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Fターム[5F152AA06]の内容

再結晶化技術 (53,633) | 目的、効果 (2,853) | 結晶粒の大きさ、形状 (636)

Fターム[5F152AA06]に分類される特許

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【課題】高性能でかつばらつきの少ないナノワイヤトランジスタを備えた半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板上に第1絶縁膜を形成する工程と、第1絶縁膜上に設けられ、第1領域と第1領域よりも幅の広い第2および第3領域とを有しこれらの第2および第3領域の少なくとも一方が第1領域に接続するように構成された第1半導体層と、第1半導体層の上面に設けられるマスクと、を形成する工程と、マスクを用いて、前記第1半導体層の第1領域の側面にイオン注入を行う第1イオン注入を行う工程と、イオン注入を行った後に、第1熱処理を行う工程と、マスクを除去した後、第1半導体層の前記第1領域の少なくとも側面にゲート絶縁膜を形成する工程と、ゲート絶縁膜上にゲート電極を形成する工程と、ゲート電極の、第2および第3領域側の側面に絶縁体のゲート側壁を形成する工程と、少なくとも第1半導体層の第2および第3領域に第2イオン注入を行う工程と、とを備えている。 (もっと読む)


【課題】容易に、結晶化の溶融状態、結晶粒径及び粒径バラツキを所望の状態にしたシリコン膜を形成することができるレーザ照射方法を提供する。
【解決手段】レーザ照射方法は、マルチモードのレーザ光を発振させる発振ステップ(S102)と、レーザ光を光ファイバーで伝送する伝送ステップ(S104)と、光ファイバーから出射したレーザ光を重畳し細長い形状に整形する整形ステップ(S106)と、整形されたレーザ光を短軸方向に走査しながらアモルファスシリコン膜に照射することで、ポリシリコン膜に結晶化する照射ステップ(S108)とを含み、照射ステップ(S108)では、走査速度V(mm/s)と照射パワー密度P(KW/cm2)との関係をK=P/√Vとし、K>4の条件を満足する走査速度と照射パワー密度とで照射することで、レーザ照射領域に所定の溶融状態での結晶を形成させる。 (もっと読む)


【課題】小型のレーザ照射装置で光干渉がなく、連続した結晶成長を実現することである。
【解決手段】メガヘルツレーザビームを用い、分割したレーザビームを半導体膜に照射して、半導体膜を結晶化する。その際に分割ビームに光路差を設けて光干渉を抑える。光路差はメガヘルツレーザビームのパルス幅に相当する長さ以上、パルス発振間隔に相当する長さ未満に設定され、非常に短い光路差で光干渉を抑えることができる。そのためレーザのエネルギー劣化がなく効率的に且つ連続的にレーザビームを照射することができる。 (もっと読む)


【課題】 光学系を複雑化させることなく、均一なエネルギー密度のレーザ光を被照射体
に照射することができる、レーザ照射装置の提案を課題とする。
【解決手段】本発明のレーザ照射装置は、レーザ発振器と、被照射体の表面における一軸方向に、前記レーザ発振器から発振されたレーザ光によって形成されるビームスポットを繰り返し走査するための光学系と、前記表面において前記一軸方向と交差する方向に向かって、前記レーザ光に対する前記被照射体の相対的な位置を移動させるための位置制御手段とを有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】本発明は、曲面を有する基材に被剥離層を貼りつけた半導体装置およびその作製
方法を提供することを課題とする。特に、曲面を有するディスプレイ、具体的には曲面を
有する基材に貼りつけられたOLEDを有する発光装置、曲面を有する基材に貼りつけら
れた液晶表示装置の提供を課題とする。
【解決手段】本発明は、基板上に素子を含む被剥離層を形成する際、素子のチャネルとし
て機能する領域のチャネル長方向を全て同一方向に配置し、該チャネル長方向と同一方向
に走査するレーザー光の照射を行い、素子を完成させた後、さらに、前記チャネル長方向
と異なっている方向、即ちチャネル幅方向に湾曲した曲面を有する基材に貼り付けて曲面
を有するディスプレイを実現するものである。 (もっと読む)


【課題】製造時間と製造価格を増加することなく多結晶シリコン粒径の微小化と均一化を
行なうための技術を提供する。
【解決手段】基板100上に形成したシリコン層104をレーザビーム106の照射によ
って結晶化して多結晶シリコン層108を得る半導体装置などに用いられ、基板100と
シリコン層104との間にバッファ層102が形成されている。バッファ層102を有す
るこのようなバッファ化基板において、該バッファ層102は、基板100の限界温度よ
りも高い融点を有し、さらに、シリコン層104の結晶化に際し、バッファ層102上に
均一なシリコン結晶粒子を形成するためシリコン層104の核生成密度を規定し、かつシ
リコン層104の結晶化過程における等方粒成長の基礎として機能する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、曲面を有する基材に被剥離層を貼りつけた半導体装置およびその作製方法を提供することを課題とする。特に、曲面を有するディスプレイ、具体的には曲面を有する基材に貼りつけられたOLEDを有する発光装置、曲面を有する基材に貼りつけられた液晶表示装置の提供を課題とする。
【解決手段】本発明は、基板上に素子を含む被剥離層を形成する際、素子のチャネルとして機能する領域のチャネル長方向を全て同一方向に配置し、該チャネル長方向と同一方向に走査するレーザー光の照射を行い、素子を完成させた後、さらに、前記チャネル長方向と異なっている方向、即ちチャネル幅方向に湾曲した曲面を有する基材に貼り付けて曲面を有するディスプレイを実現するものである。 (もっと読む)


