられるキャップ層と、キャップ層に隣接し記憶層と反対側に設けられる金属キャップ層を有する。そして記憶層、中間層、磁化固定層を有する層構造の積層方向に流れる電流に伴って発生するスピントルク磁化反転を利用して記憶層の磁化を反転させることにより情報の記憶を行う。そして中間層とキャップ層は酸化物であり、金属キャップ層はPdもしくはPtで構成されているものとする。 (もっと読む)


【課題】簡便な半導体装置の評価試験を実現する。
【解決手段】半導体装置10は、それぞれ内部信号MAを生成する第1及び第2のコアチップCC0,CC1を備え、第1及び第2のコアチップCC0,CC1のそれぞれに、貫通電極を介して他方のコアチップとスパイラル接続された第2及び第3のノードN,Nを設け、この第2及び第3のノードN,Nを介して、観測対象の内部信号MAを外部に出力することを技術思想とするものである。こうして出力される複数の内部信号MAを外部のテスター等によって観測することで、各コアチップの評価試験を並列に行える。 (もっと読む)


【課題】ビアの形成が容易で抵抗が低い集積回路装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】相互に平行に配列された複数本の配線14a、14bと、各配線に接続されたビア16とを備える。配線におけるビアが接続された部分には、配列の方向に延出した凸部31が形成されており、配線における凸部が形成された部分から離隔した部分には、配列の方向に後退した凹部32が形成されている。隣り合う2本の配線において、一方の配線に形成された凸部と他方の配線に形成された凹部とは相互に対向している。各配線において、凹部が形成された部分はその両側の部分から切込33で分断されており、凸部が形成された部分からも分断されている。 (もっと読む)


【課題】本発明の技術的な課題は、共通ソースラインを含む磁気メモリ装置に対してビットラインへ記録電流を供給することができるライトドライバー回路を提供すること、集積度が向上された磁気メモリ装置を提供すること、及び、共通ソースラインを有する磁気メモリ装置のレイアウト構造を提供することにある。
【解決手段】ビットラインとソースラインとの間に接続され、前記ビットライン方向に隣接する一対の磁気メモリセルが前記ソースラインを共有する複数の磁気メモリセルよりなるメモリセルアレイを有する磁気メモリ装置のためのライトドライバー回路であり、正の記録電圧の供給端子と副の記録電圧の供給端子との間に接続されて、ライトイネーブル信号及びデータ信号によって前記正の記録電圧または前記副の記録電圧による電流を前記ビットラインに選択的に供給するスイチング部を備える磁気メモリ装置を提供する。 (もっと読む)


【課題】 メモリセルの微細化を図りつつ、セル電流を確保する。
【解決手段】 実施形態による半導体記憶装置は、ゲート溝15と第1乃至第3の溝19a、19b、18とを有し、第1乃至第3の溝はゲート溝の底面に形成され、第3の溝は第1及び第2の溝の間に形成された半導体基板11と、第1の溝内形成された第1のゲート部21aと第2の溝内形成された第2のゲート部21bと第3の溝内形成された第3のゲート部21cとゲート溝内に形成された第4のゲート部21dとを有するゲート電極21と、を具備する。ゲート電極を有するセルトランジスタTrは、第1及び第3のゲート部間の半導体基板内に形成された第1のチャネル領域Ch1と、第2及び第3のゲート部間の半導体基板内に形成された第2のチャネル領域Ch2と、を有する。 (もっと読む)


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