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Fターム[5F044MM04]の内容

ボンディング (23,044) | フィルムキャリヤ (1,959) | 種類 (453) | 金属箔が多層のもの (93)

Fターム[5F044MM04]に分類される特許

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【課題】絶縁テープの両面を覆う導体箔間の高い導通信頼性を確保し、導体箔に形成される配線パターンのファインピッチ化を実現し、配線パターンを形成する際に良好な歩留まりを得るとともに、耐屈曲性が改善した半導体装置用両面配線テープキャリアおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置用両面配線テープキャリアは、絶縁テープの両面にそれぞれ圧延箔からなる第1の導体箔および第2の導体箔が貼り付けられた3層のテープ基材1と、第1の導体箔および絶縁テープをテープ基材の厚さ方向に貫通するよう設けられて、底面が第2の導体箔で塞がれるブラインドビアホール3と、ブラインドビアホールの内部全体を埋めるように第1の導体箔の開口部側面に接触して、第1の導体箔と第2の導体箔とを導通する金属めっき層とを備える。 (もっと読む)


【課題】低価格化、開口部の形成および素子や電子部品などの高密度化や導体パターンの多層化が容易なフレキシブル回路基板およびフレキシブル回路基板の製造方法を提供すること。
【解決手段】アルミのシート111とこのアルミのシート111の表面に形成される第一の保護膜112とからなり、スプロケットホール113やデバイスホール114が形成されるベースフィルム11と、このベースフィルムの表面に形成される所定の導体パターン12と、アルミとこのアルミの表面に形成される電気的な絶縁性を有する膜とからなり所定の導体パターン12を覆うように形成される第二の保護膜13とを備える。 (もっと読む)


【課題】ファインピッチ化や高出力化に適用できるように、高温高湿環境下であっても、従来よりも端子間の絶縁抵抗が劣化しにくい半導体キャリア用フィルムおよびそれを用いた半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体キャリア用フィルム1は、絶縁性を有するベースフィルム10と、ベースフィルム10の上に形成されたニッケル−クロム合金を主成分とするバリア層2と、バリア層2の上に形成された銅を含んだ導電物からなる配線層3とを有しており、バリア層2におけるクロム含有率が15〜50重量%である。また、配線層3に半導体素子が接合されることで、半導体装置が形成される。 (もっと読む)


【課題】放熱性を向上させるための金属層を有していても、高い折り曲げ性を有する半導体装置用フレキシブル基板を提供する。
【解決手段】絶縁ベースフィルム基材2と、該絶縁ベースフィルム基材の表面に形成された配線パターン3と、該配線パターンの表面を被覆する絶縁保護膜4と、該絶縁保護膜上に形成された接着剤層5と、該接着剤層により前記絶縁保護膜に接着された金属層6とを有してなる半導体装置用フレキシブル基板であって、前記接着剤層の弾性率が1.0MPa以下であることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】半導体装置接合用バンプ同士や半導体装置接合用バンプと配線との短絡を抑制し、ファインピッチ化を容易とする。
【解決手段】配線21が形成された第1主面S1および複数の半導体装置接合用バンプ31が形成された第2主面S2を有する絶縁性基板10を備え、半導体装置接合用バンプ31は、第2主面S2上でそれぞれが独立して分散状に配置され、絶縁性基板10を貫通するビア12を介して第1主面S1の配線21と導通している。 (もっと読む)


【課題】半導体装置用テープキャリアにおける金の使用量を減らすことで、その材料コストの低減を図り、コスト低減を可能とした半導体装置用テープキャリア及びその製造方法を提供する。
【解決手段】絶縁性フィルム基材の表面上に張り合わされた、銅箔をパターン加工してなるボンディングパッド及びランドを含む導体パターンを有する半導体装置用テープキャリアであって、前記導体パターンのうち、ボンディングワイヤ接地箇所のみに金めっき皮膜を備える。 (もっと読む)


【課題】半導体装置用テープキャリアにおける金の使用量を減らすことで、その材料コストの低減を図り、コスト低減を可能とした半導体装置用テープキャリア及びその製造方法を提供する。
【解決手段】銅箔をパターン加工してなるフライングリード部を含む導体パターンを有する半導体装置用テープキャリアであって、前記導体パターンのうち、前記フライングリード部のみに金めっき皮膜を備える。 (もっと読む)


【課題】ドライバの半導体集積回路装置の出力端子数が増加しても、半導体集積回路装置内部の配線層による電圧降下を防止する。
【解決手段】第1の配線層と第2の配線層とが形成されたフィルム基板と、前記フィルム基板上にチップオンフィルム方式で実装された半導体チップとを有し、前記第1の配線層と前記半導体チップの出力端子とが電気的に接続され、前記第2の配線層によって、前記半導体チップの複数の端子同士が電気的に接続されており、前記第2の配線層を介して、前記半導体チップの電源、或いはクロックが伝達される。前記第2の配線層は、前記半導体チップと前記フィルム基板との間に形成される。 (もっと読む)


