【課題】接続孔の直径を小さくしても、接続孔に埋め込まれたプラグと、プラグ上の配線との接触抵抗を低くする。
【解決手段】第１の導電層４上に、絶縁膜８を形成し、絶縁膜８に、第１の導電層４上に位置する接続孔８ｃを形成する。接続孔８ｃの中及び絶縁膜上に導電膜を形成し、さらに、絶縁膜８ａ上に位置する導電膜をＣＭＰ法で除去することにより、接続孔８ｃに導電体９を埋め込む。接続孔８ｃに埋め込まれた導電体９の表層を、不活性イオンを用いたスパッタエッチングにより除去し、その後、絶縁膜８上に、導電体９に接続する第２の導電層１０ａを形成する。 （もっと読む）

【課題】絶縁膜の平坦性を向上させるとともに、生産性を向上させ、製造コストを抑えることが可能な半導体装置の製造方法および半導体装置を提供する。
【解決手段】基板１１上に設けられたサイドウォール１５を備えたゲート電極１２による段差を有する基板１１上に下地絶縁膜１８を形成する第１工程と、段差下部よりも段差上部を覆う下地絶縁膜１８上に成膜される膜の成長が抑制されるように、段差上部を覆う下地絶縁膜１８に選択的に表面処理を行う第２工程と、表面処理が施された下地絶縁膜１８上に、絶縁膜１９を形成する第３工程とを有することを特徴とする半導体装置の製造方法およびこれによって得られる半導体装置である。 （もっと読む）

【課題】少ない工程数で大面積基板に微細な形状を有する配線を形成する方法、及びそれにより形成された配線基板を提供する。また、少ない工程数及び原料の削減により、コスト削減及びスループットの向上が可能であり、かつ微細構造の半導体素子を有する半導体装置、及びその作製方法を提供する。
【解決手段】金属粒子と有機樹脂とで形成される組成物１０２をインクジェット法で基板１０１上に描画し、それにレーザ光１０３を照射し、金属粒子の一部を焼成して、配線、電極等に代表される導電層１０５を基板上に形成することを特徴とする。また、上記焼成された導電層を配線又は電極として有する半導体装置を形成することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 本発明は半導体装置の製造工程において、レジストなどのマスクパターンを用いる際に発生する反応生成物等のレジスト等への不均一な付着によるパターン形状等の不良を生じさせず、また、寸法精度が良好な微細パターンの形成方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 パターン形成方法を含む半導体装置の製造方法として、第１の薄膜の側壁に第２の薄膜を形成し、その側壁に形成された第２の薄膜の先端部が不均一にならないように、平坦化法により、精度良くエッチバックして揃える。 （もっと読む）

【課題】水素の触媒作用によるコンタクトプラグ不良を防止する。
【解決手段】ソース領域、ドレイン領域およびゲートからなるトランジスタが集積化された半導体基板上に、前記ソース領域またはドレイン領域に接続されたコンタクトプラグと、前記コンタクトプラグに接続された下部電極と、前記下部電極の間に埋め込まれた酸素バリアを有する絶縁膜と、前記容量絶縁膜に形成された上部電極からなる強誘電体キャパシタにおいて、前記下部電極が酸素に対する導電性バリアを含み、さらに前記下部電極と絶縁膜との間に前記下部電極との反応を防止するための絶縁性反応防止膜を備えた構造になっている。 （もっと読む）

【課題】ランディングプラグコンタクトとストレージノードコンタクトとの間の不整合を防止し、接触抵抗を改善することができる半導体素子のストレージノードコンタクトの形成方法を提供すること。
【解決手段】複数のゲート２３とソース／ドレーン領域２５が形成された半導体基板２１のゲート間に酸化膜２６とランディングプラグコンタクトを形成するステップと、ランディングプラグコンタクト及びゲートを含んだ半導体基板の全面上に層間絶縁膜２９を形成するステップと、層間絶縁膜をエッチングしてランディングプラグコンタクトを露出させる第１ストレージノードコンタクトホールを形成するステップと、露出されたランディングプラグコンタクトと酸化膜を除去し、第２ストレージノードコンタクトホールを形成するステップと、第２ストレージノードコンタクトホール内にポリシリコンを埋め込んでストレージノードコンタクト３０を形成するステップとを含む。 （もっと読む）

