説明

国際特許分類[G01N30/00]の内容

物理学 (1,541,580) | 測定;試験 (294,940) | 材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析 (128,275) | 吸着,吸収もしくは類似現象,またはイオン交換,例.クロマトグラフィ,を用いる成分分離による材料の調査または分析 (6,699)

国際特許分類[G01N30/00]の下位に属する分類

国際特許分類[G01N30/00]に分類される特許

181 - 190 / 284


置換クロマトグラフィー方法は、1以上の分離される成分を含む混合物を、陰イオン交換材料を含む固定相にロードする工程;一般式Cen(Ar)を有するポリ芳香族ポリ陰イオン性置換剤化合物を含む混合物を固定相にアプライすることによって、固定相から1以上の成分の少なくとも1つを置換する工程であって、式中、Cenは、中心となる結合または基であり、Arは、芳香族核であり、wは、2からCen上の部位の最大数であり、そしてArは、複数のAnによって置換され、式中各Anは、独立して、スルホナート、カルボキシレート、ホスホナート、ホスファート、スルファートとして定義され;そしてArは複数のGによってさらに置換され、Gは独立して、H、C〜Cアルキル、ハロゲン、ニトロ、ヒドロキシ、C〜Cアルコキシとして定義される工程を含む。加えて、この方法に有用なポリ芳香族ポリ陰イオン性置換剤化合物の一群を開示する。
(もっと読む)


【課題】ホウ素化合物をポンプによる吸引等の操作を必要とせず簡便にしかも効率よく捕集することができるホウ素化合物捕集用パッシブサンプラー、および、それを用いて空間のホウ素化合物の量を評価する方法を提供すること。
【解決手段】N−メチルグルカミン基を官能基とする陰イオン交換樹脂、セルロース、高純度シリカおよびキサトン誘導体からなる吸着剤群から選ばれる少なくとも1種の吸着剤を表面に有する捕集材を備えることを特徴とするホウ素化合物捕集用パッシブサンプラー。 (もっと読む)


【課題】短時間で、フォトマスクの曇りの原因となる異物を選択的に捕集することが可能な、フォトマスク生産の品質管理手法に使用するに相応しい吸着管を提供するものである。
【解決手段】粒子を捕集剤としてガラス管または金属管に充填した吸着管であって、前記粒子の表面が、クロム、シリカまたはモリブデンに覆われていることを特徴とする吸着管である。
フォトマスク表面の組成と同じか、または、近い組成を持つ捕集剤を用いて、フォトマスク表面に吸着するフォトマスクの曇りの原因となる異物の捕集を行うことにより、フォトマスクの曇りの原因となる異物と無関係な物質を捕集せず、フォトマスクの曇りの原因となる異物のみを分析することができる。 (もっと読む)


【課題】 トラップ機能を備えた流路のデッドボリュームを減らす。
【解決手段】 流路切換バルブ1は、回転子であるロータ3と、外部の流路と接続するための4個のポート7a〜7dが設けられているハウジングトップ9からなっている。2個のポートは分析用移動相のIN側ポート7a及びOUT側ポート7b、他の2個のポートは濃縮用移動相のIN側ポート7c及びOUT側ポート7dである。ロータ3には、ポート7a〜7dの位置に対応して2つのポート間を連通させる円弧状のロータ溝11a,11bが形成されている。ロータ溝11b内には、吸着剤が充填されている。 (もっと読む)


【課題】液体中に存在し、金属の影響を受けやすい極微量の化合物を精度よく、精製、濃縮、分析、分取するために、該化合物を分析する際に障害となるようなポリマー系充填剤中の金属の影響を低減した、分離処理用充填剤の製造方法、該分離処理用充填剤、固相抽出用カートリッジ、液体クロマトグラフィー用カラム、分離対象物質の分離方法、ならびにポリマー系分離処理用充填剤の前処理剤を提供する。
【解決手段】ポリマー系充填剤と、キレート能を有する物質とを接触させる。 (もっと読む)


