【課題】絶縁層へのコンタクトホール形成時における、導電層の浸食や破損の抑制された電界効果型トランジスタの製造方法、電界効果型トランジスタ、表示装置、及び電磁波検出器を提供する。
【解決手段】導電層形成工程によって形成されたソース電極２０Ａ、ドレイン電極２０Ｂ、及び画素電極２０Ｃを含む導電層２０上に、該導電層２０及び酸化物半導体層１８を覆うように、無機材料を主成分とする無機絶縁層２３を形成する。そして、この無機絶縁層２３上にフォトレジスト膜３０を形成してパターン状に露光した後に、現像工程において、現像液を用いて現像することでレジストパターン３０Ｂ’を形成する。現像工程では、この現像液をエッチング液として用いて、無機絶縁層２３の内のレジストパターン３０Ｂ’から露出した領域を除去することによって導電層２０の一部を露出させて、無機絶縁層２２にコンタクトホール２７を形成する。 （もっと読む）

【課題】同一基板上に、結晶粒の平均粒径が互いに異なり、各々優れたキャリア移動度を有する２種類の結晶質半導体膜を形成し、それら２種類の結晶質半導体膜を用いて異なる電気特性が要求される各半導体素子に所望の電気特性を得る。
【解決手段】基板１１上に非晶質半導体膜２４を成膜する非晶質膜成膜工程と、非晶質半導体膜２４の一部を溶融固化して結晶化することで第１結晶質半導体膜２４Ａを形成する第１結晶化工程と、残部の非晶質半導体膜２４を固相成長させることで第１結晶質半導体膜２４Ａよりも結晶粒の平均粒径が大きい第２結晶質半導体膜２４Ｂを形成する第２結晶化工程と、第１結晶質半導体膜２４Ａの結晶粒の平均粒径が第２結晶質半導体膜２４Ｂの結晶粒の平均粒径よりも小さい状態を維持しながら第１及び第２結晶質半導体膜２４Ｂを溶融固化することで再結晶化する再結晶化工程とを含む。 （もっと読む）

【課題】フォトリソグラフィ法に用いるフォトマスクの枚数を少なくする。
【解決手段】第１の膜を形成し、該第１の膜上にフォトリソグラフィ法により第１のレジストマスクを形成し、第１のレジストマスクを用いて所定のパターンを有する第１の層を形成し、第１のレジストマスクを除去し、第２の膜を形成し、該第２の膜上にフォトリソグラフィ法により第１のレジストマスクと同一のフォトマスクにより第２のレジストマスクを形成し、該第２のレジストマスクを縮小して第３のレジストマスクを形成し、第３のレジストマスクを用いて所定のパターンを有する第２の層を形成する。 （もっと読む）

【課題】アクティブマトリクス型の表示装置の画素に組み込むことが可能な超小型のメモリ素子を提供する。
【解決手段】メモリ素子１は、薄膜トランジスタＴＦＴと抵抗変化素子ＲｅＲＡＭとの並列接続からなる。抵抗変化素子ＲｅＲＡＭは、薄膜トランジスタＴＦＴの入力端側に接続する一方の導電層と、薄膜トランジスタＴＦＴの出力端側に接続する他方の導電層と、両導電層の間に配された少なくとも一層の酸化膜層とからなり、ゲートに印加される電圧に応じて薄膜トランジスタＴＦＴがオフ状態にある時、抵抗変化素子ＲｅＲＡＭは、入力端から印加される電圧に応じて、低抵抗状態ＬＲＳと高抵抗状態ＨＲＳとで変化し、対応する二値データが書込まれる。 （もっと読む）

【課題】電界効果型トランジスタの製造工程の簡略化が図れる電界効果型トランジスタの製造方法、電界効果型トランジスタ、及び表示装置の製造方法を提供する。
【解決手段】本実施の形態のトップコンタクト型の電界効果型トランジスタ１０の製造方法によれば、半導体層形成工程で形成した活性層１８上に、防護層２２を形成した後に、該防護層２２上にフォトレジスト膜を形成して露光工程においてパターン状に露光する。そして、次の現像工程において、アルカリ性現像液を用いて、上記露光工程を経たフォトレジスト膜３０を現像してレジストパターン３０Ｂ’を形成すると共に、防護層２２における該レジストパターン３０Ｂ’から露出している領域２２Ａを除去して防護層２２のエッチングを行なう。 （もっと読む）

