【課題】メタル材をハードマスクにして絶縁膜をエッチングする際の加工ダメージを抑制する半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の一態様の半導体装置の製造方法は、基体上に絶縁膜を形成する工程Ｓ１０４と、絶縁膜上に、金属含有膜を形成する工程Ｓ１０８と、金属含有膜上に、Ｓｉ及びＣを含有するか又はＮ及びＣを含有する炭素含有膜を形成する工程Ｓ１１０と、炭素含有膜を選択的にエッチングする工程Ｓ１１８と、エッチングにより形成された開口部が転写されるように金属含有膜を選択的にエッチングする工程Ｓ１２６と、炭素含有膜の開口部とは異なる表面が露出した状態で、炭素含有膜と金属含有膜とをマスクとして絶縁膜をエッチングする工程Ｓ１２８と、を備えたことを特徴とする。 （もっと読む）

集積回路のための相互接続構造体に、銅線の核形成、成長及び接着を促進する窒化コバルトの層が組み込まれる。銅の拡散バリヤーとして機能し、かつ窒化コバルトと下地の絶縁体の間の接着性も増加させる、窒化タングステン又は窒化タンタルなどの耐熱性の金属窒化物又は金属炭化物層上に窒化コバルトを堆積してよい。窒化コバルトは、新規なコバルトアミジナート前駆体からの化学気相成長により形成され得る。窒化コバルト上に堆積された銅層は、高い電気伝導度を示し、マイクロエレクトロニクスにおける銅伝導体の電気化学的な堆積のための種層として機能できる。 （もっと読む）

【課題】複数層の埋め込み配線を有する半導体集積回路装置において、埋め込み配線と底部にて接続するプラグとその埋め込み配線との界面でのストレスマイグレーションによる導通不良を防ぐ。
【解決手段】たとえば、Ｃｕ配線３３Ｗの幅が約０．９μｍ以上かつ約１．４４μｍ未満であり、Ｃｕ配線４３の幅およびプラグ４３Ｐの径が約０．１８μｍである場合において、Ｃｕ配線３３Ｗ上にてＣｕ配線３３ＷとＣｕ配線４３とを電気的に接続するプラグ４３Ｐを２個以上配置する。 （もっと読む）

【課題】Ｃｕ配線パターンの表面に自己形成されるＭｎ酸化物膜よりなるバリア膜を有する多層配線構造において、配線の寿命を向上させる。
【解決手段】Ｃｕ−Ｍｎ合金層を側壁に形成したＣｕ配線パターンの表面に、炭素および酸素源となる炭素含有膜を接触させ、熱処理により、前記Ｃｕ−Ｍｎ合金層中のＭｎ原子と前記炭素源からの炭素原子と酸素原子を反応させ、炭素を含むＭｎ酸化物膜をバリア膜として形成する。 （もっと読む）

【課題】電気ヒューズを切断する際のショートを防ぐことができる。
【解決手段】半導体装置１００は、半導体基板（不図示）上に形成され、それぞれ異なる層に形成された第１の配線１２２と、第２の配線１３４と、第１の配線１２２と第２の配線１３４の間の層に設けられ、第２の配線１３４の一端部分に接続されるとともに第１の配線１２２に接続されたビア１２８とを含む電気ヒューズ２００と、第２の配線１３４と同層に形成され、第２の配線１３４の一端部分の周囲を取り囲むように形成されたガード配線部１６０とを含む。平面視において、第２の配線１３４は、他端から一端部分の方向に延在して形成され、ガード配線部１６０は、第２の配線１３４の一端部分を中心として、当該一端部分の周囲三方を取り囲むように形成される。 （もっと読む）

【課題】極めて微細な孔又は溝内に銅を埋め込むことができる、新たな銅配線の製造方法を提供する。
【解決手段】１価の銅イオンと錯体を形成し、１価の銅イオンとの錯化定数が１×１０³より高い値を示し、且つ使用環境下において１価の銅イオンと形成する錯体の溶解度が０．５ｇ／Ｌ以上の銅錯化剤、若しくは、１価の銅イオンと錯体を形成し、１価の銅イオンとの錯化定数が１×１０³より高い値を示し、且つ２価の銅イオンとの錯化定数が１×１０²⁰以下の値を示す銅錯化剤を１ｗｔ％以上と、水を１ｗｔ％以上と、銅成分とを含む電解液を強制攪拌しながら、被めっき体における配線接続孔又は配線溝内に銅を電気めっきする工程を備えた銅配線の製造方法によれば、攪拌の程度を調整することにより、微細孔への銅の埋め込み率を調整することができ、微細孔への銅の埋め込み率をより一層高めることができる。 （もっと読む）

【課題】エッチ処理に高アスペクト比を適用するための異方性特徴部を形成する方法を提供する。本願に記載の本方法は高アスペクト比の特徴部のプロファイルと寸法の制御を円滑に行い、有利である。
【解決手段】一実施形態において、基板上で誘電体層を異方性エッチングする方法は、誘電体層上にパターンマスク層が配置された基板をエッチチャンバ内に配置し、少なくともフッ素・炭素含有ガスとケイ素・フッ素ガスを含むガス混合物をエッチチャンバに供給し、ガス混合物から形成したプラズマの存在下で誘電体層に特徴部をエッチングすることを含む。 （もっと読む）

