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Fターム[5F157CF14]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 構成要素細部 (6,182) |  (243)

Fターム[5F157CF14]に分類される特許

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【課題】被洗浄物(ウエハ)を洗浄した際に生じた異物が被洗浄物(ウエハ)の表面に再付着し難い洗浄装置、洗浄方法及び半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】内槽11と外槽4とが上下2層に配置され、内槽11に被洗浄物(ウエハ1)を浸漬させ、内槽11の底面11a側から上方に洗浄液3を噴出させつつ洗浄を行う洗浄装置10であって、内槽11の底面11aを中央が窪んだすり鉢状に形成するとともに、洗浄液を噴出する洗浄液供給口12を内槽11の底面11aの周辺側に設ける。被洗浄物から脱落した沈殿性の異物8は底面11aの中央の窪んだ部分に集まり、洗浄液3を噴出しても巻き上がり難くなり、被洗浄物への異物の再付着を防止できる。 (もっと読む)


【課題】基板と基板の表面に対向配置される遮断部材と間にそれらの周囲の雰囲気が進入するのを防止する基板処理装置を提供する。
【解決手段】スピンチャック3の上方には、処理カップ5の開口16を閉塞するための蓋部材17が、遮断板22を取り囲むように設けられている。蓋部材17と遮断板22の上面との間には、ダウンフロー導路31が形成されている。ウエハWの処理時には、処理室2内にクリーンエアのダウンフローが形成されるとともに、排気液溝37内が強制的に排気されている環境下において、空隙47を介してダウンフロー導路31に取り込まれたクリーンエアのダウンフローは、スピンチャック3に保持されたウエハWの側方に導かれる。そして、クリーンエアの気流がウエハWの側方を包囲するように形成される。 (もっと読む)


【課題】所定の供給対象に安定した温度で処理液を供給することができる処理液供給装置およびそれを備えた基板処理装置を提供すること。
【解決手段】薬液供給装置12は、同種の薬液が貯留された第1および第2タンク13,14と、第1ヒータ17が介装された薬液供給管15と、薬液回収管16とを備えている。第1タンク13から処理ユニット2に供給された薬液は、薬液回収管16を介して第2タンク14に回収される。第2タンク14は、薬液移送配管24を介して第1タンク13に連結されている。薬液移送配管24には、第2ヒータ25および第2ポンプ26が介装されている。第2タンク14に回収された薬液は、第2ヒータ25による温度調節を受けた後、第2ポンプ26によって第1タンク13に移送される。 (もっと読む)


【課題】洗浄効果および洗浄幅を安定させることができ、基板の表面、周端面および裏面を同時に洗浄することができる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】基板処理装置は、ウエハWを回転させるためのスピンチャックと、ウエハWの周縁部を洗浄するための表面洗浄ブラシ28、周端面洗浄ブラシ29および裏面洗浄ブラシ30とを備えている。表面洗浄ブラシ28、周端面洗浄ブラシ29および裏面洗浄ブラシ30は、ウエハWが回転された状態で、それぞれ、ウエハWの表面の周縁領域7、周端面9および裏面の周縁領域8に対して一定の押し付け圧で垂直に同時に押し付けられる。 (もっと読む)


【課題】ドライアイススノーのパルス噴射制御が可能で炭酸ガスの消費量を節減できるドライアイススノー洗浄装置を提供する。
【解決手段】加圧液化炭酸ガスを断熱膨張させることにより形成されたドライアイススノーを噴射ノズル1から被洗浄物に対して噴射して洗浄をする装置であって、加圧液化炭酸ガスの供給を開閉する炭酸ガス供給弁8と、上記炭酸ガス供給弁8から供給された液化炭酸ガスを断熱膨張させるオリフィス3と、上記オリフィス3から噴射ノズル1に至る流通管2とを備え、上記炭酸ガス供給弁8の弁座からオリフィス3までの流路の内容積を0.58cm以下となるよう設定した。 (もっと読む)