【課題】横型のＩＧＢＴにおいて、飽和電圧とターンオフ損失のトレードオフ関係を改善することができる技術を提供する。
【解決手段】
横型のＩＧＢＴ１００の半導体領域３１は、ドリフト領域２２とボディ領域６、１６とエミッタ領域１２とボディコンタクト領域８とコレクタ領域２６とバッファ領域２８と拡散領域１４で構成されている。拡散領域１４は、エミッタ領域１２とドリフト領域２２の間のボディ領域６ａ、１６ａ内において素子領域３１の表面から素子領域３１の裏面に達する深さまで伸びており、ボディ領域６、１６をエミッタ領域１２に接する第１領域６とドリフト領域２２に接する第２領域１６に分離している。拡散領域１４は、ｎ型であり、ドリフト領域２２よりも不純物濃度が高い。ＩＧＢＴ１００では、ターンオン時にドリフト領域２２内のエミッタ領域側の部位２２ａにも正孔が多く蓄積される。 （もっと読む）

【課題】電気特性が良好な薄膜トランジスタを、生産性高く作製する方法を提供する。
【解決手段】薄膜トランジスタにおいて、ゲート電極を覆うゲート絶縁層と、ゲート絶縁層に接する半導体層と、半導体層の一部に接し、ソース領域及びドレイン領域を形成する不純物半導体層と、を有し、半導体層において、ゲート絶縁層側に形成されるドナーとなる不純物を含む微結晶半導体領域と、当該ドナーとなる不純物を含む微結晶半導体領域を覆う窒素を含む微結晶半導体領域とを有し、窒素を含む微結晶半導体領域は錐形状である。 （もっと読む）

【課題】薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）のベースを利用して電荷を保存し、不揮発性メモリとする方法を提供する。
【解決手段】薄膜トランジスタ１０を利用し、そのうち薄膜トランジスタ１０は中間がベース２１、両端がそれぞれドレイン電極２２、ソース電極２３である半導体層２０を備え、絶縁表面３１を備えた基板３０上に設置され、ゲート電極絶縁層４１が前記半導体層２０上に設置され、ゲート電極４０がゲート電極絶縁層４１上に設置され、電子がゲート電極４０の電場作用下で、熱電子界放射により電子正孔対を形成し、電子正孔対がゲート電極４０の垂直電場により分離され、複数のキャリア（ｎチャネルでいうと正孔）が薄膜トランジスタ１０のベース２１に注入され、薄膜トランジスタ１０の閾値電圧の変化を引き起こし、書き込み動作が完了する。 （もっと読む）

【課題】オン耐圧および電流能力を維持し、オフ耐圧を向上させる半導体装置を提供する。
【解決手段】高耐圧横型ＭＯＳＦＥＴ２０では、ｎ⁺⁺ドレイン領域７は、ｎ^-ドリフト領域３に直線状に延びている。ｎ⁺バッファ領域６は、ｎ⁺⁺ドレイン領域７を囲んでいる。ゲート電極１１、ｎ⁺⁺ソース領域５およびｐベース領域４は、ｎ⁺バッファ領域６側からこの順に、ｎ⁺バッファ領域６を挟むように、ストライプ形状に形成されている。ｎ半導体領域８は、ｎ⁺バッファ領域６の終端コーナー部を覆うように形成されている。また、ｎ半導体領域８は、ｎ^-ドリフト領域３の深さ方向に、ｎ⁺バッファ領域６の下の領域を占めるように形成されている。高耐圧横型ＭＯＳＦＥＴ２０は、分離トレンチ１４および分離シリコン領域により、高耐圧横型ＭＯＳＦＥＴ２０に隣接するデバイスと電気的に分離されている。 （もっと読む）

