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【課題】高い電界効果移動度を有し、しきい値電圧のばらつきが小さく、かつ高い信頼性を有する酸化物半導体を用いたトランジスタを提供する。また、該トランジスタを用い、これまで実現が困難であった高性能の半導体装置を提供する。
【解決手段】トランジスタに、インジウム、スズ、亜鉛およびアルミニウムから選ばれた二種以上、好ましくは三種以上の元素を含む酸化物半導体膜を用いる。該酸化物半導体膜は、基板加熱しつつ成膜する。また、トランジスタの作製工程において、近接の絶縁膜または/およびイオン注入により酸化物半導体膜へ酸素が供給され、キャリア発生源となる酸素欠損を限りなく低減する。また、トランジスタの作製工程において、酸化物半導体膜を高純度化し、水素濃度を極めて低くする。 (もっと読む)


【課題】配線層中の配線をゲート電極として使用し、かつ拡散防止膜と同一層にゲート絶縁膜を有している半導体素子を有する半導体装置において、拡散防止膜の機能を損なうことなく、半導体素子のオン抵抗を低くする。
【解決手段】第1配線層150を構成する絶縁層の表層には、第1配線154及びゲート電極210が埋め込まれている。第1配線層150と第2配線層170の間には、拡散防止膜160が形成されている。ゲート絶縁膜230は、拡散防止膜160のうちゲート電極210と重なる領域及びその周囲の上面に凹部を形成し、この部分を薄くすることにより、形成されている。 (もっと読む)


【課題】王水を用いることなくニッケルプラチナ膜の未反応部分を選択的に除去しうるとともに、プラチナの残滓が半導体基板上に付着するのを防止しうる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】シリコン基板10上に、ゲート電極16と、ゲート電極16の両側のシリコン基板10内に形成されたソース/ドレイン拡散層24とを有するMOSトランジスタ26を形成し、シリコン基板10上に、ゲート電極16及びソース/ドレイン拡散層24を覆うようにNiPt膜28を形成し、熱処理を行うことにより、NiPt膜28とソース/ドレイン拡散層24の上部とを反応させ、ソース/ドレイン拡散層24上に、Ni(Pt)Si膜34a、34bを形成し、過酸化水素を含む71℃以上の薬液を用いて、NiPt膜28のうちの未反応の部分を選択的に除去するとともに、Ni(Pt)Si膜34a、34bの表面に酸化膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】ブートストラップゲインの上昇を可能にしたブートストラップ回路、当該ブートストラップ回路を用いたインバータ回路、当該インバータ回路を用いた走査回路、当該走査回路を用いた表示装置、及び、当該表示装置を有する電子機器を提供する。
【解決手段】トランジスタと、当該トランジスタの一方のゲート電極とソース/ドレイン領域との間に接続された容量とを有し、当該一方のソース/ドレイン領域の電位の変動に応じてゲート電極の電位が変動するブートストラップ動作を行うブートストラップ回路において、トランジスタについて、ゲート電極の中心を通る線に関してソース領域とドレイン領域とを非対称な構造にする。 (もっと読む)


【課題】 基板表面にパターンニングされたポリシリコン層(ゲート配線や保護ダイオード)が閉ループ状の場合、特にウエハの周辺部分に配置されるチップでは、層間絶縁膜形成時にSOG膜のスピンコートでチップコーナー部分などにおいてSOG液の液だまりが生じ、層間絶縁膜の膜厚が不均一となり、厚膜化した箇所ではコンタクトホールの形成不良が発生する問題があった。
【解決手段】 ゲート配線と保護ダイオードが連続した閉ループ状とならないように、ゲート配線のコーナー部と、ゲート配線および保護ダイオードの隣接部分に開放部を設ける。 (もっと読む)


【課題】BiCMOSプロセスにより製造される半導体装置において、V−NPNトランジスタの製造工程を合理化する。また、そのトランジスタのhFEを大きな値に調整する。
【解決手段】N+型エミッタ領域14Eの下のP型ベース領域7の底部に接触してN型ベース幅制御層9が形成されている。N型ベース幅制御層9が形成されることで、N+型エミッタ領域14Eの下のP型ベース領域7が局所的に浅くなっている。また、P型ベース領域7は、P型ウエル領域6の形成工程を用いて形成し、N型ベース幅制御層9は、N型ウエル領域8の形成工程を用いて形成することにより、工程合理化を図ることができる。 (もっと読む)


【課題】半導体基板の表面に導入された不純物を、前記表面の浅い領域に高精度かつ高濃度で分布させ、不純物が半導体基板の深い領域に拡散することを防ぐことで、半導体装置の歩留まりおよび性能を向上させ、装置の微細化を容易にする。
【解決手段】N型MISトランジスタにおいて、半導体基板300に打ち込まれた炭素が、同じ領域に打ち込まれたホウ素を引き寄せる性質を利用し、ホウ素をN型の不純物として注入したハロー領域306に炭素を共注入して炭素注入層307を形成する。これにより、ホウ素が増速拡散することを防ぎ、ハロー領域306を高い精度で形成することを可能とすることで、微細化された半導体素子の短チャネル効果の発生を抑制する。 (もっと読む)