【課題】被処理体を持ち上げる部材に洗浄液が残ることを防止することによって、被処理体の裏面に洗浄液が付着することを防止し、かつ、不活性ガス供給部内に洗浄液が流入することを防止するとともに、被処理体に不活性ガスを効率よく供給すること。
【解決手段】液処理装置は、被処理体Wを保持し中空になった保持プレート1と、保持プレート1に固定連結され中空になった回転軸2と、回転軸2を回転駆動する回転駆動部40と、保持プレート1の中空内に配置され、本体25と被処理体Wを支持するリフトピン21とを有するリフトピンプレート20と、を備えている。回転軸2の中空内には、洗浄液を供給する洗浄液供給部11と不活性ガスを供給する不活性ガス供給部10が延在している。リフトピンプレート20は傾斜面25a,25bを有し、不活性ガス供給部10の先端が、洗浄液供給部11の先端よりも高い位置に位置している。 (もっと読む)


【課題】処理液から引き上げられる複数の基板の全面を短時間で効率的に乾燥させることができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板移動機構30が基板Wを保持する保持部31を洗浄液が貯留された内槽40内に移動させる。その後、内槽40内の洗浄液をリンス液RLで置換する。続いて、基板移動機構30が基板Wを内槽40の上方へ引き上げる。このとき、ドライエア供給ダクト62から基板WにドライエアDFを供給する。基板Wの引き上げ時において、保持部31に当接する基板Wの部分y1,y2,y3が処理槽4上方の所定の高さに引き上げられることにより、基板移動機構30による基板Wの引き上げ動作を停止する。そして、バルブV1を閉塞状態にし、バルブV2を開放状態にする。これにより、内槽40内の全てのリンス液RLが処理液排出管42から図示しない工場の排出設備に送られる。 (もっと読む)


【課題】薬液の劣化を抑え、気化効率が高くキャリアガスの流量を少なくすることができる気化装置、及びこの気化装置を備えることにより気化された処理ガスの漏洩のリスクを低減させた基板処理装置、基板処理方法を提供すること。
【解決手段】気化プレート31の表面に多数の溝部36を形成し、毛細管現象により薬液であるHMDS液をこれら溝部36を介して気化面の上に広げ、この状態でキャリアガスを気化面に供給してHMDS液を気化させ処理ガスを得ている。従って気化を行わないときには、貯留されたHMDS液がキャリアガスに接触するといったことがないので、HMDS液の劣化が抑えられる。また小型化を図ることができる上、気化効率が高いのでキャリアガスが少なくて済む。また気化装置3を小型化できることから、処理容器22の側に置くことができ、処理ガスの配管を短くする、若しくは無くすことができるので、処理ガスの漏れが抑えられる。 (もっと読む)


【課題】基板の表面に形成された絶縁膜や金属膜などの膜減りを生じることなく、その基板の表面からポリマーを良好に除去することができる、ポリマー除去方法およびポリマー除去装置を提供する。
【解決手段】基板の周囲の雰囲気が窒素ガス雰囲気に置換された後、その窒素ガス雰囲気下において、基板の表面にポリマーをエッチング作用により除去するためのふっ酸ベーパが供給される。そして、そのふっ酸ベーパの供給と並行して、基板が回転されるとともに加熱される。 (もっと読む)


【課題】基板表面に形成された厚膜等の被乾燥物を乾燥むらなく短時間で乾燥させることができる基板の乾燥方法及び乾燥炉を提供する。
【解決手段】溶剤を含む被乾燥物が表面に形成された基板を、その被乾燥物形成面側を上方にして乾燥炉内に略水平に設置し、ガス供給手段から出力される溶剤ガスを加熱し、その加熱溶剤ガスを基板下部から供給して基板上の被乾燥物を乾燥させ、被乾燥物の上方近傍の溶剤ガスの溶剤濃度を測定し、溶剤濃度が所定の濃度となるように溶剤ガス供給手段の出力溶剤濃度を制御する。 (もっと読む)


