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Fターム[5F045AD10]の内容

気相成長(金属層を除く) (114,827) | 成膜条件−成膜温度 (8,040) | 600≦T<700℃ (701)

Fターム[5F045AD10]に分類される特許

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【課題】カーボン基材またはSi含浸SiC基材の基板支持具表面に形成された高純度SiC膜の、処理室クリーニング時におけるエッチングを抑制し、処理室内や基板の汚染を回避する。
【解決手段】基板支持具の表面にSi含有層を形成する工程と、減圧下で酸素含有ガスと水素含有ガスとを用いて前記Si含有層をSiO層に変化させる工程と、を交互に繰り返すことにより基板支持具の表面にSiO膜を形成する工程S1,S2と、表面にSiO膜が形成された基板支持具により基板を支持した状態で基板上に薄膜を形成する工程S4と、基板支持具に付着した堆積物をフッ素含有ガスを用いて除去する工程S5と、その後に再度、基板支持具の表面にSi含有層を形成する工程と、減圧下で酸素含有ガスと水素含有ガスとを用いてSi含有層をSiO層に変化させる工程と、を交互に繰り返すことにより基板支持具の表面にSiO膜を形成する工程S6と、を有する。 (もっと読む)


【課題】金属含有膜の酸化を抑制しつつシリコン含有膜の選択酸化を行い、シリコン含有膜中に侵入した水素の残留を抑制する。
【解決手段】基板を第1の温度に加熱しつつ、処理室内に水素含有ガス及び酸素含有ガスを供給した状態でプラズマ放電して所定時間維持する工程と、基板を第1の温度よりも高い第2の温度で加熱しつつ、処理室内に希ガスを供給して処理室内を希ガスの雰囲気に所定時間維持する工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】コンタクト層に不純物として供給するTe、Seのメモリーの影響を小さくしつつ、コンタクト抵抗を低減し、かつ、特性変動や信頼性低下を抑制しつつ、電子供給層の不純物濃度を高め、オン抵抗を低減したIII−V族化合物半導体エピタキシャルウェハを提供する。
【解決手段】単結晶基板11上に、GaAs層、AlGaAs層からなるバッファ層12a,12b、n型不純物を含有するAlGaAs層13,17又はInGaP層若しくはSiプレナードープ層からなる電子供給層、InxGa(1-x)As層からなるチャネル層15、アンドープ又は低濃度n型不純物を含有するAlGaAs層からなるショットキー層18、n型不純物を含有するInxGa(1-x)As層からなるコンタクト層20a、20bを積層したHEMT構造を有し、チャネル層のxを0.3≦x≦0.35とし、コンタクト層のxを0.55≦x≦0.60としたものである。 (もっと読む)


【課題】 半導体の結晶性を向上させることが可能な半導体基板の製造方法を提供する。
【解決手段】 本発明の半導体基板の製造方法は、単結晶基板2の上に単結晶基板2を覆うように半導体層を結晶成長させた半導体基板の製造方法であって、平坦な上面4Aを有する複数の突起4が第1主面2Aに設けられた単結晶基板2を準備する工程と、複数の突起4のうち、上面4Aから半導体層3を結晶成長させるものを第1突起4aとし、第1突起4a同士の間に位置する、上面4Aに半導体層3を結晶成長させないものを第2突起4bとして、第2突起4bの上面4Aを被覆するように実質的に半導体層3が結晶成長しないマスク層5を形成する工程と、第1突起4aの上面4Aからそれぞれ第2突起4bの上面4Aのマスク層5を越えて単結晶基板2を覆うように半導体層3を結晶成長させる工程とを有する。そのため、単結晶基板2上に成長させる半導体層3の単結晶基板2に対する平坦性を向上させることができ、半導体層3の結晶性を向上させることができる。 (もっと読む)


【課題】立方晶炭化ケイ素と格子定数が異なるシリコン基板上に、結晶欠陥が少なくかつ高品質の立方晶炭化ケイ素膜を有する立方晶炭化ケイ素膜付き基板及びその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の立方晶炭化ケイ素膜付き基板1は、シリコン基板2の表面2aに立方晶炭化ケイ素膜3が形成され、このシリコン基板2の立方晶炭化ケイ素膜3との界面近傍に、シリコン基板2の表面2aから内部に向かって漸次縮小する略四角錐状の空孔4が多数形成されている。 (もっと読む)


【課題】枚葉移載と一括移載を切り替える際に、パーティクル発生を抑制することのできる基板処理装置を提供する。
【解決手段】複数の基板が収容される基板収容器と、複数の基板が積載されるボートと、複数の基板が積載されたボートを収容し前記ボート上の複数の基板を処理する処理室と、前記基板収容器と前記ボートとの間で基板の移載を行う基板移載装置とを備え、前記基板移載装置は、1枚の基板を移載するための枚葉移載用プレートを駆動する第1の駆動部と、複数枚の基板を移載するための一括移載用プレートを駆動する第2の駆動部とを備え、1枚の基板を移載する場合は、第1の駆動部により枚葉移載用プレートを駆動し、複数枚の基板を移載する場合は、第1の駆動部と第2の駆動部により、枚葉移載用プレートと一括移載用プレートを同期して駆動するように、基板処理装置を構成する。 (もっと読む)


