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Fターム[5F157CF14]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 構成要素細部 (6,182) |  (243)

Fターム[5F157CF14]に分類される特許

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【課題】基板の周縁部から汚染物質を良好に除去することができる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】基板処理装置1は、PVA(ポリビニルアルコール)製のスポンジブラシ16を備えている。スポンジブラシ16の外表面を含む範囲には、多数の砥粒が保持されている。基板処理装置1は、スピンチャック3により回転されるウエハWの周縁部にスポンジブラシ16を当接させることにより当該周縁部を洗浄することができる。スポンジブラシ16は、ウエハWの周縁部に強固に付着した汚染物資を砥粒によって剥離させることにより、ウエハWの周縁部から当該汚染物質を良好に除去することができる。 (もっと読む)


【課題】暖気を行うラインを別途設けることにより、プロセスの再現性が良好な基板乾燥装置を提供する。
【解決手段】制御部91は、純水などの液滴が付着した基板Wを処理槽9に載置した後、シャワーノズル17から乾燥媒体を供給させる。基板Wに付着している純水などの液摘は、乾燥媒体の液滴の物理力によって除去される。このとき基板Wは乾燥媒体によって完全に覆われた状態である。次に、空気をインラインヒータ59で加熱しつつシャワーノズル17に供給して基板Wを乾燥させる前に、インラインヒータ59を作動させた状態で気体をガス排気管77に排出させる。したがって、加熱された空気はチャンバ1内に供給されずガス排気管77を介して排出されるので、チャンバ1の温度が自然に上昇することがなく、プロセスの再現性を良好にすることができる。 (もっと読む)


【課題】基板上でのパターン倒れを防止することができる基板処理装置および基板処理方法を提供する。
【解決手段】基板処理装置は、洗浄処理部5a〜5dを有する。洗浄処理部5a〜5dは、スピンベース22、チャック回転駆動機構24、チャンバ31、真空ポンプ33、蒸気供給管34および液体供給ノズル46を備える。チャンバ31がスピンベース22から離間した位置に設定されかつスピンベース22が回転されている状態で、スピンベース22上の基板Wに液体供給ノズル46から薬液およびリンス液が供給される。スピンベース22が停止されかつチャンバ31がスピンベース22に密着した位置に設定されている状態で、真空ポンプ33によりチャンバ31内が排気されるとともに蒸気供給管34からチャンバ31内にIPAの蒸気が供給される。 (もっと読む)


【課題】処理液案内部材の内方に処理液雰囲気を保持することができ、処理液案内部材外への処理液雰囲気の流出を抑制または防止することができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】内構成部材19は、スピンチャック1の周囲を取り囲むように設けられ、第1案内部25、廃棄溝26、内側回収溝27および外側回収溝52を一体的に有している。中構成部材20は、内構成部材19の外側においてスピンチャック1の周囲を取り囲むように設けられ、第2案内部48を有している。外構成部材21は、中構成部材20の第2案内部48の外側においてスピンチャック1の周囲を取り囲むように設けられている。外構成部材21には、スカート部80が備えられている。スカート部80の垂下部81の下端部は、液体貯留部70に貯留された液体中に浸漬されていて、液封構造を形成している。 (もっと読む)


【課題】熱の再利用ができ、配管の破損が生じても問題が生じることがなく、その上、装置のコストアップを抑制することができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】二重容器27における熱交換により、排出される燐酸と供給される燐酸との間で熱の再利用ができる。また、熱交換が燐酸同士であるので、二重容器27の内容器29が破損したとしても問題が生じない。その上、別体の予備温調ユニットを設けることなく、供給する燐酸に加温することができるので、装置のコストアップを抑制することができる。 (もっと読む)


【課題】除去率が高く、ダメージが少ない洗浄処理を行うことができる基板処理方法および基板処理装置を提供すること。
【解決手段】ウエハWの表面(上面)に極性液体である純水を処理液ノズル3から供給し、ウエハWの表面を純水で覆う。さらに、処理液ノズル3から純水を吐出させた状態で、純水よりも表面張力が低い低表面張力液体であるHFEの液滴を、純水で覆われたウエハWの表面に衝突させる。その後、ウエハWを高速回転させて乾燥させる。 (もっと読む)


【課題】乾燥時間を短縮することができる基板乾燥装置を提供する。
【解決手段】制御部91は、純水などの液滴が付着し、処理槽9に載置された基板Wに対して供給ノズル17から乾燥媒体を供給させる。基板Wに付着している純水などの液摘は、乾燥媒体の液滴の物理力によって除去される。このとき基板Wは乾燥媒体によって完全に覆われた状態である。次に、乾燥媒体の供給を停止させるとともに、処理槽9内に滞留している乾燥媒体を排出・回収させた後、ガス供給管77から乾燥気体を供給ノズル17に供給して、基板Wに付着している乾燥媒体を乾燥させる。したがって、チャンバ1内の気体の置換や減圧に要する時間が不要であるので、基板Wの乾燥時間を短縮することができる。また、基板Wを処理槽9から引き上げた位置にて乾燥処理を行わないので、装置の高さ方向の寸法を抑制できる。 (もっと読む)


