説明

Fターム[5F103BB05]の内容

Fターム[5F103BB05]の下位に属するFターム

Fターム[5F103BB05]に分類される特許

21 - 40 / 66


【課題】作製時の技術閾値が低く、アンテナの電波特性を良好に保ちつつ、耐環境性能にも優れる平面アンテナ及びその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の平面アンテナは、誘電体で構成される基板1と、基板1上に形成された所定のパターンと、上記所定のパターン以外の基板1の表面を被覆する導体膜2と、保護膜6とを備える平面アンテナ100であって、上記所定のパターンは、放射用スロットパターン3を含み、放射用スロットパターン3は、基板1の一方の主面に形成され、保護膜6は、放射用スロットパターン3、放射用スロットパターン3が形成された基板1の一方の主面を被覆する導体膜2、及び基板1の側面を被覆する導体膜2のそれぞれの上に形成されており、保護膜6は、膜厚が1〜200nmである。また、本発明の平面アンテナの製造方法は、スパッタリング法で導体膜2を形成する工程と、スパッタリング法で保護膜6を形成する工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】TFTの活性層等に適用できる新規な非晶質酸化物を提供する。
【解決手段】非晶質酸化物が層厚方向に組成が変化する薄膜からなり、電子キャリア濃度が1018/cm3未満であることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】キャリア濃度の制御性および安定性に優れ、かつ、低コストである酸化物半導体材料の提供ならびにこれを用いた電界効果トランジスタの提供を目的とする。
【解決手段】インジウムとシリコンと亜鉛を含む酸化物を酸化物半導体材料として用いる。このとき、酸化物半導体膜中におけるシリコンの含有量は、4mol%以上8mol%以下とする。このようなIn−Si−Zn−O膜を用いた電界効果トランジスタは、高温の熱処理に耐えられ、かつ、−BTストレスに対し有効である。 (もっと読む)


【課題】高度の結晶性を有し、特に直径100mm以上の大型基板を用いる場合でも全面均一に平坦なAlN結晶膜シード層を用いることにより、結晶性の良いGaN系薄膜を得、信頼性の高い高輝度のLED素子等を得る。
【解決手段】サファイア基板上にシード層としてスパッター法で堆積されたAlN結晶膜を有し、該シード層上にIII族窒化物半導体からなる、n型半導体層、発光層およびp型半導体層を積層してなるIII族窒化物半導体積層構造体において、該シード層のAlN結晶膜中の酸素含有量が0.1原子%以上5原子%以下であり、AlN結晶膜は結晶粒界の間隔が200nm以上であり、かつ最終p型半導体層であるp−コンタクト層のロッキングカーブ半値幅が(0002)面と(10−10)面でそれぞれ60arcsec以下および250arcsec以下であることを特徴とするIII族窒化物半導体積層構造体。 (もっと読む)


【課題】広い範囲で制御された組成比を有し、結晶性が優れる化合物半導体の膜を用いた半導体素子を製造する方法を提供する。
【解決手段】基板上にn型半導体およびp型半導体を含むように積層して構成された半導体素子の製造方法であって、異なるIII族元素による少なくとも2つのターゲット(第1ターゲット21および第2ターゲット22)を、V族元素を含むガスによりスパッタリングして、基板110上にIII−V族の化合物半導体の膜を形成する工程を含む。 (もっと読む)


【課題】 安定したp型ZnO系半導体結晶を得ることが可能なZnO系化合物半導体の製造方法を提供する。
【解決手段】 ZnO系化合物半導体の製造方法は、単結晶表面を有する基板を準備する工程と、亜鉛ビームと、酸素を含むガスをラジカル化した酸素ラジカルビームと、NガスとOガスとを混合したガスをラジカル化した窒素ラジカルビームとを、前記基板上に同時に照射して、窒素添加p型ZnO系化合物半導体を結晶成長する工程とを有し、前記NガスとOガスとを混合したガスの混合比O/Nが、0より大きく1以下である。 (もっと読む)


【課題】SiCを用いた半導体装置を効率よく製造するための半導体基板の製造方法を提供する。
【解決手段】第1および第2の裏面B1、B2の各々が一の方向を向き、かつ第1および第2の側面S1、S2が互いに対向するように、第1および第2の炭化珪素基板11、12が配置される。この配置する工程の後に、第1および第2の裏面B1、B2を互いにつなぎ、かつ第1および第2の側面S1、S2が互いに対向する空間を埋めるように、第1および第2の炭化珪素基板11、12上に炭化珪素層30が分子線エピタキシ法によって形成される。 (もっと読む)