【課題】 多層配線構造における上層配線の下層配線に対する接続部の形成にあたり、その接続導体の接続部の清浄化処理において問題となる特性劣化を確実に回避する。
【解決手段】 下層配線溝(第１配線溝)１１ｇ内の埋込み配線（第１埋込み配線）１１ｂに上層配線(第２埋込み配線)１２ｂが接続導体１２ｃを介して接続される構成において、接続導体１２ｃの形成時の第１埋込み配線１１ｂ表面の水素ラジカルないしは水素ブラズマによる清浄化に耐性を有する保護膜７を、この清浄化の雰囲気にさらされ侵食される第２埋込み配線１２ｂが埋め込まれる配線溝１２ｇ、接続導体１２ｃが充填される配線接続孔１２ｈの内表面に形成することによって、上述した清浄化に際して絶縁層が侵食されることを回避し、充分な洗浄を行うことができるようにして特性劣化の改善を図る。 （もっと読む）

【課題】 酸化膜と窒化膜の多層膜よりなるサイドウォールを有する半導体装置において、サイドウォールを構成する酸化膜がコンタクトエッチングの際にエッチングされてゲート電極の側面が露出するのを防ぐことができる半導体装置を得る。
【解決手段】 半導体基板上に形成されたゲート絶縁膜と、ゲート絶縁膜上に形成されたゲート電極と、ゲート電極上に形成された第１の窒化膜と、ゲート電極及び第１の窒化膜の側面に順番に形成された第１の酸化膜、第２の窒化膜、第２の酸化膜及び第３の窒化膜からなるサイドウォールとを有し、第１の窒化膜は、上部の外径が下部の外径よりも小さく、第１の酸化膜のゲート電極の側面にある部分は、上面から見て第２の窒化膜で覆われ、第２の酸化膜のゲート電極の側面にある部分は、上面から見て第３の窒化膜で覆われている。 （もっと読む）

【課題】 比較的低い温度で、配線層の良好な埋め込みが可能な半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板上に、配線層を略平行に形成する工程と、少なくとも配線層の側壁にシリコン層を形成する工程と、配線層を覆うように絶縁膜を形成し、配線層に挟まれた領域にボイドを残す工程と、シリコン層を酸化して体積膨張させ、絶縁膜の間のボイドを押しつぶす工程とを含む。更に、絶縁層上に、絶縁層の酸化を促進する触媒層を形成する工程を含んでも良い。 （もっと読む）

【課題】 高抵抗素子を、半導体基板内の不純物拡散層を用いて形成することにより、サリサイドプロセスにおいても、構造的に、高抵抗素子部におけるシリサイド膜の形成を防止し、工程数を増大させることなく、高抵抗素子の形成を可能とする。
【解決手段】 シリコン基板１１ａの上の素子領域にゲート絶縁膜１２ａを介してポリシリコン配線１２層を形成し、このポリシリコン配線１２層の上から、不純物を拡散してポリシリコン配線１２層の抵抗値を調整すると共に、このポリシリコン配線１２層をマスクとしてシリコン基板１１ａ上の素子領域内において、ポリシリコン配線１２層に隣接する領域に不純物を拡散させＮ型不純物層１１ｃを形成してこれを高抵抗素子とし、この高抵抗素子つまりＮ型不純物層１１ｃの上にＳｉＮ膜１４からなる絶縁膜を配置して、この上から、サリサイドを施して、ポリシリコン配線１２の上にシリサイド膜１７を形成することにより得られる。 （もっと読む）