【課題】試料の分析に先立って、試料のpH調整を簡単、確実に行い、かつ分析障害となる物質を予め除去すること。
【解決手段】分析対象物質を含む試料液とpH指示薬とを接触して、その呈色に基づいて必要な試料液のpH調整を行い、次いで試料中に含まれる目的の分析対象物質及び前記指示薬を捕捉する吸着剤に前記試料液を接触して、前記吸着剤に前記分析対象物質及び指示薬を捕捉する工程を含む試料分析用前処理方法、この方法に用いるのに適した前処理用指示薬、及び前処理用キット。 (もっと読む)


【課題】 PCBを含有する試料を、キャピラリーガスクロマトグラフを用いて分析する方法において、分離カラムや検出器の汚染が極めて少なく、迅速かつ高精度にPCBを検出・定量可能なPCB分析方法、該方法に使用されるPCB分析装置を提供する。
【解決手段】 試料導入装置におけるガス化部の温度を、試料の注入時に、前記試料の溶媒の気化温度未満とし、前記試料を注入した後、前記試料中のPCBが気化する温度まで上昇させ、前記PCBが気化するのに必要な時間保持した後、前記試料の溶媒の気化温度未満まで降下させ、前記試料中の夾雑成分を前記ガス化部内に残留させることを特徴とするPCB分析方法である。前記PCB分析方法に使用されるPCB分析用試料導入装置、及び前記PCB分析用試料導入装置を備えたキャピラリーカラムクロマトグラフと、検出器とを少なくとも備えるPCB分析装置である。 (もっと読む)


【課題】 試料の旋光度を測定する事により試料内の旋光性物質の濃度を測定する濃度測定に於いて、試料中の所望の旋光性物質以外の旋光性物質を除去するのに、イオン交換樹脂や合成吸着剤、活性炭等を充填剤としたフィルターによる除去は有用である。ただし、試料中に想定以上の阻害成分が含まれていると、準備しておいたフィルターでは除去しきれず測定が不能になってしまう。
【解決手段】 測定対象物質がフィルターを通って、流出するのにかかる時間とその割合を予め調べておき、マイクロコンピューター等の記憶手段に記憶させる。時間経過に伴う測定対象物質流出率を利用した旋光度予測機能を付加することで測定不能を回避することができる。
(もっと読む)


固相マイクロ抽出(SPME)ファイバ9を保持するプローブ5のためのホルダ15を有する可動サンプラー・アーム2と、プローブ格納トレイ4およびガスクロマトグラフィ注入器7の間でプローブ5を搬送するための中間ブラケット6とを有する自動SPMEサンプリング装置。種々のプローブ・ハンドリング段階において、プローブは、ホルダ15のプランジャ17の端部、ホルダの本体16の自由端部、およびプローブ針8を誘導するブロック29bの下側端部に取り付けられた磁性手段20、22、33により回収される。プローブを搬送ブラケット6上に配置するため、またはプローブを搬送ブラケット6から取り除くために、磁性手段は、SPMEファイバ9の一端部に取り付けられた強磁性コネクタ12、およびファイバを収容する針8の端部に取り付けられた強磁性フランジ13と相互作用する。装置は、全自動方式で、既に暴露されたSPMEファイバに関して分析を実施すること、サンプルから分析物を抽出すること、およびその後ガスクロマトグラフにおける脱離のために分析物を搬送することが可能である。
(もっと読む)


【課題】製造環境の気体モニタリングシステムにおいて、クリーンルーム環境または装置内に存在する気体の中で特定の基板表面に選択的に付着する成分を一定周期で検出し、その中で基板の透過率を低下させる成分を効率的にモニタリングする気体モニタリングシステムの提供。
【解決手段】製造環境の気体の中で、特定の基板表面に付着する成分を収集する成分収集手段と、収集された成分を少なくとも定性及び定量分析する分析手段と、該分析結果に基づいてモニタリング項目におけるシミュレーションを行うシミュレーション手段と、を有し、前記シミュレーション手段のモニタリング項目が、特定波長における分析物質の光吸収スペクトル及び分光特性の算出する気体モニタリングシステムを具備する装置、及び該装置を用いて、付着する成分中で基板の透過率を低下させる成分をモニタリングする気体モニタリングシステム。 (もっと読む)


181 - 190 / 284