【課題】基板上に単結晶材料の層を成長させる方法を提供する。
【解決手段】第1単結晶材料から形成された露出領域を有する基板を、プロセスチャンバ中に配置する工程と、拡散制限ガスの存在下で、基板に向かって、第2材料の中性種のビームを供給し、プロセスチャンバ中の圧力を1×10−6torrから1×10−4torrの間にし、第2材料の中性種を露出領域上に吸着され、これにより第1単結晶材料の上にこれと接触して第2材料の単結晶層を成長させる工程とを含み、拡散制限ガスは、非反応性ガスからなる。 (もっと読む)


本発明は、処理領域(2)を取り囲む成長室(1)、この成長室(1)の側壁(3)の内面を覆う側部部分(10)を少なくとも有する主低温パネル、サンプルホルダー(6)、材料を蒸発させる少なくとも1つのエフュージョンセル(8)、気体状プレカーサーを前記成長室(1)に注入することのできるガスインジェクター(9)、前記成長室(1)に連結され、高い真空能力を提供することのできる排気手段(11)を備えている、半導体材料のウエハを製造する分子線エピタキシー装置に関する。本発明によれば、本分子線エピタキシー装置は、少なくとも成長室壁(3,4,5)の内面を覆う断熱材囲い(14)を備え、この断熱材囲い(14)は、気体状プレカーサーの融点より低いか、これと同一である温度Tminを有する低温部と、高温部を備え、この高温部は、該高温部上の気体状プレカーサーの離脱速度が、気体状プレカーサーの吸着速度の少なくとも1000倍以上であるような温度より高いか、これと同一である温度Tmaxを有している。
(もっと読む)


【課題】 真空チャンバの低温パネルの再生中に気体状プレカーサーの分圧が制御されることを特徴とする基板上に材料の薄膜を堆積させる装置、及び真空チャンバの低温パネル上に当初捕捉された気体状プレカーサーを、制御されかつ自動的な方式で前記真空チャンバから排気できるようにする再生方法を提供すること。
【解決手段】 本発明は基板上に材料の薄膜を堆積させる装置及び再生方法に関する。装置はチャンバ(1)と、前記チャンバ内に設けられた低温パネル(10)と、基板を支持可能なサンプルホルダ(6)と、前記チャンバ(1)に気体状プレカーサーを注入可能なガスインジェクター(9)と、前記真空チャンバ(1)に接続され、前記低温パネル(10)により放出された前記気体状プレカーサーの一部を捕捉可能であり、不変の排気容量Sを有する第1の捕捉手段(11)とを備える。
発明によれば、基板上に材料の薄膜を堆積させる装置は気体状プレカーサーの分圧の関数として調節可能な可変排気容量Sを有する第2の捕捉手段(18)を備え、前記第1と第2の捕捉手段は前記真空チャンバ(1)内の前記気体状プレカーサーの分圧を所定の圧力Pに維持するのに十分な総合排気容量S=S+Sをもたらす。 (もっと読む)


【課題】シリコン基板の全表面にわたって均一な厚みを有しかつ品質の安定したSi34へテロエピタキシャルバッファ層を容易にかつ安価に作製する作成方法及び装置を提供する。
【解決手段】シリコン基板を表面再構成可能に清浄化処理し、次いで、前記清浄化処理したシリコン基板上に、誘導結合プラズマ方式のRF(高周波)高輝度(HB)放電により生成した解離窒素原子フラックスおよび励起窒素分子フラックスを照射して表面界面反応によりSi34単結晶膜をエピタキシャル成長させること。 (もっと読む)


【課題】例えば500℃程度以下の低温成長でも、ZnO層の表面平坦性の低下が抑制されたZnO系半導体素子の製造方法を提供する。
【解決手段】ZnO系半導体素子の製造方法は、基板を準備する工程と、無電極放電管にOとNを含むガスを導入し、放電して第1のビーム3aを発生させる工程と、基板11の上方に、少なくともZnを供給するとともに、無電極放電管から第1のビーム3aを供給して、n型ZnO系半導体層を成長させる工程とを有する。 (もっと読む)


【課題】 従来の化合物半導体へテロ接合の製造方法では、微小な信号電流を扱う半導体装置において十分な雑音特性を得ることが困難である。
【解決手段】 基板の上に、III−V族化合物半導体である第1の半導体を、第1の基板温度で成長させる。第1の半導体の成長を停止させ、第1の半導体の表面に、V族元素の原料を供給しながら、基板の温度を、第1の基板温度とは異なる第2の基板温度に変化させる。第1の半導体の上に、第1の半導体とは異なるIII−V族化合物半導体である第2の半導体を、第2の基板温度で成長させる。基板の温度を第1の基板温度から第2の基板温度に変化させる工程が、基板の温度を測定する工程と、V族元素の供給量が、測定された前記基板の温度における供給量の目標下限値と目標上限値との間に納まるように、供給量を制御する工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】例えば結晶性等の向上が図られたZnO系半導体層を提供する。
【解決手段】
ZnO系半導体層に、1×1017cm−3〜2×1020cm−3の範囲の濃度でMgをドープする。 (もっと読む)