【課題】活性層の劣化を抑制した半導体発光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態によれば、窒化物半導体を含む結晶層を含む半導体発光素子の製造方法が提供される。窒化物半導体は、In原子及びGa原子を含み、In原子の数とGa原子の数との合計に対するIn原子の数の比であるxsが0.2以上0.4以下である。製造方法は、基体の主面に、Ga原子を含む第1分子とIn原子を含む第2分子とを含む原料ガスを供給して結晶層を形成する工程を備える。第1分子及び第1分子の分解種の原料ガスに対する第1分圧と、第2分子及び第2原料分子の分解種の原料ガスに対する第2分圧と、の合計に対する第2分圧の比をInの気相供給量比xvとする。(1−1/xv)/(1−1/xs)を0.1よりも小さくする。 (もっと読む)


【課題】凹凸を有する基層上に均一な結晶を成長させる半導体発光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】凹凸が設けられた主面を有する基層の前記主面に窒化物半導体の結晶を成長させる工程を備えた半導体発光素子の製造方法であって、前記主面に、GaAl1−xN(0.1≦x<0.5)を含み、厚さが20ナノメートル以上50ナノメートル以下のバッファ層を、0.1マイクロメートル/時以下の速度で堆積し、前記バッファ層の上に、前記バッファ層の堆積における前記基層の温度よりも高い温度で、窒化物半導体を含む結晶を成長させることを特徴とする半導体発光素子の製造方法が提供される。 (もっと読む)


【課題】ヒータ素線同士の接触を防止することができる素線接触防止部材を提供する。
【解決手段】加熱すべき被加熱体の外周に螺旋状に巻回して配置したヒータ素線52を有するヒータ装置48において、前記ヒータ素線の間隔が、前記ヒータ素線の変形により前記ヒータ素線の配置時よりも狭まった箇所70に対応させて前記ヒータ素線間に絶縁性の素線接触防止部材60を配置する事により、ヒータ装置48に設けたヒータ素線同士の接触を防止して、ヒータ素線の溶断等の発生を阻止する。 (もっと読む)


【課題】高輝度、高信頼性、良好な表面状態を有する発光ダイオード用エピタキシャルウェハを提供する。
【解決手段】n型基板2上に、少なくともAlGaInP系材料からなるn型クラッド層4、活性層5、p型クラッド層6、及びp型p型電流分散層7を有する発光ダイオード用エピタキシャルウェハ1であって、p型p型電流分散層7中の水素濃度の平均値を1.0×1017atoms/cm3以下にしたものである。 (もっと読む)


【課題】逆相境界(APB)の無いIII−V化合物半導体材料およびその製造方法を提供する。
【解決手段】III−V化合物半導体材料の製造方法は、a){001}配向を有する第1半導体材料からなる基板と、基板の上に位置し、これと接触する絶縁層と、絶縁層内に、少なくとも部分的に基板を露出させる凹部領域を用意する工程と、b)凹部領域において露出基板の上に位置し、これと接触するバッファ層を形成する工程工程と、c)バッファ層の表面を粗面化するために、熱処理を印加する工程とを含み、バッファ層が、熱処理の印加後に二重ステップ表面を有する丸み形状をなし、d)凹部領域を、バッファ層の二重ステップ表面の上に位置し、これと接触するIII−V化合物半導体材料で少なくとも部分的に充填する工程をさらに含む。 (もっと読む)


【課題】半導体デバイス製造の多層プロセスにおいて、劣悪な平坦性は、ホトリソグラフィー工程で問題を惹起し得る。特に初期の堆積ステップにおける劣悪な平坦性は、半導体デバイス製造のより高い層を通じて増幅される傾向がある。この点を改良した半導体デバイス製造工程初期のブランケット層の堆積方法を提供する。
【解決手段】ガス状の前駆体混合物を形成するためにシリコンソース、ゲルマニウムソース及びエッチャントを混合することを含み、SiGe膜30をブランケット堆積する方法。本方法はさらに、化学気相成長条件下において、ガス状の前駆体物質を基板10上に流し、パターンの有無に関わらず、基板10上にエピタキシャルSiGeを堆積させる方法に依り、平坦性の優れたブランケット層30を堆積する。 (もっと読む)


