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Fターム[5F033JJ21]の内容

Fターム[5F033JJ21]に分類される特許

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【課題】貫通孔内に形成された導電層に加わる応力を抑制できるとともに、導電層からの効果的な放熱も促すことができる貫通配線基板、及びこの貫通配線基板の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板11(基板)の一方の面11aに配された電極層12と、電極層12の少なくとも一部が露呈するように半導体基板11内に開けられた貫通孔20と、貫通孔20の内側面20aを覆い、電極層12の少なくとも一部が露呈するように配された第一絶縁層15と、第一絶縁層15を介して、貫通孔20の内側面20a及び電極層12の露呈部を覆うように配され、電極層12と電気的に接続された導電層5と、導電層5を覆うように配された第二絶縁層16と、を少なくとも備えてなる貫通配線基板10であって、第二絶縁層16は、導電層5の表面形状に沿って形成されていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】シリコン・オン・インシュレータ(SOI)基板の層内に配置された複数のトランジスタ、および層の第1の側の上に配置されたベース酸化物層を含むSOI基板を備えた集積回路を提供すること。
【解決手段】集積回路はまた、層の第1の側に形成された第1のインターコネクトを含むことができ、第1のインターコネクトが、複数のトランジスタのうちの第1のトランジスタと複数のトランジスタのうちの第2のトランジスタとを電気的に接続することができる。加えて、集積回路は、層の第1の側とは反対の層の第2の側に形成された第2のインターコネクトを含み、第2のインターコネクトが、複数のトランジスタのうちの第3のトランジスタと複数のトランジスタのうちの第4のトランジスタとを電気的に接続する。 (もっと読む)


【課題】層間絶縁膜のエッチングの際に半導体層がエッチングされることによるコンタク
ト抵抗の増大を防ぎ、書き込み特性及び電荷保持特性に優れた不揮発性半導体記憶装置及
びその作製方法を提供する。
【解決手段】ソース領域又はドレイン領域とソース配線又はドレイン配線との間に導電層
を設ける。また、該導電層は、制御ゲート電極を形成する導電層と同じ導電層からなる。
また、該導電層を覆うように絶縁膜が設けられており、該絶縁膜は該導電層の一部が露出
するコンタクトホールを有する。また、該ソース配線又はドレイン配線は、該コンタクト
ホールを埋めるように形成されている。 (もっと読む)


【課題】薄膜回路の下方に外部と接続するための電極を容易に形成できる薄膜回路部品の
構造及び薄膜回路部品の作製方法を提供することを課題とする。
【解決手段】第1の絶縁膜と、第1の絶縁膜の一方の面上に形成された薄膜回路と、薄膜
回路上に形成された第2の絶縁膜と、第2の絶縁膜上に形成された電極と、電極上に形成
された樹脂膜とを有する積層物を形成し、積層物の第1の絶縁膜の他方の面側に、電極と
重なるように導電膜を形成し、導電膜にレーザーを照射する。 (もっと読む)


【課題】裏面照射(BSI)型イメージセンサチップのパッド構造を提供する。
【解決手段】前面及び背面を含む半導体基板、前記半導体基板の前記前面に配置される低k誘電体層、前記低k誘電体層に配置される非低k誘電体層、前記非低k誘電体層に配置される金属パッド、前記半導体基板の背面から延伸し、前記半導体基板、前記低k誘電体層、及び低k誘電体層を貫通し、前記金属パッドの表面を露出する開口、及び前記開口の側壁及び底部上に形成され、前記開口の底部は、前記金属パッドの前記露出された表面を部分的に覆う保護層を含む集積回路構造。 (もっと読む)


【課題】インダクタの下方の層間絶縁膜への水の浸入を抑制し、かつ、インダクタ性能の低下を抑制する。
【解決手段】半導体装置は、半導体基板と、前記半導体基板上に設けられた層間絶縁膜と、前記層間絶縁膜の上部に設けられたインダクタと、前記半導体基板上に設けられ、前記インダクタの下方の前記層間絶縁膜を前記半導体基板の平面方向で囲む第一の金属壁と、前記半導体基板上に設けられ、前記第一の金属壁で囲まれた領域の外側の前記層間絶縁膜を前記半導体基板の平面方向で挟む一対の第二の金属壁と、を備え、前記第一の金属壁は、前記第一の金属壁の両端部を非接触の状態とする開口を有し、前記第二の金属壁は、前記第一の金属壁の両端部にそれぞれの一端を連結するとともに、前記第一の金属壁で囲まれた領域の外側の位置に開口を有する。 (もっと読む)