【課題】装置の大型化を抑制しつつ、複数の供給対象に対して安定した流量で液体を供給することができる液体供給装置およびこれを備えた基板処理装置を提供すること。
【解決手段】処理液供給装置8は、液体がそれぞれ収容された第1タンク29および第2タンク30を備えている。第1タンク29内の液体は、第1連結配管33、第1バルブ39、送液室31を介して、複数の送液配管32から複数の供給対象に供給される。また、第2タンク30内の液体は、第2連結配管34、第2バルブ40、送液室31を介して、複数の送液配管32から複数の供給対象に供給される。第1タンク29から各送液配管32に至るまでの経路、および第2タンク30から各送液排気管32に至るまでの経路における流路断面積は、複数の送液配管32の流路断面積の総和よりも大きくされている。 (もっと読む)


【課題】MFC内に設けられている機器の異常を検出することができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】MFC241の上流側には、不活性ガスを供給する不活性ガス供給ライン308、不活性ガスの供給を遮断する第1遮断バルブ300、処理ガスを供給する処理ガス供給ライン310及び処理ガスの供給を遮断する第2遮断バルブ302が設けられ、MFC241の下流側には、処理室201に接続されるガス供給管232、ガス供給管232への供給を遮断する第3遮断バルブ304、排気可能な排気ベントライン318及び排気ベントライン318への供給を遮断する第4遮断バルブ306が設けられている。主制御部は、これらの遮断バルブが閉じられた状態でMFC241が閉状態から開状態に移行した結果、当該移行時間が予め設定された時間を超えている場合、MFC241は異常であると判定する。 (もっと読む)


【課題】混合槽で生成される処理液の混合比率を一定に保つ。
【解決手段】まず排出弁23,24,25を開弁し、供給弁26〜31を閉弁して、原料液体A,B,Cを排出弁23,24,25から外部に排出する。その後、LFC20,21,22が検出する原料液体A,B,Cの流量が全て所定の流量に達した後に、排出弁23,24,25を閉弁し、供給弁17,29,31を開弁して、供給弁17,29,31を通して原料液体A,B,Cを第2の混合槽3に供給する。 (もっと読む)


【課題】被処理基板に対する洗浄効果を向上させることができるとともに、洗浄液の液滴の噴霧の際における被処理基板に対するダメージを軽減することができる二流体ノズル、基板洗浄装置および基板洗浄方法を提供する。
【解決手段】二流体ノズル20は、洗浄液および液滴生成用ガスが混合することにより生成される洗浄液の液滴が流れる流路20hと、流路20hから送られる洗浄液の液滴が外部に噴霧される吐出口20jと、を備えている。流路20hの少なくとも一部分は湾曲しており、流路20hの湾曲した部分における径方向外側には排出口20iが設けられている。排出口20iは、流路20hの湾曲した部分における径方向外側を流れる洗浄液の液滴を当該流路20hから排出するようになっている。 (もっと読む)


【課題】弗酸処理によって半導体基板上に形成された酸化膜を除去する際に、ウォーターマークの発生や異物の付着を効果的に防止しうる半導体基板の処理方法を提供する。
【解決手段】半導体基板を弗酸処理して酸化膜を除去する工程と、半導体基板の表面を親水化する工程とを有し、半導体基板の表面を親水化する工程は、過酸化水素水を投入した処理槽内で半導体基板を処理する工程と、処理槽内にアンモニア水を更に投入して半導体基板をアンモニア過酸化水素水で処理する工程とを有し、半導体基板の表面を親水化する工程の後に、半導体基板を塩酸過酸化水素水で処理する工程を更に有する。 (もっと読む)