【課題】クリーンルーム内での半導体ウエハの製造工程に対して、イオナイザーの使用を伴う清浄ガスの吹き付けによる有害パーティクルの付着防止工程を加えても、腐食性のある反応生成不純物が生成され難い半導体装置の製造方法および吹き付けエアーの有害パーティクル除去装置を提供すること。
【解決手段】微粒子エアーフィルター5およびケミカルエアーフィルター6を通過するクリーンルーム外空気または窒素ガスを主体とするエアーにコロナ放電型イオナイザー8を機能させてイオン化し、その後、イオン化されたエアーをクリーンルーム1内の半導体製造のための作業ブース4内の作業ワーク14に吹き付ける工程を有する半導体装置の製造方法とする。 (もっと読む)


【課題】乾燥媒体の再利用を図ることにより、乾燥媒体の消費を抑制することができる基板乾燥装置を提供する。
【解決手段】密閉されたチャンバ1内の処理槽9に基板Wを収容した後、シャワーノズル17から乾燥媒体をシャワー状に供給する。基板Wに付着している液摘は、乾燥媒体の液滴の物理力によって除去される。このとき基板Wは乾燥媒体によって完全に覆われた状態である。チャンバ1内にシャワーノズル17から加熱空気を供給すると、チャンバ1内には乾燥媒体の気相が充満するが、排気管65により排気されるとともに、冷却器69によって冷却されて凝縮される。凝縮された乾燥媒体は、回収配管75により乾燥媒体タンク21に戻される。したがって、乾燥媒体を再利用することができ、乾燥媒体の消費を抑制することができる。 (もっと読む)


【課題】上下ノズルの流量比を処理に応じて最適なものとすることにより、液中のパーティクル排出性能を向上させることができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】、制御部47は、上ノズル13と下ノズル11の流量比を調整するので、内槽3内におけるリフタ9の保持部7付近に適度な大きさの渦を発生させることができる。したがって、渦の大きさを調整して、内槽3内を下方から上方へと向かう処理液の流れを適切に形成させることができるので、特に、洗浄処理において液中のパーティクルの排出能力を向上できる。 (もっと読む)


【課題】基板処理装置の稼働率の低下を防止することができるクリーニング基板及びクリーニング方法を提供する。
【解決手段】プロセスモジュール11のチャンバ17内に、円板状のシリコン基材43と、該シリコン基材43上に設けられた不織布44とを有するクリーニング基板45を搬入し、チャンバ17内を排気する排気システムによりチャンバ17内を真空引きすると共に、チャンバ17の壁面や構成部品の表面に付着しているパーティクルを剥離させて、チャンバ17内のパーティクルをクリーニング基板45の不織布44に入射させ、その後、不織布44内にパーティクルを捕捉したクリーニング基板45をチャンバ17内から搬出する。 (もっと読む)


【課題】ノズルからの処理液の落下による基板の欠陥の発生が防止された基板処理装置を提供することである。
【解決手段】現像液ノズル21の上部に形成された現像液供給口23から下方に延びるように現像液流路21aが形成されている。現像液流路21aの一端部から斜め上方に延びるように液貯留空間21bが形成されている。液貯留空間21bの上端部から各現像液吐出口22に向かって下方に延びるように、5つの現像液流路21cが形成されている。また、液貯留空間21bから上方に延びるように液吸引路24が形成されている。液吸引路24には、吸引管25を介して吸引装置SDが接続されている。バルブV3を開くことにより、吸引装置SDによって液貯留空間21b内の現像液が吸引される。 (もっと読む)


【課題】処理カップ内における気液分離効率を低下させることなく、処理カップからの薬液のミストの漏出を防止または抑制することができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】処理カップ25の上段には、第2構成部材22の第2案内部38の上端部38bと第3構成部材23の上端部23bとの間に、ウエハWの端面に対向し、第1薬液を捕獲する第1薬液捕獲口としての第3開口57が形成される。処理カップ25内の下段には、傾斜部41の先端部と第4構成部材24の傾斜部46の先端部との間に、第1雰囲気捕獲口58が形成される。第3開口57と第1雰囲気捕獲口58との上下方向における中間位置(中段)に、処理カップ25内に下降気流を発生するための羽根部材61が配置されている。羽根部材61は、スピンチャック3のスピンベース8に、一体回転可能に設けられている。 (もっと読む)


