【課題】音波振動によって電磁波を放射し得る、人体も含めたあらゆる対象物に対して適用可能な音波誘起電磁波による物体の特性測定方法及び装置を提供する。
【解決手段】本発明の１つの音波誘起電磁波による物体の特性測定方法及び装置は、被測定物体に音波を照射して誘起される電磁波から物体中の荷電粒子の特性値等の変化を測定する方法及び装置である。例えば、音波集束ビーム（１）が照射される被測定物体の部分（２）では、正の荷電粒子（３）が多い電荷分布状態であるので、正の荷電粒子（３）及び負の荷電粒子（４）が誘起する電磁波は完全に打ち消し合わず正味の電磁波（６）が誘起される。また、正の荷電粒子（３）及び／又は負の荷電粒子（４）の濃度が変化すると、電磁波（６）の強度が変化するので、電磁波（６）の強度変化から荷電粒子の濃度変化を知ることができる。 （もっと読む）

【課題】 高価な測定装置を用いることなく、小型で、簡便な方法によりプラズマの電子密度の測定が可能な測定プローブ及び測定装置を実現する。
【解決手段】 測定プローブ１０は、導体板からなるアンテナ部１１と、アンテナ部１１を電界励起するための同軸結合部１２と、アンテナ部１１に給電し反射信号を受けるための同軸ケーブル１３とを備えている。アンテナ部１１には、薄い導体円板からなり、スパイラル状に形成されたスロット１１ａと、スロット１１ａの一端にスロット１１ａよりも幅広い円形状に形成された開放部１１ｂとにより半開放端スロット１１ｃが形成されている。開放部１１ｂには、アンテナ部１１の後方より配置された同軸ケーブル１３の芯線１３ａの先端部が露出している。同軸ケーブル１３の外皮導体１３ｂは、アンテナ部１１を接地し、これらにより同軸結合部１２が構成されている。 （もっと読む）

【課題】音波振動によって電磁波を放射し得る、人体も含めたあらゆる対象物に対して適用可能な音波誘起電磁波による物体の特性測定方法及び装置を提供する。
【解決手段】音波誘起電磁波による物体の特性測定方法及び装置は、被測定物体に音波を照射して誘起される電磁波から物体中の荷電粒子の特性値等の変化を測定する方法及び装置である。例えば、音波集束ビーム（１）が照射される被測定物体の部分（２）では、正の荷電粒子（３）が多い電荷分布状態であるので、正の荷電粒子（３）及び負の荷電粒子（４）が誘起する電磁波は完全に打ち消し合わず正味の電磁波（６）が誘起される。また、正の荷電粒子（３）及び／又は負の荷電粒子（４）の濃度が変化すると、電磁波（６）の強度が変化するので、電磁波（６）の強度変化から荷電粒子の濃度変化を知ることができる。 （もっと読む）

【課題】 ケーブルを切断する必要がなく、かつ、導電体によってマイクロ波が吸収されることもなく、外周を被覆する絶縁体の劣化および材料変質を高精度に測定することができる導電ケーブルにおける被覆絶縁体の劣化測定装置および方法を提供する。
【解決手段】 ホールド部材２に保持されたケーブルＣが、マイクロ波空洞共振器１のピンホール12の外側開口部を密着状態に被覆可能である一方、ガン発振器３から発振されたマイクロ波がサーキュレータ４により導波管11を介してマイクロ波空洞共振器１内に導入され、このマイクロ波の一部が前記ピンホール12における外側開口部から漏出可能であって、この漏出したマイクロ波が、前記ホールド部材２に保持されたケーブルＣの絶縁体Ａに照射され、かつ、導入されたマイクロ波が当該マイクロ波空洞共振器１内において反射して、アンプ５によって増幅されてマイクロ波観測器６により検知して観測可能にする。 （もっと読む）

【課題】
本発明の目的は、複数個の誘電体共振器を搭載した測定ヘッドを用いる配向測定で、隣接する二つの誘電体共振器が互いの測定値に影響を与えない高精度な測定が可能であり、かつ測定時間が冗長にならない配向測定装置を提供することである。
【解決手段】
本発明は複数個の誘電体共振器を搭載した測定ヘッドを用いたマイクロ波による配向測定装置において、隣接する二つの誘電体共振器のブランク測定時の共振周波数の差の絶対値と試料測定時の共振周波数の差の絶対値の内、小さい方の絶対値が装置の構成条件で決まる特定値以上であることを特徴とするものである。また、本発明は前記特定値が隣接する二つの誘電体共振器の共振周波数が互いに干渉しない最小の周波数値であることを特徴とするものである。 （もっと読む）

