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Fターム[5F033VV05]の内容

半導体集積回路装置の内部配線 (234,551) | 配線の用途 (10,506) | 接地線 (304)

Fターム[5F033VV05]に分類される特許

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【課題】ウェハ貫通ビア構造を有するESDネットワーク回路及びその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明は一般に回路構造及び回路の製造方法に関し、より具体的には、ウェハ貫通ビアを有する静電放電(ESD)回路及びその製造方法に関する。ESD構造体は、ESD能動デバイスと、ESD能動デバイスから基板への低直列抵抗経路をもたらす少なくとも1つのウェハ貫通ビアとを備える。装置は、入力部と、少なくとも1つの電力レールと、入力部と少なくとも1つの電力レールとの間に電気的に接続されたESD回路とを含み、ここでESD回路は少なくとも1つのウェハ貫通ビアを備えて基板への低直列抵抗経路をもたらす。方法は、ESDデバイスを基板上に形成することと、基板の裏面に接地面を形成することと、ESD能動デバイスの負電源及び接地面に電気的に接続されて基板への低直列抵抗経路をもたらす少なくとも1つのウェハ貫通ビアを形成することとを含む。 (もっと読む)


【課題】ヒューズ素子のレイアウト面積を増大させることなく確実にヒューズを溶断するとともに、ヒューズ銅原子の拡散を防止する防護壁の配線層数を低減する。
【解決手段】ヒューズ(FU)を複数のメタル配線層のうちの上層のメタル配線層(M4)の配線を用いて形成する。ヒューズの直上および直下部においては、少なくとも2層の配線層をおいて配線が配置される。上層においては、電源電圧(VDD)を伝達する電源線(102)をヒューズ直上の防護壁構造の蓋部分として利用する。 (もっと読む)


【課題】Si系半導体を基板とするMMIC等の半導体チップであって、低損失な伝送線路をもち、実装用の回路基板への接続が容易で、かつ、安定なGND電位を確保できる半導体チップを提供する。
【解決手段】フリップチップ実装される半導体チップ10であって、Si基板11と、Si基板11の主面に形成された集積回路12と、集積回路12の上方に形成された誘電体膜16と、誘電体膜16の上面に形成された接地用の導体膜17とを備え、集積回路12は、当該集積回路12における信号を伝送するための信号線15から構成される配線層13aを含み、信号線15と誘電体膜16と導体膜17とは、マイクロストリップ線路を構成している。 (もっと読む)


【課題】オンチップアンテナからの出力信号が集積回路にノイズとして侵入することを防止するとともに、出力信号の効率を上げることの出来る半導体装置を提供する。
【解決手段】能動素子10が形成された素子形成領域Rpと、アンテナ形成領域Raに形成されたオンチップアンテナATと設けた半導体装置において、アンテナ形成領域Raを囲むように設けたシールド層形成領域Rs1に積層された導電層で形成され、不純物拡散層ID5、ID6の直上の層からオンチップアンテナATと同一の層に至るまで順次に形成されてパッドPを介してGND接続されるシールド層SL1を設ける。 (もっと読む)


【課題】集積回路の信号用の端子との干渉を避けつつ、半導体装置のシールリングを介したノイズの影響を低減する。
【解決手段】半導体装置は、基板上に形成された集積回路と、その集積回路を取り囲むシールリングとを有する。シールリングの第一部分は基板の裏面に到達し、その裏面側において電位が一定の端子に接続されている。裏面側から一定電位の端子に接続することにより、表面側の信号用端子と干渉することなくシールリングによるノイズ伝搬を防ぐことができる。 (もっと読む)


【課題】酸化物半導体を用いた薄膜トランジスタにおいて、電界効果移動度を向上させることを課題の一とする。また、薄膜トランジスタの電界効果移動度を向上させても、オフ電流の増大を抑制することを課題の一とする。
【解決手段】酸化物半導体層を用いた薄膜トランジスタにおいて、酸化物半導体層とゲート絶縁層の間に、該酸化物半導体層より導電率が高い酸化物クラスターを形成することによって、該薄膜トランジスタの電界効果移動度を向上させ、且つオフ電流の増大を抑制することができる。 (もっと読む)


【課題】低電圧化による誤動作を抑制した半導体装置を提供する。
【解決手段】複数のメモリセルと、センスアンプと、外部と電気的に接続するための複数のパッドを含む、1または複数のパッド列とを有し、パッド列は、パッド列の端部およびパッド列の内部に配置された、センスアンプに接地電位を供給するための複数のセンスアンプ接地用パッドと、少なくとも信号を入力するための信号用パッドとを含み、センスアンプ接地用パッドと信号用パッドの間に、信号用パッドを除く、他の種類のパッドが少なくとも1つ配置されている構成である。 (もっと読む)


