【課題】装置面積を増大させることなく、保護素子を有する半導体装置を提供する。
【解決手段】Ｐ型のIII族窒化物半導体からなる第１Ｐ型層２００と、第１Ｐ型層２００の一部上には、ゲート絶縁膜４２０およびゲート電極４４０とが設けられている。第１Ｐ型層２００内のうち、ゲート電極４４０の両脇には、Ｎ型のソース領域３４０およびドレイン領域３２０が設けられている。また、第１Ｐ型層２００の下には、Ｎ型のIII族窒化物半導体からなる第１Ｎ型層１００が設けられている。基板内には、Ｎ型のIII族窒化物半導体とオーミック接続する材料からなるオーミック接続部（たとえばＮ型ＧａＮ層５２０）が、ソース領域３４０および第１Ｎ型層１００と接するように設けられている。また、ドレイン電極６００は、ドレイン領域３２０および第１Ｐ型層２００と接するように設けられている。 （もっと読む）

【課題】ウルツ鉱型結晶構造の半導体を用いた電界効果トランジスタで、電極との接触抵抗を高くすることなく、バンドギャップエネルギーのより大きな半導体から障壁層が構成できるようにする。
【解決手段】ゲート電極１０４を挟んで各々離間して障壁層１０３の上に接して形成された２つの電流トンネル層１０５と、各々の電流トンネル層１０５の上に形成された２つのキャップ層１０６とを備える。電流トンネル層１０５の分極電荷は、障壁層１０３の分極電荷よりも大きい。 （もっと読む）

【課題】王水を用いることなくニッケルプラチナ膜の未反応部分を選択的に除去しうるとともに、プラチナの残滓が半導体基板上に付着するのを防止しうる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】シリコン基板１０上に、ゲート電極１６と、ゲート電極１６の両側のシリコン基板１０内に形成されたソース／ドレイン拡散層２４とを有するＭＯＳトランジスタ２６を形成し、シリコン基板１０上に、ゲート電極１６及びソース／ドレイン拡散層２４を覆うようにＮｉＰｔ膜２８を形成し、熱処理を行うことにより、ＮｉＰｔ膜２８とソース／ドレイン拡散層２４の上部とを反応させ、ソース／ドレイン拡散層２４上に、Ｎｉ（Ｐｔ）Ｓｉ膜３４ａ、３４ｂを形成し、過酸化水素を含む７１℃以上の薬液を用いて、ＮｉＰｔ膜２８のうちの未反応の部分を選択的に除去するとともに、Ｎｉ（Ｐｔ）Ｓｉ膜３４ａ、３４ｂの表面に酸化膜を形成する。 （もっと読む）

【課題】従来の半導体装置においては、シリコンエピタキシャル層に結晶欠陥が生じ易いという問題がある。
【解決手段】半導体装置１は、シリコン基板１０、歪み付与層２０、シリコン層３０、ＦＥＴ４０、および素子分離領域５０を備えている。シリコン基板１０上には、歪み付与層２０が設けられている。歪み付与層２０上には、シリコン層３０が設けられている。歪み付与層２０は、シリコン層３０中のＦＥＴ４０のチャネル部に格子歪みを生じさせる。シリコン層３０中には、ＦＥＴ４０が設けられている。ＦＥＴ４０は、ソース・ドレイン領域４２、ＳＤ ｅｘｔｅｎｓｉｏｎ領域４３、ゲート電極４４およびサイドウォール４６を含んでいる。ソース・ドレイン領域４２と上述の歪み付与層２０とは、互いに離間している。ＦＥＴ４０の周囲には、素子分離領域５０が設けられている。素子分離領域５０は、シリコン層３０を貫通して歪み付与層２０まで達している。 （もっと読む）

