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国際特許分類[G01N1/28]の内容

国際特許分類[G01N1/28]の下位に属する分類

色付け;含浸 (131)
ポリッシング;エッチング (139)
精製;清浄 (51)
試料の埋め込みまたは類似の取付け (322)
試料の希釈,撹拌または混合 (14)
試料の濃縮
低温試料処理,例.低温固定
放射を伴う試料処理,例.熱

国際特許分類[G01N1/28]に分類される特許

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【課題】グリースを2枚の透明な板に挟むことで安定かつ簡易的に評価することのできるグリースの顕微鏡観察方法を提供する。
【解決手段】グリース中の金属石鹸粒子の顕微鏡観察方法において、グリースを透明な2枚の板の間に所定の強度の力で挟み、微分干渉もしくは偏光機能を有した光学顕微鏡で観察する。 (もっと読む)


本発明は、付着させる前に水性アナライト溶液から有機溶剤を脱溶剤することにより、疎水性表面、例えばDIOS−MS基板に、関心のあるアナライトを付着させる方法を提供する。 (もっと読む)


【課題】 金属試料中に存在する介在物の粒径を迅速に且つ精度よく測定する。
【解決手段】 発光装置52の放電回路52Aを構成する放電発生用コンデンサ52aとして、容量が8〜16μFのものを用いて、電圧が300〜500Vで、1パルス当たりの放電時間が80〜190μhの条件でパルス放電を生じさせることにより、金属試料の被検査面に存在する介在物を発光分光分析する。この発光分光分析による結果に基づいて、金属試料の検査基準面積に存在する介在物の最大粒径を測定し、この最大粒径を用いて極値統計法に基づく統計処理を行うことにより、金属試料の予測を行う面積に存在する介在物の推定最大粒径を測定する。 (もっと読む)


【課題】シリコンウェハの表面及び内部のほぼ全ての不純物を、非破壊で、簡単に、穏和な条件下で、短時間に抽出除去する方法を提供する。また、抽出された不純物を定量分析する方法を提供する。
【解決手段】シリコンウェハを、希薄酸水溶液からなる抽出液に浸漬し、この抽出液を加熱してシリコンウェハの不純物を抽出液中に抽出する。 (もっと読む)


【課題】
本発明が解決しようとする課題は、試料へのアプローチに際し試料へのダメージを与えることがない試料とプローブの接触感知機能を備え、ピックアップ機構としては微細なサンプルを迅速で確実なハンドリングを可能とすると共に、試料の材質を選ぶことなく、しかも構造的にも単純な機構を提供することにある。
【解決手段】
本発明のプローブ機構とサンプルピックアップ機構は、観察装置または分析装置に備えられ試料に接触を図る針状体からなる先端部材を有し、駆動用の静電アクチュエータと、該静電アクチュエータの電極間の静電容量変化をモニターする手段とを備え、該モニターにより前記プローブがサンプルに接触したことを検知できることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】測定済みの試料油と新たに採取した試料油とが混合することを防止すると共に、
ガス抽出室内のガス抽出空間の容積の変動を防止して、信頼性が高く、溶解ガスの抽出率の向上と、抽出率のばらつきを少なくした油中溶解ガス監視装置を得る。
【解決手段】ガス抽出部4と、ガス測定部16と、制御部23を備えた油中溶解ガス監視装置において、採油室5の絶縁油を置換する際に、エアポンプ18によってガス抽出室6を加圧するよう構成されている。また、ガス抽出室6に溶解ガスを抽出する際に、バイパス管路15によって、ガス抽出室6と採油室5とを連通して両室の圧力が同一となるよう構成されている。 (もっと読む)


本発明は、支持体上にPVDFを含有するコーティング(すなわち、PVDFが堆積した薄層)を有してなる質量分析用プレート、およびPVDFで支持体表面をコーティングすることを特徴とする質量分析用プレートの調製方法を提供する。また、本発明は、分析対象物含有試料をゲル電気泳動して分析対象物を分離し、分離した分析対象物をゲルから前記質量分析用プレートに転写し、該プレートを質量分析に供することにより移行した分析対象物を分析することを特徴とする分析対象物の同定方法を提供する。
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【課題】 被測定物の形状が不揃い、かつ微量でも、測定精度良くかつ測定時間を短くすることを可能とする。
【解決手段】 物質測定装置は、被測定物を高温に熱し柔らかくする溶融ステーション3と、被測定物をプレスするプレスステーション4と、被測定物に含まれる物質を蛍光X線分析方法によって測定する測定ステーション5と、被測定物を前記各装置間で移動させる回転テーブル1とを備えている。 (もっと読む)


【課題】 変質のない良好な透過電子顕微鏡用観察試料の作成方法を提供すること。
【解決手段】 試料1を銅リング3に接着する際、試料1の向きを従来のそれに対して90°回転させることでFIB加工面をダイシング加工面1b方向にする。試料1のダイシング加工面1b側からトレンチ1cを含む領域をFIB加工する。FIB加工方向をこのように変更することで、埋め込みトレンチ1cを側面方向から薄片化できるため、加工深さはトレンチ幅(5μm)程度で済み、観察部位の非結晶化等は発生せず、良質なTEM用観察試料を作製可能である。 (もっと読む)


幹細胞ならびに胚形成および発癌に特異的な他の細胞を同定し、組織試料を分類し、前癌および癌またはアテローム硬化症病変を診断し、制癌剤の価値を検査し、特定の細胞型で特異的に発現される高分子を発見し、回復組織療法において幹細胞を使用する方法、ならびに異形性核形態型がインタクトであるように組織試料を調製する方法が、開示される。
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