【課題】新たな構成のチョッパ型のコンパレータを提供する。
【解決手段】コンパレータは、インバータと、容量素子と、第1のスイッチと、第2のスイッチと、第3のスイッチとを有し、インバータの入力端子と出力端子とは、第1のスイッチを介して電気的に接続され、インバータの入力端子は、容量素子の一対の電極のうちの一方と電気的に接続され、容量素子の一対の電極のうちの他方は、第2のスイッチを介して参照電位が与えられ、入力された信号電位は第3のスイッチを介して容量素子の一対の電極のうちの他方に与えられ、インバータの出力端子から出力される電位を出力信号とし、第1のスイッチは、チャネルが酸化物半導体層に形成されるトランジスタを用いて構成される。 (もっと読む)


【課題】被処理体の所定領域に注入された、N型領域を形成する元素のイオンを、アニール処理の前後において被処理体の内部に維持し、所望のキャリア濃度のN型領域を形成することを可能とする、半導体デバイスの製造方法を提供する。
【解決手段】減圧雰囲気とした真空チャンバ内に、シリコンからなる被処理体101を配して、該真空チャンバ内に導入した、N型領域106Nを形成する元素Xを含むガスをプラズマ励起し、励起された該元素Xのイオンを、被処理体101の所定領域に注入する前工程と、該元素Xが注入された被処理体101をアニール処理する後工程と、を含み、該前工程と該後工程との間に、該真空チャンバ内に導入した酸素元素を含むガスをプラズマ励起し、励起された該酸素元素のラジカルに、該被処理体101の所定領域を曝露する工程を、さらに備えてなることを特徴とする半導体デバイスの製造方法。 (もっと読む)


【課題】プロセスの複雑化を招くことなく、サイリスタとしての機能を実現することの出
来る半導体装置を提供することを課題の一とする。
【解決手段】リセット動作及び初期化動作により所定の電位が記憶されたメモリ回路を有
する半導体装置において、トリガー信号の供給に応じて、メモリ回路の書き換えが行われ
る回路を設ける構成とする。そして、メモリ回路の書き換えにより、半導体装置に流れる
電流を負荷に流す構成とすることで、サイリスタとしての機能を実現しうる半導体装置と
する。 (もっと読む)


【課題】ゲート電極の側壁側にサイドウォールを精度よく形成することが可能な半導体装置の製造方法及び半導体装置を提供することを目的とする。
【解決手段】まず、SOI基板5の一方面側においてゲート電極34上及びゲート電極34の周囲の領域に第1絶縁膜40を形成する。次に、第1絶縁膜40上に積層させる構成で第1絶縁膜40とは材質の異なる第2絶縁膜42を形成する。そして、第1絶縁膜40及び第2絶縁膜42におけるゲート電極34の側壁34a側の部分を残しつつ、第2絶縁膜42よりも第1絶縁膜40のほうが、エッチング速度が遅くなるように第1絶縁膜40及び第2絶縁膜42を除去し、ゲート電極34の側壁34a側にサイドウォール45を形成する。 (もっと読む)


【課題】オン抵抗を低減し、かつ高耐圧で駆動することが可能な半導体装置を提供する。
【解決手段】当該高耐圧トランジスタは、第1の不純物層PEPと、第1の不純物層PEPの内部に形成される第2の不純物層HVNWと、第2の不純物層HVNWを挟むように、第1の不純物層PEPの内部に形成される1対の第3の不純物層OFBおよび第4の不純物層PWと、第3の不純物層OFBから、第2の不純物層HVNWの配置される方向へ、主表面に沿って突出するように、第1の不純物層PEPの最上面から第1の不純物層PEPの内部に形成される第5の不純物層OFB2と、第2の不純物層HVNWの最上面の上方に形成される導電層GEとを備える。第4の不純物層PWにおける不純物濃度は、第3および第5の不純物層OFB,OFB2における不純物濃度よりも高く、第5の不純物層OFB2における不純物濃度は、第3の不純物層OFBにおける不純物濃度よりも高い。 (もっと読む)


【課題】 ESD対策のための特別な工程や専用マスクを増やすことなく、ESD放電能力の向上を図る事が可能な半導体装置を実現する。
【解決手段】
基板上の所定の領域に、MOSFET構造のHVトランジスタ23と保護抵抗回路25からなる高耐圧用のESD保護素子21、及び、MOSFET構造のLVトランジスタ24と保護抵抗回路26からなる低耐圧用のESD保護素子22が形成されている。当該保護抵抗回路25(26)は、ゲート電極8b(8d)を挟んで互いに対抗するようにウェル2(3)の表層に分離形成される抵抗ドリフト領域16(17)の双方が、同導電型の低濃度ドリフト領域5c(5d)により電気的に接続されていることを除き、HVトランジスタ23(LVトランジスタ24)と同一の構造である。 (もっと読む)