【目的】ワイヤ接続における高耐圧半導体装置において、複雑なプロセス製造工程も、複雑な裏面加工工程も一切伴わず、低コストで高耐圧化、高信頼性化を実現できる高耐圧半導体装置およびそれを用いた高電圧集積回路装置を提供することにある。
【構成】半導体基板１００上に誘電体層１０１を介して半導体層１０２が形成され、半導体層１０２上にドレイン層１１３と、ドレイン層１１３を内包するように形成されたバッファ層１１２と、ドレイン層１１３と離間し、その周りを囲むように形成されたソース層１１４と、ソース層１１４を内包するように形成されたウエル層１１１と、半導体層１０２上にゲート絶縁膜を介して形成されたゲート電極１１０と、を備えた高耐圧半導体装置において、ドレイン層１１３及び、バッファ層１１２の平面形状が非連続または連続の環状とする。 （もっと読む）

【課題】半導体の酸化物を安定化させることができる上、欠陥密度が低くて電子移動度が高い誘電体層を得て、デバイスの信頼性及び性能を大幅に改善することができる半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置は、半導体基板１０内に設け、第１のゲルマニウムドープト領域を含む第１の電極と、第１の電極上に設け、半導体酸化物及び安定金属を含む第１の誘電体層２３と、第１の誘電体層２３上に設ける第２の電極とを備える。第１の電極及び第２の電極によりキャパシタを形成する。 （もっと読む）

【課題】耐圧性が高い電界効果トランジスタを提供すること。
【解決手段】ｐ型の導電型を有する基板と、前記基板上に形成された高抵抗層と、前記高抵抗層上に形成され、ｐ型の導電型を有するｐ型半導体層を前記基板側に配置したリサーフ構造を有する半導体動作層と、前記半導体動作層上に形成されたソース電極、ドレイン電極、およびゲート電極と、を備える。好ましくは、前記リサーフ構造は、前記ｐ型半導体層上に形成されたｎ型の導電型を有するリサーフ層を備える。また、好ましくは、前記リサーフ構造は、前記ｐ型半導体層上に形成されたアンドープのキャリア走行層と、前記キャリア走行層上に形成され該キャリア走行層とはバンドギャップエネルギーが異なるキャリア供給層とを備える。 （もっと読む）

【課題】酸化物半導体層を有するトランジスタ又は当該トランジスタを具備する半導体装置において、電気的特性の劣化を抑制することを課題の一とする。
【解決手段】酸化物半導体をチャネル層として用いるトランジスタにおいて、酸化物半導体層の表面に接してｐ型シリコン層を設けた構成とする。また、ｐ型シリコン層を、少なくとも酸化物半導体層においてチャネルが形成される領域に接して設けると共に、酸化物半導体層においてｐ型シリコン層が設けられない領域にソース電極層及びドレイン電極層を接して設けた構成とすることができる。 （もっと読む）

【課題】半導体装置において、寄生トランジスタの発生に基づくトランジスタの特性劣化を改善する。
【解決手段】半導体装置は、基板（１０）上に、所定種類のイオンが注入されることにより、第１の濃度で不純物領域が形成された本体部（４１０ｃ１）、及び本体部の縁部のうち所定の方向に延びる部分に沿って設けられ、第１の濃度より第２の濃度で不純物領域が形成されたエッジ部（４１０ｃ２）を有する第１チャネル領域（４１０ｃ）を含み、所定の方向に沿って長手状に形成された第１半導体層（４１０）、並びに第１チャネル領域に対向配置された第１ゲート電極（４３０）を有する第１トランジスタ（４００）と、第１チャネル領域と同じ導電型を有し、第１の濃度より高い第３の濃度で不純物領域が形成された第２チャネル領域（１ａ´）を含む第２半導体層（１ａ）、並びに第２チャネル領域に対向配置された第２ゲート電極（３ａ）を有する第２トランジスタとを備える。 （もっと読む）