【課題】
酸化シリコン層、窒化シリコン層の積層ライナを備えたＳＴＩを有し、帯電を低減できる半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】
半導体装置は、シリコン基板と、前記シリコン基板の表面から下方に向かって形成され、前記シリコン基板の表面に活性領域を画定するトレンチと、前記トレンチの内壁を覆う酸化シリコン層の第１ライナ層と、前記第１ライナ層の上に形成された窒化シリコン層の第２ライナ層と、前記第２ライナ層の上に形成され、前記トレンチを埋める絶縁物の素子分離領域と、前記活性領域に形成されたｐチャネルＭＯＳトランジスタと、前記ｐチャネルＭＯＳトランジスタを覆って，前記シリコン基板上方に形成され，紫外光遮蔽能を有さない窒化シリコン層のコンタクトエッチストッパ層と、前記コンタクトエッチストッパ層の上方に形成され、紫外光遮蔽能を有する窒化シリコン層の遮光膜と、を有する。 （もっと読む）

【課題】 配線間の絶縁膜を可能な限り除去して十分に低誘電率化を図り、エアギャップ形成時に配線にダメージを与えない構造を設けることで信頼性を向上させた半導体装置を提供する。
【解決手段】 複数の配線を内部に形成した絶縁膜６の上下層に当該絶縁膜６よりウェットエッチング耐性が高い絶縁膜５，９を形成してなる配線層部と、絶縁膜６よりウェットエッチング耐性が高い材料からなり、配線を被覆するようにその周囲に形成された絶縁膜７と、上下層の絶縁膜５，９及び絶縁膜７と配線が内部に形成された絶縁膜４とのエッチング耐性の違いに基づいて、上下層の絶縁膜５，９及び絶縁膜７で囲まれた配線間の絶縁膜４を選択的にエッチング除去してなるエアギャップ部１２とを備える。 （もっと読む）

【課題】 セルフアライン形成技術によりセルフアライン形成領域の絶縁膜に形成されたコンタクトホールの径に比較してさらに開孔幅の大きな穴部を絶縁膜の上部に形成するためセルフアライン形成領域を再度エッチング処理する必要があったとしても、セルフアライン形成領域内のセルフアラインマスク膜に悪影響が及ぼされることなく、さらにセルフアライン形成領域に対して複数回に分けて接続配線を埋込み形成する必要をなくす。
【解決手段】 領域ＣＢ２に対して第１のコンタクトホール１６を形成した後、フォトレジスト３８、塗布型酸化膜３９、フォトレジスト４０の３層構造の多層レジスト構造４１を形成し、第５のシリコン酸化膜２３の上部に穴部２４および２５を形成する。 （もっと読む）

【課題】 第１層配線と、拡散層あるいはゲート電極との層間容量を抑えつつ、拡散層あるいはゲート電極に確実に接続するコンタクトプラグを形成する。
【解決手段】 基板上方に形成されたゲート電極と、ゲート電極の両側に形成された拡散層とを有する半導体装置において、一端において、ゲート電極の上面に接し、かつ、他端が、ゲート電極上面よりも、基板に近い位置に伸びる導電体膜を形成する。そして、基板上に、ゲート電極と、導電体膜とを埋め込む層間絶縁膜を形成し、この層間絶縁膜を貫通し、導電体膜の、ゲート電極上面よりも基板に近い位置において、導電体膜に接続する第プラグを形成する。 （もっと読む）

【課題】 シリコンを含むＮ型の導電領域と直接接続される導電パターンの形成時に、Ｎ型の導電領域と接続される部分のコンタクト抵抗の増大を防止し、バリア膜の厚さ増大に伴う導電パターンの寄生容量の増大を防止できる半導体素子の製造方法を提供すること。
【解決手段】 シリコンを含むＮ型の導電領域（２０７）にＮ型の不純物をドープして、Ｎ型の高濃度不純物拡散領域（２１２）を形成する工程と、ＣＶＤ法を用いて高濃度不純物拡散領域（２１２）上にバリア用第１金属膜を蒸着し、高濃度不純物拡散領域（２１２）のシリコンと前記第１金属膜の金属とを反応させて、高濃度不純物拡散領域（２１２）と前記第１金属膜との間の界面に金属シリサイドを形成する工程、前記第１金属膜上に導電膜を形成する工程、及び、前記導電膜と前記第１金属膜とを選択的にエッチングして、導電パターンを形成する工程を含む。 （もっと読む）

