【課題】初期故障や偶発故障の発生を低減する。
【解決手段】ＨＦＥＴ１は、下層のＧａＮ層１３およびＧａＮ層１３の一部を露出させるトレンチＴ１が形成された上層のＡｌＧａＮ層１４よりなるＩＩＩ族窒化物半導体層と、ＩＩＩ族窒化物半導体層上に形成されたゲート絶縁膜１５と、ゲート絶縁膜１５上に形成されたゲート電極１６と、を備える。少なくともゲート絶縁膜１５と接触するトレンチＴ１底部のＧａＮ層１３上面には、原子層ステップが形成されている。原子層ステップのテラス幅の平均値は、０．２μｍ以上１μｍ未満である。 （もっと読む）

【課題】ゲート構造を微細化してＯＮ抵抗を低減しても、アバランシェ耐量を高く維持できる半導体装置を提供する。
【解決手段】ドリフト領域２と、ベース領域３と、ベース領域３を挟んでドリフト領域２に対向して設けられたソース電極１２と、ドリフト領域２とベース領域３とにゲート絶縁膜を介して接するトレンチ構造の複数のゲート電極６と、２つのゲート電極６の間において、ドリフト領域２とベース領域３との境界に沿って設けられ、ベース領域３に接する長さがゲート電極６よりも短いトレンチ構造のゲート電極７と、を備え、ソース電極１２は２つのゲート電極６の間において、ソース電極１２からゲート電極７に向かう方向に設けられたトレンチ９ｂの中に、ゲート電極７に近接した位置まで延在し、ゲート電極６のソース電極側の端とゲート電極７のソース電極側の端との間において、トレンチ９ｂの内壁面に露出したベース領域３に接していること。 （もっと読む）

【課題】導体半導体接合を用いて、優れた特性を示す、あるいは、作製の簡単な、あるいは、より集積度の高い電界効果トランジスタを提供する。
【解決手段】半導体層の電子親和力よりも仕事関数の小さな導体との接合においては、導体より半導体層にキャリアが注入された領域が生じる。そのような領域を電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）のオフセット領域、あるいは、インバータ等の半導体回路の抵抗として用いる。また、ひとつの半導体層中にこれらを設けることにより集積化した半導体装置を作製できる。 （もっと読む）

【課題】トンネルＦＥＴの閾値ばらつきの抑制をはかる。
【解決手段】Ｓｉ_1-x Ｇｅ_x （０＜ｘ≦１）の第１の半導体層１３上にゲート絶縁膜２１を介して形成されたゲート電極２２と、Ｇｅを主成分とする第２の半導体と金属との化合物で形成されたソース電極２４と、第１の半導体と金属との化合物で形成されたドレイン電極２５と、ソース電極２４と第１の半導体層１３との間に形成されたＳｉ薄膜２６とを具備した半導体装置であって、ゲート電極２２に対しソース電極２４のゲート側端部とドレイン電極２５のゲート側端部とは非対称の位置関係にあり、ドレイン電極２５のゲート側の端部の方がソース電極２４のゲート側の端部よりも、ゲート電極２２の端部からゲート外側方向に遠く離れている。 （もっと読む）

【課題】 ＬＤＭＯＳトランジスタにおいて、オン抵抗とのトレードオフ関係で最適化されたオフ耐圧を低下させることなく、チャネル長を短くすることによって飽和電流を増加させる。
【解決手段】 チャネルとなる低濃度ボディ領域１０と素子分離膜４の間かつゲート酸化膜８の直下に選択的に低濃度ボディ領域１０と逆の極性で濃度が高いショートチャネル領域１２を設け、ボディ領域１０のゲート酸化膜８直下部分のみを高濃度ソース領域７側に後退させた形状を実現する。 （もっと読む）

【課題】消費電力の増加を招くことなくオフの状態を実現することのできる半導体装置を提供する。
【解決手段】ゲートに電圧が印加されていない状態でオン状態であるパワー素子と、パワー素子のゲートに第１の電圧を印加するためのスイッチング用の電界効果トランジスタと、パワー素子のゲートに第１の電圧より低い電圧を印加するためのスイッチング用の電界効果トランジスタと、を有し、上記スイッチング用の電界効果トランジスタはオフ電流が小さい半導体装置である。 （もっと読む）

トランジスタを製造する方法は、導電材料層と電気絶縁材料層とを順に含んだ基板を準備する工程と、前記電気絶縁材料層上にレジスト材料層を堆積する工程と、前記レジスト材料層をパターニングして、前記電気絶縁材料層の一部を露出させる工程と、露出された前記電気絶縁材料層を除去して、前記導電材料層の一部を露出させる工程と、露出された前記導電材料層を除去し、前記導電材料層及び前記電気絶縁材料層内に凹部形状を作り出す工程と、前記基板と露出された前記電気絶縁材料層及び前記導電材料層とを第２の電気絶縁材料層で共形に被覆する工程と、前記第２の電気絶縁材料層を半導体材料層で共形に被覆する工程と、前記半導体材料層上に導電材料層を指向性堆積する工程とを含む。

