【課題】 良好な特性を備えるカーボンファイバーを均一性高く基体上に形成する。
【解決手段】 カーボンファイバーの製造方法であって、第１の触媒材料と、第２の触媒材料を含む触媒粒子との積層体を、基体上に配置し、第１の触媒材料と前記第２の触媒材料とを反応させることで、第１の触媒材料と第２の触媒材料とからなる触媒粒子を基体上に形成し、その後第１の触媒材料と第２の触媒材料とからなる触媒粒子と、カーボンファイバーの原料とを反応させて、基体上にカーボンファイバーを成長させる。 （もっと読む）

典型的には半導体ウェーハである基板（１）の、レリーフ状にパターニングされた基板表面（１０１）上に、堆積方法（ＡＤＬ；ａｔｏｍｉｃ ｌａｙｅｒ ｄｅｐｏｓｉｔｉｏｎ：原子層堆積）を用いて、基板表面（１０１）に対して傾斜し、および／または垂直である処理表面（２）に、被覆層（３）が提供される。被覆層（３）は、前駆材料の少なくとも１つの処理量の制限によって、および／または堆積方法の時間的制限によって、簡易な方法において、基板表面（１０１）に対して垂直な方向にパターニングされ、後続のプロセス工程のための機能層あるいはマスクとして形成される。
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【課題】静電破壊耐性を向上し得る半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】ゲート電極とドレイン領域とソース領域とを有する半導体装置であって、ドレイン領域は、ゲート電極の第１の側に形成された第１導電型の第１の不純物拡散領域１８ａと；第１の不純物拡散領域より深く形成された第１導電型の第２の不純物拡散領域２０ａと；第１の不純物拡散領域より浅く形成され、不純物拡散層より不純物濃度が高い第１導電型の第３の不純物拡散領域２８ａ、２８ｂと；第３の不純物拡散領域上に形成され、ドレインコンタクト部２２Ｄに接続されるシリサイド膜３２ａ、３２ｂとを有し、ドレインコンタクト部とサイドウォール絶縁膜との間にシリサイド膜が形成されていない領域が存在しており、ドレインコンタクト部の下方の半導体基板内に第２の不純物拡散領域が形成されていない。 （もっと読む）

【課題】 不純物のプロファイルを精度よく制御することが可能な半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】 半導体領域１に不純物元素のイオンを注入する工程と、半導体領域に、所定元素としてIV族の元素又は不純物元素と同一導電型であって不純物元素よりも質量数が大きい元素のイオンを注入してアモルファス状態の結晶欠陥領域５を形成する工程と、不純物元素及び所定元素が注入された領域にフラッシュランプの光を照射してアニールを行い、アモルファス状態の結晶欠陥領域の結晶欠陥を回復させるとともに不純物元素を活性化する工程と、を備え、フラッシュランプの光を照射してアニールを行う工程を、結晶欠陥領域のアモルファス状態が維持される温度で半導体領域を予め加熱した状態で行う。 （もっと読む）

処理チャンバに配置された材料をアニールしてケイ化物層を形成するための方法及び装置が提供される。１つの態様において、シリコン材料が配置された基板を、チャンバ内の基板支持体上に配置するステップと、少なくともシリコン材料上に金属層を形成するステップと、上記基板をその場でアニールして、金属ケイ化物層を生成するステップとを備えた基板面を処理する方法が提供される。別の態様において、この方法は、ロードロックチャンバと、該ロードロックチャンバに結合された中間基板移送領域であって、第１基板移送チャンバ及び第２基板移送チャンバで構成される中間基板移送領域と、上記第１基板移送チャンバに配置された物理的気相堆積処理チャンバと、上記第２基板移送チャンバに配置されたアニールチャンバとを備えた装置において実行される。
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【課題】 リーク電流の少ない半導体装置を提供する。
【解決手段】 半導体装置は、第１導電型を有する半導体基板１を含む。第２導電型を有する１対のソース／ドレイン領域４が半導体基板の表面に形成される。ゲート絶縁膜３がソース／ドレイン領域相互間のチャネル領域上に配設される。第１導電型を有するゲート電極５がゲート絶縁膜上に配設される。ゲート電極は、チャネル領域の上方に位置する第１部分５ａと、ソース／ドレイン領域の上方に位置する第２部分５ｂとを有する。第２部分の多数キャリア濃度は第１部分の多数キャリア濃度より低い。 （もっと読む）

【課題】 半導体パターン形成方法を提供する。
【解決手段】 この方法は無機ハードマスク膜、有機マスク膜、反射防止膜及びシリコン含有フォトレジスト膜が積層された多層のマスク層を形成し、Ｏ_２プラズマで前記反射防止膜及び有機マスク膜を乾式エッチングしてパターンを形成することによって無機ハードマスク膜の損傷を防止することができる。 （もっと読む）

【課題】 半導体装置の性能や信頼性を向上させる。
【解決手段】 ＣＭＩＳＦＥＴを有する半導体装置において、ｎチャネル型ＭＩＳＦＥＴ３０ａのゲート電極３１ａは、Ｐ、ＡｓまたはＳｂをドープしたシリコン膜をＮｉ膜と反応させることで形成されたニッケルシリサイド膜からなり、ｐチャネル型ＭＩＳＦＥＴ３０ｂのゲート電極３１ｂは、ノンドープのシリコンゲルマニウム膜をＮｉ膜と反応させることで形成されたニッケルシリコンゲルマニウム膜からなる。ゲート電極３１ａの仕事関数はＰ、ＡｓまたはＳｂをドープすることによって制御され、ゲート電極３１ｂの仕事関数はＧｅ濃度を調節することによって制御される。 （もっと読む）

【課題】 本発明の目的は、低抵抗であって且つ絶縁膜及び配線との間で高い密着性を有するバリアメタル膜を有する半導体装置を提供する。
【解決手段】 半導体装置は、基板（１）上に形成された絶縁膜（６，８）と、絶縁膜（６，８）中に形成された埋め込み配線（１４）と、絶縁膜（６，８）と埋め込み配線（１４）との間に形成されたバリアメタル膜（Ａ１）とを有する。バリアメタル膜（Ａ１）は、絶縁膜（６，８）が存在している側から埋め込み配線（１４）が存在している側へ向かって順に積層されている金属酸化物膜（１１）、遷移層（１２ａ）及び金属膜（１３）よりなり、遷移層（１２ａ）は、金属酸化物膜（１１）の組成と金属膜（１３）の組成とのほぼ中間的な組成を有する単一の原子層よりなる。 （もっと読む）

【課題】 シリコン基板上に形成された窒素化合物含有半導体層を含むヘテロ構造を備え、数百Ｖ以上の高耐圧を有する窒素化合物含有半導体装置を提供する。
【解決手段】 本発明の実施の一形態に係る窒素化合物含有半導体装置は、シリコン基板と、シリコン基板上に島状に形成されたチャネル層としての第１の窒化アルミニウムガリウム（Ａｌ_ｘＧａ_１−ｘＮ（０≦ｘ≦１））層と、第１の窒化アルミニウムガリウム層上に形成された第１導電型又はｉ型のバリア層としての第２の窒化アルミニウムガリウム（Ａｌ_ｙＧａ_１−ｙＮ（０≦ｙ≦１，ｘ＜ｙ））層と、を備えているものである。 （もっと読む）