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国際特許分類[H01L21/22]の内容

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【課題】基材の表面近傍をごく短時間だけ均一に高温熱処理するに際して、あるいは、反応ガスによるプラズマまたはプラズマと反応ガス流を同時に基材へ照射して基材を低温プラズマ処理するに際して、基材の所望の被処理領域全体を短時間で処理することができるプラズマ処理装置及び方法を提供することを目的とする。
【解決手段】誘導結合型プラズマトーチユニットTにおいて、ソレノイドコイル3が、第一石英板4、第二石英板5、及び、複数の石英管6によって囲まれた長尺チャンバの周囲に配置され、最下部にプラズマ噴出口8が設けられる。石英管6の内部には冷却水が供給される。長尺チャンバ内部の空間7にガスを供給しつつ、ソレノイドコイル3に高周波電力を供給して、長尺チャンバ内部の空間7にプラズマを発生させ、基材2に照射する。 (もっと読む)


【課題】基材の表面近傍をごく短時間だけ均一に高温熱処理するに際して、あるいは、反応ガスによるプラズマまたはプラズマと反応ガス流を同時に基材へ照射して基材を低温プラズマ処理するに際して、基材の所望の被処理領域全体を短時間で処理することができるプラズマ処理装置及び方法を提供することを目的とする。
【解決手段】誘導結合型プラズマトーチユニットTにおいて、スパイラルコイル3が第一石英板4、第二石英板5、及び、冷媒ケース16によって囲まれた冷媒流路内に配置され、最下部にプラズマ噴出口8が設けられる。第二石英板5と冷媒ケース16とは、ボルト19をタップ18にねじ込むことにより、固定される。第二石英板5及び第三石英板6に囲まれた長尺チャンバ内部の空間7にガスを供給しつつ、スパイラルコイル3に高周波電力を供給して、長尺チャンバ内部の空間7にプラズマを発生させ、基材2に照射する。 (もっと読む)


【課題】基材の表面近傍をごく短時間だけ均一に高温熱処理するに際して、あるいは、反応ガスによるプラズマまたはプラズマと反応ガス流を同時に基材へ照射して基材を低温プラズマ処理するに際して、基材の所望の被処理領域全体を短時間で処理することができるプラズマ処理装置及び方法を提供することを目的とする。
【解決手段】誘導結合型プラズマトーチユニットTにおいて、多重の渦形のスパイラルコイル3が第一石英板4に接合され、誘導結合型プラズマトーチユニットTの最下部にプラズマ噴出口8が設けられる。第二石英板5及び第三石英板6に囲まれた長尺チャンバ内部の空間7にガスを供給しつつ、スパイラルコイル3に高周波電力を供給して、長尺チャンバ内部の空間7にプラズマを発生させ、基材2に照射する。 (もっと読む)


【課題】 半導体基板を複数枚重ね合わせて熱処理する際に、半導体基板同士のズレを抑制し、また半導体基板の間に隙間を発生させることなく保持できる熱処理用ボートを提供することを目的とする。
【解決手段】 少なくとも、前記1組の角形半導体基板の各辺の少なくとも1箇所と接触する溝を備える基板固定具と、当該基板固定具の両端に連結される支持板とを有し、前記基板固定具は、前記1組の角形半導体基板の重心よりも高い位置から当該1組の角形半導体基板を非鉛直方向に加圧する少なくとも1つの第1基板固定具と、前記1組の角形半導体基板の重心よりも低い位置から当該1組の角形半導体基板を支持する少なくとも1つの第2基板固定具を、少なくとも有する熱処理用ボート。 (もっと読む)


【課題】太陽電池の発電効率を高めることが可能な、新規かつ改良された光電素子の製造方法を提供する。
【解決手段】第1導電型を有する半導体基板に前記第1導電型と異なる第2導電型を有する第1ドーピング物質層DP1を形成する先蒸着段階と、第1ドーピング物質層DP1が形成された前記半導体基板を加熱する熱拡散段階と、前記熱拡散段階後、第1ドーピング物質層DP1上に、前記第2導電型を有する第2ドーピング物質層DP2を形成する後蒸着段階と、前記半導体基板、第1ドーピング物質層DP1及び第2ドーピング物質層DP2の一部をレーザLで局所加熱し、前記半導体基板の第1面上にコンタクト層を形成する局所加熱段階と、前記コンタクト層上に第1電極を形成し、前記半導体基板の前記第1面と対向する第2面上に第2電極を形成する段階と、を含む。 (もっと読む)


