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Fターム[5F092BB10]の内容

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Fターム[5F092BB10]に分類される特許

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【課題】本発明は、磁気減衰自由層を備えたスピントルク発振器(STO)を提供する。
【解決手段】スピントルク発振器(STO)は、発振自由強磁性層の磁気減衰を増加させる。ギルバート磁気減衰パラメータ(α)は、少なくとも0.05、好ましくは0.05より大きい。自由層は、任意のタイプの従来の強磁性材料であってもよいが、ドーパントとして1つまたは複数の減衰元素を含む。減衰元素は、Pt、Pdおよび15のランタニド元素からなる群から選択される。自由層減衰は、自由層に隣接する減衰層によって増加させてもよい。減衰層の一タイプは、Mn合金のような反強磁性材料であってもよい。反強磁性減衰層に対する変更例として、二重層減衰層を、反強磁性減衰層と、自由層および反強磁性層間の非磁性金属導電分離層とで形成してもよい。別のタイプの減衰層は、Pt、Pdおよびランタニドから選択された元素の1つまたは複数で形成された層であってもよい。 (もっと読む)


【課題】微細化に伴って増大する固定層からの漏れ磁場を低減でき、記憶層における磁化の平行と反平行の2つの状態を安定に存在できるようにした磁気抵抗素子を提供する。
【解決手段】磁気抵抗素子1は、固定層2、記憶層3、及び非磁性層4を備える。固定層2は、非磁性層4に接する第1強磁性材料31、第2強磁性材料32、第1強磁性材料31と第2強磁性材料32との間に設けられた第1非磁性材料33を有する。第1強磁性材料31は、Zr、Nb、Mo、Hf、Ta、Wのうちの少なくとも1つの元素と、Coとを含む。 (もっと読む)


【課題】 特に固定磁性層をセルフピン止め型とした構成において、Ta保護層の膜厚を適正化し、従来に比べて安定して優れた軟磁気特性を得ることが可能な磁気検出素子及びそれを用いた磁気センサ、並びに磁気検出素子の製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 本実施形態の磁気検出素子1は、固定磁性層3とフリー磁性層5とが非磁性材料層4を介して積層された積層膜を備え、前記固定磁性層3は、第1磁性層3aと第2磁性層3cとが非磁性中間層3bを介して積層され、前記第1磁性層3aと前記第2磁性層3cとが反平行に磁化固定されたセルフピン止め型であり、前記積層膜の最上層は、Taからなる保護層6であり、前記保護層6の成膜時における成膜時膜厚は55Å以上であることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】高熱安定性を有する高速超低消費電力不揮発性メモリを提供する。
【解決手段】不揮発性磁気メモリに、高い熱安定性をもつ自由層を適用した高出力なトンネル磁気抵抗効果素子を装備し、スピントランスファートルクによる書込み方式を適用する。トンネル磁気抵抗効果素子1は、CoとFeとBを含有する体心立方構造の第一の強磁性膜306と第二の強磁性膜308と第一の非磁性膜307で構成される自由層を持ち、自由層に(100)配向した岩塩構造のMgO絶縁膜305を介して固定層3021を積層した構造を有する。 (もっと読む)


【課題】磁気スタックおよびこのようなスタックを備えたメモリセルを提供すること。
【解決手段】本発明は、平面外磁化を有する磁気スタック(4)に関し、前記スタックは、
−コバルト、鉄およびニッケル、ならびにこれらの材料をベースとする磁気合金の群から選択される1つまたは複数の材料で構成された第1の磁気層(1)と、
−第1の層の材料と共有界面を形成すると界面起源の垂直異方性を与えることができる金属材料で構成された第2の層(2)と
を備え、スタック(4)は、第1の層(1)の上に堆積した第3の層(3)をさらに備え、第2の層(2)が第3の層(3)の上に堆積し、第3の層(3)が、第1の層の材料との10%未満の混和性を有する金属材料で構成されていることを特徴としている。 (もっと読む)


【課題】高速かつ消費電力が極めて小さい不揮発性メモリを提供する。
【解決手段】不揮発性磁気メモリに、高出力なトンネル磁気抵抗効果素子を装備し、スピントランスファートルクによる書込み方式を適用する。トンネル磁気抵抗効果素子1は、CoとFeとBを含有する体心立方構造の強磁性膜304と、(100)配向した岩塩構造のMgO絶縁膜305と、強磁性膜306とを積層した構造を有する。 (もっと読む)


【課題】磁気抵抗効果素子のスピン注入磁化反転特性の劣化が抑制され、製造歩留まりが高い不揮発性記憶装置の製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態によれば、複数のメモリセルを有する不揮発性記憶装置の製造方法であって、前記メモリセルのそれぞれは、第1電極を含む下地層と、前記下地層の上に設けられた磁気抵抗効果素子と、前記磁気抵抗効果素子の上に設けられた第2電極と、を有する。前記磁気抵抗効果素子は、記憶層である第1磁性層と、前記第1磁性層の上に設けられたトンネルバリア層と、前記トンネルバリア層の上に設けられ、参照層である第2磁性層と、を含む。前記第2磁性層の表面の一部もしくは前記第1磁性層の表面の一部にイオン化されたガスクラスタを照射して、前記第2磁性層の一部および前記第1磁性層の一部をエッチングする。 (もっと読む)