【課題】酸化物半導体薄膜の電気的特性を、電極付けすることなく、非接触型で評価・測定する方法を提供すること。
【解決手段】酸化物半導体薄膜が形成された試料に励起光及びマイクロ波を照射し、前記励起光の照射により変化する前記マイクロ波の前記酸化物半導体薄膜からの反射波の最大値を測定した後、前記励起光の照射を停止し、前記励起光の照射停止後の前記マイクロ波の前記酸化物半導体薄膜からの反射波の反射率の変化を測定し、前記測定した値からライフタイム値を算出することによって、前記酸化物半導体薄膜の移動度を判定する。 （もっと読む）

【課題】高感度高分解能で試料のイメージングを行える電波イメージング方法と装置を提供する。
【解決手段】電波を発生する電波源からの出力信号を外部へ放射する外部出力手段と、外部出力手段から放射された電波を収束させる出力用レンズと、出力用レンズから放射され試料によって反射された電波を受入れ、収束させる入力用レンズと、入力用レンズから放射された電波を受入する外部入力手段と、外部入力手段で受入した入力信号を処理して試料のイメージングを行なう演算処理手段とを備え、外部出力手段及び外部入力手段を金属製の筒に囲まれたポール状のアンテナとすると共に、入出力用レンズを短焦点距離のレンズとし、アンテナ近傍における電波の強度分布特性とレンズによる収束特性とにより、電波の強度分布の半値全幅が電波の波長程度になるように設定し、その電波強度の高められた領域に試料を配置することにより、試料からの直接波を高感度で検出する。 （もっと読む）

【課題】対象物体から放射や反射されるミリ波をアンテナやアンプなどで構成されるセンサによって計測してイメージングを行うイメージング装置において、メカ機構の負担を少なくし、さらに、計測有効範囲を拡大する。
【解決手段】センサ群１２４Ａ，１２４Ｂを回転物体１２１の回転面に配置する。回転物体１２１を回転させることで、センサ群１２４Ａが誘電体レンズ１１０により有効範囲１に結像された第１の被写体像ＩＭ１をスキャンし、被写体像ＩＭ１の各画素の信号が取得される。また、回転物体１２１を回転させることで、センサ群１２４Ｂが誘電体レンズ１１０および反射板１２６により有効範囲２に結像された第２の被写体像ＩＭ２をスキャンし、被写体像ＩＭ２の各画素の信号が取得される。反射板を動かしてスキャンを実現する従来技術に比べて、メカ機構の負担を少なくできる。計測有効範囲として、有効範囲１の他に、有効範囲２が加わる。 （もっと読む）

【課題】本発明は、キャリア寿命をより精度よく測定し得る半導体キャリア寿命測定装置および該方法を提供する。
【解決手段】本発明の半導体キャリア寿命測定装置Ｘａは、波長の異なる第１および第２光を、被測定試料ＳＷの半導体における互いに異なる第１および第２領域に照射する光照射部１と、第１および第２領域のそれぞれに所定の測定波を照射するとともに、第１領域での測定波の第１反射波または第１透過波と第２領域での測定波の第２反射波または第２透過波との差である差測定波を、第１反射波または第１透過波のままで用いるとともに第２反射波または第２透過波のままで用いることによって生成する測定波入出力部２と、測定波入出力部２の差測定波を検出する検出部３と、検出部３の検出結果に基づいて被測定試料ＳＷの半導体におけるキャリア寿命を求める演算制御部４とを備える。 （もっと読む）

【課題】フィルム状の測定対象物を空洞共振器に容易にセットすることができるようにすることである。
【解決手段】本発明は、半管体及び当該半管体の両端部に形成された縁部を含む一対の構造体が組み合わされて構成される中空導波管部と、前記中空導波管部の長手方向両端部において前記組み合わされた一対の構造体の縁部に当接し、前記中空導波管部に通じる開口が形成された一対の導電性板と、前記中空導波管部の長手方向両端部において前記導電性板を介在させて前記一対の構造体を締着する一対のアダプタと、を備え、前記一対の構造体のそれぞれの半管体には、前記一対の構造体が組み合わされて構成された中空導波管部にスリットが形成されるように、当該半管体の長手方向に沿った端面に一対の段部が形成され、前記一対の構造体の少なくとも一方は、前記一対のアダプタと着脱自在に締着される、異物検出装置である。 （もっと読む）