【課題】放熱効率の良いフレキシブルプリント配線板の製造方法を提供する。
【解決手段】TCP型フレキシブルプリント配線板12Aの製造方法は、金属基材フィルム1に接着剤層1Aを積層する工程と、接着剤層1Aに導電体箔2を貼り付ける工程と、導電体箔2にフォトレジスト膜4を積層する工程と、フォトレジスト膜4を露光及び現像する工程と、金属基材フィルム1の導電体箔2に覆われていない部分にエッチング保護膜15を被せる工程と、エッチング保護膜15が被せられている状態で、露光及び現像後のフォトレジスト膜4(現像パターン4A)を介して導電体箔2をエッチングして導電パターン3を形成する工程とを有する。 (もっと読む)


【課題】半導体チップを搭載後の樹脂封止工程において、半導体チップを確実に封止する。
【解決手段】基材1上にCu箔2を用いて導電性パターン4を形成する。この際に、チップ搭載部11に第1のベタパターン4Aを形成し、基材1の外周の押さえ部12にも第2のベタパターン4Bを角形状に形成する。この後に、ベタパターン4A,4Bをレジスト層6で覆って基板10を形成する。基板10のチップ搭載部11に半導体チップ21を搭載させたら、トランスファモールド装置31で半導体チップ21をモールドする。上型33で押さえ部12を押さえ付けることで型締めを行う。押さえ部12におけるレジスト層6の盛り上がりによって、半導体チップ21と上型33との間の距離として、モールド樹脂の流動に十分な距離が確保される。 (もっと読む)


【課題】ビアホールの径に係らずビア底面の接合面積を大きくすることにより、導通不良を低減させた半導体装置用TABテープ及びその製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】ビアホール内の接着材を絶縁性基板に形成した開口径よりも広く(断面で見た場合に、前記開口径よりも外側に)なるように溶解したために、ビア底面、つまり、ビアホール内の第1導体パターンのめっき形成面を広く取ることができ、接合面積を大きくすることができるため、ビアの導通不良を低減させることが可能であり信頼性の高い半導体装置用TABテープを提供することができる。 (もっと読む)


【課題】空中配線部を有する両面配線板の製造方法において、製造時間を短縮するとともに製造コストを低減し、安定したチップとの接合が可能な配線板の製造方法を提供する。
【解決手段】絶縁基板の第1、第2主面とに第1及び第2導体膜とが設けられ、第2主面に接着剤がない両面銅張積層板を準備する工程と、第1導体膜と絶縁基板とを貫通するブラインドビアホールを形成する工程と、絶縁基板の第1主面側の表面全面に導電膜を形成する工程と、第1導体膜上及びブラインドビアホール内にめっきを形成する工程と、第1導体膜及び第2導体膜をパターニングして第1、第2導体パターンを形成する工程とを有し、導体パターンの形成工程の後、デバイスホール形成予定領域を除いた第1主面側及び第2主面側の表面全面にレジスト膜を形成する工程と、エッチングにより絶縁基板にデバイスホールを形成する工程と、レジスト膜を剥膜する工程とを備える。 (もっと読む)


【課題】配線からの金属イオンの析出によるマイグレーション発生を防止できる、高信頼性の半導体装置を提供する。
【解決手段】ベースフィルム1に複数の配線9が配置されたフレキシブル配線基板11と、上記フレキシブル配線基板11に搭載された半導体チップ5と、フレキシブル配線基板11と半導体チップ5との間に、少なくとも一部が配線9に接するように配置された封止樹脂6を有し、封止樹脂6に金属イオン結合剤が混合されている。 (もっと読む)


【課題】半導体素子のAuバンプと金錫共晶接合により接続される接続端子部を構成する配線をダウンセット加工して成形したときに、配線の形状をその成形により十分安定化させることができる、COFテープを用いた半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】デバイスホールがないCOFテープから構成される配線基板2上に半導体素子3を搭載するにあたり、接続部を構成する半導体素子3のAuバンプ4と配線基板2上の配線5のSnめっきされた接続端子部6とを加熱ツール7により接触加圧して加熱して金錫共晶接合により接続すると共に、接続部領域に位置する配線基板2の配線5と反対側の対応する面上に剛性の高い金属箔14を設けて、金属箔14とともに配線基板2上の配線5を接続部から遠ざかるようにダウンセット加工して成形するようにした。 (もっと読む)