【課題】伝送線路の損失を低減することが可能な半導体集積回路を提供する。
【解決手段】本発明の半導体集積回路は、表面から裏面までを貫通するビアホール107が設けられたサファイア基板101と、サファイア基板101の表面に形成されたAlGaN/GaNエピタキシャル成長層102内の導電層をチャネルとするHFET106と、サファイア基板101の裏面に形成され、ビアホール107を介してHFET106と電気的に接続された入力側信号線109及び出力側信号線110と接地電極108とから構成されるコプレーナ型伝送線路とを備える。 (もっと読む)


【課題】平坦性の向上により、TFTの移動度を向上させ、TFTのオフ電流を低減する

【解決手段】基板上に非晶質構造の半導体膜を形成する工程と、前記半導体膜上に結晶化
を促進する金属元素を添加する工程と、加熱処理を行って、前記半導体膜を結晶構造の半
導体膜とする工程と、前記結晶構造の半導体膜に第1のレーザー光を照射する工程と、前
記結晶構造の半導体膜に第2のレーザー光を照射する工程とを有する。レーザー光を照射
する工程を2回設けることにより、結晶構造の半導体膜の平坦化を向上させることができ
る。その結果、TFTの移動度を向上させ、TFTのオフ電流を低減させることができる
(もっと読む)


【課題】手間を要さずに回路部のテストを行うことができ、スクライブ領域の有効活用を図ることができ、半導体チップを安定的に製造することができ、非接触で外部との通信を行うことができる半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置1は、半導体チップ形成領域14Bと、半導体チップ形成領域14B間に位置するスクライブ領域14Aとが形成された半導体ウェハ11と、半導体ウェハ11上に設けられた複数の半導体チップの回路部12と、各半導体チップ形成領域14B内に設けられ、各回路部12に電気的に接続される複数の第一の導電層13と、第一の導電層13同士をスクライブ領域14Aの一部をまたいで電気的に接続する第一の接続部15とを有する。第一の導電層13および第一の接続部15のいずれか一方に、外部電源供給用あるいは接地用のパッド16が接続される。半導体装置1は、回路部12に接続され、容量結合あるいは誘導結合により外部との通信を行う通信部Tを有する。 (もっと読む)


【課題】外部からの電気的な干渉が十分に低減されるとともに、所望の特性を発揮する容量素子が形成される半導体装置、を提供する。
【解決手段】半導体装置は、主表面1aを含む半導体基板1と、主表面1a上に規定された容量形成領域22に形成され、所定の方向に延在する複数の配線11と、容量形成領域22の周縁に配置された配線11pに隣り合い、所定の方向に延在し、電位固定された複数の配線12と、主表面1a上に形成され、複数の配線11の各々の間と、隣り合う配線11および配線12の間とを充填する絶縁体層5とを備える。複数の配線11および12は、主表面1aに平行な平面21内においてほぼ等しい間隔を隔てて配置され、かつ所定の方向に対してほぼ直角方向に並んで配置されている。 (もっと読む)


【課題】積層型LSIにおいて、各LSI間で低レイテンシかつ高スループットの通信を実現する。
【解決手段】一つの貫通電極群(例えばTSVGL_0)に対して、一つの送信を行う回路(TR_00T)と複数の受信を行う回路(TR_10R,TR_20R,TR_30R)を接続する接続トポロジを採用することで、調停動作を不要にする。特に、同一LSIを複数積層する場合にもこの接続トポロジを可能にするために、積層される各LSIに、各貫通電極ポートを送信用とするか受信用とするかの指定と、各貫通電極ポートのアドレス割り振りを指定するための書き換え可能な記憶素子を搭載する。 (もっと読む)


【課題】マイクロコンタクトプリント法を利用し、簡便に、安定して微細なパターンを有する有機薄膜トランジスタを提供する。
【解決手段】マスク7を介して、基板5にエネルギーを付与することにより、相対的に、臨界表面張力の大きな高表面自由エネルギー部5aと臨界表面張力の小さな低表面自由エネルギー部5bとを形成する。マイクロコンタクトプリント法を用いて臨界表面張力の大きな高表面自由エネルギー部5aにインク3を付着させる。高表面自由エネルギー部5aでは、スタンプ1からインク3が転写されやすく、低表面自由エネルギー部5bでは、表面自由エネルギーが小さいためにスタンプ1からインク3が転写されにくくなるため、有機TFT素子の製造において、電極パターンの微細化や、電極層の厚膜化が可能となる。 (もっと読む)