【課題】第1ガスの使用効率を向上させる。
【解決手段】処理室に連通する第1ノズルから、処理室内の排気速度を低下させた状態で処理室内に第1ガスを供給する工程と、第1ガスの供給を止めた後、第1ノズル内に不活性ガスを供給する工程と、処理室内に残留する第1ガスを除去する工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】比較的低温で成膜しても含有する炭素濃度を多くさせてクリーニング時のエッチングレートを比較的小さくでき、もってクリーニング時の膜厚の制御性を向上させることができる成膜方法を提供する。
【解決手段】被処理体Wが収容されて真空引き可能になされた処理容器4内に、シラン系ガスと窒化ガスと炭化水素ガスとを供給して前記被処理体の表面にSiCN膜よりなる薄膜を形成する成膜方法において、前記シラン系ガスと前記窒化ガスと前記炭化水素ガスとをそれぞれ一定の供給期間でパルス状に供給する供給工程と供給を停止する停止工程とよりなる1サイクルを複数回繰り返し実行してプラズマを用いることなく前記薄膜を形成する。これにより、比較的低温で成膜しても含有する炭素濃度を多くさせてクリーニング時のエッチングレートを比較的小さくでき、もってクリーニング時の膜厚の制御性を向上させる。 (もっと読む)


【課題】複数種類の処理ガスの混蝕を回避しつつ、ガス排気が正しく開始されなかった場合には直ちにそのことを認識可能にし、これにより排気完了までに多くの時間を要するのを抑制できるようにする。
【解決手段】基板を収容する処理室と、混蝕を避けるべき複数種類の処理ガスを当該処理ガスの流路である配管を通じて処理室内へ供給するガス供給系と、処理室内および配管内のガスを排気するガス排気系と、を有した基板処理装置において、配管内に滞留するガスの状態をガス残留状態、排気中状態、排気完了状態の少なくとも三段階で表示部に表示させる制御部を設ける。 (もっと読む)


【課題】Siウエハなどの基板にSi、SiGeなどの半導体膜を選択成長にて成膜する際の、膜形状を平坦化させる。
【解決手段】絶縁体面間に半導体面が露出された第一基板の対向面に絶縁体面が露出された第二基板を配置した状態で反応室内へ搬送する第一工程と、前記反応室内を加熱するとともに前記反応室内へ少なくともシリコン含有ガスと該シリコン含有ガスとは異なる塩素含有ガスとを供給して、少なくとも前記第一基板の半導体面に選択的に平坦な表面を有するシリコン含有膜を形成する第二工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】等方性酸化を複数枚の基板が積層して配置された装置にて実施する場合に、基板配置場所により水素濃度が異なり酸化膜厚が大きく変動するのを抑制し、高品質な半導体装置を製造する。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、複数枚の半導体ウエハ1を処理室4内に搬入する工程と、処理室4内を加熱するとともに圧力を大気圧よりも低くした状態で、酸素含有ガスと水素含有ガスとを供給して半導体ウエハ1を酸化処理する工程と、複数枚の半導体ウエハ1を処理室4内より搬出する工程とを有し、酸化処理する工程では、水素含有ガスを、複数枚の半導体ウエハ1が垂直方向に積層されて配列される基板配列領域に対応する領域の半導体ウエハ1が配列される方向における複数箇所から供給することで、酸素含有ガスと水素含有ガスとを基板配列領域に対応する領域の複数箇所で反応させて反応種を生成し、酸化処理を行う。 (もっと読む)


【課題】高耐圧化した窒化物半導体装置を提供する。
【解決手段】窒化物半導体装置200は、シリコン基板201上に形成されたバッファ層220と、バッファ層220上に形成された第1の窒化物超格子層204aと、第1の窒化物超格子層204a上に形成された活性領域層230とを備え、バッファ層220は、不純物がドープされた第2の窒化物超格子層204bと、第2の窒化物超格子層204b上に形成され、不純物がドープされた第1の窒化物半導体層205と、第1の窒化物半導体層205上に形成され、第1の窒化物半導体層205よりもAl組成及び不純物の濃度が高い第2の窒化物半導体層206とを有する。 (もっと読む)


【課題】ボイドの発生を抑制することができるシリコン膜の形成方法およびその形成装置を提供する。
【解決手段】シリコン膜の形成方法は、第1成膜工程と、エッチング工程と、第2成膜工程とを備えている。第1成膜工程では、被処理体の溝を埋め込むようにシリコン膜を成膜する。エッチング工程では、第1成膜工程で成膜されたシリコン膜をエッチングして前記溝の開口部を広げる。第2成膜工程では、エッチング工程で開口部が広げられた溝にシリコン膜を埋め込むように成膜する。これにより、表面に溝が形成された被処理体の溝にシリコン膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】発光層の結晶性低下や、p型半導体層への不純物の混入に起因するp型半導体層の結晶性低下を防ぎ、かつ、高い出力の得られる半導体発光素子およびその製造方法を提供する。
【解決手段】第一有機金属化学気相成長装置において、基板11上に第一n型半導体層12aと第二n型半導体層12bと、井戸層と障壁層とを交互に繰返し積層し、最上面が前記障壁層となる発光層13を形成する第一工程と、第二有機金属化学気相成長装置において、前記発光層の最上面の前記障壁層上に前記障壁層の再成長層13cとp型半導体層14とを順次積層する第二工程と、を具備してなることを特徴とする半導体発光素子の製造方法を採用する。 (もっと読む)


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