【課題】例えば半導体装置用両面テープキャリアのようなプリント配線板のブラインドビアホールにおける銅めっきの異常析出やボイド等を生じることなく、均一な膜厚の銅めっきのような導体膜を形成して、両面の導体パターン間の良好な電気的導通を確保する。
【解決手段】絶縁性基材1の片面に第1の金属材料層3aを張り合わせてなる銅張基板における、第1の金属材料層3aが張り合わされた面とは反対側の面に、絶縁性基材1の溶融物および/または分解物が生じる温度で当該溶融物および/または分解物に対して融着可能な材質の有機材料からなるバリ除去用シート4を張り合わせておき、レーザ照射5によって第1の金属材料層3aおよび絶縁性基材1を貫通してさらにバリ除去用シート4にまで達するようにスルーホール7を形成すると共にそのときのレーザ照射5によって不可避的に生じるバリ8をバリ除去用シート4に融着させておき、その後、そのバリ除去用シート4と共にバリ8を剥離除去する。 (もっと読む)


【課題】バンプ電極によって半導体チップ間あるいは半導体チップと配線基板とを電気的に接続する半導体装置において、特に、接続部の高密度化や狭ピッチ化が進んでも、接続不良の発生を低減できる技術を提供する。
【解決手段】接続部CNTにバンプ電極BMP1を押し付けることにより、接続部CNTを構成する梁BMが曲がる(たわむ)。そして、さらに、バンプ電極BMP1を接続部CNTに押し付けると、バンプ電極BMP1の先端部が空洞部CAの底面に到達する。このとき、押し曲げられた梁BMには復元力が働き、空洞部CAの底面にまで挿入されたバンプ電極BMP1を左右から挟む。このため、空洞部CAに挿入されたバンプ電極BMP1は、左右から梁BMの復元力により固定される。 (もっと読む)


【課題】 曲げ加工性の低下や反りの発生を回避しつつ放熱性の向上を達成することを可能とした半導体装置用テープキャリアおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】 本発明の半導体装置用テープキャリアは、絶縁性フィルム基材の片面に銅(Cu)または銅合金からなる配線パターンを有する半導体装置用テープキャリアであって、前記片面とは反対側の面に、蒸着により形成された金属膜を備えたことを特徴としている。また、その製造方法は、絶縁性フィルム基材の片面に銅(Cu)または銅合金からなる配線パターンを形成する工程を有する半導体装置用テープキャリアの製造方法であって、前記片面とは反対側の面に、蒸着法によって金属膜からなる放熱層を形成する工程を含むことを特徴としている。 (もっと読む)


【課題】単純な構造で比較的安価に製造でき、半導体チップからの熱を効率よく放熱することができるフレキシブルプリント配線基板及びそれを用いた半導体装置を提供する。
【解決手段】 絶縁基材11と、この絶縁基材11の一方面に設けられた導電体層からなる配線パターン12とを具備し、前記配線パターン12は半導体チップ搭載用のインナーリード21と、入出力配線接続用のアウターリード22,23とを有し、当該配線パターン12上に絶縁性接着層14を介して金属層15が接着されている。 (もっと読む)


【課題】 耐折性や曲げ応力特性の悪化を招くことなく熱放散性を向上せしめることを可能とした半導体装置用テープキャリアおよびそれを用いた半導体装置を提供する。
【解決手段】 本発明の半導体装置用テープキャリアは、絶縁性フィルム基材1と、前記絶縁性フィルム基材1の片面に設けられた配線パターン2と、前記絶縁性フィルム基材1における前記片面とは反対側の面に設けられた、当該半導体装置用テープキャリアにおける熱放散性を高めるための放熱板4とを有する半導体装置用テープキャリアであって、前記放熱板4が、当該半導体装置用テープキャリアにおける曲げ応力特性を調節するためのパターン間スペース3のようなスリットおよび/または開口を設けてなるものであることを特徴としている。 (もっと読む)


【課題】チップの小型化と高信頼性を実現するCOFパッケージ及びそれに用いられるテープ基板を提供する。
【解決手段】テープ基板のチップ搭載領域61の周縁部と内側部で半導体チップの電極とバンプを介して電気的に接続するCOFパッケージであって、テープ基板は少なくとも2本以上の入力配線と、同一種別の信号が入力される4本以上の複数の内部入力配線と、ダミー配線244と、を備え、ダミー配線244は、一方の複数の内部入力配線と他方の複数の内部入力配線とに挟まれると共に、少なくとも4本の内部入力配線は、入力配線に挟まれて配置され、内部入力配線は、チップ搭載領域61の周縁部では、半導体チップと電気的に接続されること無く通過し、チップ搭載領域61の内側部で半導体チップと接続され、入力配線、及びダミー配線244は、チップ搭載領域61の周縁部で半導体チップと接続される。 (もっと読む)


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