【課題】王水を用いることなくニッケルプラチナ膜の未反応部分を選択的に除去しうるとともに、プラチナの残滓が半導体基板上に付着するのを防止しうる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】シリコン基板１０上に、ゲート電極１６と、ゲート電極１６の両側のシリコン基板１０内に形成されたソース／ドレイン拡散層２４とを有するＭＯＳトランジスタ２６を形成し、シリコン基板１０上に、ゲート電極１６及びソース／ドレイン拡散層２４を覆うようにＮｉＰｔ膜２８を形成し、熱処理を行うことにより、ＮｉＰｔ膜２８とソース／ドレイン拡散層２４の上部とを反応させ、ソース／ドレイン拡散層２４上に、Ｎｉ（Ｐｔ）Ｓｉ膜３４ａ、３４ｂを形成し、過酸化水素を含む７１℃以上の薬液を用いて、ＮｉＰｔ膜２８のうちの未反応の部分を選択的に除去するとともに、Ｎｉ（Ｐｔ）Ｓｉ膜３４ａ、３４ｂの表面に酸化膜を形成する。 （もっと読む）

【課題】歪みチャネルを用いた場合のリーク電流を低減することができ、不良の発生を抑制して歩留まりの向上をはかる。
【解決手段】電界効果トランジスタであって、半導体基板１０上に垂直に形成され、且つ第１の領域が第２の領域よりも高く形成された半導体フィン３１と、第１の領域の両側面にゲート絶縁膜４０を介して設けられたゲート電極５０と、第２の領域に第１の領域の上端よりも低い位置まで設けられた、合金半導体からなるソース・ドレイン下地層６３，７３と、下地層６３，７３上に第１の領域の上部を挟むように設けられた、下地層６３，７３とは格子定数の異なるソース・ドレイン領域６０，７０とを備えている。チャネル領域には応力が付与され、下地層６３，７３は、空乏層が収まる厚さよりも厚く、熱平衡状態で結晶にミスフィット転位が導入される熱平衡臨界膜厚よりも薄く形成されている。 （もっと読む）

【課題】シリコンエピタキシャル層の支えの喪失を防止した、局所ＳＯＩ構造の形成方法の提供。
【解決手段】ＳｉＧｅ混晶層３１ＳＧ１〜３１ＳＧ４とシリコンエピタキシャル層３１ＥＳ１，３１ＥＳ２，３１ＥＳ３および３１ＥＳ４が積層された構造において、
それぞれ、Ｎウェル３１ＮＷ及びＰウェル３１ＰＷがＳｉＧｅ混晶層３１ＳＧ１〜３１ＳＧ４側に突き出る構造を形成し、ＳｉＧｅ混晶層３１ＳＧ１〜３１ＳＧ４をエッチングにより除去する際に、支えとなるようにする。 （もっと読む）

【課題】製造効率の向上、コストダウン、信頼性の向上を実現する。
【解決手段】第１導電型の第１電界効果トランジスタを第１基板に設ける。そして、第１導電型と異なる第２導電型の第２電界効果トランジスタを第２基板に設ける。そして、第１基板と第２基板とのそれぞれを対面させて貼り合わせる。そして、第１電界効果トランジスタと第２電界効果トランジスタとの間を電気的に接続させる。 （もっと読む）

【課題】ゲート絶縁膜界面材料としてＧｅＯ₂ を用いた場合においてもＧｅＯ₂ 層の劣化を抑制することができ、素子の信頼性向上をはかると共に、プロセスの歩留まり向上をはかる。
【解決手段】本発明の実施形態による電界効果トランジスタは、Ｇｅを含む基板１０上の一部に設けられた、少なくともＧｅＯ₂ 層を含むゲート絶縁膜２０と、ゲート絶縁膜２０上に設けられたゲート電極３０と、ゲート電極３０下のチャネル領域を挟んで前記基板に設けられたソース／ドレイン領域５０と、前記ゲート絶縁膜２０の両側部に形成された窒素含有領域２５と、を備えた。 （もっと読む）

【課題】３次元形の半導体素子において、オン抵抗をより効果的に低減できる半導体素子及び半導体素子の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体素子は、ドレイン層と、ドレイン層内に選択的に設けられたドリフト領域と、ドリフト領域内に選択的に設けられたベース領域と、ベース領域内に選択的に設けられたソース領域と、ソース領域又はドレイン層の少なくとも一方の内部に、ソース領域又はドレイン層の少なくとも一方に選択的に設けられた第１，第２の金属層と、ドレイン層の表面に対して略平行な方向に、ソース領域の一部から、ソース領域の少なくとも一部に隣接するベース領域を貫通して、ドリフト領域の一部にまで到達するトレンチ状のゲート電極と、第１の金属層に接続されたソース電極と、ドレイン層又は第２の金属層に接続されたドレイン電極と、を備える。 （もっと読む）