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【課題】ＩＧＢＴのＥＳＤ耐性を高くしつつ、ＩＧＢＴのバイポーラトランジスタを確実に動作させる。
【解決手段】シンカー層１１５は第１導電型ウェル１０２に接しており、かつ第１導電型コレクタ層１０８及び第２導電型ドリフト層１０４から離れている。シンカー層１１５の表層には、第２導電型拡散層（第２の第２導電型高濃度拡散層）１１６が形成されている。第２導電型拡散層１１６はシンカー層１１５より不純物濃度が高い。第２導電型拡散層１１６と第１導電型コレクタ層１０８は、素子分離絶縁膜１６を介して互いに分離している。 （もっと読む）

【課題】高い開口率を得ながら十分な保持容量（Ｃｓ）を確保し、また同時に容量配線の負荷（画素書き込み電流）を時間的に分散させて実効的に低減する事により、高い表示品質をもつフロント型プロジェクタである。
【解決手段】チャネル形成領域、ソース領域、及びドレイン領域を有する半導体層と、島状のゲート電極とを備えた薄膜トランジスタを有し、ゲート電極が接続する第１配線と、ソース領域又はドレイン領域が接続する第２配線とは直交し、第２配線や容量配線と平行かつ重なるように配置されている。 （もっと読む）

【課題】画素電極電位に起因したオフリーク電流が上昇しにくい低消費電力の表示装置を提供すること。
【解決手段】表示装置は、対向配置された第１の基板及び第２の基板と、第１の基板と第２の基板との間に配置された表示素子と、第１の基板の表示素子側に形成された薄膜トランジスター２４と、薄膜トランジスター２４の表示素子側に、平面視で薄膜トランジスター２４と重なるように形成された画素電極２１と、薄膜トランジスター２４と画素電極２１との間の層に形成されたシールド電極２６と、を備える。シールド電極２６は、平面視で少なくとも薄膜トランジスター２４の低濃度不純物領域に重なる位置に配置される。 （もっと読む）

【課題】チャネル長Ｌが短く微細化が可能な、酸化物半導体を用いたトップゲート型の半導体素子を提供することを課題とする。また、該半導体素子の作製方法を提供することを課題とする。
【解決手段】絶縁表面上に酸化物半導体層と、酸化物半導体層上にソース電極層及びドレイン電極層と、酸化物半導体層、前記ソース電極層、及び前記ドレイン電極層上にゲート絶縁層と、ゲート絶縁層上にゲート電極層とを有し、ソース電極層及びドレイン電極層は側壁を有し、側壁は前記酸化物半導体層の上面と接する半導体素子である。 （もっと読む）

【課題】赤色、青色、緑色の発光輝度のバランスが良い、色鮮やかな画像を表
示することができるＥＬ表示装置を提供する。
【解決手段】 複数のＥＬ素子をそれぞれ含む複数の画素を有するＥＬ表示装置
であって、前記ＥＬ表示装置は前記複数のＥＬ素子の発光する時間を制御するこ
とで階調表示を行い、前記複数のＥＬ素子に印加される電圧は、前記複数のＥＬ
素子をそれぞれ含む複数の画素が表示する色によって異なることを特徴とするＥ
Ｌ表示装置。 （もっと読む）

【課題】チャネル抵抗の増大を回避させた薄膜トランジスタの提供。
【解決手段】ボトムゲート型の薄膜トランジスタであって、ゲート絶縁膜上にゲート電極の形成領域に開口を有する層間絶縁膜が形勢され、半導体膜は前記開口を被って層間絶縁膜上に形成され、
前記層間絶縁膜は前記ゲート絶縁膜よりも窒化物を多く含み、前記半導体膜は、前記ゲート絶縁膜および前記層間絶縁膜面に形成された少なくともＧｅを含む半導体結晶核上に形成された微結晶半導体膜あるいは多結晶半導体膜によって構成されている。 （もっと読む）

【課題】多層配線間で形成される寄生容量を低減することを目的の一とする。
【解決手段】絶縁表面上に第１配線と、前記第１配線を覆う第１層間絶縁膜と、前記第１層間絶縁膜上の一部に接して第２層間絶縁膜と、前記第１層間絶縁膜及び前記第２層間絶縁膜上に第２配線とを有し、前記第１配線と前記第２配線とが重なっている領域には、前記第１層間絶縁膜と前記第２層間絶縁膜とが積層された半導体装置である。第１配線と第２配線間に層間絶縁膜が積層されていることで寄生容量の低減が可能となる。 （もっと読む）