【課題】半導体層を用いた素子を配線層間に形成し、かつ、ゲート電極の材料を、配線の材料以外の導電体にする。
【解決手段】第1配線層150の表層には、第1配線210が埋め込まれている。第1配線210上には、ゲート電極218が形成されている。ゲート電極218は、第1配線210に接続している。ゲート電極218は、第1配線210とは別工程で形成されている。このため、ゲート電極218を第1配線210とは別の材料で形成することができる。そしてゲート電極218上には、ゲート絶縁膜219及び半導体層220が形成されている。 (もっと読む)


【課題】基板を貼り合わせて電極接合を行う半導体素子において、電極の腐食を防ぐ半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】第1接合部40と第2接合部60とが電極形成面を対向させて接合された半導体装置において、第1接合部40の絶縁層51と、絶縁層51の表面に形成された接合電極41と、絶縁層51表面に形成され、絶縁層51を介して接合電極41の周囲を囲む保護層44とを備える。さらに第2接合部60の絶縁層71と、絶縁層71の表面に形成された接合電極61と、絶縁層71表面に形成され、絶縁層71を介して接合電極61の周囲を囲む保護層64とを備える。 (もっと読む)


【課題】有機化合物ガスによる基板処理を清浄に行うことが可能となる金属付着物の除去方法および基板処理装置を提供する。
【解決手段】金属付着物の除去方法は、金属層が形成された被処理基板を処理する処理空間を内部に有する処理容器の内部に付着した金属付着物を昇華させるように、前記処理容器内部の温度と、前記処理空間の圧力とを、制御する。 (もっと読む)


【課題】被蒸着膜を高精細なパターンで形成することが可能な蒸着用マスクを提供する。
【解決手段】蒸着用マスクは、1または複数の第1開口部を有する基板と、この基板の一主面側に設けられると共に、各第1開口部と対向して1または複数の第2開口部を有する高分子膜とを備える。蒸着の際には、蒸着材料が第1開口部および第2開口部を順に通過することにより、第2開口部に対応した所定のパターンで被蒸着膜が形成される。基板と高分子膜とを組み合わせて用いることにより、機械的強度を保持しつつも、金属膜のみで構成されている場合に比べ、第2開口部において微細かつ高精度な開口形状を実現できる。 (もっと読む)


【課題】 より信頼性の高い接合界面を有する半導体装置を提供する。
【解決手段】 半導体装置1を、接合界面Sj側の表面に形成された第1金属膜16を有する第1半導体部10と、接合界面Sjで第1金属膜16と接合された第2金属膜26を有する第2半導体部20と、界面バリア部28とを備える構成とする。第2金属膜26の接合界面Sj側の表面面積は第1金属膜16の接合界面Sj側の表面面積より小さくする。そして、第1金属膜16の接合界面Sj側の面領域のうち第2金属膜26と接合しない面領域を含む領域に界面バリア部28を設ける。 (もっと読む)


【課題】2枚の基板の貼り合わせによって電極間接合がなされた構成において、電極材料の拡散を防止しつつも貼り合わせ強度が確保され、これによって信頼性の向上が図られた三次元構造の半導体装置を提供する。
【解決手段】第1電極33、および第1電極33の拡散防止材料で構成され第1電極33の周囲を覆う第1絶縁膜35を含むと共に、第1電極33と第1絶縁膜35とで貼合せ面41が構成された第1基板2と、第1基板2に貼り合わせて設けられ、第1電極33に接合された第2電極67、および第2電極67の拡散防止材料で構成され第2電極67の周囲を覆う第2絶縁膜69を含むと共に、第2電極67と第2絶縁膜69とで第1基板2に対する貼合せ面71が構成された第2基板7とを備えた。 (もっと読む)


【課題】シリコン基板表面に到達する深い溝部であっても、所望の保護溝部形成を安定して行うことができる半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置は、活性素子が形成された素子領域を有する基板と、前記基板上に形成され、多層配線構造を含む積層体と、前記積層体中に、前記素子領域を囲んで連続的に延在する耐湿リングと、前記積層体中、前記耐湿リングの外側に、前記耐湿リングに沿って連続的に、前記基板の表面に達して形成された保護溝部と、前記積層体上に形成され、前記保護溝部の外縁に沿って延在する第1のマスクパターンと、前記積層体上に形成され、前記保護溝部の内縁に沿って延在する第2の金属マスクパターンと、を有する。 (もっと読む)


