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Fターム[5F045AF01]の内容

気相成長(金属層を除く) (114,827) | 被成膜面の組成、基板の特徴、ダミー基板、マスク (7,328) | 被成膜面が半導体であるもの (4,466)

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【課題】
ガス輸送管路に対してインライン形態で結合できかつ小型化が可能なガス加熱装置を提供することにある。
【解決手段】
この発明は、伝熱ブロック自体にヒータが埋設され、途中で折曲げられた断面円形で直線状の中空加熱路が形成され、ガス入力ポートから導入されたガスが旋回して中空加熱路で加熱される。これにより、中空加熱路の距離が短くても旋回ガスを効率よく加熱でき、しかも中空加熱路が途中で折曲げられているので、伝熱ブロック全体を小さく抑えることができる。その結果、ガス加熱装置全体を小型化できる上に、加熱効率がよくなる。 (もっと読む)


【課題】被処理基板の搬入時と搬出時に、処理ガスの流出と外気の流入を確実に阻止することのできるプロセス処理装置を提供する。
【解決手段】プラズマ処理装置1では、筐体3内にプラズマを生成するための第1電極13と第2電極17が、上下方向に間隔を隔てて対向するように配設されている。筐体3の一方の側面には入口部22が設けられ、他方の側面には出口部23が設けられている。入口部22と出口部23には、筐体3の外の気流を取り入れるガイド部24a,24bが設けられている。ガイド部24aは、被処理基板51に近い側を回転軸25として回転可能に支持されている。筐体3には、ガイド部24a,24bから筐体3内に取り入れられた気流を、筐体3の外へ排出するための排気ポート21が設けられている。 (もっと読む)


【課題】処理室の内面等に付着したHfO、HfSiO,ZrO等の高誘電体膜をエッチングガスによりクリーニングできる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】基板30を処理室4内に搬入する工程と、前記処理室4内で基板30上に高誘電体膜を成膜する工程と、成膜後の基板を前記処理室4より搬出する工程と、前記処理室4内に塩素を含むガスと酸素を含むガスとを導入するかもしくは塩素および酸素を含むガスを導入して前記処理室4内をクリーニングする工程と、前記処理室4内に酸素を含むガスを導入して前記クリーニング後に前記処理室4に残留する物質を除去する工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】エネルギ効率の良好なバッチ式熱処理装置を提供する。
【解決手段】バッチ式熱処理装置において、プロセスチューブ36外に電磁波を閉じ込めるシールド52を同心円状に設置し、シールド52の中央高さに電磁波導入ポート53を穿設し、電磁波導入ポート53に導波管54の一端を接続し、導波管54の他端にマイクロ波を供給するマイクロ波源55を接続する。マイクロ波源55にマイクロ波の周波数を調整するコントローラを接続し、コントローラに電界強度測定器を接続する。電界強度測定器に電界強度を検出する複数のアンテナ58を接続し、複数のアンテナ58はシールド52に高さ方向および周方向に間隔をとって配置する。各バッチ毎に最適周波数を求め、各バッチ毎にマイクロ波源からの出力マイクロ波の周波数を最適値に調整することで、バッチ相互間の処理時間の変動を防止し、エネルギ効率を高める。 (もっと読む)


【課題】セラミックス部材中に埋設された端子に外部から電力を供給する接続部材を備えるねじり破断強度が高い接合構造を提供する。
【解決手段】孔14aが設けられたセラミックス部材14と、セラミックス部材14に埋設され孔14aの底部において露出する端子3と、端子3の露出面に接するロウ接合層6と、孔14aに挿入されロウ接合層6を介して端子3に接続される接続部材5と、を備え、端子3と接続部材5は、セラミックス部材と熱膨張係数がほぼ同一の高融点金属からなり、孔14aの内径は、接続部材5を挿入した際に接続部材5との間にクリアランス14bが形成されるように、接続部材5の外径よりも大きく、断面形状が略半円形状のロウ溜空間14dがセラミックス部材14の孔14aの側壁の一部に設けられ、ロウ接合層6がロウ溜空間14dの一部を充填している接合構造。 (もっと読む)


【課題】電磁波による悪影響を回避しボートの正常な回転を確保することができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】処理室37を形成したプロセスチューブ36外にシールド54を同心円に設置し、シールド54の側壁に導波管56の一端を接続し、導波管56の他端に電磁波源57を接続する。シールキャップ32に回転軸を軸受装置で支持しロータリーアクチュエータ50で回転させるように設け、回転軸の受け台上にボート42を載置する。軸受装置周りに電磁波を遮蔽するカバー51を設置し、カバー51は固定部と可動部とで迷路構造に構成する。シールド内に供給された電磁波が軸受装置に及ぶのを阻止できるので、電磁波によって軸受装置の磁性流体が加熱されてしまい、正常な回転を維持できない事態が発生するのを未然に防止できる。 (もっと読む)