【課題】処理液による処理前における、基板に形成されたパターンの倒壊を抑制することが可能な基板処理方法を提供する。
【解決手段】主表面に複数のパターンが隣接して形成された基板を処理する基板処理方法であって、基板の主表面に第1の処理液を供給し、基板の主表面に第1の処理液を付着させ、基板の主表面に第1の処理液が付着した状態で、第1の処理液よりも表面張力が大きい第2の処理液を基板の主表面に供給し、第2の処理液により基板の主表面を処理する。 (もっと読む)


【課題】長期にわたって優れたシール性能を発揮することができるダイヤフラムバルブを提供する。ダイヤフラムバルブの閉状態において、処理流体配管を確実に閉塞することができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】フッ素樹脂(PTFEまたはPFA)製の弁座30の先端部(ダイヤフラム25に対向する端部)には環状のシール部材20が配置されている。弁座30の上面には、弁座30の内面に連続する環状の段部45が形成されており、その段部45にシール部材20が収容されている。シール部材20は、フッ化ビニリデン系樹脂(FKM)によって形成されており、比較的高い弾性および耐薬性を有している。流路の閉鎖状態で、ダイヤフラム25と弁座30との間にシール部材20が密着状態で介装される。 (もっと読む)


【課題】小型で、しかも基板表面を良好に処理することができる基板処理装置および基板処理方法を提供する。
【解決手段】処理空間162の湿度が規定湿度を超えている間、つまり処理空間162が十分に低湿度雰囲気となっていない間においては乾燥処理は実行されない。そして、当該湿度が規定湿度以下となって低湿度雰囲気となったことが確認されると、その低湿度雰囲気で乾燥処理が実行される。したがって、基板表面でのウォーターマーク等の発生を抑制しながら基板乾燥を良好に行うことができる。 (もっと読む)


【課題】基板洗浄装置において基板の生産性を向上させること。
【解決手段】基板洗浄装置2は、洗浄部材50により基板6を洗浄する位置から離れて設けられ、その下面がブラシ部と接触して当該ブラシ部を洗浄する洗浄面として形成されたブラシ洗浄体5と、洗浄部材を、基板を洗浄する領域とブラシ洗浄体によりブラシ部が洗浄される領域との間で移動させる移動手段と、ブラシ洗浄体の下面に洗浄部材のブラシ部を押し当て、ブラシ洗浄体と洗浄部材とを相対的に回転させるための手段と、ブラシ洗浄体とブラシ部材とを相対的に回転させているときにブラシ洗浄体の下面とブラシ部との間に洗浄液を供給する洗浄液供給手段と、を備える。 (もっと読む)


【課題】気体溶解膜モジュールを用いてガス溶解水を製造する方法及び装置において、溶存ガス濃度を変動させることなく、凝縮水を排出することができるガス溶解水製造方法及び装置を提供する。
【解決手段】原水を水室5に通水し、気体室6内に気体室6にガス供給源10からガスを供給し、ガス溶解水を製造する。運転を継続すると、気体透過膜4を透過した水が凝縮して気体室6に徐々に凝縮水が溜まってくる。気体室6内の水量が増加してくるとそれに伴って徐々に気体室6内の圧力が増大してくる。この気体室6内の圧力がチャッキ弁14のクラッキング圧力以上になるとチャッキ弁14が開弁し、気体室6内の水が配管15を通って排出される。 (もっと読む)


【課題】基板を略水平に保持した状態で所定の処理を行う基板処理装置および基板処理方法において、遮断板を用いた処理技術と同様の遮断効果を得ながらも、より装置の小型化に適した技術を提供する。
【解決手段】基板Wの略中央上方にガス吐出ヘッド200を設ける。ガス吐出ヘッド200の下部に基板表面Wfに向けて開口したガス吐出口283から、アルゴンガスを基板表面Wfに向けて吐出する。また、ガス吐出口283を取り囲むように設けたガス吐出口293からは、アルゴンガスよりも比重の小さい窒素ガスを吐出する。これにより、基板表面Wfに沿って流れるアルゴンガス層L1の上に窒素ガス層L2が形成され、周囲に浮遊するゴミDやミストM等がアルゴンガス層L1に取り込まれ基板表面Wf近傍に運ばれるのを防止する。 (もっと読む)


【課題】被洗浄物(ウエハ)を洗浄した際に生じた異物が被洗浄物(ウエハ)の表面に再付着し難い洗浄装置、洗浄方法及び半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】内槽11と外槽4とが上下2層に配置され、内槽11に被洗浄物(ウエハ1)を浸漬させ、内槽11の底面11a側から上方に洗浄液3を噴出させつつ洗浄を行う洗浄装置10であって、内槽11の底面11aを中央が窪んだすり鉢状に形成するとともに、洗浄液を噴出する洗浄液供給口12を内槽11の底面11aの周辺側に設ける。被洗浄物から脱落した沈殿性の異物8は底面11aの中央の窪んだ部分に集まり、洗浄液3を噴出しても巻き上がり難くなり、被洗浄物への異物の再付着を防止できる。 (もっと読む)


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