【課題】異方性エッチングを利用して、１つの銅膜に配線パターンとビアパターンとを同時に形成することが可能な半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】バリア膜１００上に、銅膜１０１を形成する工程と、銅膜１０１上に、第１のマスク材を形成する工程と、第１のマスク材をマスクに用いて、銅膜１０１をバリア膜１００が露出するまで異方的にエッチングする工程と、第１のマスク材を除去した後、異方的にエッチングされた銅膜１０１上に、第２のマスク材を形成する工程と、第２のマスク材をマスクに用いて、銅膜１０１をその途中まで異方的にエッチングする工程と、前記第２のマスク材を除去した後、異方的にエッチングされた銅膜１０１上に、絶縁物を堆積させ、異方的にエッチングされた銅膜１０１周囲に、層間絶縁膜１０６を形成する工程と、を具備する。 （もっと読む）

【課題】スループット良く、銅を、異方的にエッチングすることが可能なエッチング方法を提供すること。
【解決手段】 表面にマスク材１０２が形成された銅膜１０１に、マスク材１０２をマスクに用いて酸素イオン６を照射し、銅膜１０１内に、銅膜１０１の厚さ方向の全てに対して異方的に酸化された酸化銅１０３を形成する工程と、異方的に酸化された酸化銅１０３をエッチングする工程と、を具備する。 （もっと読む）

【課題】Ｃｕ／Ｍｏ積層金属膜、Ｃｕ／Ｍｏ合金積層金属膜、Ｃｕ合金／Ｍｏ合金積層金属膜のような、銅又は銅合金の１層以上の銅層と、モリブデン又はモリブデン合金の１層以上のモリブデン層とを含む多重膜を、効率的で優秀に同時に一括してエッチングすることができるエッチング液組成物及びこれを用いた多重膜のエッチング方法を提供する。
【解決手段】エッチング液組成物は、総重量に対して、リン酸５０〜８０ｗｔ％；硝酸０．５〜１０ｗｔ％；酢酸５〜３０ｗｔ％；イミダゾール０．０１〜５ｗｔ％；及び残量の水を含む。添加剤イミダゾールは、銅／モリブデンガルバニック反応調節剤として機能する。 （もっと読む）

【課題】ルテニウム（Ｒｕ）膜などの金属膜を電解エッチングした場合に気泡が発生せず、エッチング形状に凹凸が生じず、良好にエッチングすることができる電解エッチング装置及び方法を提供する。
【解決手段】腐食すべき金属材料若しくはその酸化物又は窒化物を含む腐食対象材料に対して所定の直流電圧を印加しながら、上記腐食対象材料に対して、非水系溶液に酸又はアルカリを添加してなるエッチング溶液を付与して電解エッチングする。ここで、上記直流電圧は、水系における上記腐食対象材料のｐＨ−電位図における酸素過電圧境界よりも当該腐食対象材料の腐食領域の高電位側の電圧に設定される。また、上記腐食すべき金属材料はルテニウム（Ｒｕ）、イリジウム（Ｉｒ）、白金（Ｐｔ）、タンタル（Ｔａ）又はシリコン（Ｓｉ）である。 （もっと読む）

【課題】ボンディングパッドの特性の劣化を抑制することが可能な半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、ＬＳＩ基板１上に形成された第１の金属を含む再配線層８ａ、ｂおよび前記ＬＳＩ基板上に形成されたボンディングパッドとなる第２の金属を含むパッド電極２２を被覆するように、層間膜１０を形成する。前記層間膜のうち、前記再配線層に接続されるマイクロバンプを形成する領域およびボンディングワイヤが接続される領域に対応する部分を感光させ、アルカリ水溶液を含む第１のアルカリ現像液で現像することにより、前記再配線層が露出するように前記層間膜に第１の開口部１０ａを形成するとともに、前記パッド電極が露出するように前記層間膜に第２の開口部１０ｂを形成する。さらに、テトラメチルアンモニウムヒドロキシドおよび多価アルコールを含む第２のアルカリ現像液で、前記層間膜の残りの露光された部分を現像する。 （もっと読む）

【課題】従来の蓚酸系エッチング液のような界面活性剤配合に伴う泡や蓚酸に由来する残渣の発生を生じることなく、界面活性剤を一切使用しなくても、濡れ性、泡切れ性が優れ、高精度で透明導電膜をエッチングすることができるエッチング液およびエッチング方法を提供すること。
【解決手段】少なくとも蓚酸を主成分とする導電膜用エッチング剤（Ａ）と、（Ｂ）群および（Ｃ）群から選ばれる少なくとも１種とを含有し、界面活性剤を一切含有しないことを特徴とする導電膜用エッチング液。 （もっと読む）