【課題】基板を載置する上面の局所的な温度分布を低減する。
【解決手段】基板が載置される上面12aを有する基体12と、上面12aを含む上部121に埋め込まれ上面121に略平行な平面形状を有する第1発熱体14と、上面12aを含む上部121に接合される下部122に埋め込まれ上面12aに直交する方向において、上面12aに対して第1発熱体14よりも下方に配設される平面型の第2発熱体16とを備え、第1発熱体14を基体12の上面12aに投影した第1投影パターン24と、第2発熱体16を上面12aに投影した第2投影パターン26とが重なる重複部を有する。上面12aの面積に対する第1投影パターン24と第2投影パターン26との面積の合計の占有率が85%以上であり、上面12aにおける第2投影パターン26の面積に対する重複部の面積の割合が5%以上である。 (もっと読む)


【課題】ろう付け部分に剥離等の断線が生ずることを抑制することが可能な載置台構造を提供する。
【解決手段】処理装置20の処理容器22内に設けられて被処理体Wを載置するための載置台構造において、平面方向に延びる1又は複数の導電部材62が内部に設けられた誘電体よりなる載置台60と、処理容器の底部より起立されて上端部に載置台を支持する円筒体状の支柱56と、載置台の下面側に設けられた端子収容凹部と、導電部材に導通されると共に端子収容凹部内に露出されている上部端子と、支柱内に挿通される給電棒86A〜86Dと、給電棒の上端に設けられ、前記端子収容凹部内に嵌合されると共に前記上部端子にろう付けされて給電棒の引っ張り方向に対して前記端子収容凹部に係合される下部端子88A〜88Dを備えた。 (もっと読む)


【課題】基板サセプタに対して基板を高い密着度で保持することによる基板の冷却効率の向上等を図れるプラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】ドライエッチング装置1のトレイ15は、基板収容孔19A〜19Dを備える。基板収容孔19A〜19Dの孔壁から突出する基板支持部を設ける。基板支持部が基板2の下面の外周縁部分を支持する。誘電体板23は、トレイ支持面、トレイ15の下面側から基板収容孔19A〜19Dに挿入され、かつその上端面である基板載置面に基板2が載置される基板載置部29A〜29Dを備える。基板載置面に載置された基板2の下面と、トレイ支持部28に載置されたトレイ15の基板支持部の上面との隙間δ2が0.2〜0.3mm程度である。伝熱ガス供給機構45は基板2と基板載置面との間に伝熱ガスを供給する。 (もっと読む)


【課題】アルマイト皮膜の破損によるパーティクルの発生を確実に防止することができる基板処理装置用の部品を提供する。
【解決手段】ウエハWにプラズマ処理を施す基板処理装置10の部品であるクーリングプレート36は、アルミニウムにシリコンを含む合金を主成分とするアルミニウム基材56と、クーリングプレート36を電源の陽極に接続し且つシュウ酸を主成分とする溶液中に浸漬する陽極酸化処理によってアルミニウム基材56の表面に形成されたアルマイト皮膜57とを備え、該アルマイト皮膜57にはエチルシリケートが含浸されている。 (もっと読む)


【課題】 本発明は、CIS系薄膜太陽電池の高抵抗バッファ層を、一連の製造ラインで効率的に生産可能で、廃液等の処理も不要な、生産効率の高いCIS系薄膜太陽電池の製造方法を得ることを課題とする。
【解決手段】 基板上に裏面電極を製作する工程と、裏面電極上にp型CIS系光吸収層を製膜する工程と、上記p型CIS系光吸収層上に、直接、酸化亜鉛系薄膜からなるバッファ層を製膜する工程と、上記バッファ層上に酸化亜鉛系薄膜からなるn型透明導電膜を製膜する工程と、を有し、上記バッファ層製膜工程及び、上記n型透明導電膜製膜工程は、MOCVD法により行われ、上記n型透明導電膜層製膜工程の原料モル比([O]/[Zn])よりも、上記バッファ層製膜工程の原料モル比([O]/[Zn])を高くした。 (もっと読む)


【課題】本発明は、シャワーヘッド及びこれを備える化学気相蒸着装置に関する。
【解決手段】本発明の一実施例によるシャワーヘッドは、反応チャンバーの内部に第1反応ガスが供給されるようにする少なくとも1つのガス管を備える第1ヘッドと、上記ガス管が貫通する所定大きさのホールを備える第2ヘッドと、上記ホールを貫通した上記ガス管と上記ホールの間に形成され上記反応チャンバーの内部に第2反応ガスが供給されるようにするガス流路を含む。 (もっと読む)


【課題】 基板と基板支持具の擦れによるダスト発生を抑えることができる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】 基板54を載置した基板支持具30を反応炉40内に挿入後、反応炉40内を真空排気する前に、基板温度および基板支持具30の温度を安定させるステップを導入することにより、反応炉40内の真空排気時における基板54と基板支持具30の擦れによるダスト発生を抑制する。 (もっと読む)