【課題】酸化亜鉛に代表される酸化物半導体膜を用いて薄膜トランジスタを形成すること
で、作製プロセスを複雑化することなく、尚かつコストを抑えることができる半導体装置
及びその作製方法を提供することを目的とする。
【解決手段】基板上にゲート電極を形成し、ゲート電極を覆ってゲート絶縁膜を形成し、
ゲート絶縁膜上に酸化物半導体膜を形成し、酸化物半導体膜上に第１の導電膜及び第２の
導電膜を形成する半導体装置であって、酸化物半導体膜は、チャネル形成領域において少
なくとも結晶化した領域を有する。 （もっと読む）

【課題】絶縁基板上に第１の単結晶半導体膜と、該第１の単結晶半導体膜上に第２の単結晶半導体膜を有する半導体装置の作製する方法を提供する。
【解決手段】第１の単結晶半導体基板に第１のイオンをドープして第１の脆化層を形成する工程と、第２の単結晶半導体基板に第２のイオンをドープして第２の脆化層を形成する工程と、第１の単結晶半導体基板と第２の単結晶半導体基板とを貼り合わせる工程と、第１の加熱処理により、第２の単結晶半導体基板上に第１の単結晶半導体膜を形成する工程と、第１の単結晶半導体膜上に絶縁基板を貼り合わせる工程と、第２の加熱処理により、絶縁基板上に、第１の単結晶半導体膜及び第２の単結晶半導体膜を形成する工程と、を有し、第１のイオンのドーズ量は第２のイオンのドーズ量よりも多く、第１の加熱処理の温度は第２の加熱処理を温度よりも低い。 （もっと読む）

【課題】オン抵抗を犠牲にしないで寄生容量とリーク電流のトレードオフを解消または緩和する。
【解決手段】ＴＦＴ部１０Ｂは、２つのソース・ドレイン電極１８,１９が、半導体膜１５の平面視でチャネル形成領域を挟んで位置する一方と他方の半導体領域に接する。ソース・ドレイン電極１８,１９は、半導体膜１５と接する領域（斜線部）の当該ソース・ドレイン電極の輪郭部分３０において、その両端のエッジポイント３１の各々が、平面視でゲート電極１３の外側に位置している。 （もっと読む）

【課題】オフ特性、スウィング特性、飽和特性に優れた薄膜トランジスタを備える有機ＥＬ表示装置を提供する。
【解決手段】基板１上に薄膜トランジスタを備える有機ＥＬ表示装置であって、前記薄膜トランジスタは、ゲート電極２、前記ゲート電極２を覆うゲート絶縁膜３、前記ゲート絶縁膜３上に設けられた第１の半導体膜４、前記第１の半導体膜４上に設けられた第２の半導体膜５、前記第２の半導体膜５上に設けられたバックチャンネル保護絶縁膜７、オーミックコンタクト膜８、ソース・ドレイン電極９とを有し、前記第１の半導体膜４は前記第２の半導体膜５より高い結晶性を有し、前記バックチャンネル保護絶縁膜７は有機絶縁膜もしくは有機・無機ハイブリッド絶縁膜により形成される。 （もっと読む）

【課題】スイッチング応答速度が速い高耐圧トランジスタ、および電力損失および誤動作を抑制した駆動回路を提供すること。
【解決手段】高耐圧半導体装置は、ｐ^-型シリコン基板１００上に設けられ、かつｐ^-ウエル領域１０２に囲まれたｎ^-型領域１０１と、ドレイン電極１２０と接続されるドレインｎ⁺領域１０３と、ドレインｎ⁺領域１０３と離れて設けられ、かつドレインｎ⁺領域１０３を囲むｐベース領域１０５と、ｐベース領域１０５内に形成されたソースｎ⁺領域１１４と、を備える。また、ｎ^-型領域１０１を貫通し、かつシリコン基板１００に達するｐ^-領域１３１が設けられている。ｎ^-型領域１０１は、ｐ^-領域１３１により、ｎ^-型領域１０１ａとｎ^-型領域１０１ｂに分離されている。ｎ^-型領域１０１ａは、ドレインｎ⁺領域１０３を備えている。ｎ^-型領域１０１ｂは、フローティング電位を有する。 （もっと読む）

【課題】多層配線間で形成される寄生容量を低減することを目的の一とする。
【解決手段】画素、メモリ部、又はＣＭＯＳ回路等に配置されたトランジスタのチャネル形成領域２１３、２１４と重なる第１の配線（ゲート電極）の一部または全部と第２の配線（ソース線またはドレイン線）１５４、１５７とを重ねる。また、ゲート電極と第２配線１５４、１５７の間には第１の層間絶縁膜１４９及び第２の層間絶縁膜１５０ｃを設け、寄生容量を低減した半導体装置である。 （もっと読む）