【課題】高いキャリア移動度とノーマリーオフ特性とを有する電界効果型トランジスタを提供する。
【解決手段】ゲート電圧を印加するためのゲート電極26と、電流を取り出すためのソース電極23及びドレイン電極24と、ソース電極23及びドレイン電極24に隣接して設けられ、マグネシウム(Mg)とインジウム(In)を主成分とする酸化物半導体からなる活性層22と、ゲート電極26と活性層22との間に設けられたゲート絶縁層25とを備えている。そして、活性層22を形成する際に流す酸素ガスの流量は、酸素分圧が1.7×10−3Paとなるように調整されており、活性層22を構成する酸化物半導体は、体積抵抗率が10Ωcmで、酸素が非化学量論組成であるMgIn系酸化物半導体となる。 (もっと読む)


【課題】ナノコラムを複数有して成る化合物半導体発光素子において、蛍光体を用いることなく、高い発光効率で、色味を高精度に調整可能とする。
【解決手段】Si基板4の一部領域にトレンチ11を形成し、そのトレンチ11内にさらにナノコラム2の化合物種結晶膜であるAlN層12を形成した後にナノコラム2を成長させることで、前記AlN層12の有る領域は、それが無い壁13上の領域に比べて、成長が速く、所定の時間成長させると、前記トレンチ11と壁13との段差を吸収して、p型層14の表面が略同じ高さとなる。これによって、同一基板でかつ単一の成長工程で簡単に、したがって低コストに、白色光などの所望の色味を実現できる。また、蛍光体を用いずに所望の色味を実現できるので、高い信頼性および長寿命化を図ることができるとともに、トレンチ11の面積を任意に調整し、色味を細かく高精度に調整できる。 (もっと読む)


【課題】受光領域に到達するまでに光の減衰をなるべく防止するとともに、界面でのメジャーキャリアを電子とし、受光領域の検出感度や応答速度が低下しないようなフォトダイオードを提供する。
【解決手段】Si基板1に、n型不純物ドープ領域1aが形成され、主としてn型不純物ドープ領域1aが形成されていないシリコン基板1上に積層されたGaN層2との界面が受光領域となっており、この界面でキャリアを分離している。GaNは可視光に対し透明で、不純物ドーピングによるpn接合を持たない。したがって、高感度、高安定性を実現できる。また、Si基板1とGaN層2との界面で光を受光すると、光電流が発生するが、光電流は、GaNとSiの界面を2次元性キャリアとして流れる。これにより、高速応答性を得ることができる。 (もっと読む)


【課題】酸化亜鉛系スパッタリングターゲット、その製造方法、および酸化亜鉛系薄膜を提供する。
【解決手段】酸化亜鉛系スパッタリングターゲットは、InHo(ZnO)の組成を有し、x+y=2、x:yは1:0.001〜1:1であり、Tは0.1〜5である。 (もっと読む)


【課題】危険性を低減し、かつ低温で効率よく窒素を供給できるIII−V族化合物半導体の結晶成長方法、発光デバイスの製造方法および電子デバイスの製造方法を提供する。
【解決手段】III−V族化合物半導体102の結晶成長方法は、以下の工程を備えている。まず、窒素の原料としてモノメチルアミンおよびモノエチルアミンの少なくともいずれか一方を含むガスが準備される。そして、ガスを用いて気相成長法によりIII−V族化合物半導体102が成長される。 (もっと読む)


【課題】良好な結晶性を有するIII族窒化物半導体の結晶を、スパッタ法を用いて高い成膜速度で効率良く形成することが可能なIII族窒化物半導体の製造方法、及びIII族窒化物半導体発光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】チャンバ内に基板及びGa元素を含有するターゲットを配置し、少なくとも、基板上にドナー不純物が添加された単結晶のIII族窒化物半導体を反応性スパッタ法によって形成するIII族窒化物半導体の製造方法であり、基板の温度を温度T1としてIII族窒化物半導体を成膜する第1スパッタ工程と、基板の温度を温度T1よりも低い温度T2に降温してIII族窒化物半導体の成膜を続ける第2スパッタ工程とが備えられた方法である。 (もっと読む)


21 - 40 / 66