【課題】信頼性の高い半導体装置を高い製造歩留まりで提供し得る半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】第１応力膜３８上に第１ストッパ膜３９及び第２ストッパ膜４０を形成する工程と、第１領域２を覆う第１マスク６０をマスクとし、第１ストッパ膜をストッパとして、第２領域４内の第２ストッパ膜をエッチングするとともに、第１領域のうちの第２領域に近接する部分の第２ストッパ膜をサイドエッチングする工程と、第２ストッパ膜とエッチング特性が異なる第２応力膜４２を形成する工程と、第２領域を覆い、第１領域側の端面が第２ストッパ膜上に位置する第２マスクとし、第２ストッパ膜をストッパとして、第２応力膜の一部が第１応力膜の一部及び第２ストッパ膜の一部と重なり合うように第２応力膜をエッチングする工程と、第１領域と第２領域との境界部におけるゲート配線２０に達するコンタクトホールを形成する工程とを有している。 （もっと読む）

【課題】溝部を絶縁膜で埋設する際に、溝部のアスペクト比が大きい場合であっても、内部にボイドを残存させることなく、溝部内に絶縁膜を充填する。これにより微細化した半導体装置の製造を容易に行うことを可能とする。
【解決手段】隣り合う凸部の間に形成される溝部の上端部においてオーバーハング形状を有すると共に、溝部の上部にボイドを有するように溝部内に溝部用絶縁膜を形成する。凸部の高さ方向に対して斜め方向から、溝部用絶縁膜に不純物をイオン注入することにより、溝部内に形成された溝部用絶縁膜の一部に不純物をドープする。溝部用絶縁膜の不純物がドープされた部分を除去した後、溝部内に溝部用絶縁膜を充填する。 （もっと読む）

【課題】コンタクトホール形成時の重ね合わせずれに起因したリークの増大やコンタクト抵抗の上昇が抑制された半導体装置とその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置は、半導体基板１００と、半導体基板１００上にゲート絶縁膜１０１を介して形成されたゲート電極１０２と、ゲート電極１０２の側壁上に形成されたサイドウォールスペーサ１５０と、半導体基板１００のうち、ゲート電極１０２及びサイドウォールスペーサ１５０を間に挟んで両側に形成されたソースドレイン領域１０６と、ゲート電極１０２、サイドウォールスペーサ１５０、及び半導体基板１００の上面を覆う応力絶縁膜１１０とを備えている。サイドウォールスペーサ１５０は、少なくとも中央部のゲート長方向膜厚よりも上部のゲート長方向膜厚の方が大きくなっている。 （もっと読む）

【課題】基材の内部に空隙を形成するための方法を提供する。
【解決手段】基材を用意する工程；少なくとも１つの犠牲材料前駆体の堆積によって犠牲材料を堆積する工程；複合層を堆積する工程；該複合層中のポロゲン材料を除去して多孔質層を形成する工程；及び積層基材を除去媒体と接触させて前記犠牲材料を実質的に除去し、前記基材の内部に空隙を与える工程を含み、前記少なくとも１つの犠牲材料前駆体が、有機ポロゲン、シリコン、極性溶媒に可溶な金属酸化物、及びそれらの混合物からなる群より選択される方法が提供される。 （もっと読む）

【課題】新規な半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】本実施形態に係る半導体装置の製造方法は、下層配線としてＣｕ配線を含む多層配線と、前記Ｃｕ配線を形成するために用いられるＣｕアクセサリとが形成された半導体基板を、ポリイミド膜で覆う工程と、前記多層配線の最上層配線の表面および前記Ｃｕアクセサリの表面を露出させる工程と、前記半導体基板をＣｕ腐食防止剤の蒸気にさらして、前記最上層配線の表面および前記Ｃｕアクセサリの表面にＣｕ腐食防止膜を形成する工程と、前記最上層配線の表面に形成されたＣｕ腐食防止膜を選択的に除去する工程と、前記Ｃｕアクセサリの表面にＣｕ腐食防止膜が形成された状態で、前記ポリイミド膜をベーク処理する工程とを有する。 （もっと読む）

【課題】低い過酸化水素含有量で銅膜と他の金属膜とからなる多重膜の一括エッチングが可能で、工程に適したエッチング速度、適当なエッチング量、及び適切なテーパ傾斜角を有するエッチング液組成物により、既存の過水系エッチング液よりも高い安定性を有し、処理枚数能力を向上させる。
【解決手段】
本発明による金属配線エッチング液は、過酸化水素、酸化剤、フッ素化合物、キレート剤、硝酸系化合物、ホウ素系化合物、添加剤、及び残量の水を含むことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】信頼性の高い配線層を低コストで形成し得る配線層の形成方法を提供する。
【解決手段】基板１０上に樹脂層１２を形成する工程と、樹脂層１２上にチタンを含む密着層１４を形成する工程と、密着層１４上にシード層１６を形成する工程と、シード層１６上に配線層２２を形成する工程と、配線層２２をマスクとしてシード層１６をエッチングする工程と、一般式Ｔｉ（ＯＲ^１）_Ｘ（Ｏ_ＹＲ^２）_４−Ｘ（但し、Ｒ^１、Ｒ^２はアルキル基又は水素であり、Ｘは１〜３の整数であり、Ｙは正の整数である）、又は、一般式Ｔｉ（ＯＲ^３）_４（但し、Ｒ^３はアルキル基である）で表されるチタン有機化合物が添加されたエッチング液を用い、前記配線層２２をマスクとして、前記密着層１４をエッチングする工程とを有している。 （もっと読む）