【課題】前記半導体装置をスクライブ工程により切り離す際に、クラックが歪みを蓄積した保護膜を伝播して半導体装置内部に侵入するのを抑制し、半導体装置の製造歩留まりを向上させる。
【解決手段】半導体装置は、活性素子が形成された素子領域を有する基板と、前記基板上に形成され、多層配線構造を含む積層体と、前記積層体中に、前記素子領域を囲んで連続的に延在する耐湿リングと、前記積層体中、前記耐湿リングの外側に、前記耐湿リングに沿って連続的に、前記基板の表面に達して形成された保護溝部と、前記保護溝部の底面の一部及び前記保護溝部の内側の側壁面に連続して形成された保護膜と、を有する。 (もっと読む)


【課題】銅めっき工程の電極に用いるCu堆積膜による貫通孔開口の閉塞状態を適切に制御できる成膜装置を提供する。
【解決手段】成膜装置100は、貫通孔が形成された基板34Bおよび銅放出源35Bを格納する真空チャンバ30と、真空チャンバ30内を所定の真空度に減圧する真空ポンプ36と、基板34Bに印加する電力を発生する電源80と、基板34Bおよび銅放出源35B間の距離の設定に用いる駆動機構と、を備える。銅放出源35Bから放出された銅材料を基板34Bの一方の主面に堆積させ、主面における貫通孔の開口を銅材料からなる堆積膜によって閉塞させるとき、堆積膜による開口の閉塞状態が、上記距離および上記電力に基づいて調整される。 (もっと読む)


【課題】 絶縁膜に、底面及び側面の形状を良好に保って配線溝を形成する技術が望まれている。
【解決手段】 基板の上に、仮のパターンを形成する。仮のパターンを囲むように、基板の上に層間絶縁膜を形成する。層間絶縁膜を形成した後、仮のパターンを除去する。仮のパターンが除去されることによって現れた凹部の側面及び底面に、第1のバリア膜及びシード膜を形成する。シード膜の上に、配線材料を堆積させることにより、凹部を配線材料で埋め込む。 (もっと読む)


【課題】装置の信頼性や、製品の歩留まりなどを向上させる。
【解決手段】第1の開口と第2の開口との内部に金属材料を埋め込んで第1プラグと第2プラグとを設けると共に、第1プラグと第2プラグとの間を接続する接続配線を設けることで、接続導電層を形成する。そして、接続導電層において接続配線の上面を被覆するようにパッシベーション膜を形成する。このパッシベーション膜の形成工程では、高密度プラズマCVD法などのように埋め込み性に優れた成膜法で、SiOなどの絶縁膜を成膜することによって、パッシベーション膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】大電流を流す第1ビアおよび第1配線を有し、且つ、当該第1ビアおよび第1配線が形成された第1面が平坦な半導体装置を提供する。
【解決手段】第1基板100と、第1基板100の第1面側から、当該第1基板100を貫通する第1ビア420と、第1基板100の第1面に埋設され、少なくとも一つ以上の第1ビア420の一端と接続する第1配線440と、を備えている。また、第1ビア420は、当該第1ビア420の側面と当該第1ビア420の底面とのなす角θが、第1配線440の側面と第1配線440の底面とのなす角θより大きい傾斜部を有している。 (もっと読む)


【課題】ボンディングパッド構造を有する裏面照射型センサーとその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明は半導体構造を提供する。半導体構造は、正面と背面を有する装置基板;装置基板の正面上に設置される相互接続構造;および、相互接続構造に接続されるボンディングパッドを含む。ボンディングパッドは、誘電材料層中の凹部領域;凹部領域間に挿入される誘電材料層の誘電体メサ; および、凹部領域中と誘電体メサ上に設置される金属層を含む。 (もっと読む)


【課題】多層配線内の信号線とそれに接続されるビアとを共に同軸構造にする。
【解決手段】多層配線には、例えば、異なる層に設けられる信号線10,20と、これらの信号線10,20間を接続する接続部30(ビア)が設けられる。信号線10,20は、配線層及び配線層間を接続する接続層で囲み、同軸構造とする。更に、信号線10,20間を接続する接続部30も、配線層及び配線層間を接続する接続層で囲み、同軸構造とする。信号線10,20のほか接続部30も同軸構造とすることで、信号線10,20及び接続部30を伝送される信号の、周囲からの、又は周囲への、電磁気的な影響が効果的に抑制されるようになる。 (もっと読む)


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