【課題】半導体集積回路装置の集積度の向上を図ることのできる技術を提供する。
【解決手段】セルの高さ方向に隣接して配置されるセルrow上段の2入力NAND回路6とセルrow下段のインバータ回路1との間の結線に、2層目以上の配線を用いずに、1層目の配線M1よりも下層に位置し、2入力NAND回路6またはインバータ回路1を構成するMISFETのゲート電極7N2,7P2と一体化した導電体膜からなる配線8を用いる。 (もっと読む)


【課題】溝の交差部分の中央部に窪みが形成されることを抑制でき、かつ半導体装置の歩留まりが低下することを抑制できる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】この半導体装置の製造方法は、基板100に第1の溝110及び第1の溝110と交差する第2の溝120を形成する工程と、基板100に対して成膜処理を行うことにより、第1の溝110内及び第2の溝120内に膜200を埋め込む工程と、基板100上に位置する膜200を除去する工程とを備える。そして第1の溝110及び第2の溝120を形成する工程において、第1の溝110と第2の溝120の交差部分130に、平面視において交差部分130の角の一つから交差部分130の中央に向けて延伸する凸部140を形成する。 (もっと読む)


【課題】 高抵抗である透明電極から低抵抗配線にコンタクトする場合のコンタクトホールにおいて、電力損失を低減しつつ、狭額縁化を図ることを目的とする。
【解決手段】 表示装置において、基板上に少なくとも薄膜トランジスタ、平坦化膜及び複数の発光素子が形成されており、発光素子には、少なくとも発光層と、第1の電極及び第2の電極を有している。この第1の電極と、第1電極よりも抵抗値の低い配線(GND配線又は電源配線)とを接続させるために、表示領域よりも外側の平坦化膜には複数の第1のコンタクトホール及び複数の第2のコンタクトホールが設けられており、第2のコンタクトホールは、表示領域から第1のコンタクトホールまでの距離に比べて遠距離に配置され、かつ第1のコンタクトホールよりも開口面積が小さい。 (もっと読む)


【課題】薄膜トランジスタの電気特性の信頼性を高めることが可能な薄膜トランジスタ及びその作製方法を提供する。また、画質を向上させることが可能な表示装置及びその作製方法を提供する。
【解決手段】また、ゲート電極と、ゲート電極上に形成されるゲート絶縁層と、ゲート電極に重畳し、且つゲート絶縁層上に形成される酸化物半導体層と、ゲート絶縁層及び酸化物半導体層上に形成される配線と、酸化物半導体層及び配線に接する有機樹脂層とを有する薄膜トランジスタである。 (もっと読む)


【課題】本発明は、誘導負荷を制御するスイッチング回路のエネルギー損失を減少した半導体装置を提供する。
【解決手段】集積回路であって、第1のスイッチ素子と、第2のスイッチ素子と、前記第1のスイッチ素子と前記第2のスイッチ素子とを制御する制御回路と、第1の駆動端子と、前記第1のスイッチ素子と前記第1の駆動端子とを接続する第1の配線と、前記第2のスイッチ素子と前記第1の駆動端子とを接続する第2の配線と、を有する集積回路と、前記集積回路を収容するパッケージと、前記パッケージの外部に露出する外部端子と、前記第1の駆動端子と前記外部端子とを接続する第3の配線と、を備えたことを特徴とする半導体装置が提供される。 (もっと読む)


【課題】電源配線の近傍にビアが配置されたセルの使用が可能な半導体集積回路装置およびレイアウト方法を提供する。
【解決手段】VDD電源ストラップ311、312に接続される中間層配線21とセル列VDD電源配線11を接続する複数の電源ビア13、およびVSS電源ストラップ321、322に接続される中間層配線22とセル列VSS電源配線12を接続する複数の電源ビア13が、高密度領域、低密度領域および無配置領域に分けて配置される。その無配置領域に、電源配線付近にセル内ビアが配置されてセル面積が削減された省面積セルが配置される。 (もっと読む)


【課題】パッケージサイズの拡大や製造プロセスを変更せずにSOI基板のシリコン基板層の電位固定を行うことができる半導体装置および半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板層11の表面からSOI基板10をエッチングし、電極パッド16に達する第1のトレンチおよび半導体基板層11内部で終端している第2のトレンチを形成する工程と、半導体基板層の表面および各トレンチを覆うように絶縁膜19を形成する工程と、各トレンチ底面の絶縁膜19を除去して電極パッド16および半導体基板層11を露出させる工程と、半導体基板層11の表面上と各トレンチの側壁および底面に導電膜31〜33を形成して貫通電極30を形成するとともに、コンタクト部50を形成する工程と、半導体基板層11上の導電膜にパターニングを施して外部電極43およびコンタクト部50に電気的に接続された電位固定用の外部電極43aを形成する工程と、を含む。 (もっと読む)


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