【課題】Ｗを材料とする接続部の下地膜の形成工程として、形成容易なプロセスを選択することができ、下層のＣｕ配線である第１の配線のＣｕの浸食を抑制することにより、第１の配線と接続部との間における接触抵抗を低く抑えるとともにその均一性を高め、信頼性の高い半導体装置を実現する。
【解決手段】熱ＣＶＤ法によりＷＦ₆、Ｈ₂及びＢ₂Ｈ₆を含有し、シラン系ガスを含有しない第１の供給ガスを用いてＷ膜１８ａを形成した後、ＷＦ₆及びＨ₂を含有する第２の供給ガスを用いてＷ膜１８ｂを形成し、ＣＭＰを経て、ビア孔１６をＷ膜１８で充填するＷプラグ１９を形成する。 （もっと読む）

【課題】実効的な低配線間容量を維持しつつ、高密着性かつ高い配線間絶縁信頼性を有する多層配線の形成方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る多層配線の形成方法は、シロキサン構造を含むビア層間絶縁膜４３及び配線層間絶縁膜４４を金属配線４１ａ上に形成する第一の工程（図１［１］）と、ビア層間絶縁膜４３及び配線層間絶縁膜４４の一部に金属配線４１ａに達する凹部としてのデュアルダマシン溝４８を形成する第二の工程（図１［２］〜図２［２］）と、ビア層間絶縁膜４３及び配線層間絶縁膜４４とデュアルダマシン溝４８内で露出した金属配線４１ａとに水素プラズマ処理を施すことにより、ビア層間絶縁膜４３及び配線層間絶縁膜４４の表面に改質層４９を形成するとともに金属配線金属配線４１ａの表面を還元する第三の工程（図３［１］）と、を含むことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 電子装置及びその製造方法に関し、エッチングストッパ膜となる絶縁膜に過度のダメージを与えることなく、塗布系の低誘電率膜との密着性をバラツキなく改善する。【解決手段】 基板９上に形成されたＳｉ−ＣＨ₂ −Ｓｉ構造を１０〜９０重量％含有するシリコンオキシカーバイドからなる第１の絶縁膜１と、第１の絶縁膜１上に形成されたポーラスシリカ系の第２の絶縁膜３とを有し、第１の絶縁膜１と第２の絶縁膜３の界面において、第１の酸素４と二重結合している炭素５を介して、第１の珪素６と、第２の珪素７と結合した第２の酸素８とが連結された構造を形成する。 （もっと読む）

【課題】抵抗素子として機能する配線を有し、かつ面積の小さな半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置は、半導体基板ＳＢと、半導体基板ＳＢ上に設けられた第２の配線層Ｌ２とを備えている。第２の配線層Ｌ２は、通常の配線ＷＲと、高抵抗配線ＲＥと、通常の配線ＷＲおよび高抵抗配線ＲＥを埋め込む絶縁膜８とを含んでいる。通常の配線ＷＲは、第１の銅部１０Ｗと、第１の銅部１０Ｗの底面側および側面側を覆う第１のバリアメタル膜９Ｗとを有している。高抵抗配線ＲＥは、空洞部ＣＶと、空洞部ＣＶの底面側および側面側を覆う第２のバリアメタル膜１９Ｒとを有している。 （もっと読む）

【課題】二重ダマシン構造を有する集積回路および余分な工程を削減し二重ダマシン構造を形成できる製造方法を提供する。
【解決手段】
二重ダマシン構造を製造する工程である。この工程は、スタックの上方に２個のマスクが形成される絶縁体層とストップ層を含むスタックを形成するものである。マスクのうちの１個は、絶縁体層のビアあるいはコンタクト開口を形成するのに用いられ、第ニのマスクは集積回路に相互接続のための凹部を形成するのに用いられる。 （もっと読む）

【課題】内部に貫通電極を容易に形成することができ、製造歩留を向上させることのできる半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体シリコン層上に、導電性ポリシリコンから構成される第１コンタクトパッドを有する第１絶縁層、第２コンタクトパッドを有する第２絶縁層を形成する。この後、貫通電極用のビアホールを、少なくとも半導体シリコン層および第１コンタクトパッドを貫通して第２コンタクトパッドに到達するまで形成する。 （もっと読む）