【課題】炉口部近傍に於ける基板温度の面内均一性を図ることで基板の処理枚数を増大させ、基板の処理効率を向上させる基板処理装置及び半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】複数枚の基板13を保持する基板保持具5と、該基板保持具が搬入される処理炉1と、該処理炉に設けられ基板を加熱する加熱部2と、前記処理炉内に処理ガスを供給するガス供給部8,11と、前記処理炉内を排気する排気部12と、前記加熱部と前記ガス供給部と前記排気部とを制御する制御部とを具備し、前記基板保持具の下部にはダミー基板13bが保持されると共に、前記基板保持具の下端にボートキャップ6が設けられ、少なくともダミー基板と前記ボートキャップとの間に伝熱板34が設けられた。 (もっと読む)


【課題】多数の半導体ウエハを水平に保持して使用する高温熱処理用ボートを使用しても半導体ウエハへのスリップ欠陥の発生を抑制することのできる半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】一体に固着された複数の高耐熱性支柱1がそれぞれ所定の間隔に刻まれた支持溝2を備え、該支持溝2は、前記複数の高耐熱性支柱1を直立させた状態で複数枚の半導体ウエハ3a、3bを水平に前記所定の間隔で保持する相互配列を備える高温熱処理用ボート10を使用して、該ボート10に保持される複数枚の半導体ウエハ群領域6、7の直上、直下に少なくともダミーウエハ3b(1)を1枚配設し、該ダミーウエハ3b(1)の直上、直下には少なくとも1枚分の空間を空けて、さらに延長部にダミーウエハ3bを複数枚配設して高温熱処理炉に炉入れする高温熱処理工程を有する。 (もっと読む)


【課題】ガス種による排気性のばらつきを解消し、ボックス内における処理ガスの対流を防止する基板処理装置を提供する。
【解決手段】複数のウエハに対して処理ガスにより熱処理を施すための処理炉を収容する装置本体100と、前記処理ガスの供給を制御するガス制御ユニットを収容するガスボックス300と、を有し、前記ガスボックス300の上方に設けられた吸気口305から外気を取り込み、前記ガスボックスの下部に設けられた排気口303から該ガスボックス内部の雰囲気を排気する。 (もっと読む)


【課題】ある方向に沿って延在する容器を冷却する際に、電力消費量を増加させることなく、延在する方向に沿って容器の冷却速度に差が発生することを抑制できる熱処理装置を提供する。
【解決手段】処理容器65と、処理容器65内で、一の方向に沿って基板を所定の間隔で複数保持可能な基板保持部44と、処理容器65を加熱する加熱部63と、気体を供給する供給部91と、一の方向に沿って各々が互いに異なる位置に設けられた複数の供給口92aとを含み、供給部91が供給口92aの各々を介して処理容器65に気体を供給することによって処理容器65を冷却する冷却部90とを有する。冷却部90は、供給口92aの各々を介して気体を供給する供給流量が独立に制御可能に設けられたものである。 (もっと読む)


【課題】温度センサを用いて熱処理を制御する際の不具合を抑制する基板処理装置及び基板処理装置の温度制御方法を提供する。
【解決手段】第1の放射温度計の第1の温度検出手段と、第1の放射温度計によって測定される温度の範囲の上限よりも高い温度を温度の範囲の上限とし、かつ、第1の放射温度計によって測定される温度の範囲の下限よりも高い温度を測定される温度の範囲の下限とする第2の放射温度計を用いて、温度を検出する第2の温度検出手段とを有し、前記第1の温度検出手段により検出された温度が第一の閾値を超えた場合には第2の温度検出手段に切り替え、前記第2の温度検出手段により検出された温度が前記第一の閾値より低い第二の閾値を下回った場合には第1の温度検出手段に切り替え、前記第1の温度検出手段又は前記第2の温度検出手段により検出された温度と予め定められた閾値とに基づいて、加熱手段の制御を切り替える。 (もっと読む)


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