【課題】ELA工程において、高速、かつ目視検査員の品質評価値や最終画質と整合のとれた基板の品質評価方法及びその装置を提供する。
【解決手段】評価対象となる基板5を一方向に連続的に移動させながら基板5に斜め方向から光を照射して基板5上に形成された多結晶シリコン薄膜により発生する1次回折光による像を撮像して1次回折光像を取得すると共に、基板5からの正反射光又は透過光の光軸近傍の散乱光の像を撮像して光軸近傍の散乱光像を取得し、この取得した1次回折光像の画像と光軸近傍の散乱光像の画像を処理して複数の特徴を抽出し、この抽出した複数の特徴のうち、少なくとも1つ以上の特徴を用いて、事前に設定した評価基準に従って基板5上に形成された多結晶シリコン薄膜の品質評価値を算出して基板5上に形成された多結晶シリコン薄膜の品質を評価するようにした。 (もっと読む)


【課題】本願発明で開示する発明は、従来と比較して、さらに結晶成長に要する熱処理時間を短縮してプロセス簡略化を図る。
【解決手段】
一つの活性層204を挟んで二つの触媒元素導入領域201、202を配置して結晶化を行い、触媒元素導入領域201からの結晶成長と、触媒元素導入領域202からの結晶成長とがぶつかる境界部205をソース領域またはドレイン領域となる領域204bに形成する。 (もっと読む)


【課題】光学調整に困難を伴うことなく、3以上のレーザビームを照射面にて合成し、高出力で生産性を向上させることができるレーザを照射する技術の提供。
【解決手段】その技術は、波長の互いに異なるレーザ発振器とダイクロイックミラー、又はそれに加えて偏光子を用いてレーザビームを合成し、高出力で生産性を向上させレーザを照射するものであり、例えばレーザ発振器から射出されたレーザ光1をダイクロイックミラー1を通過させ、レーザ光1とは波長の異なるレーザ発振器から射出されたレーザ光2をダイクロイックミラー1で反射させてレーザ光を合成し、合成されたレーザ光を照射レーザ光とし、照射レーザ光を照射面上に投影するものである。 (もっと読む)


【課題】多結晶シリコン薄膜の表面の画像を検出して多結晶シリコン薄膜の表面の状態を観察し、多結晶シリコン薄膜の結晶の状態を検査することを可能にする。
【解決手段】多結晶シリコン薄膜の検査装置を、表面に多結晶シリコン薄膜が形成された基板100に光を照射する光照射手段800と、光照射手段800により基板100に照射された光のうち多結晶シリコン薄膜を透過した光または多結晶シリコン薄膜で正反射した光の近傍の多結晶シリコン薄膜からの散乱光の像を撮像する撮像手段820と、この撮像手段820で撮像して得た散乱光の画像を処理して多結晶シリコン薄膜の結晶の状態を検査する画像処理手段740とを備える。 (もっと読む)


【課題】レーザ光のエネルギー強度の弱い部分を遮断し、かつ光の回折による縞を発生させることなく、線状レーザ光を照射面に照射することができる、照射面上に均一強度の線状ビームを照射するレーザアニール方法及びレーザアニール装置の提供。
【解決手段】レーザ発振器101から射出されたレーザ光をスリット102を通過させて強度の弱い部分を遮断し、ミラー103で偏向させ、スリットにできた像を凸型シリンドリカルレンズ104によって照射面106に投影して照射面上に均一強度の線状ビームを照射することでレーザアニールを行う。 (もっと読む)


【課題】絶縁層上に結晶性の良好な半導体層を形成することができる、半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】絶縁層41上に厚さ4nm〜1μmの非晶質の半導体層43を形成する工程と、この半導体層43に対して、波長が350nm〜500nmの範囲内のエネルギービームを照射することにより、半導体層43を結晶化させる工程とを含んで、半導体装置を製造する。 (もっと読む)