Ruの選択堆積を半導体デバイスの作製に統合することで、Cuメタライゼーションにおけるエレクトロマイグレーションとストレスマイグレーションを改善する方法。当該方法は、熱化学気相成長法によって、Ru₃(CO)₁₂先駆体蒸気及びCOガスを有するプロセスガスを用いて、メタライゼーション層(302)上及びバルクCu(322)上にRu金属膜を選択的に堆積する工程を有する。1つ以上の選択的に堆積されたRu金属膜を有する半導体デバイスが記載されている。
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【課題】貫通孔内に配した保護部に起因する応力が小さく、接続信頼性の向上した半導体装置を提供する。
【解決手段】機能素子１１を一面に配した半導体基板１２、半導体基板１２の一面にあって、機能素子１１と電気的に接続して配した電極１４、半導体基板１２の他面から電極１４に向けて設けた貫通孔１２ａ、機能素子１１の配した領域を除く半導体基板１２の一面、及び他面と、貫通孔１２ａを覆うように配した絶縁層１３、並びに半導体基板１２の他面側に絶縁層１３を介して配し、かつ貫通孔１２ａを覆うように配した導電部１５、から少なくともなる半導体装置であって、導電部１５に沿って貫通孔１２ａ内に配した第一保護部１６と、半導体基板１２の他面側にあって、絶縁層１３、導電部１５、及び第一保護部１６を覆うように配した第二保護部１７とで囲まれる間隙１６ａを、貫通孔１２ａ内の少なくとも電極近傍に有することを特徴とする半導体装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】ＳＯＩ構造を有する半導体装置において、高性能化、低消費電力化を目的の一とする。また、より高集積化された高性能な半導体素子を有する半導体装置を提供することを目的の一とする。
【解決手段】絶縁表面を有する基板上に複数の電界効果トランジスタがそれぞれ層間絶縁層を介して積層している半導体装置とする。複数の電界効果トランジスタの有する半導体層は半導体基板より分離されており、該半導体層は絶縁表面を有する基板、又は層間絶縁層上にそれぞれ設けられた絶縁層に接して接合されている。複数の電界効果トランジスタはそれぞれ前記半導体層に歪みを与える絶縁膜で覆われている。 （もっと読む）

【課題】 半導体装置の製造方法に関し、トレンチ形成層或いはビア形成層の低誘電率性と機械的強度を確保するとともに、膜剥がれを防止する。
【解決手段】 基体上に所定の原料ガスを用いてＳｉＯＣを主成分とする第１の多孔質絶縁膜２を予め定めた所定の膜厚まで気相成長させたのち、同一チャンバー内において連続して所定の原料ガスにポロジェン前駆体を添加してポロジェン４を包含するＳｉＯＣを主成分とする第２の多孔質絶縁膜３を気相成長させ、次いで、第１及び第２の多孔質絶縁膜３に２００ｎｍ〜４００ｎｍの波長の紫外線５を照射する。 （もっと読む）

【課題】 構造の接点抵抗を改善した、すなわち低下させた半導体構造を提供する。
【解決手段】 自己組織化・ポリマー技術を用いて、半導体構造の導電性コンタクト領域に存在する材料内に少なくとも１つの配列されたナノサイズ・パターンを形成する。配列されたナノサイズ・パターンを有する材料は、相互接続構造または電界効果トランジスタの半導体ソースおよびドレイン領域の導電材料である。接点領域内に整列ナノサイズ・パターニング材料が存在することによって、以降の接点形成のための全領域（すなわち界面領域）が拡大し、これによって構造の接点抵抗が低下する。接点抵抗の低下により、構造を通る電流が改善する。上述のことに加えて、本発明の方法および構造では、接合領域が不変のままであるので、構造の接合容量は影響を受けない。 （もっと読む）

【課題】ビアホールやトレンチの形状がばらついても、ビアホールやトレンチの側壁に所定の膜厚でバリア膜とシード膜を形成する半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】絶縁膜に形成された凹部の側壁に所定膜厚の導電膜を備える半導体装置の製造方法であって、半導体基板上に形成された絶縁膜に凹部を形成する工程を有する。ここで凹部とは、ビアホールとトレンチの総称である。そして、前記凹部が形成された絶縁膜上に、スパッタリング法により、前記凹部に成膜すべき導電膜の膜厚、前記凹部の深さ及び前記凹部を上面から見たときの当該凹部側壁の投影面積に基づいて算出された、前記凹部が形成された絶縁膜の上面に成膜すべき膜厚で、導電膜を形成する工程を有する。即ち、ビアホールやトレンチの投影面積に基づきこれらの形状のばらつきを勘案して、成膜を行うのである。 （もっと読む）

【課題】抵抗率が改善された、共形性の高い拡散バリアの、インシチュウによる構築を遂行する。
【解決手段】本発明の一態様では、処理チャンバと、シャワーヘッドと、ウエハ支持体と、ＲＦシグナル手段とを有していてもよい。シャワーヘッドを具備することにより、処理チャンバ内にガスを供給する。ウエハ支持体は、処理チャンバ内でウエハを支持するために具備される。シャワーヘッドに第１のＲＦシグナルを供給しまたウエハ支持体に第２のＲＦシグナルを供給するために、ＲＦシグナル手段がシャワーヘッドとウエハ支持体の両方に結合していてもよい。あるいは、ＲＦシグナル手段は、ウエハ支持体にＲＦシグナルを供給するためにウエハ支持体だけに結合していてもよい。本発明の態様を実施することによりアルミニウムや銅等のコンタクトメタルの拡散を防止する拡散バリアの能力を、向上させることができる。 （もっと読む）