【課題】各種金属、特にAl、Cr、Fe、Co、Ni、Cu或いは、ClF、ClF、ClF、HCl等のガスに対して耐食性に優れ、乾式洗浄の時に使用されるガスに対して耐エッチング性に優れているCVD装置用冶具を提供する。
【解決手段】CVD−SiCは、CVD法により形成されたβ−SiCを構成する結晶のうち、SiC(111)面の占める比率が0.5以下であり、X線回折におけるSiC(111)面のピーク強度に対するSiC(200)面のピーク強度が1.0未満であり、かつ、SiC(200)面の占める比率が、SiC(220)面の占める比率、SiC(311)面の占める比率及びSiC(222)面の占める比率のそれぞれより大きい。耐食性CVD−SiC被覆材は、CVD−SiCがSiCまたは炭素質材からなる基材上に被覆されたCVD−SiC被覆材である。 (もっと読む)


【課題】バッチ式の反応炉を用いた場合でも、安定した特性を得ることができる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】供給ラインに原料ガスを流し始める(ステップS2)。供給ラインからMFCを通過した原料ガスは排気ラインに流れ、炉内供給ラインには流れない。その後、MFCを流れる原料ガスの流量が安定したかを判定する(ステップS3)。例えば、流量の変動幅が所定の範囲内に収まっているか判定する。流量が安定すると、バルブV1を開くと共に、バルブV2を閉じる(ステップS4)。この結果、供給ラインからMFCを通過した原料ガスは排気ラインに流れなくなり、炉内供給ラインに流れるようになる。続いて、所定時間が経過したかを判定する(ステップS5)。この所定時間は、形成しようとしているSiGe層の成長に必要とされる時間である。所定時間が経過すると、バルブV1を閉じると共に、バルブV2を開く(ステップS6)。 (もっと読む)


【課題】 大気プラズマ溶射法で、Yの溶射膜を備えたプラズマエロージョンに強いプラズマ処理容器内部材の製造方法を提供する。
【解決手段】 本発明のプラズマ処理容器内部材の製造方法は、1組のアノード11とカソード12を有するプラズマ溶射装置を用いて従来と同じ方法で気孔率5%以上のYの溶射膜21を形成する。その後、この溶射膜21の上に、気孔率が5%未満のYの溶射膜22を形成する。気孔率が5%未満の溶射膜の形成方法は、つぎの通りである。1組のアノードとカソード間で放電し、作動ガスを供給して発生するプラズマに、粒径が10〜45μmのYの粉末状素材を供給する。粒径を通常のプラズマ溶射の場合より小さくすることで、気孔率が5%未満のYの溶射膜22を形成することができる。 (もっと読む)


【課題】対象物を静電吸着ステージから脱離させる際に対象物の跳びはね、破損、剥離帯電、位置ずれ等の問題を発生させないようにする。
【解決手段】誘電体ブロック12内の一対の吸着電極131,132に吸着電源141,142によって互いに極性の異なる直流電圧を印加して静電吸着面10に静電気を誘起して板状の対象物9を静電吸着する。対象物9を脱離機構15で静電吸着面10から脱離させる際には、静電吸着力とは逆向きの機械的な圧力であって残留吸着力より小さい予圧を対象物9に与え、吸着電源141,142をオフにした後、静電吸着の際とは逆極性の電圧を一対の吸着電極131,132に印加して誘電体ブロック12に逆電界を設定する。逆電界設定によって誘電体ブロック2内の残留電荷が急速に緩和され、残留電荷がゼロになる直前で予圧によって対象物9は静電吸着面10から離間し、対象物9に作用する残留吸着力はゼロになる。 (もっと読む)


【課題】環境や洗浄部品に影響されずに、装置立上げ及びメンテナンス後の金属汚染量を低減することを可能とする基板処理方法を提供する。
【解決手段】装置立ち上げ時又はメンテナンス後の再稼働時の基板の生産処理に移行する前に、前記基板処理室に少なくとも窒素ガスを含むガスを供給しつつ排気して、生産処理移行後のプラズマ放電時の高周波電力よりも高くしてプラズマ放電し、その後、前記基板載置台に基板を載置して、該基板を処理する。 (もっと読む)


【課題】薄膜の成膜品質を向上させることができる薄膜蒸着装置および蒸着方法を提供する。
【解決手段】本発明は、薄膜蒸着装置および蒸着方法に関し、反応チャンバと、反応チャンバ内に回転可能に装着され、少なくとも1つの基板が載置されるサセプタと、反応チャンバの上部に装着され、反応チャンバ内に複数のガスを独立的に供給するガス供給部と、前記複数のガスが供給される各領域の境界に対応するようにサセプタ上部に装着され、周辺のガスを排気する排気ラインを備える分離排気部と、前記分離排気部に吸入力を提供する真空ポンプ部とを備え、ソースガスと反応ガスとを分離して排気することができる。 (もっと読む)


【課題】微細なミストが気化室の内部を飛行する間に溶媒が揮発してパーティクルとなる状況を回避し、微細なミストを確実に気化させることのできる環境を作り出すことにより、パーティクルの生成を抑制することのできる気化器及びこれを備えた成膜装置の構成を提供する。
【解決手段】原料を溶媒に溶解してなる溶液原料を噴霧する噴霧手段411と、噴霧された前記溶液原料を気化するための加熱された気化面を備えた気化室412と、該気化室にて生成された原料ガスを導出するガス導出口413とを有する気化器410において、前記噴霧手段の噴霧方向にある前記気化面は、通気性を有するフィルタ414によって構成されている。 (もっと読む)


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