【課題】 誘電体膜の段差被覆性がよく、かつ誘電体物質の廃棄量を少なくする。
【解決手段】 下地膜８上に、パターニングされた下部電極１１を形成する工程と、インクジェット方式の塗布機構を用いて、下部電極１１上に誘電体物質を塗布する工程と、塗布された誘電体物質を加熱することにより、下部電極１１上に誘電体膜１２を形成する工程と、誘電体膜１２上に上部電極を形成する工程とを具備する。上部電極を形成する工程は、下地膜８上及び誘電体膜１２上に層間絶縁膜を形成する工程と、層間絶縁膜に、誘電体膜上に位置する開口部を形成する工程と、開口部の中及び層間絶縁膜上に導電体を堆積する工程と、層間絶縁膜上から導電体を除去することにより上部電極を形成する工程とを具備する。 （もっと読む）

ガスクラスターイオンビーム処理を用いた多孔質超低ｋ値（ＵＬＫ）絶縁体材料内に二重ダマシン構造を形成する方法に関して開示する。これらの方法においては二重ダマシンＵＬＫ処理中におけるハードマスク層を最小にし、最終的なＵＬＫ二重ダマシン構造内には、ハードマスク層が存在しない。ガスクラスターイオンビームのエッチング処理、緻密化処理、孔のシーリング処理、アッシング処理の各方法が記載されており、該方法は、材料の除去と同時にＵＬＫインターフェースの緻密化を進行させる。緻密なインターフェースとハードマスクがない新規なＵＬＫ二重ダマシン構造が含まれている。 （もっと読む）

本発明は、半導体構成に関連して電気的接続を形成する方法を含む。その上に導電線路を有し、導電線路に隣接して少なくとも２つの拡散領域を有する半導体基板が設けられる。パターン化されるエッチ・ストップが拡散領域の上に形成される。パターン化されるエッチ・ストップは、開口を貫通して延びる１対の開口を有し、開口は導電線路の軸に実質的に平行に一列に並んでいる。絶縁材料がエッチ・ストップ上に形成される。絶縁材料は、絶縁材料内にトレンチを形成し且つ開口をエッチ・ストップから拡散領域まで延ばすために、エッチングに対して露出される。トレンチの少なくとも一部分は開口の直上にあり、線路の軸に沿って延びる。導電材料が開口内とトレンチ内に形成される。
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本発明により、基板（２０１）上のフィーチャ（２０６）に隣接するサイドウォールスペーサ（２１７、２１８）を形成することができる。フィーチャ（２０６）は１つ以上の保護層（２２０、２０７）に覆われる。スペーサ材料層（２１１）はフィーチャ（２０６）上に蒸着され、異方性エッチングされる。異方性エッチングに使用されるエッチング液はスペーサ材料を選択的に除去することに適しており、一方で１つ以上の保護層（２２０、２０７）はこのエッチング液による影響を実質的に受けない。その結果、１つ以上の層（２２０、２０７）はフィーチャがエッチング液にさらされるのを保護する。
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半導体装置を構成する絶縁膜として有効な多孔質絶縁膜の作製方法、該絶縁膜の上下界面に接する半導体材料と高い密着性を有する多孔質絶縁膜の作製方法を提供。
少なくとも一つ以上の、分子中に環状シリカ骨格を有し且つ該環状シリカ骨格に少なくとも一つ以上の不飽和炭化水素基が結合されている有機シリカ化合物の分子蒸気、を含む気体をプラズマ中に導入し、半導体基板上に多孔質絶縁膜の成長を行う。 （もっと読む）