【課題】処理液バルブのリーク故障や吸引手段の故障を検出して、基板処理不良を抑制する。
【解決手段】この基板処理装置は、基板Wに処理液を吐出するノズル12と、ノズル12に接続された処理液供給管25と、処理液供給管25に介装された第1および第2処理液バルブ28A,28Bとを備えている。第1処理液バルブ28Aとノズル12との間に設定された分岐位置36には、処理液吸引管32が処理液供給管25に分岐接続されている。処理液吸引管32には吸引装置34が接続されており、その途中部には吸引バルブ33が介装されている。処理液供給管25は、分岐位置36とノズル12との間において、鉛直方向に沿う液面検出部40を有している。この液面検出部40に設定された液面検出位置42には、液面センサ41が配置されている。 (もっと読む)


【課題】超臨界流体が基板洗浄空間内に形成する渦の中心位置を変更することができる基板洗浄装置及び基板洗浄方法を提供することを課題とする。
【解決手段】本発明は、洗浄空間Sを規定する内壁25に対して所定の角度αで当該洗浄空間S内に超臨界流体を吐出させる3つ以上の流体吐出部21と、流体吐出部21にそれぞれ超臨界流体を供給するための供給流路と、供給流路から分流されて各流体吐出部21から吐出される超臨界流体の流量を制御する吐出流量制御手段30と、を備え、吐出流量制御手段30は、一部の流体吐出部21から第1の流量で超臨界流体が吐出されると共にそれ以外の流体吐出部21から第1の流量よりも小流量の第2の流量で超臨界流体が吐出され、且つ、第1の流量が分流される流体吐出部21が順次移行するように、供給流路11における超臨界流体の分流の流量を調整することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】レジストの剥離処理における処理むらやパーティクルの集中による傷が生じ難い基板洗浄装置及び基板洗浄方法を提供することを課題とする。
【解決手段】本発明は、主流路12と、洗浄空間Sにそれぞれ連通される第1連通路30及び第2連通路35と、切り換え手段Swとを使用し、主流路12の他端部12bから第2連通路35を通じて洗浄空間S内に超臨界流体が供給され且つ洗浄空間S内から第1連通路30を通じて主流路12の一端部12aに超臨界流体が排出される第1連通状態と、主流路12の他端部12bから第1連通路30を通じて洗浄空間S内に超臨界流体が供給され且つ洗浄空間S内から第2連通路35を通じて主流路12の一端部12aに超臨界流体が排出される第2連通状態と、に切り換え手段Swを切り換えることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】所定の液供給地点に基板が到達する以前に、ミスト状の処理液が基板に付着することを抑制し、これによって基板の品質向上を図る。
【解決手段】基板処理装置1は、処理室10を備え、この処理室10内で基板Sを搬送しながら当該基板Sにリンス液を供給して洗浄処理を施すように構成される。処理室10内には、搬入されてきた基板Sの上面全幅に亘って搬送方向上流側から下流側に向かって垂直方向に対して斜め方向にリンス液を吐出する液ナイフ16と、当該液ナイフ16から吐出されるリンス液の軌道よりも上流側の位置であって、かつ基板Sの搬送経路の下方に配置され、前記搬送方向上流側へのミスト状処理液の拡散を防止する遮蔽板17とが設けられている。 (もっと読む)


【課題】オゾン水混合液供給装置及び方法、並びにこれを具備する基板処理装置を提供する。
【解決手段】本発明によるオゾン水混合液供給装置は、処理液供給ライン及びオゾン水供給ライン夫々から処理液及びオゾン水の供給を受けこれを混合して予め設定された濃度範囲内のオゾン水混合液を製造する混合ラインと、混合ラインから製造するオゾン水混合液を処理ユニットに分配させる分配ラインと、を有する。混合ラインには、混合バルブ及びスタティックミキサを設ける。本発明は、混合タンクのような混合容器なしにインライン混合方式で予め設定のオゾン水混合液を製造及び供給する。 (もっと読む)


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