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国際特許分類[H01L21/288]の内容

国際特許分類[H01L21/288]に分類される特許

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【課題】隣接する膜パターンの間隔を制御することが可能なパターン付基板の作製方法を
提供する。また、膜パターンの幅の制御が可能で、特に、幅が細く且つ厚みのあるパター
ン付基板の作製方法を提供する。また、アンテナのインダクタンスのバラツキが少なく、
起電力の高い導電膜を有する基板の作製方法を提供することを課題とする。また、歩留ま
り高く半導体装置を作製する方法を提供することを課題とする。
【解決手段】基板、絶縁膜又は導電膜上に珪素及び酸素が結合し且つ前記珪素に不活性な
基が結合する膜を形成した後、珪素及び酸素が結合し且つ前記珪素に不活性な基が結合す
る膜表面に印刷法を用いて組成物を印刷し、組成物を焼成して膜パターンを形成すること
を特徴とする。 (もっと読む)


【解決課題】 複数の微細な貫通孔が存在するシリコン基板において、半導体プロセスに依らない簡素な技術により平坦部のみならず貫通孔内部にも密着性が良好な金属膜を成膜して、高密度実装用途に好適なシリコン基板を提供する。
【解決手段】 めっき前処理によりシリコン基板の平坦部と貫通孔内部の清浄シリコン表面を現出させ、ニッケル置換めっき・無電解銅めっき(S4)を順に行うことにより、シリコン基板の全ての貫通孔の内壁全面ならびに主面の全面もしくは一部の面を直接被覆し、密着性に優れ良好な導電性を示す膜を有するめっき層付シリコン基板を作製することができる。 (もっと読む)


【課題】シード膜の溶解を抑制し、電解めっき後のめっき膜の未析や欠陥の発生を低減する方法を提供する。
【解決手段】実施形態の電子部品の製造方法は、シード膜形成工程S110とめっき工程S114とを備えたことを特徴とする。かかるシード膜形成工程S110では、基体上にシード膜を形成する。そして、かかるめっき工程S114では、窒素ガスでバブリングされているめっき液が供給されためっき槽中の前記めっき液に前記シード膜を浸漬させ、前記シード膜をカソードとして電解めっきを行なう。 (もっと読む)


【課題】半導体基板上に不要なn型拡散層を形成させることなく、特定の部分にn型拡散層を形成することが可能で、選択的なn型拡散層形成のためのプロセスを新たに設けることなく、電極を形成する際の熱処理時に、n型拡散層を形成することが可能な電極形成用ペースト組成物、および、該電極形成用ペースト組成物を用いて形成されたn型拡散層及び電極を有する太陽電池を提供する。
【解決手段】n型拡散層形成機能を付与した電極形成用ペースト組成物を、金属粒子と、ドナー元素を含むガラス粒子と、樹脂と、溶剤と、を含んで構成する。また、該電極形成用ペースト組成物を用いて形成した選択的なドナー元素拡散領域131A及び電極133を有する太陽電池セルである。 (もっと読む)


【課題】DNA又はDNA−脂質複合体を用いた簡易な方法により、基板上に導電性パターンを、画像流れを抑制しながら安定して形成できる電子回路付き基板の製造方法を提供する。
【解決手段】基板上に、DNA又はDNA−脂質複合体を含む溶液を描画することによって電子回路パターンを形成する工程と、前記電子回路パターンが形成された基板を多価金属イオン溶液に浸漬することによって、前記電子回路パターンにおいて、前記DNA又は前記DNA−脂質複合体と前記多価金属イオンとの錯体を形成する工程と、形成された錯体中の金属イオンを還元することによって、前記電子回路パターンを導電性パターンとする工程と、を有する電子回路付き基板の製造方法である。 (もっと読む)