【課題】製造工程の増大を抑制し、コンタクト抵抗および界面抵抗の増大を防止する。
【解決手段】実施形態において、シリコン層は、ゲートラストスキームを用いた機能的ゲート電極の製造後に、形成される。初期的な半導体構造物は、半導体基板上に形成された少なくとも一つの不純物領域、不純物領域の上に形成された犠牲膜、犠牲膜の上に形成された絶縁層、絶縁層の上に形成された絶縁層を備える。ビアは、初期の半導体構造物の絶縁層へ、および、コンタクト開口部が絶縁層に形成されるように絶縁層の厚さを通り抜けて、パターン化される。次に、絶縁層の下にある犠牲膜は、絶縁層の下に空隙を残して除去される。次に、金属シリサイド前駆体は、空隙スペースに配置され、金属シリサイド前駆体は、アニールプロセスを通じてシリサイド層に変換される。 （もっと読む）

【課題】ゲルマニウムをチャネル材料とする金属／ゲルマニウムからなるソース／ドレイン構造を有する半導体素子を提供する。
【解決手段】半導体と金属とが接合してソース／ドレイン構造を形成する半導体素子において、ゲルマニウム（Ｇｅ）を３価元素（又は５価元素）でドーピングしたｐ型ゲルマニウム（又はｎ型ゲルマニウム）をチャネル２の材料とし、当該ｐ型ゲルマニウム（又はｎ型ゲルマニウム）の任意の結晶面における原子配置と同一の原子配置である結晶面を有する金属３を、前記同一の原子配置である結晶面で接合して界面を形成し、当該形成された界面を用いたソース／ドレイン構造を有する。 （もっと読む）

【課題】駆動電流を向上したｎＭＯＳトランジスタを備えた半導体装置を実現できるようにする。
【解決手段】半導体装置は、半導体基板の素子領域１０１の上にゲート絶縁膜１１１を介在させて形成されたゲート電極１１２と、素子領域１０１におけるゲート電極１１２の両側方に形成され、ｎ型不純物及び炭素を含むソースドレイン領域１２２とを備えている。ソースドレイン領域１２２を構成するシリコン及びソースドレイン領域１２２に含まれる炭素の少なくとも一方は、主同位体よりも質量数が大きい安定同位体の存在比が、天然存在比よりも高い。 （もっと読む）

【課題】ＣＭＯＳトランジスタのソース−ドレイン置換技術に関し、装置一式を利用して基板材料に窪みをエッチングして、その後、応力を有する異なる材料を堆積することに関し、大気に曝すことなく、エッチングとその後の堆積とを行う方法の提供。
【解決手段】エッチングおよびデポジションによりＣＭＯＳトランジスタの接合領域を形成する方法であって、
第１接合領域２７０を形成すべくゲート電極１９０の隣の基板１２０の第１箇所と、前記基板１２０に第２接合領域２８０を形成すべく前記ゲート電極１９０を介して前記第１箇所とは反対側に位置する前記基板１２０の第２箇所とを除去する工程と、前記第１接合領域２７０と前記第２接合領域２８０とに結晶質材料のエピタキシャル厚みを有する層を形成する工程とを含み、前記除去する工程と前記形成する工程は同一のチャンバ内で前記チャンバの封止を破ることなく行う。 （もっと読む）

【課題】エピタキシャル層を具備する半導体構造の改良を図ること。
【解決手段】 実施形態の半導体構造は、第１の格子定数を具備する第１の結晶を具備する半導体基板と、前記半導体基板上に形成され、第２の格子定数を具備する第２の結晶を具備する多層エピタキシャル層とを具備している。前記第１の格子定数は、前記第２の格子定数と異なる。前記多層エピタキシャル層は、第１のエピタキシャル層および第２のエピタキシャル層を具備している。前記第１のエピタキシャル層の第１の導電型不純物は、前記第２のエピタキシャル層の第２の導電型不純物よりも少ない。 （もっと読む）