【課題】書き込み電流を低減させたまま、リテンション、特に固定磁化層の大きなリテンションを十分に確保することができ、熱的に安定な動作を可能とする信頼性の高い磁気抵抗素子を実現する。
【解決手段】MTJ10は、下部磁性層1と上部磁性層3とでトンネルバリア層2を挟持し、上部磁性層3上にキャップ層4が形成されてなり、下部磁性層1は、トンネルバリア層2と接するCoFeBからなる第1自由層1aと、第1自由層1aに接するTaからなる挿入層1bと、挿入層1bに接するRuからなるスペーサ層1cと、スペーサ層1cに接するCoPtからなる第2自由層1dとを有して構成される。 (もっと読む)


【課題】磁気抵抗効果素子間の磁気的な干渉作用を遮断し、安定した動作を可能にし、且つ、容易に製造することができる半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】本発明の実施形態にかかる半導体記憶装置は、半導体基板上にマトリックス状に配列した複数の磁気抵抗効果素子を有し、各磁気抵抗効果素子は、半導体基板上に形成された第1の磁性層と、第1の磁性層上に形成された非磁性層と、非磁性層上に形成された第2の磁性層とからなる積層構造を有し、隣り合う各磁気抵抗効果素子の間には、金属、又は、磁性体材料が分散された絶縁膜が埋め込まれている。 (もっと読む)


【課題】半導体装置の製造において基板の金属汚染を抑える。
【解決手段】半導体素子が設けられた基板の、半導体素子形成面とは反対側の裏面および端部に保護膜を形成する工程と、前記半導体素子形成面に設けられた金属含有膜を加工する工程と、前記金属含有膜の加工後に前記保護膜を除去する工程と、を含む半導体装置の製造方法。 (もっと読む)


【課題】所与の厚さの反強磁性層に対する交換バイアスが増加した磁気デバイスを提案することによって従来技術の欠点を克服すること。
【解決手段】本発明は、自由層として知られている、可変磁化方向を有する磁気層と、前記自由層と接触している、前記自由層の磁化方向をトラップすることができる第1の反強磁性層とを備えた磁気デバイスに関する。磁気デバイスは、さらに、安定化層として知られている、自由層とは反対側の面を介して第1の反強磁性層と接触している、強磁性体から作製される層を備えており、前記自由層および安定化層の磁化方向は実質的に垂直である。前記自由層および安定化層のうちの第1の層は磁化を有しており、その方向は、前記第1の層の平面内に配向されており、一方、前記自由層および安定化層のうちの2つの層の第2の層も磁化を有しており、その方向は、前記第2の層の平面外に配向されている。 (もっと読む)


【課題】 基準素子の抵抗値のばらつきを抑制することが望まれている。
【解決手段】 基板上に磁気抵抗素子及び基準素子が形成されている。磁気抵抗素子は、トンネル絶縁層を自由磁化層と固定磁化層とで挟んだ構造を有し、自由磁化層の磁化方向によって低抵抗状態と高抵抗状態との間で抵抗が変化し、第1の方向に長い平面形状を有する。基準素子は、トンネル絶縁層を自由磁化層と固定磁化層とで挟んだ構造を有し、磁気抵抗素子の低抵抗状態の抵抗と高抵抗状態の抵抗との間の抵抗を有し、第1の方向と直交する第2の方向に長い平面形状を有する。 (もっと読む)


【課題】外部放射線に対し耐性を有し、誤動作なく安定した動作する信頼性の高い記憶素子の提供。
【解決手段】記憶素子は、情報を磁性体の磁化状態により保持する記憶層と、記憶層に記憶された情報の基準となる磁化を有する磁化固定層と、記憶層と上記磁化固定層の間に設けられる非磁性体による中間層とを有する。そして記憶層、中間層、磁化固定層を有する層構造の積層方向に流れる電流に伴って発生するスピントルク磁化反転を利用して記憶層の磁化を反転させることにより情報の記憶を行うとともに、記憶層は、Bを含有する強磁性層を含み、Bにふくまれる10Bの同位体比率が、自然界における19.9%よりも低くなっている。 (もっと読む)


【課題】書き込み電流を増大させることなく、熱安定性を改善することができるメモリを提供する。
【解決手段】情報を磁性体の磁化状態により保持する記憶層を有し、この記憶層に対して、中間層を介して磁化固定層が設けられ、中間層が絶縁体から成り、積層方向にスピン偏極した電子を注入することにより、記憶層の磁化の向きが変化して、記憶層に対して情報の記録が行われる記憶素子と、この記憶素子の積層方向に流す電流を供給する配線とを備え、記憶素子の上に隣接して積層された層に、記憶層と熱膨張係数の異なる、TiN,WN,TaN,Moのうちのいずれかの材料が用いられ、記憶層に歪が印加されているメモリを構成する。 (もっと読む)