【課題】積層する基板の電極端子同士の間での接合不良を防止できる3次元集積化技術を提供する。
【解決手段】基板1上にトランジスタ6と多層配線2、絶縁膜3を形成する。絶縁膜3に配線が露出するように開口部4を形成する。開口部内を含む絶縁膜上に、銅などからなる複数の導電体微粒子5を含む有機溶剤を回転塗布する。第1の熱処理により溶剤と有機成分を除去した後、CMP法で外側部分の導電体微粒子を除去する。開口部内に導電体微粒子から構成された電極端子9が形成される。第2の基板51の貫通電極52を開口部に合わせ、加圧して押し合わせる。第1の熱処理より高温の第2の熱処理を行い、導電体微粒子を部分的に溶融させ、貫通電極と接合する。 (もっと読む)


【課題】従来の、真空装置を用いた形成方法に比べて簡便かつ安価に形成され、しかもインクジェット印刷方法によって形成されるもの比べて、断線等を生じることなしに、より細線化された金属配線を提供する。
【解決手段】Ag粒子、またはAgを50原子%以上含む合金粒子を含む分散液を塗布して塗膜を形成し、乾燥後にパターン形成したのち焼成して形成され、その縁部2における、基材の表面方向の、想定される外形線4からの凹入量の最大値と突出量の最大値との和が50nm以下、前記縁部2における、基材3の表面方向の、想定される外形線4と直交し、かつ金属配線1の厚み方向の断面のうち、前記厚み方向の外形線の、前記基材3の表面と接する部分の、前記基材3の表面との交差角度が70°以下で、かつ抵抗率が14μΩ・cm以下である。 (もっと読む)


【課題】めっき液噴流方向を均一化すると共に、ポンプに負荷を掛けることなく噴射ノズルからのめっき液流量(圧力)を増加させる手段を備えた半導体装置の製造装置を提供する。
【解決手段】半導体装置の製造装置は、めっき処理槽1と、ウェハー支持部3と、めっき液噴射ノズル土台配管12と、ウェハー2の被処理面に向かってめっき液を噴射する複数のめっき液噴射ノズル13とを備えている。複数のめっき液噴射ノズル13の各々は、ベンチュリ構造型のノズルである。めっき液噴射ノズル13から噴射されためっき液の一部は、めっき処理槽1の上部から底部に向かって流動し、めっき液噴射ノズル13から噴射されるめっき液と合流して、ウェハー2の被処理面に向かって再度噴射される。 (もっと読む)


【課題】金属混合液を用いて基板上に金属膜を適切且つ効率よく形成する。
【解決手段】金属膜形成システム1は、ウェハWを搬入出する搬入出ステーション2と、ウェハW上に前処理液を塗布し、ウェハW上に下地膜を形成する前処理ステーション3と、下地膜が形成されたウェハW上に金属混合液を塗布し、ウェハW上に金属膜を形成する主処理ステーション4と、搬入出ステーション2、前処理ステーション3及び主処理ステーション4を接続するロードロックユニット10とを有している。前処理ステーション3、主処理ステーション4、ロードロックユニット10は、それぞれ内部を不活性ガスの大気圧雰囲気又は減圧雰囲気に切り替え可能に構成されている。 (もっと読む)


【課題】金属混合液を用いて基板上に金属膜を適切且つ効率よく形成する。
【解決手段】金属膜形成システム1は、ウェハWを搬入出する搬入出ステーション2と、金属膜を形成する処理ステーション3と、搬入出ステーション2と処理ステーション3とを接続するロードロックユニット10とを有している。処理ステーション3は、ウェハW上に金属混合液を塗布する塗布ユニット30と、金属混合液が塗布されたウェハWを熱処理する前熱処理ユニット31と、前熱処理ユニット31で熱処理されたウェハWをさらに熱処理する後熱処理ユニット32と、ウェハWを搬送する搬送ユニット33とを有する。塗布ユニット30、前熱処理ユニット31、後熱処理ユニット32、搬送ユニット33、ロードロックユニット10は、それぞれ内部を不活性ガスの大気圧雰囲気又は減圧雰囲気に切り替え可能に構成されている。 (もっと読む)


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