【課題】窒化物半導体を用いた電界効果トランジスタで、トランジスタの特性を低下させることなく高い密度のドレイン電流が実現できるようにする。
【解決手段】主表面を（０００１）面とした第１窒化物半導体からなるチャネル層１０１と、チャネル層１０１の上に形成された第１窒化物半導体より大きなバンドギャップエネルギーの窒化物半導体からなる第１障壁層１０２と、ゲート電極１０４が形成されたゲート形成領域１２１を挟んだソース形成領域１２２およびドレイン形成領域１２３の第１障壁層１０２の上に形成され、第２窒化物半導体より大きなバンドギャップエネルギーの第３窒化物半導体からなる第２障壁層１０５および第３障壁層１０６と、第２障壁層１０５および第３障壁層１０６の上に形成された第２窒化物半導体からなる第４障壁層１０７および第５障壁層１０８とを備える。 （もっと読む）

【課題】基板の所望の領域上でアニーリングプロセスを実行するために使用される装置および方法を開示する。
【解決手段】１つの実施形態では、電磁エネルギのパルスはフラッシュランプまたはレーザ装置を使用して基板に送出される。パルスは約１ｎｓｅｃから約１０ｍｓｅｃの長さであってもよく、各パルスは基板材料を融解するのに必要なエネルギより少ないエネルギを有する。パルスの間隔は一般的に、各パルスにより与えられるエネルギを完全に放散させるのに十分な長である。このようにして、各パルスはマイクロアニーリング周期を終了する。パルスは１回で基板全体にまたは同時に基板の一部に送出されてもよい。 （もっと読む）

【課題】特性の安定化を達成できる窒化物半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】窒化物半導体装置１１０は、第１半導体層３、第２半導体層４、第３半導体層５、第４半導体層６、第１電極１０、第２電極８及び第３電極９を備える。第１半導体層３、第２半導体層４、第３半導体層５及び第４半導体層６は、窒化物半導体を含む。第２半導体層４は、第１半導体層３の禁制帯幅以上の禁制帯幅を有する。第３半導体層５は、ＧａＮである。第４半導体層６は、第３半導体層５の上において一部に隙間を有して設けられ、第２半導体層４の禁制帯幅以上の禁制帯幅を有する。第１電極１０は、第３半導体層５の上において第４半導体層６が設けられていない部分に設けられる。第２電極８及び第３電極９は、第４半導体層６の上において、第１電極１０の一方側及び他方側にそれぞれ設けられ、第４半導体層６とオーミック接合している。 （もっと読む）

【課題】ＭＯＳＦＥＴ特性を改善することができる半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の実施形態にかかる半導体装置は、基板と、基板の上方に形成されたゲート電極と、ゲート電極の下に形成されたゲート絶縁膜と、ゲート絶縁膜の下に、シリコン基板の材料に比して広いバンドギャップを持つチャネル層材料により形成されたチャネル層と、チャネル方向に沿ってチャネル層を挟むように基板に形成されたソース領域とドレイン領域と、チャネル層とソース領域との間のシリコン基板に、チャネル層のソース側端部とオーバーラップするように形成され、且つ、チャネル層とともにキャリアがトンネルするヘテロ界面を成すソースエクステンション層とを有する。 （もっと読む）

【課題】ＳｉＧｅ装置を取り囲んで、ＳｉＧｅのエピタキシャル成長時にマイクロローディング効果を軽減できるように特別に設計されたＳｉＧｅ埋め込みダミーパターンを備えた改良されたＳｉＧｅ装置を提供する。
【解決手段】マイクロローディング効果を軽減するためのダミーパターンを備えた半導体装置は、内部領域２００と外部領域４００の間に中間環状領域３００が設けられた半導体基板１と、基板上、内部領域２００に設けられたＳｉＧｅ装置１００と、基板上、中間環状領域３００に設けられた複数のダミーパターン２０とを含む。複数のダミーパターン２０のうち少なくとも１つがＳｉＧｅを含む。 （もっと読む）