【課題】ReRAM用のダイオードを形成するために、アモルファス半導体膜の表面に酸化膜が形成された場合であっても、アモルファス半導体膜を結晶化することが可能な半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】基板101上に、下部電極層111とアモルファス半導体膜112を形成し、アモルファス半導体膜112上の自然酸化膜121を介して、還元性のある金属層113Aを含む上部電極層113を形成し、マイクロ波を用いたアニールにより、金属層113Aと酸化膜121を反応させて、酸化膜121を半導体へと還元する。また、アニールにより更に、金属層113Aと半導体112を反応させて、金属層113Aの構成元素と半導体112の構成元素とを含む反応生成物113Cを生成する。また、反応生成物113Cを結晶成長のためのシードとして、アモルファス半導体膜112を結晶成長させる。 (もっと読む)


【課題】結晶化された半導体層内に残存する金属触媒の含有量を効果的に減少させた薄膜トランジスタを提供する。
【解決手段】薄膜トランジスタ、その製造方法、及びこれを備えた表示装置において、本発明の実施形態に係る薄膜トランジスタは、基板と、前記基板上に位置し、金属触媒を利用して結晶化された半導体層と、前記半導体層の上に絶縁配置されたゲート電極と、前記半導体層と前記ゲート電極との間に配置され、前記半導体層内で前記金属触媒より拡散係数が低い酸化金属で形成されたゲッター層とを含む。 (もっと読む)


【課題】多結晶シリコン層の表面平坦性を向上できる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】本実施形態によれば、半導体装置の製造方法は、基板上に非晶質シリコン膜を形成する工程と、前記非晶質シリコン膜を結晶化して多結晶シリコン膜を形成する工程と、プラズマドーピング法を用いて、前記多結晶シリコン膜にイオンを注入する工程と、前記イオンを注入した前記多結晶シリコン膜の表面を研磨する工程と、を備える。 (もっと読む)


【課題】良好な性能の半導体装置を低コストで提供する。
【解決手段】実施形態による半導体装置の製造方法は、非晶質シリコン膜を成膜する工程と、該非晶質シリコン膜の側面に種結晶を作成する工程と、マイクロ波を用いたアニーリングにより上記非晶質シリコン膜の膜厚の方向に直交する方向で上記非晶質シリコン膜の内部へシリコンを結晶成長させる工程と、を持つ。 (もっと読む)


【課題】画素構造を最適化することにより、開口率を向上させたEL表示装置を提供する。
【解決手段】スイッチング用TFTのゲート電極に近接して設けられた半導体層と、電流制御用TFTのゲート電極に近接して設けられた半導体層と、スイッチング用TFTのゲート電極および電流制御用TFTのゲート電極と同一面上に設けられたソース配線と、スイッチング用TFTのゲート電極、電流制御用TFTのゲート電極、およびソース配線を覆う絶縁膜と、ソース配線および前記スイッチング用TFTの半導体層に電気的に接続された第1の接続配線と、電流制御用TFTのゲート電極および前記スイッチング用TFTの半導体層に電気的に接続された第2の接続配線と、電流制御用TFTの半導体層と電気的に接続された画素電極と、発光層と、画素電極と対向する電極とを有するEL素子とを有するEL表示装置。 (もっと読む)


【課題】10μmを超える長さをもつ直線状の結晶粒が整列した、結晶方位がほぼ2軸揃った結晶粒からなる半導体薄膜を形成し、高移動度でかつ特性の均一な半導体デバイスを提供することができる半導体薄膜の製造方法、半導体デバイスおよび半導体薄膜製造装置を提供する。
【解決手段】連続発振レーザー結晶化において、回折型レーザビームホモジナイザを用いることで、レーザースポットを直線状・矩形状にし、長い方向にほぼ均一なレーザー強度分布を形成する。このレーザースポットを、レーザースポットの短い方向に適切な間隔をおいて、2段以上並べる。この多段レーザースポットを、シリコン薄膜上に照射し、レーザースポットの短い方向に走査させて、シリコン薄膜を横方向結晶化(ラテラル結晶化)を行うことで、結晶方位がほぼ2軸揃った結晶粒からなる多結晶シリコン薄膜の形成を行うことができる。 (もっと読む)


【課題】従来のIGBTの製造方法によって製造されるIGBTよりもオン抵抗の低いIGBTを、安価な製造コストで製造することが可能なIGBTの製造方法を提供する。
【解決手段】パンチスルー型のIGBTを製造するためのIGBTの製造方法。n型シリコン基板112を準備する第1工程と、n型シリコン基板112の第1主面側表面にMOS構造120を形成する第2工程と、n型シリコン基板112を研削・研磨してn型シリコン基板112を薄くする第3工程と、n型シリコン基板112の第2主面側からn型シリコン基板112の内部にn型不純物を導入する第4工程と、n型シリコン基板112の第2主面側の表面上にp型不純物を含有する多結晶シリコン層116”を形成する第5工程と、n型シリコン基板112の第2主面側からレーザー光を照射して多結晶シリコン層116”を溶融させる第6工程とをこの順序で含む。 (もっと読む)


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