【課題】電気的性質が良好なｈｉｇｈ−ｋ膜／Ｇｅゲートスタック構造を有する半導体装置を提供する。
【解決手段】Ｇｅを主成分とする半導体領域（１０）と、前記半導体領域上に形成された絶縁膜（１１）と、前記絶縁膜上に形成された金属膜（１２）とを具備する半導体装置である。前記絶縁膜は、少なくとも１種の希土類元素（Ｍ_R）と、ＴｉおよびＺｒから選択される少なくとも１種のIV族元素（Ｍ_IV）と、酸素とを含むことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 レジスト材料の利用効率を向上させて、作製コストの削減を目的としたレジス
トパターンの作製方法、レジストパターンの除去方法、半導体装置の作製方法を提供する
ことを課題とする。
【解決手段】 本発明は、減圧下で、被加工物上に、感光剤を含む組成物を吐出してレジ
ストパターンを形成するステップを有することを特徴とする。また、前記レジストパター
ンをマスクとして前記被加工物をエッチングするステップ、若しくは、前記レジストパタ
ーンに、フォトマスクを介して前記感光剤の感光波長域の光を照射するステップ、前記レ
ジストパターンをマスクとして前記被加工物をエッチングするステップ、前記被加工物上
の前記レジストパターンを除去するステップを有することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】温度変化による動作特性の低下を抑制する電界効果トランジスタ回路を提案する。
【解決手段】本発明の例に係る絶縁ゲート型電界効果トランジスタ回路は、拡散層をそれぞれ備える第１のソース／ドレイン４Ｓ，４Ｄと、チャネル領域上に設けられる第１のゲート絶縁膜２と、前記第１のゲート絶縁膜２上に設けられる第１のゲート電極３とを有する第１の電界効果トランジスタＴｒと、半導体基板１とショットキー接合を形成する金属層をそれぞれ備える第２のソース／ドレイン１４Ｓ，１４Ｄと、チャネル領域上に設けられる第２のゲート絶縁膜１２と、第２のゲート絶縁膜１２上に設けられる第２のゲート電極１３と、を具備し、第１のドレイン４Ｄと第２のドレイン１４Ｄとが並列に接続される。 （もっと読む）

【課題】絶縁層上に結晶性の高い微結晶半導体層を形成することを課題とする。また、電気特性が良好な薄膜トランジスタを、生産性高く作製する方法を提供することを課題とする。
【解決手段】基板上にゲート電極を形成し、ゲート電極上に、窒素を含む絶縁層を形成する。次に、窒素を含む絶縁層上に、シリコンを含む堆積性気体と、窒素を含む酸化気体と、水素とを用い、プラズマを発生させて、酸化珪素層を形成する。次に、酸化珪素層上に、シリコンまたはゲルマニウムを含む堆積性気体と、水素とを用い、プラズマを発生させて、微結晶半導体層を形成する。 （もっと読む）

【課題】 フィン型ＦＥＴデバイス及びこれの製造方法を提供する。
【解決手段】 半導体デバイスは、基板を準備しそして基板上に半導体含有層を形成することにより形成される。次いで、複数個の開口を有するマスクが、半導体含有層上に形成され、ここでマスクの複数個の開口のうち互いに隣接する開口は、最小構造寸法だけ離されている。その後、半導体含有層の第１部分にドーパントを導入するために、角度付けしたイオン注入が行われ、ここでドーパントがほぼ存在しない残りの部分がマスクの下側に存在する。サブリソグラフィック寸法のパターンを形成するために、半導体含有層のうちドーパントを含む第１部分がこの半導体層のうちドーパントをほぼ含まない残りの部分に対して選択的に除去され、そしてサブリソグラフィック寸法のフィン構造を生じるために、パターンが基板に転写される。 （もっと読む）

【課題】アクティブマトリクス型表示装置等の半導体装置において、トランジスタの駆動能力を低下させることなく寄生容量の容量値を低減することを課題の一とする。または、寄生容量の容量値を低減した半導体装置を低コストに提供することを課題の一とする。
【解決手段】トランジスタのゲート電極と同一の材料層で形成される配線と、ソース電極またはドレイン電極と同一の材料層で形成される配線との間に、ゲート絶縁層以外の絶縁層を設ける。 （もっと読む）