【課題】配線間のショートを抑制すること。
【解決手段】半導体基板１０上に第１絶縁膜２０を形成する工程と、前記第１絶縁膜の上面を研磨する工程と、研磨された前記第１絶縁膜に接続３０孔を形成する工程と、前記接続孔の内面および前記第１絶縁膜上に前記第１導電層３２を形成する工程と、前記接続孔内の前記第１導電層上に第２導電層３４を形成する工程と、前記第１絶縁膜上の前記第１導電層を研磨し前記第１絶縁膜の上面を露出させる工程と、前記第２導電層のエッチングレートより前記第１導電層のエッチングレートが大きいエッチャントを用い、前記接続孔内上部の前記第１導電層をエッチングする工程と、前記絶縁膜上に配線層５０を形成する工程と、を含む半導体装置の製造方法。 （もっと読む）

【課題】微細配線を有する半導体装置を高信頼性及び高歩留まりで得る。
【解決手段】この半導体装置の製造方法は、下層配線を形成する工程（ステップＳ１０１）と、下層配線上に絶縁膜を形成する工程（ステップＳ１０２）と、絶縁膜上にレジストを形成する工程（ステップＳ１０３）と、レジストをマスクとしてドライエッチングにより下層配線を露出する開口部を形成する工程（ステップＳ１０４）と、開口部を洗浄液を用いて洗浄する工程（ステップＳ１０５）と、洗浄した開口部をリンスする工程（ステップＳ１０６）と、含む。ステップＳ１０６では、リンス液と還元性ガスとを二流体ノズルから吐出して、開口部の底部をリンスする。 （もっと読む）

【課題】 タングステンを材料とする半導体集積回路、フラットパネルディスプレイの製造において有用なタングステンのエッチング液を提供する。
【解決手段】 硝酸、フッ化物、鉄塩及び水を含有するタングステンのエッチング液を用いて、タングステンをエッチングする。 （もっと読む）

【課題】銅を含む層とチタニウムを含む層とをエッチングする時に、非過水系のエッチング液を使用して工程の安定性を向上させる。
【解決手段】本発明は、薄膜トランジスタ表示板に対する発明であって、より詳細には、銅（Ｃｕ）とチタニウム（Ｔｉ）とをそれぞれ含む二重層配線に形成される薄膜トランジスタ表示板に関し、構造的にはチタニウムを含む層が銅を含む層より幅が広くて、チタニウムと銅とを共にエッチングする段階と、別にエッチングする段階とを含めて製造することを特徴とする。また、ゲート絶縁膜に段差が形成されている。 （もっと読む）

【課題】表面荒れが少なく、光の透過率の高い透明電極パターンを容易に形成できる技術を提供する。
【解決手段】本発明の透明電極パターンの形成方法によれば、基材の一面に透明電極層を形成する透明電極層形成工程と、前記透明電極層の一部を覆い、前記透明電極層の他部を露出するようにパターニングされたマスクを形成するマスク形成工程と、前記マスクおよび前記透明電極層の表面に金属膜を成膜する金属膜成膜工程と、エッチングにより前記金属膜の一部を残し金属配線を形成し、前記マスクの一部と前記透明電極層の前記他部の一部を露出させる第１エッチング工程と、前記第１エッチング工程で露出した前記透明電極層を前記マスクの一部をマスクとしてエッチングすることにより透明電極のパターンを形成する第２エッチング工程と、を有する。 （もっと読む）

【課題】縦型ＭＯＳトランジスタを備えた半導体装置を形成する際のゲート電極とコンタクトプラグとの短絡を防止することが可能な半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の半導体装置の製造方法は、前記半導体基板上にシリコン窒化膜（ＳｉＮ膜）からなるマスク窒化膜のパターンを形成したのちに、溝および半導体ピラーを前記半導体基板に形成する第一工程と、前記マスク窒化膜を残存させたまま、前記溝を覆うゲート絶縁膜を形成したのちに前記半導体ピラーよりも低い高さのゲート電極を形成する第二工程と、前記溝を覆うように、シリコン酸窒化膜（ＳｉＯＮ膜）からなるライナー膜を形成したのちに、前記ライナー膜上を覆い、かつ、前記溝内を充填するように層間膜（ＳＯＤ膜）を形成する第三工程と、前記マスク窒化膜をエッチングにより選択的に除去する第四工程と、を採用する。 （もっと読む）