【課題】垂直磁化を有するスピントルク型磁気メモリにおいて、垂直磁気異方性を強化し、高い情報保持特性を実現させる。
【解決手段】記憶素子は、膜面に対して垂直な磁化を有し、情報を磁性体の磁化状態により保持する記憶層17と、記憶層17に記憶された情報の基準となる、膜面に対して垂直な磁化を有する磁化固定層15と、記憶層17と磁化固定層15の間に設けられる非磁性体による中間層16とによるMTJ構造を持つものとする。この場合に、中間層16と反対側で記憶層17に隣接する、2層以上の酸化物で形成されたキャップ層18を設けるようにする。 (もっと読む)


【課題】書込電流を増大させることなく、高い保磁力を有し熱安定性を改善することができる記憶素子の提供。
【解決手段】記憶素子は、情報を磁性体の磁化状態により保持する記憶層と、記憶層に記憶された情報の基準となる磁化を有する磁化固定層と、記憶層と磁化固定層の間に設けられる非磁性体による中間層と、磁化固定層に隣接し、中間層の反対側に設けられる磁気結合層と、磁気結合層に隣接して設けられる高保磁力層とを有する。
そして記憶層、中間層、磁化固定層を有する層構造の積層方向に流れる電流に伴って発生するスピントルク磁化反転を利用して上記記憶層の磁化を反転させることにより情報の記憶を行うとともに磁気結合層が2層の積層構造となっている。 (もっと読む)


【課題】スピントルク型磁気メモリにおいて、熱安定性及び反転電流のバラツキを抑制する。
【解決手段】上記記憶素子は、情報を磁性体の磁化状態により保持する記憶層と、上記記憶層に記憶された情報の基準となる磁化を有する磁化固定層と、上記記憶層と上記磁化固定層の間に設けられる非磁性体による中間層とを有する。そして積層方向に流れる電流に伴って発生するスピントルク磁化反転を利用して記憶層の磁化を反転させることにより情報の記憶を行う。この構成において、記憶層の飽和磁化をMs(emu/cc)、上記記憶層の膜厚をt(nm)としたときに、記憶層の膜厚tは、(1489/Ms)−0.593<t<(6820/Ms)−1.55を満たすようにする。 (もっと読む)


【課題】スピントルク型磁気メモリにおいて、異方性エネルギーを大きくし、微細化しても十分な熱揺らぎ耐性を有するようにする。
【解決手段】記憶素子は、膜面に対して垂直な磁化を有し、情報を磁性体の磁化状態により保持する記憶層と、記憶層に記憶された情報の基準となる、膜面に対して垂直な磁化を有する磁化固定層と、上記記憶層と上記磁化固定層の間に設けられる非磁性体による中間層とにより、MTJ構造を持つ。これに加え、記憶層に隣接する、Cr、Ru、W、Si、Mnの少なくとも一つからなる保磁力強化層と、保磁力強化層に隣接する酸化物によるスピンバリア層を設ける。 (もっと読む)


【課題】書込電流を増大させることなく、高い保持力を有し熱安定性を改善することができる記憶素子の提供。
【解決手段】記憶素子は、情報を磁性体の磁化状態により保持する記憶層と、記憶層に記憶された情報の基準となる磁化を有する磁化固定層と、記憶層と磁化固定層の間に設けられる非磁性体による中間層と、記憶層に隣接し中間層と反対側に設けられるキャップ層と、キャップ層に隣接し記憶層と反対側に設けられる金属キャップ層を有する。そして記憶層、中間層、磁化固定層を有する層構造の積層方向に流れる電流に伴って発生するスピントルク磁化反転を利用して記憶層の磁化を反転させることにより情報の記憶を行う。そして中間層とキャップ層は酸化物であり、金属キャップ層はPdもしくはPtで構成されているものとする。 (もっと読む)


【課題】タンタル挿入層を使用したTMRセンサ薄膜及びそのシステムを提供する。
【解決手段】 一実施形態においては、トンネル磁気抵抗(TMR)ヘッドは、基板上部のリード層と、リード層上部のシード層と、シード層上部の反強磁性(AFM)層と、AFM層上部の第1強磁性層と、第1強磁性層上部の第2強磁性層と、第1及び第2強磁性層の間の結合層であって、第2強磁性層の磁化を第1強磁性層の磁化に結合させる結合層と、第2強磁性層上部の固定層と、固定層に隣接した又は固定層の内部の挿入層と、固定層上部のバリア層と、バリア層上部の自由層と、自由層上部のキャップ層と、を含む。別の実施形態において、挿入層は、厚さが約0.05nm〜0.3nmであり、且つ、Ta、Ti、Hf、及び/又はZrを含み、且つ、自由層は、CoFeBを含む。 (もっと読む)


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