【課題】リーク電流および閾値を低減させるゲート絶縁膜を提供する。
【解決手段】図1に示すように、半導体基板1上に、ゲート絶縁膜3を形成するゲート絶縁膜形成工程と、ゲート絶縁膜3上に、ゲート電極4を形成するゲート電極形成工程と、を備え、ゲート絶縁膜形成工程は、第1金属の酸化膜あるいは酸窒化膜を、成膜する第1の成膜工程と、第1金属の酸化膜あるいは酸窒化膜上に第2金属または、その酸化物を成膜する第2の成膜工程と、第2金属を第1金属の酸化膜中に拡散させるために熱処理する熱処理工程の3工程を含む。 (もっと読む)


【課題】簡易な構成であり且つトランジスタ毎にしきい値電圧が異なる半導体集積回路のトランジスタ素子の提供。
【解決手段】ソース領域16A,16D、ドレイン領域16B,16Cおよびチャネル領域を備えた支持基板(Si基板2)上に、ゲート電極10とゲート電極10を覆う中間膜18とを備える第1および第2のトランジスタ構造を、少なくとも有し、前記第1のトランジスタ構造におけるゲート電極10とチャネル領域とが重なる領域には、中間膜18上に、第1のトランジスタ構造のしきい値電圧に変動を及ぼす範囲でゲート電極10とチャネル領域とが重なる領域の大部分を覆うよう支持基板(Si基板2)に応力を印加する応力膜22を有し、前記第2のトランジスタ構造におけるゲート電極10とチャネル領域とが重なる領域には、中間膜18上に、支持基板(Si基板2)に応力を印加する応力膜22を有さない半導体集積回路のトランジスタ素子。 (もっと読む)


【課題】半導体装置の性能向上を図る。
【解決手段】ゲート電極GE1,GE2,GE3,GE4の側壁上にオフセットスペーサを形成した状態で半導体基板1のnMIS領域1A,1BおよびpMIS領域1C,1Dのそれぞれにイオン注入を行うことで、ソース・ドレインのエクステンション領域を形成する。この際、nMIS領域1A,1BおよびpMIS領域1C,1Dのそれぞれに対して別々のフォトレジストパターンを用いて個別にイオン注入を行うが、フォトレジストパターンを形成し直す度に、オフセットスペーサを形成し直すようにする。 (もっと読む)


【課題】半導体基板を貫通する貫通電極の周囲に形成される環状の絶縁分離部において、絶縁分離部を構成する酸化膜の応力により絶縁分離部周囲の半導体基板が変形する。
【解決手段】絶縁分離部の基板側に深さ方向に圧縮応力を与える第1の膜4を形成し、第1の膜4上に深さ方向に引張応力を与える第2の膜6膜を形成し、その際、第1及び第2の膜の膜厚を圧縮応力と引張応力とがほぼ釣り合うように調整する。 (もっと読む)


【課題】コストを抑え、機械的強度を高めることができ、より簡単なプロセスで形成することができ、なおかつ電波が遮蔽されるのを防ぐことができる、無線タグに代表される半導体装置を提供する。
【解決手段】導電膜を内側にして可撓性基板を折り曲げることで、折り曲げ線の左右で別々に設けられた導電膜同士を電気的に接続させ、アンテナとして機能させる。 (もっと読む)


【課題】安定したボディ固定動作と共に、高集積化、低寄生容量化や配線容量の低減化を図ることができる、SOI基板上に形成される半導体装置を得る。
【解決手段】ソース領域1,ドレイン領域2及びゲート電極3で形成されるMOSトランジスタにおいて、ゲート一端領域及びゲート他端領域に部分分離領域11a及び11bが形成され、部分分離領域11aに隣接してタップ領域21aが形成され、部分分離領域11bに隣接してタップ領域21bが形成される。部分分離領域11a,11b、タップ領域21a,21b及び活性領域1,2の周辺領域は全て完全分離領域10が形成される。 (もっと読む)


【課題】低電圧デバイス保護付き高電圧複合半導体デバイスを提供する。
【解決手段】電圧保護されたデバイスを含複合半導体デバイスの1つの好適な実現では、ノーマリオフ複合半導体デバイス300が、第1出力キャパシタンス318を有するノーマリオンIII-窒化物パワートランジスタ310と、このノーマリオンIII-窒化物パワートランジスタとカスコード接続された低電圧(LV)デバイス320を具えて、このノーマリオフ複合半導体デバイスを形成し、このLVデバイスは第2出力キャパシタンス348を有する。第1出力キャパシタンス対第2出力キャパシタンスの比率を、ノーマリオンIII-窒化物パワートランジスタのドレイン電圧対LVデバイスの降伏電圧の比率に基づいて設定して、LVデバイスの電圧保護を行う。 (もっと読む)


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